JPH0358254A - Data transfer testing system for channel - Google Patents

Data transfer testing system for channel

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JPH0358254A
JPH0358254A JP1195498A JP19549889A JPH0358254A JP H0358254 A JPH0358254 A JP H0358254A JP 1195498 A JP1195498 A JP 1195498A JP 19549889 A JP19549889 A JP 19549889A JP H0358254 A JPH0358254 A JP H0358254A
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JP
Japan
Prior art keywords
data
read
read data
storage area
channel
Prior art date
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Pending
Application number
JP1195498A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasushi Taya
康司 田矢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0358254A publication Critical patent/JPH0358254A/en
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Abstract

PURPOSE:To easily decide where the cause of failure in a data transfer test of a channel lies by comparing mutually data read out by a normal channel, data read out by a channel to be tested and an expected value. CONSTITUTION:A CPU 1 contains a test program 2 and an input/output processing operation instructing means 5, and the test program 2 contains a data comparing means 3 and a cause deciding means 4. At the time of a data transfer test of a channel 11p, the test program 2 prepares write data for a test and an expected value 8 in a write data store area 7 on a storage device 6. Subsequently, when a result of executing write/read-out of data by the channel 11p to be tested and the expected value 8 are compared and it is failure, the result of executing write/read-out of the data by using the channel to be tested, a result of read-out of the data by a normal channel 11q and the expected value 8 are compared mutually, and the cause of failure is decided. In such a way, a factor of a data comparison error can be discriminated easily.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分舒〕 本発明はチャネルの試験診断方式に関し、特にデータ転
送試験方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application] The present invention relates to a channel testing and diagnosis method, and more particularly to a data transfer testing method.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、チャネルの試験では、試験対象のチャネル1つを
使用して書込/読出のデータ転送を行ない、期待値デー
タと読出データを比較して試験の合否の判定が行なわれ
ていた。つまり、記憶装置上のデータを周辺装置に書込
んでその書込んだデータを記憶装置に読出し、期待値デ
ータと周辺装置から読出したデータを比較して試験の合
否の判定を行なっていた。
Conventionally, in channel testing, one channel to be tested is used to transfer write/read data, and expected value data and read data are compared to determine whether the test is successful. That is, the data on the storage device is written to the peripheral device, the written data is read out to the storage device, and the expected value data is compared with the data read from the peripheral device to determine whether the test is successful.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の試験方式では、試験診断にてデータ比較
エラーを検出した場合、エラーの要囚が書込のデータ転
送処理にあるのか続出のデータ転送処理にあるのか判別
が容易でないという欠点がある。
The conventional test method described above has the disadvantage that when a data comparison error is detected during test diagnosis, it is not easy to determine whether the error is in the write data transfer process or in the continuous data transfer process. .

本発明の目的は、データ比較エラーを検出した場合、エ
ラーの要因が書込のデータ転送処理にあるのか読出のデ
ータ転送処理にあるのか容易に判別できるチャネルのデ
ータ転送試験方式を提供することである。
An object of the present invention is to provide a channel data transfer test method that allows, when a data comparison error is detected, to easily determine whether the cause of the error is in the write data transfer process or the read data transfer process. be.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のチャネルのデータ転送試験方式は、周辺装置内
に設けられ、試験プログラムか動作するCPUの指示に
より入出力処理を行なう入出力処理装置からデータの書
込/読出がなされる書込/読出データ格納領域と、 試験対象チャネルを用いて前記周辺装置の書込/読出デ
ータ格納領域から読出されたデータが格納される第1の
読出データ格納領域と、正常チャネルを用いて前記周辺
装置の書込/読出データ格納領域から読出されたデータ
が格納される第2の続出データ格納領域とを有し、前記
試験プログラムは、 読出データの期待値と、第1の読出データ格納領域内の
読出データと、第2の読出データ格納領域内の読出デー
タとを相互に比較するデータ比較手段と、 前記1υl待値と、試験対象チャネルにより前記周辺装
置のa込/読出データ格納領域に書込まれ試験チャネル
により読出されて格納された第1の読出データ格納領域
内の読出データを前記比較手段が比較して不一致の場合
、試験チャネルにより前記周辺装置のrtt込/読出デ
ータ格納領域に書込まれ正常チャネルにより読出されて
格納された第2の読出データ格納領域内の読出データと
前記期待値を前記比較手段が比較して一致したときは、
試験対象チャネルのデータ読出転送処理に不合格の原因
があると判断し、第1の読出データ格納領域内の読出デ
ータと第2の読出データ格納領域内の読出データを前記
比較手段が比較してー・致したときは、試験対象チャネ
ルのデータ書込転送処理に不合格の原因があると判断し
、前記期待値と第2の読出データ格納領域内の読出デー
タを前記比較手段が比較して不一致で、かつ第1の読出
データ格納領域内の読出データと第2の読出データ格納
領域内の読出データを前記比較手段が比較して不敗であ
れば、試験対象チャネルの書込転送処理と読出転送処理
の両方に不合格の原因があると判断する原因判定手段と
を含む。
The channel data transfer test method of the present invention is a write/read method in which data is written/read from an input/output processing device that is provided in a peripheral device and performs input/output processing according to instructions from a CPU running a test program. a first read data storage area in which data read from the write/read data storage area of the peripheral device using the channel under test is stored; a second successive data storage area in which the data read from the read/write data storage area is stored, and the test program is configured to: and data comparison means for mutually comparing read data in a second read data storage area; The comparing means compares the read data in the first read data storage area read and stored by the channel, and if they do not match, the data is written to the RTT write/read data storage area of the peripheral device by the test channel and is determined to be normal. When the comparing means compares the read data in the second read data storage area read and stored by the channel with the expected value, and when they match,
The comparison means determines that the cause of the failure is in the data read transfer process of the channel under test, and compares the read data in the first read data storage area and the read data in the second read data storage area. -, when the comparison means determines that the cause of the failure is in the data write transfer process of the channel under test, and compares the expected value with the read data in the second read data storage area. If there is a mismatch, and the comparison means compares the read data in the first read data storage area and the read data in the second read data storage area, and there is no failure, write transfer processing and read of the channel under test are performed. and cause determining means for determining that there is a cause for failure in both transfer processes.

