JPH0368353B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0368353B2 JPH0368353B2 JP13951682A JP13951682A JPH0368353B2 JP H0368353 B2 JPH0368353 B2 JP H0368353B2 JP 13951682 A JP13951682 A JP 13951682A JP 13951682 A JP13951682 A JP 13951682A JP H0368353 B2 JPH0368353 B2 JP H0368353B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scr
- discharge
- test
- cable
- withstand voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 101000668165 Homo sapiens RNA-binding motif, single-stranded-interacting protein 1 Proteins 0.000 description 1
- 102100039692 RNA-binding motif, single-stranded-interacting protein 1 Human genes 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、供試ケーブルに直流高電圧を印加し
直流耐圧試験を実施した後に、スイツチング素子
を順次導通状態にすることにより、供試ケーブル
に蓄えられていた電荷を強制的に放電することの
できる直流耐圧試験用放電装置に関する。
直流耐圧試験を実施した後に、スイツチング素子
を順次導通状態にすることにより、供試ケーブル
に蓄えられていた電荷を強制的に放電することの
できる直流耐圧試験用放電装置に関する。
従来から直流耐圧試験は、電気設備基準に基づ
いて芯線相互間、又は芯線とシース間に直流高電
圧を印加することにより実施している。そして試
験終了後、試験ケーブルに充電された電荷を放電
させる必要があるが、かかる電荷の放電を行なう
にはケーブルのベツドを接地すればよい。けれど
も接地棒を、充電されたケーブルヘツドに近づけ
ると火花放電が起り、ケーブルの電圧を急変させ
ケーブルの絶縁体に悪影響を与える。そのために
試験ケーブルを放置して自然放電させているのが
現状である。
いて芯線相互間、又は芯線とシース間に直流高電
圧を印加することにより実施している。そして試
験終了後、試験ケーブルに充電された電荷を放電
させる必要があるが、かかる電荷の放電を行なう
にはケーブルのベツドを接地すればよい。けれど
も接地棒を、充電されたケーブルヘツドに近づけ
ると火花放電が起り、ケーブルの電圧を急変させ
ケーブルの絶縁体に悪影響を与える。そのために
試験ケーブルを放置して自然放電させているのが
現状である。
しかしながら、試験ケーブルに充電されている
電荷を自然放電させると、完全に放電し終える迄
に長時間を要するという問題点を有している。
電荷を自然放電させると、完全に放電し終える迄
に長時間を要するという問題点を有している。
本発明は、前記問題点を解決するために火花放
電が発生しないような放電手段をもつて、早期に
供試ケーブルの電荷を放電させることのできる、
直流耐圧試験用放電装置を提供することを目的と
する。
電が発生しないような放電手段をもつて、早期に
供試ケーブルの電荷を放電させることのできる、
直流耐圧試験用放電装置を提供することを目的と
する。
次に本発明の好ましい実施例を第１図をもとに
して詳述する。電荷放電手段を備えた直流耐圧試
験用放電装置は、直流高圧発生器１によつて供試
ケーブル４に直流高圧を印加し、その耐圧試験後
に供試ケーブル４に残留する電荷を放電させるも
のであつて、放電用抵抗R0、R1〜Rnとスイツチ
ング素子SCR1、〜SCRnと、フオトダイオードr1
〜rnと、光フアイバ２と、ゲート信号発生器３と
から構成されている。
して詳述する。電荷放電手段を備えた直流耐圧試
験用放電装置は、直流高圧発生器１によつて供試
ケーブル４に直流高圧を印加し、その耐圧試験後
に供試ケーブル４に残留する電荷を放電させるも
のであつて、放電用抵抗R0、R1〜Rnとスイツチ
ング素子SCR1、〜SCRnと、フオトダイオードr1
〜rnと、光フアイバ２と、ゲート信号発生器３と
から構成されている。
ここで直流高圧発生器１は、供試ケーブル４の
耐圧を試験する為に直流高電圧を印加するもので
ある。そして放電用抵抗R0、R1〜Rnは、供試ケ
ーブル４に並列に接続する縦続接続した抵抗であ
る。次にスイツチング素子（SCR）SCR1〜
SCRnは、供試ケーブル４に蓄えられた電荷を放
電させるために放電用抵抗R0＋R1、R0＋R2…R0
＋Rnの各々に並列に接続され各抵抗を短絡させ
るものである。即ちスイツチング素子（SCR）
SCR1のゲート、カソード間にフオトダイオード
r1を介して抵抗R0が、そしてゲート、アノード間
にはフオトダイオードr1を介して抵抗R1が接続さ
れている。又他のスイツチング素子（SCR）
SCR2〜SCRnも同じ様な回路構成になつている。
そしてフオトダイオードr1〜rnは、スイツチング
素子（SCR）SCR1〜SCRnのケードに接続され
ている。更に光フアイバ２は、フオトダイオード
r1〜rnとゲート信号発生器３との間に布設されて
いる。そしてゲート信号発生器３は、スイツチン
