JPH0364808B2 - - Google Patents
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- JPH0364808B2 JPH0364808B2 JP56016830A JP1683081A JPH0364808B2 JP H0364808 B2 JPH0364808 B2 JP H0364808B2 JP 56016830 A JP56016830 A JP 56016830A JP 1683081 A JP1683081 A JP 1683081A JP H0364808 B2 JPH0364808 B2 JP H0364808B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 39
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 26
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/28—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、三次元直交座標測定器（以下、単
に座標測定器という）の持つ基準座標軸に関して
任意の位置関係にある被測定物の座標の測定値
を、該座標測定器の基準座標軸に関する値から該
被測定物に固有の座標軸に関する値に換算して出
力する機能を有する座標変換装置に関し、座標測
定器の測定範囲より大きな被測定物の座標の測定
値を、被測定物に固有の座標軸に関する測定値と
して出力することができて、座標測定器の機能を
向上させ、大きな被測定物の座標測定を容易にか
つ能率良く行なえる装置を得ることを目的として
発明されたものである。
に座標測定器という）の持つ基準座標軸に関して
任意の位置関係にある被測定物の座標の測定値
を、該座標測定器の基準座標軸に関する値から該
被測定物に固有の座標軸に関する値に換算して出
力する機能を有する座標変換装置に関し、座標測
定器の測定範囲より大きな被測定物の座標の測定
値を、被測定物に固有の座標軸に関する測定値と
して出力することができて、座標測定器の機能を
向上させ、大きな被測定物の座標測定を容易にか
つ能率良く行なえる装置を得ることを目的として
発明されたものである。
従来から、立体物品の輪郭や寸法を測定するた
めに種々の形式の座標測定器が用いられている。
これらの座標測定器によれば、立体物品上の被測
定点の立体座標を求めることは直ちにできるが、
被測定物が大きくて座標測定器の測定範囲に入り
切れない場合は、この被測定物を数個の部分に分
割し数回に分けて測定を行なわなければならな
い。しかしながら、このように分割し測定する
と、分割部分間の測定値の関連が表現できないの
で、被測定物の全体的の表面形状あるいは寸法関
係等を直ちには知ることができない。
めに種々の形式の座標測定器が用いられている。
これらの座標測定器によれば、立体物品上の被測
定点の立体座標を求めることは直ちにできるが、
被測定物が大きくて座標測定器の測定範囲に入り
切れない場合は、この被測定物を数個の部分に分
割し数回に分けて測定を行なわなければならな
い。しかしながら、このように分割し測定する
と、分割部分間の測定値の関連が表現できないの
で、被測定物の全体的の表面形状あるいは寸法関
係等を直ちには知ることができない。
すなわち、表面形状あるいは寸法関係等を表わ
す測定座標値は、その全部が同一の座標系に関す
る値として表わされて初めてその形状、寸法等が
正確に把握されるものであるが、測定しようとす
る部分が分割され、各部分が座標測定器の測定範
囲内へ移動させられて測定された場合は、その分
割された部分毎の測定値は、座標測定器の座標系
に関しては、別個の物品であるかの如き値として
表わされるものであり、被測定物定物全体として
の座標値では表わされない。すなわち、被測定物
の分割した各部分は、別個に異つた座標系に関す
る値として表わされており、これらの部分毎に測
定した測定値から立体物品全体の形状あるいは寸
法を直ちに求めることはできない。
す測定座標値は、その全部が同一の座標系に関す
る値として表わされて初めてその形状、寸法等が
正確に把握されるものであるが、測定しようとす
る部分が分割され、各部分が座標測定器の測定範
