JPS5928676A - 直流耐圧試験用放電装置 - Google Patents
直流耐圧試験用放電装置Info
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- JPS5928676A JPS5928676A JP13951682A JP13951682A JPS5928676A JP S5928676 A JPS5928676 A JP S5928676A JP 13951682 A JP13951682 A JP 13951682A JP 13951682 A JP13951682 A JP 13951682A JP S5928676 A JPS5928676 A JP S5928676A
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- cable
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- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 2
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- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 101100365087 Arabidopsis thaliana SCRA gene Proteins 0.000 abstract 5
- 101150105073 SCR1 gene Proteins 0.000 abstract 5
- 101100134054 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) NTG1 gene Proteins 0.000 abstract 5
- 101000668165 Homo sapiens RNA-binding motif, single-stranded-interacting protein 1 Proteins 0.000 abstract 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
・ト；゛紙明は、供試ケーブルに直流高電圧を印加しく
負流（ｉ＋ｉ４圧試験を與施した後に、ヌイノチング素
子’；３） ｔ’ｉｆｉ次導、由：１ノリ′、キレこす
ることｉ＋Ｕより、供試ケーフ゛ル（−浩とられてい／
こ′１πイ１ＬＬ７強制的Ｑ′（ＩＩＱ ｉＪ、するこ
とのできる直流耐圧試験装置に関する。
負流（ｉ＋ｉ４圧試験を與施した後に、ヌイノチング素
子’；３） ｔ’ｉｆｉ次導、由：１ノリ′、キレこす
ることｉ＋Ｕより、供試ケーフ゛ル（−浩とられてい／
こ′１πイ１ＬＬ７強制的Ｑ′（ＩＩＱ ｉＪ、するこ
とのできる直流耐圧試験装置に関する。
従来から直流１（ｉＩ圧試験（ｒ」１、電気設置萌霜準
に基ついて芯線相ｌｈ間、又は、；モ旨・イと７一ス間
に直（ＡＣ，高電１十ケ印加２−るこノニにより実７ｉ
ｊｊ ｌ−、ている。そして試験路１′後、供１＋５ケ
ーブルに光重、きれた電荷を放電４させる必要があるが
、かかる電４％の放電を行なうにはケー プルのヘッド
を接地すればよい。けれども接池棒を、充電されたケー
ブルヘッドに近づけると火花ｉＩｋ電が起り、ケーブル
の電圧を、１５（さ−１ｔケーブルの絶縁体に悪影響を
与える。そのだめに供試ケーブルを放置Ｌ７て自然放電
させているのが現状である。
に基ついて芯線相ｌｈ間、又は、；モ旨・イと７一ス間
に直（ＡＣ，高電１十ケ印加２−るこノニにより実７ｉ
ｊｊ ｌ−、ている。そして試験路１′後、供１＋５ケ
ーブルに光重、きれた電荷を放電４させる必要があるが
、かかる電４％の放電を行なうにはケー プルのヘッド
を接地すればよい。けれども接池棒を、充電されたケー
ブルヘッドに近づけると火花ｉＩｋ電が起り、ケーブル
の電圧を、１５（さ−１ｔケーブルの絶縁体に悪影響を
与える。そのだめに供試ケーブルを放置Ｌ７て自然放電