(作用) 試験対象チャネルによりデータのa込・読出を行なった
結果と期待値が比較されて不一致、すなわち不合格であ
ったとき、試験対象チャネルを用いてデータの書込み読
出しを行なった結果と正常チャネルによる前記データの
読出しの結果と前記期待値を相互に比較して、前記不合
格の原因かデータ書込転送処理にあったか、データ読出
転送処理にあったかが↑11定されるので、データ転送
試験不合格原因の所作が容易に判別される。
(Function) When the result of writing and reading data using the channel under test is compared with the expected value and it does not match, that is, it fails, the result of reading and writing data using the channel under test is compared with the expected value. By comparing the result of reading the data by the channel with the expected value, it is determined whether the cause of the failure was due to the data write transfer process or the data read transfer process, so the data transfer test is performed. The behavior that caused the failure can be easily determined.

(実施例) 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
(Example) Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明のチャネルのデータ転送試験方式の一実
施例を示す情報処理装置のブロック図、第2図は第1図
の試験プログラム2の処理の流れ図である。
FIG. 1 is a block diagram of an information processing apparatus showing an embodiment of the channel data transfer test method of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart of the processing of the test program 2 shown in FIG.

この情報処理装置はCPUIと記憶装置6と入出力処理
装置10とチャネル1l1,・・・.llp,・・・,
llq,・・・,llnと周辺装置l2から構成されて
いる。CPUlは試験プログラム2と入出力処理動作指
示手段5を含み、入出力処理動作指示千段5により入出
力処理装置10に指示して周辺装置l2への入出力処理
をさせ、また、記憶装置6へもアクセスする。
This information processing device includes a CPUI, a storage device 6, an input/output processing device 10, a channel 1l1, . llp,...,
It consists of llq, . . . , lln and a peripheral device l2. The CPU 1 includes a test program 2 and an input/output processing operation instruction means 5, and the input/output processing operation instruction 5 instructs the input/output processing unit 10 to perform input/output processing to the peripheral device 12, and also a storage device 6. Also access.

試験プログラム2はデータ比較手段3と原因判定千段4
を含んでいる。周辺装置l2は書込/読出データ格納領
域l3を含み、チャネルllpとllqで入出力処理装
置lOと接続されている。入出力処理装置lOは記憶装
置6を使用して周辺装置l2の入出力動作を行なう。記
憶装置6には、書込データ格納領@7と期待値8と読出
データ格納領域9lと92を含んでいる。
Test program 2 includes data comparison means 3 and cause determination 4 steps
Contains. Peripheral device l2 includes a write/read data storage area l3, and is connected to input/output processing device lO through channels llp and llq. The input/output processing device 1O uses the storage device 6 to perform input/output operations for the peripheral device 12. The storage device 6 includes a write data storage area @7, an expected value 8, and read data storage areas 9l and 92.