囲内へ移動させられて測定された場合は、その分
割された部分毎の測定値は、座標測定器の座標系
に関しては、別個の物品であるかの如き値として
表わされるものであり、被測定物定物全体として
の座標値では表わされない。すなわち、被測定物
の分割した各部分は、別個に異つた座標系に関す
る値として表わされており、これらの部分毎に測
定した測定値から立体物品全体の形状あるいは寸
法を直ちに求めることはできない。
このような場合従来は、被測定物を分割して測
定を行なうための被測定物移動の際に、座標測定
器の座標軸（基準座標軸）と平行或は直角等の特
別の関係にある被測定物の部分を、基準座標軸と
の平行或は直角等の関係を保つたまま移動させる
ようにして、立体物品全体を表わし易くしてい
た。このように操作するには、座標測定器の基準
座標軸と被測定物の固有の座標軸とを機械的に合
致させ又は平行に合わせるか、従来から使用され
ている座標変換装置によつてこの合致または平行
合わせする等の作業が必要であつた。被測定物を
このように平行合わせ等を行ないつつ移動させる
ときは、殊に被測定物が大きなときは、誤差が介
入し易く、また、このような基準となる直線形状
等を全く持たない被測定物の場合は測定が不可能
であつた。
定を行なうための被測定物移動の際に、座標測定
器の座標軸（基準座標軸）と平行或は直角等の特
別の関係にある被測定物の部分を、基準座標軸と
の平行或は直角等の関係を保つたまま移動させる
ようにして、立体物品全体を表わし易くしてい
た。このように操作するには、座標測定器の基準
座標軸と被測定物の固有の座標軸とを機械的に合
致させ又は平行に合わせるか、従来から使用され
ている座標変換装置によつてこの合致または平行
合わせする等の作業が必要であつた。被測定物を
このように平行合わせ等を行ないつつ移動させる
ときは、殊に被測定物が大きなときは、誤差が介
入し易く、また、このような基準となる直線形状
等を全く持たない被測定物の場合は測定が不可能
であつた。
本発明の座標変換装置は上述の欠点を解消した
もので、測定者が被測定物を分割して測定する際
に、平行合わせ等の作業を行なう必要がなく、し
かも直ちに必要とする座標系での被測定物全体の
形状等を表わす測定値が得られるようにする装置
である。
もので、測定者が被測定物を分割して測定する際
に、平行合わせ等の作業を行なう必要がなく、し
かも直ちに必要とする座標系での被測定物全体の
形状等を表わす測定値が得られるようにする装置
である。
以下本発明の実施例を説明する。第１図のブロ
ツク図は、この装置の動作の概要を示すものであ
る。同図において、座標測定器（図示せず）の基
準座標軸に関する測定値は、入力装置１に入力さ
れ演算処理装置２に送られる。演算処理装置２は
操作スイツチ４の指令により座標値の演算処理を
行ない結果の座標値を出力装置３に送る。演算処
理により得られた座標値は、出力装置３により直
接読取り可能な形あるいは電気的な形あるいは適
当な情報交換用の媒体による形で出力される。
ツク図は、この装置の動作の概要を示すものであ
る。同図において、座標測定器（図示せず）の基
準座標軸に関する測定値は、入力装置１に入力さ
れ演算処理装置２に送られる。演算処理装置２は
操作スイツチ４の指令により座標値の演算処理を
行ない結果の座標値を出力装置３に送る。演算処
理により得られた座標値は、出力装置３により直
接読取り可能な形あるいは電気的な形あるいは適
当な情報交換用の媒体による形で出力される。
なお、座標変換について第２図により簡単に説
明する。第２図は三次元直交座標の変換による座
標値の変換を示すもので、Ｚ軸は紙面に垂直であ
るとする。
明する。第２図は三次元直交座標の変換による座
標値の変換を示すもので、Ｚ軸は紙面に垂直であ
るとする。
ｏ点を原点とするXYZ座標系に関するＰ点の
座標系をｘ，ｙ，ｚとし、またこの座標系に関し
て−ａ、−ｂ、ｏの座標値を持つ点o′を原点とし
Ｘ軸、Ｙ軸とそれぞれωの角度をなすX′軸、
Y′軸を持つ別の座標系に関するＰ点の座標値を
X′、y′、z′とすると x′＝ａ＋xcosω＋ysinω y′＝ｂ＋ycosω＋xsinω z′＝ｚ となる。この変換式は通常の数字により求めら
れるものであり、かつ従来から知られているもの
であるから、詳細な説明は省略する。
座標系をｘ，ｙ，ｚとし、またこの座標系に関し