させているのが現状である。
しかしながら、供試ケーブルに充電サノ１−ている電荷
を自然放電、訟ぜると、完全に放ｆｉｆｆ、ｌ−終える
迄に長時間を要するという問題へを有し７ている。
を自然放電、訟ぜると、完全に放ｆｉｆｆ、ｌ−終える
迄に長時間を要するという問題へを有し７ている。
本発明は、前記問題点を解決する７スめに火花放′賀が
発生し１、ｔいよつな放電手段でもって、早期に供試ケ
ーブルの重荷を放電させることのできる、直流耐圧試験
装置を提供すること金目的とする。
発生し１、ｔいよつな放電手段でもって、早期に供試ケ
ーブルの重荷を放電させることのできる、直流耐圧試験
装置を提供すること金目的とする。
次に本発明の好ま１．い実施例を第１図をもとにして詳
述する。電荷放電手段を備えた直流耐圧試験装置は、直
流高圧発生澤１と、分圧用抵抗群１ｔｏ、１も＋ ’−
Ｒｔ＋と、Ｘ −１ソチ／グ素子群Ｓ Ｃ］（、、□−
Ｓ ＣＨ，ｎと、）第１・りｆオード「１〜ｒｎと、丸
ファイバ２と、ケート信号発生器３とから構成されＣい
る。
述する。電荷放電手段を備えた直流耐圧試験装置は、直
流高圧発生澤１と、分圧用抵抗群１ｔｏ、１も＋ ’−
Ｒｔ＋と、Ｘ −１ソチ／グ素子群Ｓ Ｃ］（、、□−
Ｓ ＣＨ，ｎと、）第１・りｆオード「１〜ｒｎと、丸
ファイバ２と、ケート信号発生器３とから構成されＣい
る。
ここＣ直流高圧発生器１は、供試ケーブル４の１・、■
１圧を試験ジる為（・（直流高電圧を印ＩＪＩＩするも
ので１ｂ６３．そして分圧用携抗群Ｒ・。、Ｉ（，１〜
Ｒ，口は、供試ケーブル４に並列（Ｃ疑続する縦続１斗
続した抵抗である。次にスイッチング素子群（Ｓ Ｃｕ
） ｔ３ＣＩ（＋ 〜５ＣＩＬｎ は、分圧用１１
（抗群１（、、＋）（、、、、Ｒｏ＋ Ｒ，、・・１（
ｏｌ−ｆｌ・［１の各々に並列に接続して屯荷を放電す
るものである。ｌ！＋１ちスイッチング素子群（８ＣＲ
Ｊ Ｓ（シ１＜１１のゲ−１・、カッ−ド間に２１オド
ダイオード「１を介して抵抗ｌ（・。が、そしてゲ−１
・、ｆ ／−ド間に４Ｊノー４−１． ／ｌ’イ４−−
ドｒ、を介しｆ ｊ：、：９抗Ｉｔ、が接続さ）してい
る。又４％Ｑ に）スイッチング］子ｎ （ＳＣＨ。
１圧を試験ジる為（・（直流高電圧を印ＩＪＩＩするも
ので１ｂ６３．そして分圧用携抗群Ｒ・。、Ｉ（，１〜
Ｒ，口は、供試ケーブル４に並列（Ｃ疑続する縦続１斗
続した抵抗である。次にスイッチング素子群（Ｓ Ｃｕ
） ｔ３ＣＩ（＋ 〜５ＣＩＬｎ は、分圧用１１
（抗群１（、、＋）（、、、、Ｒｏ＋ Ｒ，、・・１（
ｏｌ−ｆｌ・［１の各々に並列に接続して屯荷を放電す
るものである。ｌ！＋１ちスイッチング素子群（８ＣＲ
Ｊ Ｓ（シ１＜１１のゲ−１・、カッ−ド間に２１オド
ダイオード「１を介して抵抗ｌ（・。が、そしてゲ−１
・、ｆ ／−ド間に４Ｊノー４−１． ／ｌ’イ４−−
ドｒ、を介しｆ ｊ：、：９抗Ｉｔ、が接続さ）してい
る。又４％Ｑ に）スイッチング］子ｎ （ＳＣＨ。
） 、′：３Ｃ１１，，，〜５ＣＩＬｎ モ同Ｕ様す回
路）’ｊｌ 成Ｋ ナラ−Ｃイる。そしてフォトダイオ
ード「、〜ｒｎは、スィッチ７グ素子群（ＳＣｌ（、）
ＳＣＲ，−８（” Ｉｔ、＋＋のゲ−１に１とＨされ
ている。更に光ファイバｌは、ツメ１）“イオードｒ、
−ｒｎとゲート信号発生名神３との間に布設叡れている
。そしてケート１営号発生詣３；・１、ｙ、 イア （
−７りＪＡ 、’、ｆ−１’ｉ、 （、Ｓ（： ｌ（、
ｊ ’５ＣｉＬ、 〜５Ｃ１１，ｎ Ｕ）各り’５１１
１ｍ ７欠ペイノヂングさせでいくちのであ句Ｌｒｒｌ
ｌちゲート信号発生器３は、）′ｔファイバ２とフＡ−
トタイオードｌ、を介してスイッチング素子（ｓｃｔｔ
） Ｓ ＣｉＮ、Ｈのゲートに接続されている。又他の
スイッチング素子群（Ｓ ｃ ＋＋ ） ｓｃ Ｉ４．
、〜Ｓ ＣＲｎも同じように接続されている。
路）’ｊｌ 成Ｋ ナラ−Ｃイる。そしてフォトダイオ
ード「、〜ｒｎは、スィッチ７グ素子群（ＳＣｌ（、）
ＳＣＲ，−８（” Ｉｔ、＋＋のゲ−１に１とＨされ
