JPH0371493A - Eprom内蔵マイクロコンピュータ - Google Patents
Eprom内蔵マイクロコンピュータInfo
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- JPH0371493A JPH0371493A JP1208144A JP20814489A JPH0371493A JP H0371493 A JPH0371493 A JP H0371493A JP 1208144 A JP1208144 A JP 1208144A JP 20814489 A JP20814489 A JP 20814489A JP H0371493 A JPH0371493 A JP H0371493A
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- Read Only Memory (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
本発明は、EPROM内蔵マイクロコンピュータに関し
、特にEPROMへの書き込み時間を短縮するのに好適
なEPROM内蔵マイクロコンピュータに関するもので
ある。
、特にEPROMへの書き込み時間を短縮するのに好適
なEPROM内蔵マイクロコンピュータに関するもので
ある。
(口〉従来の技術
複数ビットのアドレスデータでアクセスされた所定アド
レスに対して、データの書き込み/読み出しが可能なE
PROMにおいて、通常、EPROMに所定のデータを
書き込む以前に、該EPROMを構成している各メモリ
セルが正常に動作しているか否か、即ち該EPROMの
各メモリセルに書き込まれたテストデータがそのまま正
しく読み出されたか否かをテストしなければならない。
レスに対して、データの書き込み/読み出しが可能なE
PROMにおいて、通常、EPROMに所定のデータを
書き込む以前に、該EPROMを構成している各メモリ
セルが正常に動作しているか否か、即ち該EPROMの
各メモリセルに書き込まれたテストデータがそのまま正
しく読み出されたか否かをテストしなければならない。
そこで従来は、EPROMのテストデータを該EPRO
Mの1ワ一ド分づつ書き込んでいた。
Mの1ワ一ド分づつ書き込んでいた。
(ハ〉発明が解決しようとする課題
しかしながら、前記従来の技術の場合、EPROMには
、1ワ一ド分つづのテストデータ、即ち1アドレス分づ
つのテストデータしか書き込めないことから、書き込み
時間が非常に長くなってしまい、従ってEPROMをテ
スト・する際の測定コストが高くなってしまう問題点が
あった。
、1ワ一ド分つづのテストデータ、即ち1アドレス分づ
つのテストデータしか書き込めないことから、書き込み
時間が非常に長くなってしまい、従ってEPROMをテ
スト・する際の測定コストが高くなってしまう問題点が
あった。
特にこのEPROMを内蔵したマイクロコンピュータに
おいては、EPROM部分とマイクロコンピュータ部分
を独立してテストしなければならないことから、EPR
OMへのテストデータの書き込み時間が長いと、EPR
OM内蔵マイクロコンピュータの出荷選別に支障を来た
してしまう問題点があった。更に、前記EPROM内蔵
マイクロコンピュータを使用するユーザーにとっても、
EPROMへのデータの書き込み時間の長さが支障とな
る問題点があった。
おいては、EPROM部分とマイクロコンピュータ部分
を独立してテストしなければならないことから、EPR
OMへのテストデータの書き込み時間が長いと、EPR
OM内蔵マイクロコンピュータの出荷選別に支障を来た
してしまう問題点があった。更に、前記EPROM内蔵
マイクロコンピュータを使用するユーザーにとっても、
EPROMへのデータの書き込み時間の長さが支障とな
る問題点があった。
そこで本発明は、EPROMへのデータの書き込み時間
を短縮できるEPROM内蔵マイクロコンピュータを提
供することを目的とする。
を短縮できるEPROM内蔵マイクロコンピュータを提
供することを目的とする。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は、前記問題点を解決するために為されたもので
あり、 少なくとも、奇数アドレスの論理情報を記憶する第1の
メモリセルが配置された第1のビット線と、該第1のビ
ット線を選択する第1の選択トランジスタと、偶数アド
レスの論理情報を記憶する第2のメモリセルが配置され
た第2のビット線と、該第2のビット線を選択する第2
の選択トランジスタとを有するEPROMと、 前記第1の選択トランジスタを駆動する第1の駆動回路
と、 前記第2の選択トランジスタを駆動する第2の駆動回路
と、 前記第1のメモリセル及び前記第2のメモリセルに夫々
奇数アドレス及び偶数アドレスの論理情報を書き込む書
き込み回路と、 を備えたEPROM内蔵マイクロコンピュータにおいて
、 奇数アドレス及び偶数アドレスを識別する識別信号に基
づいて、奇数アドレス及び偶数アドレスの一方の論理情
報をラッチするラッチ回路と、前記第1のメモリセル及
び前記第2のメモリセルに夫々奇数アドレス及び偶数ア
ドレスの論理情報を同時に書き込むための同時書き込み
信号に基づいて、前記ラッチ回路にラッチされた一方の
論理情報と前記ラッチ回路にラッチされない他方の論理
情報とを出力する出力回路と、 前記識別信号及び前記出力回路の出力に基づいて、前記
第1の駆動回路及び前記第2の駆動回路を制御する駆動
制御回路とを備え、 前記同時書き込み信号の発生時、前記第1のメモリセル
及び前記第2のメモリセルに夫々奇数アドレス及び偶数
アドレスの論理情報を同時に書き込むことを特徴とする
。
あり、 少なくとも、奇数アドレスの論理情報を記憶する第1の
メモリセルが配置された第1のビット線と、該第1のビ
ット線を選択する第1の選択トランジスタと、偶数アド
レスの論理情報を記憶する第2のメモリセルが配置され
た第2のビット線と、該第2のビット線を選択する第2