て−ａ、−ｂ、ｏの座標値を持つ点o′を原点とし
Ｘ軸、Ｙ軸とそれぞれωの角度をなすX′軸、
Y′軸を持つ別の座標系に関するＰ点の座標値を
X′、y′、z′とすると x′＝ａ＋xcosω＋ysinω y′＝ｂ＋ycosω＋xsinω z′＝ｚ となる。この変換式は通常の数字により求めら
れるものであり、かつ従来から知られているもの
であるから、詳細な説明は省略する。
次に本発明における座標変換の演算処理の原理
を第３図の例により説明する。
を第３図の例により説明する。
第３図において、被測定物上に選定した３点
P1、P2、P3の直交座標軸X1，Y1，Z1を持つ第１
の座標系５に関する座標値をp1、p2、p3（p1等は
３個の座標値を総称するものとする）とし、第１
の直交座標系５のX1Y1平面をこの３点と合致さ
せる変換を行なう。この変換をＡとし、変換後の
座標軸X3、Y3、Z3を持つ座標系を第３の座標系
６とする。同様に、直交する座標軸X2、Y2、Z2
を持つ第２の座標系７に関する３点P1、P2、P3
の座標値をp4、p5、p6とし、第２の座標系７の
X2Y2平面をこの３点に合致させる変換Ｂを行な
い、変換の結果得られる新座標系を座標軸X4、
Y4、Z4を持つ第４の座標系８とする。ここで、
X1Y1平面またはX2Y2平面を３点P1、P2、P3に合
致させる手順は、例えば次のようにする。
P1、P2、P3の直交座標軸X1，Y1，Z1を持つ第１
の座標系５に関する座標値をp1、p2、p3（p1等は
３個の座標値を総称するものとする）とし、第１
の直交座標系５のX1Y1平面をこの３点と合致さ
せる変換を行なう。この変換をＡとし、変換後の
座標軸X3、Y3、Z3を持つ座標系を第３の座標系
６とする。同様に、直交する座標軸X2、Y2、Z2
を持つ第２の座標系７に関する３点P1、P2、P3
の座標値をp4、p5、p6とし、第２の座標系７の
X2Y2平面をこの３点に合致させる変換Ｂを行な
い、変換の結果得られる新座標系を座標軸X4、
Y4、Z4を持つ第４の座標系８とする。ここで、
X1Y1平面またはX2Y2平面を３点P1、P2、P3に合
致させる手順は、例えば次のようにする。
(1) 第１の測定点（P1またはP4）に原点を合わ
せる。
せる。
(2) 第２の測定点（P2またはP5）にX1軸または
X2軸（ｘ、x′＞０）を合わせる。
X2軸（ｘ、x′＞０）を合わせる。
(3) 第３の測定点（P3またはP6）にX1Y1平面ま
たはX2Y2平面（ｙ、y′＞０）を合わせる。
たはX2Y2平面（ｙ、y′＞０）を合わせる。
このようにして得られる第３の座標系６と第４
の座標系８とに関する３点P1、P2、P3の座標値
p1、p2、p3およびp4、p5、p6は同一の３点を異な
る２座標系により表わしたものであるから、各点
は同一の関係で表わされる筈である。尤も、実際
の測定に当つては、測定子の各測定点への当接誤
差や座標測定器固有の誤差のため、厳密には同一
とならないが、通常は同一と見なさる程度に近似
するものである。第３図ではこの差異を誇張して
表わし各点が重らないようにしている。なお、例
えば３点P1、P2、P3の選定が自由にできないよ
うな被測定物であるために各点の距離を十分大き
く取れない場合のように、上記の誤差が無視でき
ない大きさで表わされるときは、更に第４の座標
系８を修正する変換Ｃを行なう。この変換Ｃは、
第３の座標系６（座標軸X3、Y3、Z3）と３点P1、
P2、P3（座標値p1、p2、p3）との相対的な位置関
係および第４の座標系８（座標軸X4、Y4、Z4）
と３点P1、P2、P3（座標値p4、p5、p6）との相対
的位置関係をそれぞれ保つたまま両座標系を重ね
合わせた場合に、それぞれ対応する測定点（座標
値はp1とp4、p2とp5、p3とp6により別個に表わさ
れる）の間の距離の２乗の和が最小となるよう
に、第４の座標系８と各点との位置関係を修正す
るのである。このように２点間の距離の２乗の和
を最小にすることは、統計学上、誤差を最小にす
るための有効な一つの手段である。第４の座標系
８にこの変換Ｃを施して得られる新座標系は、第
３の座標系６に一層近似した座標系となる。
の座標系８とに関する３点P1、P2、P3の座標値
p1、p2、p3およびp4、p5、p6は同一の３点を異な
る２座標系により表わしたものであるから、各点