グ素子（SCR）SCR1〜SCRnの各々を順次スイ
ツイングさせていくものである。即ちゲート信号
発生器３は、光フアイバ２とフオトダイオードr1
を介してスイツチング素子（SCR）SCR1のゲー
トに接続されている。又他のスイツチング素子
（SCR）SCR2〜SCRnも同じように接続されてい
る。
耐圧を試験する為に直流高電圧を印加するもので
ある。そして放電用抵抗R0、R1〜Rnは、供試ケ
ーブル４に並列に接続する縦続接続した抵抗であ
る。次にスイツチング素子（SCR）SCR1〜
SCRnは、供試ケーブル４に蓄えられた電荷を放
電させるために放電用抵抗R0＋R1、R0＋R2…R0
＋Rnの各々に並列に接続され各抵抗を短絡させ
るものである。即ちスイツチング素子（SCR）
SCR1のゲート、カソード間にフオトダイオード
r1を介して抵抗R0が、そしてゲート、アノード間
にはフオトダイオードr1を介して抵抗R1が接続さ
れている。又他のスイツチング素子（SCR）
SCR2〜SCRnも同じ様な回路構成になつている。
そしてフオトダイオードr1〜rnは、スイツチング
素子（SCR）SCR1〜SCRnのケードに接続され
ている。更に光フアイバ２は、フオトダイオード
r1〜rnとゲート信号発生器３との間に布設されて
いる。そしてゲート信号発生器３は、スイツチン
グ素子（SCR）SCR1〜SCRnの各々を順次スイ
ツイングさせていくものである。即ちゲート信号
発生器３は、光フアイバ２とフオトダイオードr1
を介してスイツチング素子（SCR）SCR1のゲー
トに接続されている。又他のスイツチング素子
（SCR）SCR2〜SCRnも同じように接続されてい
る。
次にその作用について説明する。まずSCR1の
ゲートに電流を流さない状態ではSCR1はオフ状
態となつている。けれどもゲート信号発生器３か
らフオトダイオードr1へ光フアイバ２を介して光
を送ると、PN接合面に光をあてられたフオトダ
イオードr1には電流が流れだして抵抗値が低くな
る。すると抵抗R0両端の電位差が、SCR1のゲー
ト、カソード間に加わりSCR1が導通状態になる。
これは等価的に抵抗R0＋R1が短絡されたことに
なるので、供試ケーブル４に蓄えられた電荷が、
供試ケーブル４の接地側から抵抗R0＋Rn、R0＋
Rn−1…R0＋R2、SCR1を通つて、供試ケーブル
４の負側へ放電する。そしてSCR2、SCR3…
SCRnについても、順次同じような手順でもつて
導通状態にしていくことによつて、第２図に示す
ような放電形態をとり得る。
ゲートに電流を流さない状態ではSCR1はオフ状
態となつている。けれどもゲート信号発生器３か
らフオトダイオードr1へ光フアイバ２を介して光
を送ると、PN接合面に光をあてられたフオトダ
イオードr1には電流が流れだして抵抗値が低くな
る。すると抵抗R0両端の電位差が、SCR1のゲー
ト、カソード間に加わりSCR1が導通状態になる。
これは等価的に抵抗R0＋R1が短絡されたことに
なるので、供試ケーブル４に蓄えられた電荷が、
供試ケーブル４の接地側から抵抗R0＋Rn、R0＋
Rn−1…R0＋R2、SCR1を通つて、供試ケーブル
４の負側へ放電する。そしてSCR2、SCR3…
SCRnについても、順次同じような手順でもつて
導通状態にしていくことによつて、第２図に示す
ような放電形態をとり得る。
その結果供試ケーブル４に蓄えられた電荷を強
制的に放電させることができる。
制的に放電させることができる。
尚以上のような回路構成をとつた結果、供試ケ
ーブルを損傷することなく耐圧試験によつて蓄え
られた電荷を、短時間で放電することができると
いう効果を奏する。又耐圧試験を多数回繰り返す
ような場合には、試験に要する時間を短縮できる
等の効果を奏する。
ーブルを損傷することなく耐圧試験によつて蓄え
られた電荷を、短時間で放電することができると
いう効果を奏する。又耐圧試験を多数回繰り返す
ような場合には、試験に要する時間を短縮できる
等の効果を奏する。
第１図は本発明の直流耐圧試験用放電装置の回
路構成図、第２図は蓄えられた電荷の放電形態を
示す図である。 １……直流高圧発生器、２……光フアイバ、３
……ゲート信号発生器、４……供試ケーブル、
SCR1〜SCRn……スイツチング素子（SCR）、r1
〜rn……フオトダイオード、R0、R1〜Rn……放
電用抵抗。
路構成図、第２図は蓄えられた電荷の放電形態を
示す図である。 １……直流高圧発生器、２……光フアイバ、３
……ゲート信号発生器、４……供試ケーブル、
SCR1〜SCRn……スイツチング素子（SCR）、r1
〜rn……フオトダイオード、R0、R1〜Rn……放
電用抵抗。
Claims (1)
- １ 直流耐圧試験後に供試ケーブル４に残留する
電荷を放電させる直流耐圧試験用放電装置であつ
て、前記放電装置は、前記供試ケーブルに並列に
接続され縦続接続した放電用抵抗（R0＋R1、R0
＋R2…R0＋Rn）と、前記供試ケーブルに蓄えら
れた電荷を放電させるために前記放電用抵抗の
各々の抵抗に並列に接続され各抵抗を短絡させる
スイツチング素子（SCR1、SCR2…SCRn）と、
前記スイツチング素子の各々を順次スイツチング
させる信号発生器３とを備えたことを特徴とする