の選択トランジスタとを有するEPROMと、 前記第1の選択トランジスタを駆動する第1の駆動回路
と、 前記第2の選択トランジスタを駆動する第2の駆動回路
と、 前記第1のメモリセル及び前記第2のメモリセルに夫々
奇数アドレス及び偶数アドレスの論理情報を書き込む書
き込み回路と、 を備えたEPROM内蔵マイクロコンピュータにおいて
、 奇数アドレス及び偶数アドレスを識別する識別信号に基
づいて、奇数アドレス及び偶数アドレスの一方の論理情
報をラッチするラッチ回路と、前記第1のメモリセル及
び前記第2のメモリセルに夫々奇数アドレス及び偶数ア
ドレスの論理情報を同時に書き込むための同時書き込み
信号に基づいて、前記ラッチ回路にラッチされた一方の
論理情報と前記ラッチ回路にラッチされない他方の論理
情報とを出力する出力回路と、 前記識別信号及び前記出力回路の出力に基づいて、前記
第1の駆動回路及び前記第2の駆動回路を制御する駆動
制御回路とを備え、 前記同時書き込み信号の発生時、前記第1のメモリセル
及び前記第2のメモリセルに夫々奇数アドレス及び偶数
アドレスの論理情報を同時に書き込むことを特徴とする
。
(ホ〉作用
本発明によれば、EPROMの奇数アドレスと偶数アド
レスの論理情報を、該EPROMに同時に書き込むこと
ができる為、EPROMへの論理情報の書き込み時間を
短縮できることになる。
レスの論理情報を、該EPROMに同時に書き込むこと
ができる為、EPROMへの論理情報の書き込み時間を
短縮できることになる。
(へ)実施例
本発明の詳細を図示の実施例により具体的に説明する。
第1図はEPROM内蔵マイクロ:ボンピユータ内部の
一部回路を示しており、〈1)はプログラムデータ(論
理情報)の書き込み/読み出しが可能なEPROMであ
る。該EPROM(1)に(−1:、奇数アドレスに対
応する第1のビット!l B L Oと、偶数アドレス
に対応する第2のビット線BLEと、奇数アドレスのプ
ログラムデータを記憶する第1のメモリセルとしてのN
−MOS(2)と、偶数アドレスのプログラムデータを
記憶する第2のメモリセルとしてのN−MOS(3)と
、前記第1のビット線BLOを選択する第1の選択t・
ランジスタとしてのN−MOS(4)と、前記第2のビ
ット線BLEを選択する第2の選択トランジスタとして
のN−MOS(5)と、前記N −M OS (2)(
3)を選択するワード線WLとが設けられている。ここ
で前記’E F ROM<1)の1ワードを8ビツト(
DO〜D7)とした場合、第1図に示す前記EPROM
(1)内部のN −M OS (2>(3)及びワード
線WLは、所定アドレスのLSB(下位1ビツト)のプ
ログラムデータDOに対応しているものとする。つまり
、図示はしていないが、前記EPROM(1)内部には
、前記構成が各アドレスのビット数×全アドレス数だけ
設けられているものとする0本実施例においては、説明
の都合上(どのアドレスのどのビットについても同様に
動作する為)、プログラムデータの1ビツト分DOにつ
いて説明することにする。
一部回路を示しており、〈1)はプログラムデータ(論
理情報)の書き込み/読み出しが可能なEPROMであ
る。該EPROM(1)に(−1:、奇数アドレスに対
応する第1のビット!l B L Oと、偶数アドレス
に対応する第2のビット線BLEと、奇数アドレスのプ
ログラムデータを記憶する第1のメモリセルとしてのN
−MOS(2)と、偶数アドレスのプログラムデータを
記憶する第2のメモリセルとしてのN−MOS(3)と
、前記第1のビット線BLOを選択する第1の選択t・
ランジスタとしてのN−MOS(4)と、前記第2のビ
ット線BLEを選択する第2の選択トランジスタとして
のN−MOS(5)と、前記N −M OS (2)(
3)を選択するワード線WLとが設けられている。ここ
で前記’E F ROM<1)の1ワードを8ビツト(
DO〜D7)とした場合、第1図に示す前記EPROM
(1)内部のN −M OS (2>(3)及びワード
線WLは、所定アドレスのLSB(下位1ビツト)のプ
ログラムデータDOに対応しているものとする。つまり
、図示はしていないが、前記EPROM(1)内部には
、前記構成が各アドレスのビット数×全アドレス数だけ
設けられているものとする0本実施例においては、説明
の都合上(どのアドレスのどのビットについても同様に
動作する為)、プログラムデータの1ビツト分DOにつ
いて説明することにする。
(6〉は、前記EPROM(1>を書き込み状態或は読
み出し状態とするモード制御回路であり、高電圧VPP
(12ボルト)、OE(アウトプットイネーブル)信号
、及びCE(チップイネーブル)信号が印加される。つ
まり、0EII−’1.且つCE−’0.の時、前記E
PROM<1)は書き込み状s トナr+、OE−’
Ov且つGE=w’ I J(7)時、前記EPROM
(1)は読み出しくベリファイ)状態となる。更に該モ
ード制御回路(6〉は、CE−’1.の時、「1」の書
き込み信号WRを出力する。(33)は昇圧回路であり
、高電圧VPPを超高電圧v、?+(17ボルト)に昇
圧する。
み出し状態とするモード制御回路であり、高電圧VPP
(12ボルト)、OE(アウトプットイネーブル)信号
、及びCE(チップイネーブル)信号が印加される。つ
まり、0EII−’1.且つCE−’0.の時、前記E
PROM<1)は書き込み状s トナr+、OE−’
Ov且つGE=w’ I J(7)時、前記EPROM
(1)は読み出しくベリファイ)状態となる。更に該モ
ード制御回路(6〉は、CE−’1.の時、「1」の書
き込み信号WRを出力する。(33)は昇圧回路であり
、高電圧VPPを超高電圧v、?+(17ボルト)に昇
圧する。
(7)は第1の駆動回路としての高圧印加回路であり、
該高圧印加回路(7)には、超高電圧v、/と書き込み
信号WRが印加されており、該高圧印加回路(7〉の出
力は前記N−MO8(4)のゲートと接続されている。
該高圧印加回路(7)には、超高電圧v、/と書き込み