は同一の関係で表わされる筈である。尤も、実際
の測定に当つては、測定子の各測定点への当接誤
差や座標測定器固有の誤差のため、厳密には同一
とならないが、通常は同一と見なさる程度に近似
するものである。第３図ではこの差異を誇張して
表わし各点が重らないようにしている。なお、例
えば３点P1、P2、P3の選定が自由にできないよ
うな被測定物であるために各点の距離を十分大き
く取れない場合のように、上記の誤差が無視でき
ない大きさで表わされるときは、更に第４の座標
系８を修正する変換Ｃを行なう。この変換Ｃは、
第３の座標系６（座標軸X3、Y3、Z3）と３点P1、
P2、P3（座標値p1、p2、p3）との相対的な位置関
係および第４の座標系８（座標軸X4、Y4、Z4）
と３点P1、P2、P3（座標値p4、p5、p6）との相対
的位置関係をそれぞれ保つたまま両座標系を重ね
合わせた場合に、それぞれ対応する測定点（座標
値はp1とp4、p2とp5、p3とp6により別個に表わさ
れる）の間の距離の２乗の和が最小となるよう
に、第４の座標系８と各点との位置関係を修正す
るのである。このように２点間の距離の２乗の和
を最小にすることは、統計学上、誤差を最小にす
るための有効な一つの手段である。第４の座標系
８にこの変換Ｃを施して得られる新座標系は、第
３の座標系６に一層近似した座標系となる。
以上の通りであるから、第２の座標系７を第１
の座標系５の位置に移動するには次の様な手順に
より変換を行えば良い。
の座標系５の位置に移動するには次の様な手順に
より変換を行えば良い。
(1) 第２の座標系７を変換Ｂにより第４の座標系
８に移動する。
８に移動する。
(2) 更に変換Ｃにより修正座標系に移動する。こ
の演算は、誤差が小さくて必要がない場合は、
省略する。
の演算は、誤差が小さくて必要がない場合は、
省略する。
(3) 更に変換Ａの逆変換により修正座標系（修正
を行なわない場合は座標系８）を第１の座標系
５に移動する。
を行なわない場合は座標系８）を第１の座標系
５に移動する。
すなわち、これらの一連の変換を第２の座標系
７に関する任意の測定値に対して行なえば、第１
の座標系５に関する測定値が得られる。そこで、
被測定物の上に設定した座標系を第１の座標系５
とし、座標測定器の持つ固有の座標系を第２の座
標系７として、上記のように座標系を変換する演
算を行なえば、被測定物の各部の座標値を被測定
物に固有の座標系による座標値として座標測定器
に表わさせることができるのである。
７に関する任意の測定値に対して行なえば、第１
の座標系５に関する測定値が得られる。そこで、
被測定物の上に設定した座標系を第１の座標系５
とし、座標測定器の持つ固有の座標系を第２の座
標系７として、上記のように座標系を変換する演
算を行なえば、被測定物の各部の座標値を被測定
物に固有の座標系による座標値として座標測定器
に表わさせることができるのである。
次に本装置を使用して、大きな被測定物を分割
して測定する場合の操作の例を第４図により説明
する。
して測定する場合の操作の例を第４図により説明
する。
(1) 被測定物１５の一部を座標測定器の測定位値
に測定可能な状態に設置する。場合によつて
は、座標測定器の方を移動させてもよい。この
場合の測定範囲を９で示す。
に測定可能な状態に設置する。場合によつて
は、座標測定器の方を移動させてもよい。この
場合の測定範囲を９で示す。
(2) 座標測定器の固有の座標系（前記の第２の座
標系７に相当する）に関する測定値を被測定物
の固有の座標系１０（前記の第１の座標系５に
相当する）に関する測定値に換算して出力する
ように変換装置を操作する。この機能は通常の
変換装置が持つている機能であり、また個々の
変換装置や被測定物の固有の座標系の基準の定
義によつて操作が異るので詳細な説明を省略す
る。
標系７に相当する）に関する測定値を被測定物
の固有の座標系１０（前記の第１の座標系５に
相当する）に関する測定値に換算して出力する
ように変換装置を操作する。この機能は通常の
変換装置が持つている機能であり、また個々の
変換装置や被測定物の固有の座標系の基準の定
義によつて操作が異るので詳細な説明を省略す
る。
(3) 測定範囲９内の測定点の測定を行う。このと
き、測定値は被測定物固有の座標系１０に関し
て得られる。
き、測定値は被測定物固有の座標系１０に関し
て得られる。