直流耐圧試験用放電装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13951682A JPS5928676A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 直流耐圧試験用放電装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13951682A JPS5928676A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 直流耐圧試験用放電装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5928676A JPS5928676A (ja) | 1984-02-15 |
| JPH0368353B2 true JPH0368353B2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=15247112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13951682A Granted JPS5928676A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 直流耐圧試験用放電装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5928676A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1340148C (en) * | 1986-08-12 | 1998-12-01 | Leroy H. Busker | Method of reducing shrinkage during drying of a paper web |
| JP6325813B2 (ja) | 2012-12-27 | 2018-05-16 | 栗田工業株式会社 | ピッチ抑制剤、ピッチ抑制方法、及び脱墨パルプの製造方法 |
| JP6787600B2 (ja) * | 2019-03-04 | 2020-11-18 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 放電装置 |
-
1982
- 1982-08-10 JP JP13951682A patent/JPS5928676A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5928676A (ja) | 1984-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0368353B2 (ja) | ||
| CN1737594A (zh) | 基于正负极性直流叠加法的交联聚乙烯电缆绝缘诊断电路 | |
| JPH0363027B2 (ja) | ||
| JP2612366B2 (ja) | 電力ケーブルの絶縁劣化診断法 | |
| US4258407A (en) | Lightning arrester device for power transmission line | |
| KR970009767B1 (ko) | 서어지 흡수장치 | |
| KR100196299B1 (ko) | 전력 케이블의 절연열화 측정장치 | |
| CA1261918A (fr) | Detection du calage des barres dans les encoches stator | |
| US3911322A (en) | Method and circuit arrangement for an improved low cost lightning arrester | |
| Sabath et al. | Analog Computer Study of Switching Surge Transients for a 500-ky System | |
| SU1648813A1 (ru) | Устройство секционировани двухпроводной контактной сети | |
| JP2612367B2 (ja) | 電力ケーブルの絶縁劣化診断法 | |
| JPH0297213A (ja) | ケーブルの課電劣化試験用端末及びケーブルの課電劣化試験方法 | |
| JPS645956Y2 (ja) | ||
| JPH0353524Y2 (ja) | ||
| SU660143A1 (ru) | Устройство дл определени поврежденной линии при однофазном замыкании на землю в сети с изолированной нейтралью и в компенсированной сети | |
| GB1588893A (en) | Arc quenching in surge arresters | |
| JPS6264964A (ja) | ケ−ブルの放電方法 | |
| JPH0140956B2 (ja) | ||
| RU2011253C1 (ru) | Многоканальный управляемый разрядник | |
| JPS6154183B2 (ja) | ||
| JPS6115659B2 (ja) | ||
| RU25095U1 (ru) | Высоковольтный стенд для испытания ограничителей перенапряжений | |
| RU2060583C1 (ru) | Многоканальное устройство формирования импульсов | |
| JP2628715B2 (ja) | 電力ケーブル試験装置 |