信号WRが印加されており、該高圧印加回路(7〉の出
力は前記N−MO8(4)のゲートと接続されている。
〈8)は第2の駆動回路としての高圧印加回路であり、
同様に該高圧印加回路(8)にも、超高電圧V□3と書
き込み信号WRが印加されており、該高圧印加回路(8
)の出力は前記N−MO3(5)のゲートと接続されて
いる。(9〉は、ローアドレスデコーダ(図示せず)の
デコード出力(4ビツト)が印加されるNANDゲート
、(10)は前記NANDゲート(9〉出力を反転する
インバータである。 (11)は高圧印加回路であり、
該高圧印加回路(11)には、晶型K V p p、書
き込み信号WRl及び前記インバータ(10)出力が印
加されており、該高圧印加回路(11)の出力はワード
線WLと接続されている。つまり、該高圧印加回路(1
1)は、前記インバータ(10)出力及び前記書き込み
信号WRが共に「IJの時、12ボルトの高電圧を出力
するものとする。因みに、前記ローアドレスデコーダの
デコード出力が全ビットr1」の時、前記インバータ(
10)出力は11.になる。
同様に該高圧印加回路(8)にも、超高電圧V□3と書
き込み信号WRが印加されており、該高圧印加回路(8
)の出力は前記N−MO3(5)のゲートと接続されて
いる。(9〉は、ローアドレスデコーダ(図示せず)の
デコード出力(4ビツト)が印加されるNANDゲート
、(10)は前記NANDゲート(9〉出力を反転する
インバータである。 (11)は高圧印加回路であり、
該高圧印加回路(11)には、晶型K V p p、書
き込み信号WRl及び前記インバータ(10)出力が印
加されており、該高圧印加回路(11)の出力はワード
線WLと接続されている。つまり、該高圧印加回路(1
1)は、前記インバータ(10)出力及び前記書き込み
信号WRが共に「IJの時、12ボルトの高電圧を出力
するものとする。因みに、前記ローアドレスデコーダの
デコード出力が全ビットr1」の時、前記インバータ(
10)出力は11.になる。
前記E F ROM(1)の総記憶容量を例えば128
にビットとした場合、前述した様に1ワードが8ビツト
であることから、該EPROM(1)のアドレスは全部
で16にアドレスだけ必要となる。
にビットとした場合、前述した様に1ワードが8ビツト
であることから、該EPROM(1)のアドレスは全部
で16にアドレスだけ必要となる。
そこで16にアドレスを全部アクセスするには、14ビ
ツトのアドレスデータAO−A13が必要となる(2”
−16384)、(12)は、前記アドレスデータの下
位1ビツトAOが印加されるアドレス端子であり、該ア
ドレスデータAOは、前記EPROM(1)内でアクセ
スされるアドレスが奇数アドレスであるのか偶数アドレ
スであるのかを識別する識別信号として使用される。つ
まり、前記EPROM<1)内でアクセスされるアドレ
スが奇数アドレスの時、AO=” 1 、となり、前記
EPROM(1)内でアクセスされるアドレスが偶数ア
ドレスの時、A(1m’ OJとなる0本実施例におい
ては、偶数アドレス、奇数アドレスの順で交互に前記E
PROM(1)のアドレスがアクセスされるものとする
。
ツトのアドレスデータAO−A13が必要となる(2”
−16384)、(12)は、前記アドレスデータの下
位1ビツトAOが印加されるアドレス端子であり、該ア
ドレスデータAOは、前記EPROM(1)内でアクセ
スされるアドレスが奇数アドレスであるのか偶数アドレ
スであるのかを識別する識別信号として使用される。つ
まり、前記EPROM<1)内でアクセスされるアドレ
スが奇数アドレスの時、AO=” 1 、となり、前記
EPROM(1)内でアクセスされるアドレスが偶数ア
ドレスの時、A(1m’ OJとなる0本実施例におい
ては、偶数アドレス、奇数アドレスの順で交互に前記E
PROM(1)のアドレスがアクセスされるものとする
。
(13〉はプログラムデータの下位1ビツトDOが印加
されるデータ端子である。 (14)はラッチ回路であ
り、SL(ラッチ)端子にはプログラムデータDOが印
加され、T(トリガ)端子にはアドレスデータAOが印
加される。つまり該ラッチ回路(14)ハ、アドレスデ
ータAOのrOJから「1」への立上がり時(偶数アド
レスから奇数アドレスへのアクセスの変更時)、成る偶
数アドレスに記憶すべきプログラムデータDOをスタテ
ィックにラッチする。
されるデータ端子である。 (14)はラッチ回路であ
り、SL(ラッチ)端子にはプログラムデータDOが印
加され、T(トリガ)端子にはアドレスデータAOが印
加される。つまり該ラッチ回路(14)ハ、アドレスデ
ータAOのrOJから「1」への立上がり時(偶数アド
レスから奇数アドレスへのアクセスの変更時)、成る偶
数アドレスに記憶すべきプログラムデータDOをスタテ
ィックにラッチする。
(15)はインバータであり、該インバータ(15)に
は同時書き込み信号2BWが印加される。ここで同時書
き込み信号2BWは、前記N−MO3(2)(3)に夫
々奇数アドレス及び偶数アドレスのプログラムデータを
同時に書き込む時に1″0」になる、 (16)はNA
NDゲートであり、該NANDゲート(16〉には前記
OE倍信号び前記インバータ(15)出力が印加される
。つまり、前記EPROM(1)の奇数アドレスと偶数
アドレスに同時書き込みを行なう時、前記OE信号−「
1」且っ前記同時書き込み信号2BVV=’0.の為、
前記NANDゲート(16)出力は「0」となる、尚、
前記ラッチ回路(14〉は、S(セット)端子に前記N
ANDゲート(16)のrl」出力が印加されることに
よってセットされるものとする。
は同時書き込み信号2BWが印加される。ここで同時書
き込み信号2BWは、前記N−MO3(2)(3)に夫
々奇数アドレス及び偶数アドレスのプログラムデータを
同時に書き込む時に1″0」になる、 (16)はNA
NDゲートであり、該NANDゲート(16〉には前記
OE倍信号び前記インバータ(15)出力が印加される
。つまり、前記EPROM(1)の奇数アドレスと偶数