(4) 被測定物１５上に３個の特定点１１を定め、
この特定点の座標の測定を行ないその測定値を
変換装置に一時記憶させる。このとき特定点１
１は被測定物の他の一部の測定範囲１２に測定
範囲を移動した際にも測定可能となる位置に定
める。
この特定点の座標の測定を行ないその測定値を
変換装置に一時記憶させる。このとき特定点１
１は被測定物の他の一部の測定範囲１２に測定
範囲を移動した際にも測定可能となる位置に定
める。
(5) 被測定物１５あるいは座標測定器を、被測定
物１５の他の測定範囲１２を測定可能な状態に
移動する。特定点１１は測定範囲１２にも含ま
れる。
物１５の他の測定範囲１２を測定可能な状態に
移動する。特定点１１は測定範囲１２にも含ま
れる。
(6) この状態で特定点１１の座標の測定を再度行
ない、変換装置に記憶させておいた値を使つて
前記内容の演算処理を行わせる指令を与える。
この操作により以後の測定範囲１２内の任意の
測定点の座標の測定値は、範囲９内と同様に被
測定物固有の座標系１０に関する値として得ら
れる。
ない、変換装置に記憶させておいた値を使つて
前記内容の演算処理を行わせる指令を与える。
この操作により以後の測定範囲１２内の任意の
測定点の座標の測定値は、範囲９内と同様に被
測定物固有の座標系１０に関する値として得ら
れる。
(7) 測定範囲１２内の他の測定点の測定を行う。
(8) 被測定物が大型で、２分割では全てを測定で
きない場合は、さらに特定点１３を定めて、前
記手順(4)〜(7)と同様に測定範囲１４に移動して
測定を行う。
きない場合は、さらに特定点１３を定めて、前
記手順(4)〜(7)と同様に測定範囲１４に移動して
測定を行う。
各測定範囲に共通して位置する特定点１１，
１３等は３個ずつあれば足りるが、４個以上と
り、各点の距離の２乗の和が最小になるような
変換することによつて、測定誤差をより減少さ
せることができる。
１３等は３個ずつあれば足りるが、４個以上と
り、各点の距離の２乗の和が最小になるような
変換することによつて、測定誤差をより減少さ
せることができる。
以上は、測定結果の値を逐次変換する操作を述
べたが、測定結果を磁気テープ、紙テープ等の媒
介物に記録しておき、測定終了後、一括して座標
変換を行なうようにすることもできる。
べたが、測定結果を磁気テープ、紙テープ等の媒
介物に記録しておき、測定終了後、一括して座標
変換を行なうようにすることもできる。
以上の説明のように本発明の座標変換装置は、
三次元座標測定器の測定範囲より大きな被測定物
の任意の部分の座標の測定値を、該被測定物固有
の座標系に関する値として出力できるようにする
ものであつて、大きな被測定物を分割し測定した
場合に、各部の測定値により直ちに被測定物全体
の形状、大きさを表わすことができるようにな
る。また、充分測定範囲内に入る小さな被測定物
の測定においても、測定器の載物台に接触してい
る面などの測定子を当接できない部分について、
同様の方法が適用でき、たとえば、被測定物を裏
返しにして測定しても直ちに元の座標系での測定
値を得ることができるようになる。しかも操作が
簡単であり、容易に且つ能率よく種々のの物品の
形状、大きさの測定、製品の寸法検査等を行ない
得るものであるから、座標測定器の機能を著しく
向上させるものである。
三次元座標測定器の測定範囲より大きな被測定物
の任意の部分の座標の測定値を、該被測定物固有
の座標系に関する値として出力できるようにする
ものであつて、大きな被測定物を分割し測定した
場合に、各部の測定値により直ちに被測定物全体
の形状、大きさを表わすことができるようにな
る。また、充分測定範囲内に入る小さな被測定物
の測定においても、測定器の載物台に接触してい
る面などの測定子を当接できない部分について、
同様の方法が適用でき、たとえば、被測定物を裏
返しにして測定しても直ちに元の座標系での測定
値を得ることができるようになる。しかも操作が
簡単であり、容易に且つ能率よく種々のの物品の
形状、大きさの測定、製品の寸法検査等を行ない
得るものであるから、座標測定器の機能を著しく
向上させるものである。
第１図は本発明の構成を示すブロツク図、第２
図は座標変換の状態を略示する図、第３図は本発
明の座標変換の原理を示す図、第４図は本発明の
装置の実際の操作を示す図である。 １：入力装置、２：演算処理装置、３：出力装