ている。更に光ファイバｌは、ツメ１）“イオードｒ、
−ｒｎとゲート信号発生名神３との間に布設叡れている
。そしてケート１営号発生詣３；・１、ｙ、 イア （
−７りＪＡ 、’、ｆ−１’ｉ、 （、Ｓ（： ｌ（、
ｊ ’５ＣｉＬ、 〜５Ｃ１１，ｎ Ｕ）各り’５１１
１ｍ ７欠ペイノヂングさせでいくちのであ句Ｌｒｒｌ
ｌちゲート信号発生器３は、）′ｔファイバ２とフＡ−
トタイオードｌ、を介してスイッチング素子（ｓｃｔｔ
） Ｓ ＣｉＮ、Ｈのゲートに接続されている。又他の
スイッチング素子群（Ｓ ｃ ＋＋ ） ｓｃ Ｉ４．
、〜Ｓ ＣＲｎも同じように接続されている。
次にその作用について説明する。まずＳＣｌｊ、のゲ−
ｌ−には流を流さない状態ではＳ （’： Ｒ・１（・
エオフ状態となつＣいる。けれどもクー ト信号発生器
３かもフォトダイオードｒ１へ光ファイバ２を介して光
ケ遂ると、ＰＮ接合面に光をあてられたフォトダイオー
ドｒ、 Ｋは電諦１が流れだし、て匿ＩＪｃ値が低くな
る。すると抵抗１ｔ３７両端の電位差か、ＳＣ］（＋＋
のゲート、カソード間に加わりＳＣＲ，が導通状態にな
る。これは等両的に抵抗１（、。＋１（・１が短絡され
たこと６′こなるので、供試ケーブル４に蓄えｑ−ｒ
Ｉ１．７′；−′重荷が、供試クープル４の接呻、側か
ら抵抗＋ｉｏ、４−ＩいＴ 、、 Ｉ１０ ＋Ｒ，ｎ
−＋−−−Ｒｏ（４Ｒ２、ＳＣＲ，’ｉｊ１って、供
試ケープ・し４の負側へ放電する。そしてＳ ＣＩｔ２
Ｓ ＣＩ（、Ｈｌ ・・ＳＣＩＬ ｎ （ｒｉ一ついて
も、順次同Ｕ 、）、 ’）な手順でもって導通状態に
していくことによって、第２図に示す」、゛）な放電形
態をとり得る。
ｌ−には流を流さない状態ではＳ （’： Ｒ・１（・
エオフ状態となつＣいる。けれどもクー ト信号発生器
３かもフォトダイオードｒ１へ光ファイバ２を介して光
ケ遂ると、ＰＮ接合面に光をあてられたフォトダイオー
ドｒ、 Ｋは電諦１が流れだし、て匿ＩＪｃ値が低くな
る。すると抵抗１ｔ３７両端の電位差か、ＳＣ］（＋＋
のゲート、カソード間に加わりＳＣＲ，が導通状態にな
る。これは等両的に抵抗１（、。＋１（・１が短絡され
たこと６′こなるので、供試ケーブル４に蓄えｑ−ｒ
Ｉ１．７′；−′重荷が、供試クープル４の接呻、側か
ら抵抗＋ｉｏ、４−ＩいＴ 、、 Ｉ１０ ＋Ｒ，ｎ
−＋−−−Ｒｏ（４Ｒ２、ＳＣＲ，’ｉｊ１って、供
試ケープ・し４の負側へ放電する。そしてＳ ＣＩｔ２
Ｓ ＣＩ（、Ｈｌ ・・ＳＣＩＬ ｎ （ｒｉ一ついて
も、順次同Ｕ 、）、 ’）な手順でもって導通状態に
していくことによって、第２図に示す」、゛）な放電形
態をとり得る。
その結県洪試ケーブル４に蓄、乞１：畳１だ電荷を強制
的に放電させることができる。
的に放電させることができる。
尚以上のような回路構成をとった結果、１其試ケーブル
を４ｊｉ、 傷することなく耐圧試験にょ−っ−〔蓄え
られだ重荷を、短時間で放電すると二とができふという
効果を奏する。又耐圧試験を多数（ψ１操り返すような
１ｗ合には、試験に要する時間を短縮−〇きる等（７）
効果を賃する。
を４ｊｉ、 傷することなく耐圧試験にょ−っ−〔蓄え
られだ重荷を、短時間で放電すると二とができふという
効果を奏する。又耐圧試験を多数（ψ１操り返すような
１ｗ合には、試験に要する時間を短縮−〇きる等（７）
効果を賃する。
４１ｇ桶の簡単ンデ説明
第１１ン（は本発明の直流耐圧試験装置の回路構成図、
第２図はζ゛「えられた電荷久７ ラ９市１形態を示す
；］である。
第２図はζ゛「えられた電荷久７ ラ９市１形態を示す
；］である。
１ ・・直流高圧発生器
２・ ・九ファイバ
３・・・・ゲート信号発生器
４・・ ・供試ケ−グル
Ｓ ＣＩｌ、、 −＝ ８ （′、Ｉもｊｌ ・スイ
ッチング素子群（Ｓ （、’ Ｈ，）
ッチング素子群（Ｓ （、’ Ｈ，）
Claims (1)
- ９％ ｉｉとケーブルに並列に接１晩する縦続１ （ｊ
Ｅ ＃ｊＩ”、 ｌ／だ分［干用抵ｉバ、群と、譲与）
）ミ用抵抗ｔ１ｔの各々に並列１・（−接続して電荷を
放電するスイユノイー／グ、に子群と、該スイソヂノグ