アドレスに同時書き込みを行なう時、前記OE信号−「
1」且っ前記同時書き込み信号2BVV=’0.の為、
前記NANDゲート(16)出力は「0」となる、尚、
前記ラッチ回路(14〉は、S(セット)端子に前記N
ANDゲート(16)のrl」出力が印加されることに
よってセットされるものとする。
(17〉は出力回路であり、NORゲート(18〉及び
ORゲート(19〉より成る。ここで前記NORゲート
(18)及び前記ORゲート(19)の一方の入力端子
には、前記NANDゲー)−(16)出力が共通印加さ
れており、つまり、前記NANDゲート(16)出力が
rO」の時(同時書き込み状態の時)、前記NORゲー
ト(18〉からは前記ラッチ回路(14)のO(出力)
端子から得られる偶数アドレスのプログラムデータDO
の反転が出力され、且つ前記ORゲート(19〉からは
偶数アドレス及び奇数アドレスのプログラムデータDO
がインバータ(20)を介してそのまま出力されること
になる。
ORゲート(19〉より成る。ここで前記NORゲート
(18)及び前記ORゲート(19)の一方の入力端子
には、前記NANDゲー)−(16)出力が共通印加さ
れており、つまり、前記NANDゲート(16)出力が
rO」の時(同時書き込み状態の時)、前記NORゲー
ト(18〉からは前記ラッチ回路(14)のO(出力)
端子から得られる偶数アドレスのプログラムデータDO
の反転が出力され、且つ前記ORゲート(19〉からは
偶数アドレス及び奇数アドレスのプログラムデータDO
がインバータ(20)を介してそのまま出力されること
になる。
(21)は駆動制御回路であり、ANDN−ト(22)
及びORゲート(23〉より成る。ここで前記ANDN
−ト(22)には前記アドレスデータAOと前記ORゲ
ート(19)出力が印加され、且つ前記ORゲート(2
3)にはインバータ(24)で反転されたAOと前記N
ORゲート(18)出力が印加される。そして前記AN
DN−ト(22)出力は前記高圧印加回路(7〉に印加
され、前記ORゲート(23)出力は前記高圧印加回路
(8〉に印加されている。つまり、前記書き込み信号W
R及び前記ANDN−ト(22)出力が共に「1」の時
、前記高圧印加回路(7)からは17ボルトの超高電圧
v、P+が出力される。同様に、前記書き込み信号WR
及び前記ORゲート(23〉出力が共に「1」の時、前
記高圧印加回路〈8〉からは17ボルトの超高電圧が出
力される。
及びORゲート(23〉より成る。ここで前記ANDN
−ト(22)には前記アドレスデータAOと前記ORゲ
ート(19)出力が印加され、且つ前記ORゲート(2
3)にはインバータ(24)で反転されたAOと前記N
ORゲート(18)出力が印加される。そして前記AN
DN−ト(22)出力は前記高圧印加回路(7〉に印加
され、前記ORゲート(23)出力は前記高圧印加回路
(8〉に印加されている。つまり、前記書き込み信号W
R及び前記ANDN−ト(22)出力が共に「1」の時
、前記高圧印加回路(7)からは17ボルトの超高電圧
v、P+が出力される。同様に、前記書き込み信号WR
及び前記ORゲート(23〉出力が共に「1」の時、前
記高圧印加回路〈8〉からは17ボルトの超高電圧が出
力される。
(25)はANDN−トであり、前記プログラムデータ
DOと前記ラッチ回路(10のO端子出力が印加される
。 (2B)は書き込み回路であり、該書き込み回路〈
26〉には、高電圧Vア、と、前記書き込み信号WRと
、前記ANDN−ト(25)出力が印加されており、該
書き込み回路(26)の出力は前記N−M OS (4
)<5)のンースと共通接続されている。そして前記書
き込み信号WR=’!、且つ前記ANDゲー)−<25
)出力−「0」の時、前記書き込み回路(26)杜、1
2ボルトの高電圧を前記EPROM(1)に出力する。
DOと前記ラッチ回路(10のO端子出力が印加される
。 (2B)は書き込み回路であり、該書き込み回路〈
26〉には、高電圧Vア、と、前記書き込み信号WRと
、前記ANDN−ト(25)出力が印加されており、該
書き込み回路(26)の出力は前記N−M OS (4
)<5)のンースと共通接続されている。そして前記書
き込み信号WR=’!、且つ前記ANDゲー)−<25
)出力−「0」の時、前記書き込み回路(26)杜、1
2ボルトの高電圧を前記EPROM(1)に出力する。
(27〉は読み出し回路である。(28)(29)は夫
々NORゲート及びNANDゲートであり、前記N。
々NORゲート及びNANDゲートであり、前記N。
Rゲート(28〉にit前記読み出し回路(27)出力
と前記書き込み信号WRが印加されており、前記NAN
Dゲート(29〉には前記読み出し回路(27)出力と
インバータ(30)を介したWRが印加されている。
と前記書き込み信号WRが印加されており、前記NAN
Dゲート(29〉には前記読み出し回路(27)出力と
インバータ(30)を介したWRが印加されている。
つまり、書き込み信号WR−r O、の時、前記NOR
ゲート(28)及び前記NANDゲー)(29)は動作
状態となり、前記EPROM(1)内部のN−MOS
(2)(3)に記憶された内容が前記書き込み回路(2
6〉及び前記読み出し回路(27)を介して前記N。
ゲート(28)及び前記NANDゲー)(29)は動作
状態となり、前記EPROM(1)内部のN−MOS
(2)(3)に記憶された内容が前記書き込み回路(2
6〉及び前記読み出し回路(27)を介して前記N。
Rゲート(28〉及び前記NANDゲー)−(29)よ
り出力される。 <31)は、ドレイン・ソース路が電
源電圧Vddと前記データ端子(13〉との間に接続さ
れ、ゲートが前記NANDゲート(29〉出力によって
制御されるP−MOSである。(32)は、ドレイン・
ソース路が前記データ端子(13〉とアースとの間に接
続され、ゲートが前記NORゲート(28)出力によっ
て制御されるN−MOSである。具体的には、書き込み
信号WR”−r O、の状態で、読み出し回路(27)