置、４：操作スイツチ、５：第１の座標系、６：
第３の座標系、７：第２の座標系、８：第４の座
標系、９，１２，１４：測定範囲、１０：座標
系、１１，１３：特定点、１５：被測定物。
図は座標変換の状態を略示する図、第３図は本発
明の座標変換の原理を示す図、第４図は本発明の
装置の実際の操作を示す図である。 １：入力装置、２：演算処理装置、３：出力装
置、４：操作スイツチ、５：第１の座標系、６：
第３の座標系、７：第２の座標系、８：第４の座
標系、９，１２，１４：測定範囲、１０：座標
系、１１，１３：特定点、１５：被測定物。
Claims (1)
- １ 座標測定器を使用して三次元直交座標系によ
り各部の座標値を測定しようとする被測定物を、
共通部分のある複数の測定範囲に分割し、この共
通分内に３個の特定点を選定し、第１の座標系に
関するこれら特定点の座標測定値と、同じ座標測
定器を移動させて測定した第２の座標系に関する
同じ特定点の座標測定値とから、両座標系の位置
関係を演算し、第２の座標系に関する被測定物の
任意の点の座標測定値を、第１の座標系に関する
座標値に換算して出力する機能を持たせた座標変
換装置であつて、２軸を含む平面が上記３個の特
定点により定められる平面に平行な第３の座標系
の位置へ第１の座標系を移動させる座標変換Ａ
と、２軸を含む平面が上記３個の特定点により定
められる平面に平行な形態の第４の座標系の位置
へ第２の座標系を移動させる座標変換装置Ｂとの
２種類の座標変換を、第２の座標系に関する測定
値について、座標変換Ｂ、座標変換Ａの逆変換の
順序で行なつて第２の座標系を第１の座標系に変
換する演算を行なう際に、上記特定点の第１の座
標系の各軸に関する測定値を第３の座標系の各軸
に関する値に換算した測定値と、これら特定点の
第２の座標系の各軸に関する測定値を第４の座標
系の各軸に関する値に換算した測定値との間で、
互いに対応する特定点についての測定値の差の２
乗の和を最小とするように第４の座標系を修正す
る座標変換Ｃを設け、第２の座標系に関する任意
の測定値に対して、座標変換Ｂ、座標変換Ｃ、座
標変換Ａの逆変換の順序で座標変換を行なうよう
にした事を特徴とする座標変換装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56016830A JPS57132015A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Coordinate transformation device |
| US06/345,806 US4430796A (en) | 1981-02-09 | 1982-02-03 | Method and apparatus for determining the location of points on a three dimensional thing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56016830A JPS57132015A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Coordinate transformation device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57132015A JPS57132015A (en) | 1982-08-16 |
| JPH0364808B2 true JPH0364808B2 (ja) | 1991-10-08 |
Family
ID=11927103
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56016830A Granted JPS57132015A (en) | 1981-02-09 | 1981-02-09 | Coordinate transformation device |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4430796A (ja) |
| JP (1) | JPS57132015A (ja) |
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