素子群の希々を順次スイノヂ／グさせていくトリガ信号
発生′指とから成る電荷放電手段を（５悄ぐ〕こことを
特徴とする直流耐圧試験装置！、０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13951682A JPS5928676A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 直流耐圧試験用放電装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13951682A JPS5928676A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 直流耐圧試験用放電装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5928676A true JPS5928676A (ja) | 1984-02-15 |
| JPH0368353B2 JPH0368353B2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=15247112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13951682A Granted JPS5928676A (ja) | 1982-08-10 | 1982-08-10 | 直流耐圧試験用放電装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5928676A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6350595A (ja) * | 1986-08-12 | 1988-03-03 | ベロイト・コ−ポレイション | 界面活性剤を利用した紙の製造方法 |
| WO2014104261A1 (ja) | 2012-12-27 | 2014-07-03 | 栗田工業株式会社 | ピッチ抑制剤、ピッチ抑制方法、及び脱墨パルプの製造方法 |
| JP2020145777A (ja) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 放電装置 |
-
1982
- 1982-08-10 JP JP13951682A patent/JPS5928676A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6350595A (ja) * | 1986-08-12 | 1988-03-03 | ベロイト・コ−ポレイション | 界面活性剤を利用した紙の製造方法 |
| WO2014104261A1 (ja) | 2012-12-27 | 2014-07-03 | 栗田工業株式会社 | ピッチ抑制剤、ピッチ抑制方法、及び脱墨パルプの製造方法 |
| KR20150099525A (ko) | 2012-12-27 | 2015-08-31 | 쿠리타 고교 가부시키가이샤 | 피치 억제제, 피치억제방법 및 탈묵펄프의 제조방법 |
| US10519598B2 (en) | 2012-12-27 | 2019-12-31 | Kurita Water Industries Ltd. | Method for suppressing pitch formation |
| JP2020145777A (ja) * | 2019-03-04 | 2020-09-10 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 放電装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0368353B2 (ja) | 1991-10-28 |
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