出力が「1」の時、前記P−MO5(31)がオンし、
データ端子(13)からは「1ヨが出力されることにな
る。また書き込み信号WR−「0」の状態で、読み出し
回路(27)出力が「0゜の時、N−MOS(32)が
オンし、データ端子〈13〉からは10」が出力される
ことになる。
り出力される。 <31)は、ドレイン・ソース路が電
源電圧Vddと前記データ端子(13〉との間に接続さ
れ、ゲートが前記NANDゲート(29〉出力によって
制御されるP−MOSである。(32)は、ドレイン・
ソース路が前記データ端子(13〉とアースとの間に接
続され、ゲートが前記NORゲート(28)出力によっ
て制御されるN−MOSである。具体的には、書き込み
信号WR”−r O、の状態で、読み出し回路(27)
出力が「1」の時、前記P−MO5(31)がオンし、
データ端子(13)からは「1ヨが出力されることにな
る。また書き込み信号WR−「0」の状態で、読み出し
回路(27)出力が「0゜の時、N−MOS(32)が
オンし、データ端子〈13〉からは10」が出力される
ことになる。
以下、第1図の動作を第2図のタイミングチ勺−トを基
に説明する。まずEPROM内蔵マイクロコンピュータ
においては、EPROM単体機能のための端子ビン数と
マイクロコンピュータの端子ピン数とが異なる為、FR
OMライタ(図示せず)の変更基板上に前記マイクロコ
ンピュータを装着し、該マイクロコンピュータをEPR
OMとしてのみ使用できる様にしておく、またN−M
OS (2)(3)にプログラムデータr□、を書き込
むことは、これ等N −M OS (2)<3)のコン
トロールゲート及びドレインに高電圧(12ボルト)を
印加することであり、反対にN −M OS (2>(
3)にプログラムデータ「1」を書き込むことは、これ
等N −M OS (2)(3)のドレインに高電圧(
12ボルト)を印加しないことである。
に説明する。まずEPROM内蔵マイクロコンピュータ
においては、EPROM単体機能のための端子ビン数と
マイクロコンピュータの端子ピン数とが異なる為、FR
OMライタ(図示せず)の変更基板上に前記マイクロコ
ンピュータを装着し、該マイクロコンピュータをEPR
OMとしてのみ使用できる様にしておく、またN−M
OS (2)(3)にプログラムデータr□、を書き込
むことは、これ等N −M OS (2)<3)のコン
トロールゲート及びドレインに高電圧(12ボルト)を
印加することであり、反対にN −M OS (2>(
3)にプログラムデータ「1」を書き込むことは、これ
等N −M OS (2)(3)のドレインに高電圧(
12ボルト)を印加しないことである。
偶数アドレス及び奇数アドレスにおけるプログラムデー
タDOが共にr□、であり、これ等のプログラムデータ
DOをEPROM(1)内部のN−M OS (2)(
3)に同時に書き込む場合、高電圧’Vpp(−12ボ
ルト)が立上がり、2BW信号蒙rO」、OEi号−’
I J、CE信号−’ I J (7)状態にある。
タDOが共にr□、であり、これ等のプログラムデータ
DOをEPROM(1)内部のN−M OS (2)(
3)に同時に書き込む場合、高電圧’Vpp(−12ボ
ルト)が立上がり、2BW信号蒙rO」、OEi号−’
I J、CE信号−’ I J (7)状態にある。
また偶数アドレスの8ビツトのプログラムデータA内の
最下位ビットDo”’ O、がデータ端子(13)に印
加される為、アドレス端子(12)に印加されるアドレ
スデータAOは「O」の状態にある。そして時刻t、に
おいて、アドレスデータAOが「0」から「1」に立上
がると、この状態ではデータ端子(13〉に印加される
プログラムデータDOが偶数アドレスのデータのままで
ある為、ラッチ回路(14〉がアドレスデータAOでト
リガされ、該ラッチ回路(14)は偶数アドレスのプロ
グラムデータDOwmrO」をスタティックにラッチす
る。その後、時刻1.において、偶数アドレスの8ビツ
トプログラムデータAが奇数アドレスの8ビツトプログ
ラムデータBに変化し、該プログラムデータBの最下位
ビットDO=” 0 、がデータ端子り13〉に印加さ
れると、該データ「0」はインバータ(20)によって
反転されてrl」になる。
最下位ビットDo”’ O、がデータ端子(13)に印
加される為、アドレス端子(12)に印加されるアドレ
スデータAOは「O」の状態にある。そして時刻t、に
おいて、アドレスデータAOが「0」から「1」に立上
がると、この状態ではデータ端子(13〉に印加される
プログラムデータDOが偶数アドレスのデータのままで
ある為、ラッチ回路(14〉がアドレスデータAOでト
リガされ、該ラッチ回路(14)は偶数アドレスのプロ
グラムデータDOwmrO」をスタティックにラッチす
る。その後、時刻1.において、偶数アドレスの8ビツ
トプログラムデータAが奇数アドレスの8ビツトプログ
ラムデータBに変化し、該プログラムデータBの最下位
ビットDO=” 0 、がデータ端子り13〉に印加さ
れると、該データ「0」はインバータ(20)によって
反転されてrl」になる。
ここでNANDゲート(16〉出力がrO」の為、NO
Rゲート(18〉及びORゲート(19〉辻動作状態に
あり、NORゲート(18〉及びORゲート(19〉か
らは共に「1ノが出力されることになる。その後、時刻
t、〜t、の期間において、CE倍信号「0」に立下が
ると、モード制御回路(6〉からは「1.の書き込み信
号WRが出力される。高圧印加回路(7〉にはANDゲ
ート(22)の「1」出力と「1」の書き込み信号WR
が印加される為、超高電圧(17ボルト)が該高圧印加
回路(7)からN−MOS(4)のゲートに印加され、
同様に高圧印加回路(8)にはORゲート(23〉の「
1」出力と「1.の書き込み信号WRが印加される為、
該高圧印加回路〈8〉からも超高電圧(17ボルト)が
出力されてN−MOS(5)のゲートに印加される。更
に書き込み回路(26〉には「1」の書き込み信号WR
とANDゲート(25)の「0」出力が印加される為、
該書き込み回路(26〉からは高電圧(12ボルト)が
出力されてN −M OS (4)(5)のソースに印
加される。従ってN −M OS (4)(5)は共に
オンし、ビット線BLO,BLEが共に選択されること
になる。この時、ローアドレスデコーダ出力によってワ
ード線WLが選択された状態である為、N−M OS
(2)(3)のフントロールゲート及ヒトレインには高
電圧(12ボルト)が印加され、これ等N−M OS
(2)(3)のブローティングゲートには負の電荷がチ
ケージされ、「0.論理情報が書き込まれたことになる
。つまり、奇数アドレスと偶数アドレスの2アドレスに
同時にプログラムデータの書き込みが行なわれたのであ
る。
Rゲート(18〉及びORゲート(19〉辻動作状態に
あり、NORゲート(18〉及びORゲート(19〉か
らは共に「1ノが出力されることになる。その後、時刻
t、〜t、の期間において、CE倍信号「0」に立下が
ると、モード制御回路(6〉からは「1.の書き込み信
号WRが出力される。高圧印加回路(7〉にはANDゲ
ート(22)の「1」出力と「1」の書き込み信号WR
が印加される為、超高電圧(17ボルト)が該高圧印加
回路(7)からN−MOS(4)のゲートに印加され、
同様に高圧印加回路(8)にはORゲート(23〉の「
1」出力と「1.の書き込み信号WRが印加される為、
該高圧印加回路〈8〉からも超高電圧(17ボルト)が
出力されてN−MOS(5)のゲートに印加される。更
に書き込み回路(26〉には「1」の書き込み信号WR
とANDゲート(25)の「0」出力が印加される為、
該書き込み回路(26〉からは高電圧(12ボルト)が
出力されてN −M OS (4)(5)のソースに印
加される。従ってN −M OS (4)(5)は共に
オンし、ビット線BLO,BLEが共に選択されること
になる。この時、ローアドレスデコーダ出力によってワ
ード線WLが選択された状態である為、N−M OS
(2)(3)のフントロールゲート及ヒトレインには高
電圧(12ボルト)が印加され、これ等N−M OS
(2)(3)のブローティングゲートには負の電荷がチ
ケージされ、「0.論理情報が書き込まれたことになる
。つまり、奇数アドレスと偶数アドレスの2アドレスに
同時にプログラムデータの書き込みが行なわれたのであ
る。
その後、N −M OS (2)(3)に書き込まれた
論理情報を読み出してベリファイする場合、時刻t4に
おいて、アドレスデータAO及びOR信号を共に「1」
からr□」に立下げる。すると、NANpゲート(16
〉出力が「1.になる為、NORゲート(18)出力は
「0」、且つORゲート(19)出力は「1」になる。
論理情報を読み出してベリファイする場合、時刻t4に
おいて、アドレスデータAO及びOR信号を共に「1」
からr□」に立下げる。すると、NANpゲート(16
〉出力が「1.になる為、NORゲート(18)出力は
「0」、且つORゲート(19)出力は「1」になる。
また「0」のアドレスデータAOによって、ANDゲー
ト(22)出力は「0.且つORゲート(23)出力は
11」になる。WR倍信号「0」になっている為、これ
より高圧印加回路(7〉からは零ボルトが出力され、高
圧印加回路(8)からは6ボルトのVD!l電圧が出力
される。また先に述べた様にCE倍信号「1」であるこ
とから、書き込み信号WRは「0」であり、書き込み回
路(26〉出力はブローティングとなる。従ってN−M
O8(4)がオフすると共にN−MO8(5)がオンし
、偶数アドレスのビット*BLEが選択されたことにな
る。一方、r□、の書き込み信号WRによって、NOR
ゲート(28)及びNANDゲート(29〉が動作状態
である。そこで、N−MO3(3)に書き込まれたrO
」の論理情報がN−MO8(5>、書き込み回路(26
)、及び読み出し回路(27〉を介してNORゲート(
28〉及びNANDゲート(29)に印加されると、N
−MO8(32)がオンし、データ端子(13)からは
rO」(プログラムデータAの最下位ビット)が読み出
されてベリファイされることになる。その後、時刻t、
において、アドレスデータAOを「0」から「1」に立
上げると、ANDゲート(22)出力が「1.になると
共にORゲート(23)出力が10」になる。これより
高圧印加回路(7〉からは6ボルトのV DD電圧が出
力され、且つ高圧印加回路(8)からは零ボルトが出力
される。
ト(22)出力は「0.且つORゲート(23)出力は
11」になる。WR倍信号「0」になっている為、これ
より高圧印加回路(7〉からは零ボルトが出力され、高
圧印加回路(8)からは6ボルトのVD!l電圧が出力
される。また先に述べた様にCE倍信号「1」であるこ
とから、書き込み信号WRは「0」であり、書き込み回
路(26〉出力はブローティングとなる。従ってN−M
O8(4)がオフすると共にN−MO8(5)がオンし
、偶数アドレスのビット*BLEが選択されたことにな
る。一方、r□、の書き込み信号WRによって、NOR
ゲート(28)及びNANDゲート(29〉が動作状態
である。そこで、N−MO3(3)に書き込まれたrO
」の論理情報がN−MO8(5>、書き込み回路(26
)、及び読み出し回路(27〉を介してNORゲート(
28〉及びNANDゲート(29)に印加されると、N
−MO8(32)がオンし、データ端子(13)からは
rO」(プログラムデータAの最下位ビット)が読み出
されてベリファイされることになる。その後、時刻t、
において、アドレスデータAOを「0」から「1」に立
上げると、ANDゲート(22)出力が「1.になると
共にORゲート(23)出力が10」になる。これより
高圧印加回路(7〉からは6ボルトのV DD電圧が出
力され、且つ高圧印加回路(8)からは零ボルトが出力
される。
従ってN−MO5(4)がオンすると共にN−MO8(
5)がオフし、奇数アドレスのビット線BLOが選択さ
れたことになる。そこでN−MO3(3)のデータの読
み出しと同様に、N−MO8(2)に書き込まれたr□
、の論理情報がN−MO3(4)、書き込み回路(26
)、及び読み出し回路(27)を介してNORゲート(
28)及びNANDゲート(29〉に印加されると、N
−MO8(32)がオンし、データ端子(13)からは
「O」(プログラムデータBの最下位ビット)が読み出
されてベリファイされることになる。その後、時刻t、
において、アドレスデータAOが「1」から「Olに立
下がると共にOR信号が「0」から「1」に立上がり、
次の偶数アドレス及び奇数アドレスのプログラムデータ
の同時書き込み動作が移ることになる。つまり前述の一
連の動作によって、E1’ROM(1)の偶数アドレス
及び奇数アドレスの計2アドレスのプログラムデータの
同時書き込み及びベリファイが1サイクルだけ為された
ことになる。
5)がオフし、奇数アドレスのビット線BLOが選択さ
れたことになる。そこでN−MO3(3)のデータの読
み出しと同様に、N−MO8(2)に書き込まれたr□
、の論理情報がN−MO3(4)、書き込み回路(26
)、及び読み出し回路(27)を介してNORゲート(
28)及びNANDゲート(29〉に印加されると、N
−MO8(32)がオンし、データ端子(13)からは
「O」(プログラムデータBの最下位ビット)が読み出
されてベリファイされることになる。その後、時刻t、
において、アドレスデータAOが「1」から「Olに立
下がると共にOR信号が「0」から「1」に立上がり、
次の偶数アドレス及び奇数アドレスのプログラムデータ
の同時書き込み動作が移ることになる。つまり前述の一
連の動作によって、E1’ROM(1)の偶数アドレス
及び奇数アドレスの計2アドレスのプログラムデータの
同時書き込み及びベリファイが1サイクルだけ為された
ことになる。
尚、本実施例において、偶数アドレスのプログラムデー
タAと奇数アドレスのプログラムデータBの最下位ビッ
トDOが共に「0」の場合について説明したが、偶数ア
ドレスのプログラムデータAの最下位ビットDOと奇数
アドレスのプログラムデータBの最下位ビットDOが夫
々、′1」’O」p’OJ’l」、’l」’1」の場合
についても、第2図のタイミングチャートを基に第1図
の回路動作を追っていけば、偶数アドレスと奇数アドレ
スの計2アドレスのプログラムデータの同時書き込み及
びベリファイが可能となることは、明白である。
タAと奇数アドレスのプログラムデータBの最下位ビッ
トDOが共に「0」の場合について説明したが、偶数ア
ドレスのプログラムデータAの最下位ビットDOと奇数
アドレスのプログラムデータBの最下位ビットDOが夫
々、′1」’O」p’OJ’l」、’l」’1」の場合
についても、第2図のタイミングチャートを基に第1図
の回路動作を追っていけば、偶数アドレスと奇数アドレ
スの計2アドレスのプログラムデータの同時書き込み及
びベリファイが可能となることは、明白である。
また本実施例においては、偶数アドレスと奇数アドレス
の2アドレスにおけるプログラムデータを同時に書き込
むのみならず、エアドレスづつ書き込むことも可能であ
る。つまり、同時書き込み8号2 BWIj:’ I
J ニtttif、ラッチ回路(14)カセットされる
為、ANDゲート(22)(25)及びORゲート(2
3〉は動作状態となり、ANDゲート(22)及びOR
ゲート〈23〉はアドレスデータAOに基づいて相補的
に動作し、ANDゲート(25)はデータDOをそのま
ま出力することになる。従って書き込み信号WRが「1
」の状態の時、N−MO5(2)(3)には夫々異なる
時刻に論理情報が書き込まれることになる。即ち、1ア
ドレスづつのデータの書き込みが可能となる。
の2アドレスにおけるプログラムデータを同時に書き込
むのみならず、エアドレスづつ書き込むことも可能であ
る。つまり、同時書き込み8号2 BWIj:’ I
J ニtttif、ラッチ回路(14)カセットされる
為、ANDゲート(22)(25)及びORゲート(2
3〉は動作状態となり、ANDゲート(22)及びOR
ゲート〈23〉はアドレスデータAOに基づいて相補的
に動作し、ANDゲート(25)はデータDOをそのま
ま出力することになる。従って書き込み信号WRが「1
」の状態の時、N−MO5(2)(3)には夫々異なる
時刻に論理情報が書き込まれることになる。即ち、1ア
ドレスづつのデータの書き込みが可能となる。
またエアドレスづつ書き込まれたデータをベリファイす
る場合、同時書き込み信号2BWが「1」の状態で、通
常のベリファイモードにすれば、EPROM(1)の1
アドレス分のデータを書き込むlサイクル期間において
、書き込まれた1アドレス分のデータのベリファイが可
能となる。
る場合、同時書き込み信号2BWが「1」の状態で、通
常のベリファイモードにすれば、EPROM(1)の1
アドレス分のデータを書き込むlサイクル期間において
、書き込まれた1アドレス分のデータのベリファイが可
能となる。
以上より、EPROM(1)の奇数アドレスと偶数アド
レスの2アドレスにおける論理情報を、該EPROM(
1)に同時に書き込むことができる為、EPROM(1
)への論理情報の書き込み時間を従来の172に短縮で
きることになる。
レスの2アドレスにおける論理情報を、該EPROM(
1)に同時に書き込むことができる為、EPROM(1
)への論理情報の書き込み時間を従来の172に短縮で
きることになる。
(ト〉発明の効果
本発明によれば、EPROMの奇数アドレスと偶数アド
レスにおける論理情報を、該EPROMに同時に書き込
むことができる為、EPROMへの論理情報の書き込み
時間を短縮できることになる。その結果、出荷側におい
てはEPROM内蔵マイクロコンピュータの出荷選別を
迅速に行なうことができ、ユーザー側においても、マイ
クロコンピュータ内蔵のEPROMにプログラムデータ
を迅速に書き込むことができる等の利点が得られる。
レスにおける論理情報を、該EPROMに同時に書き込
むことができる為、EPROMへの論理情報の書き込み
時間を短縮できることになる。その結果、出荷側におい
てはEPROM内蔵マイクロコンピュータの出荷選別を
迅速に行なうことができ、ユーザー側においても、マイ
クロコンピュータ内蔵のEPROMにプログラムデータ
を迅速に書き込むことができる等の利点が得られる。
第1図は本発明のEPROM内蔵マイクロコンピュータ
を示す回路図、第2図は第1図の動作を説明するための
タイミングチャートである。 (1)・−EPROM、 (7)(8)・・・高圧印
加回路、(14)・・・ラッチ回路、 〈17)・・・
出力回路、 (21)・・・駆動制御回路、 (26〉
・・・書き込み回路。
を示す回路図、第2図は第1図の動作を説明するための
タイミングチャートである。 (1)・−EPROM、 (7)(8)・・・高圧印
加回路、(14)・・・ラッチ回路、 〈17)・・・
出力回路、 (21)・・・駆動制御回路、 (26〉
・・・書き込み回路。
Claims (2)
- (1)少なくとも、奇数アドレスの論理情報を記憶する
第1のメモリセルが配置された第1のビット線と、該第
1のビット線を選択する第1の選択トランジスタと、偶
数アドレスの論理情報を記憶する第2のメモリセルが配
置された第2のビット線と、該第2のビット線を選択す
る第2の選択トランジスタとを有するEPROMと、 前記第1の選択トランジスタを駆動する第1の駆動回路
と、 前記第2の選択トランジスタを駆動する第2の駆動回路
と、 前記第1のメモリセル及び前記第2のメモリセルに夫々
奇数アドレス及び偶数アドレスの論理情報を書き込む書
き込み回路と、 を備えたEPROM内蔵マイクロコンピュータにおいて
、 奇数アドレス及び偶数アドレスを識別する識別信号に基
づいて、奇数アドレス及び偶数アドレスの一方の論理情
報をラッチするラッチ回路と、前記第1のメモリセル及
び前記第2のメモリセルに夫々奇数アドレス及び偶数ア
ドレスの論理情報を同時に書き込むための同時書き込み
信号に基づいて、前記ラッチ回路にラッチされた一方の
論理情報と前記ラッチ回路にラッチされない他方の論理
情報とを出力する出力回路と、 前記識別信号及び前記出力回路の出力に基づいて、前記
第1の駆動回路及び前記第2の駆動回路を制御する駆動
制御回路とを備え、 前記同時書き込み信号の発生時、前記第1のメモリセル
及び前記第2のメモリセルに夫々奇数アドレス及び偶数
アドレスの論理情報を同時に書き込むことを特徴とする
EPROM内蔵マイクロコンピュータ。 - (2)前記第1のメモリセル及び前記第2のメモリセル
に夫々奇数アドレス及び偶数アドレスの論理情報を同時
に書き込むための期間と、前記第1のメモリセル及び前
記第2のメモリセルに記憶された論理情報をベリファイ
するための期間とを合わせて、EPROMの1サイクル
の書き込み期間とすることを特徴とする請求項(1)記
載のEPROM内蔵マイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1208144A JPH0371493A (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | Eprom内蔵マイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1208144A JPH0371493A (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | Eprom内蔵マイクロコンピュータ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0371493A true JPH0371493A (ja) | 1991-03-27 |
Family
ID=16551366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1208144A Pending JPH0371493A (ja) | 1989-08-10 | 1989-08-10 | Eprom内蔵マイクロコンピュータ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0371493A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6084746A (en) * | 1997-03-04 | 2000-07-04 | Tdk Corporation | Magnetic head device |
JP5954498B2 (ja) * | 2013-07-29 | 2016-07-20 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置、及び、半導体記憶装置の試験方法 |
-
1989
- 1989-08-10 JP JP1208144A patent/JPH0371493A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6522502B1 (en) | 1997-03-02 | 2003-02-18 | Tdk Corporation | Magnetic head device |
US6084746A (en) * | 1997-03-04 | 2000-07-04 | Tdk Corporation | Magnetic head device |
US6898840B1 (en) | 1997-03-04 | 2005-05-31 | Tdk Corporation | Method of fabricating a magnetic head device |
JP5954498B2 (ja) * | 2013-07-29 | 2016-07-20 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置、及び、半導体記憶装置の試験方法 |
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