チャネルIlpのデータ転送試験で試験プログラム2は
記憶装置6上の書込データ格納領域7に試験用の潜込デ
ータと期待値8を用意する。そして第2図に示すように
、試験プログラム2は入出力動作指示手段5により入出
力処理装置10に入出力動作指示を出し、試験チャネル
lipを使用して書込データ格納領域7内のデータを周
辺装置12の書込/読出データ格納領域l3に書込む(
ステップ21)。次に、試験チャネルllpを使用して
周辺装置l2のa込/読出データ格納領域13に書込ん
だデータを記憶装置6上の読込データ格納領域91に読
出す(ステップ22)。そして、データ比較千段3によ
り期待値8のデータと読出データ格納領域91内のデー
タを比較して試験チャネルllpのデータ転送の合否の
判定を行なう(ステップ23)。期待値8のデータと転
送データ格納領域9l内のデータを比較して不一致があ
った場合、つまり試験が異常すなわち不合格となった場
合、データ書込転送とデータ続出転送のどちらにデータ
不一致の原因があるのか調べるために、試験チャネルl
ipとは違う正常チャネルllqを使用してデータ転送
を行なわせる。入出力動作指示千段5より正常チャネル
llqを使用して周辺装置l2内の書込/読出データ格
納領域l3に試験チャネル1lpで書込んだデータを読
出データ格納領域92に読出すくステップ24)。そし
て、データ比較手段3により読出データ格納領域92の
データを読出データ格納領域91のデータと期待値8の
データと比較する(ステップ25. 26)。期待値8
のデータと読出データ格納領域92のデータが一致すれ
ば、原因判別千段4により試験チャネルllpのデータ
読出転送にデータ不一致の原因があると判断する(ステ
ップ27)。また、期待値8のデータと読出データ格納
領域92のデータが不一致であって、読出データ格納領
域91のデータと読出データ格納領域92のデータが一
致すれば、原因判別手段4により試験チャネルlipの
データ書込転送にデータ不一致の原因があると判断する
(ステップ29)。期待値8のデータと読出データ格納
領域92のデータが不一致でかつ読出データ格納領域9
lのデータと続出データ格納領域92のデータが不一致
ならば、原因判別手段4により書込転送と読出転送の両
方に不一致の原因があると判断する(ステップ29)。
In the data transfer test of the channel Ilp, the test program 2 prepares test hidden data and expected value 8 in the write data storage area 7 on the storage device 6. As shown in FIG. 2, the test program 2 issues an input/output operation instruction to the input/output processing device 10 by the input/output operation instruction means 5, and uses the test channel lip to read the data in the write data storage area 7. Write to the write/read data storage area l3 of the peripheral device 12 (
Step 21). Next, using the test channel llp, the data written to the a read/read data storage area 13 of the peripheral device 12 is read to the read data storage area 91 on the storage device 6 (step 22). Then, the data of the expected value 8 is compared with the data in the read data storage area 91 using the data comparison stage 3 to determine whether the data transfer of the test channel llp is successful or not (step 23). If the data of expected value 8 and the data in the transfer data storage area 9l are compared and there is a mismatch, that is, if the test is abnormal or fails, the data mismatch will occur in either the data write transfer or the continuous data transfer. To find out if there is a cause, test channel l
Data transfer is performed using a normal channel llq different from IP. From the input/output operation instruction stage 5, the data written in the write/read data storage area l3 in the peripheral device l2 by the test channel 1lp is read into the read data storage area 92 using the normal channel llq (step 24). Then, the data comparison means 3 compares the data in the read data storage area 92 with the data in the read data storage area 91 and the data of the expected value 8 (steps 25 and 26). Expected value 8
If the data in the read data storage area 92 match, it is determined by the cause determination step 4 that the cause of the data mismatch is in the data read transfer of the test channel llp (step 27). Further, if the data of the expected value 8 and the data of the read data storage area 92 do not match, and the data of the read data storage area 91 and the data of the read data storage area 92 match, the cause determining means 4 determines whether the test channel lip is It is determined that the data write transfer is the cause of the data mismatch (step 29). The data of expected value 8 and the data of read data storage area 92 do not match and the data of read data storage area 9
If the data of 1 and the data of the subsequent data storage area 92 do not match, the cause determining means 4 determines that there is a cause of the mismatch in both the write transfer and the read transfer (step 29).

本実施例のチャネルのデータ転送試験方式では、データ
比較手段3による期待値8とのデータ比較でエラー検出
された場合に原因判定手段4によりそのエラー原囚が試
験チャネルのデータJF込転送にあるのかデータ読出転
送にあるのかがfi1定されて明確となる。
In the channel data transfer test method of this embodiment, when an error is detected by the data comparison means 3 in comparing the data with the expected value 8, the cause determination means 4 determines that the error is in the data JF transfer of the test channel. fi1 is determined and it becomes clear whether it is in data read transfer or data read transfer.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、試験対象チャネルにより
書込まれ読出された読出データと期待値が比較手段に比
較されて不一致、すなわち不合格のとき、正常チャネル
により前記データを読出した読出データと試験対象チャ
ネルにより読出されたデータと前記期待値とを相互に前
記比較手段が比較した結果により、前記不合格の原因が
試験対象チャネルのデータ書込転送処理にあったかデー
タ続出転送処理にあったかを判定する原因判定手段を備
えることにより、チャネルのデータ転送試験の不合格の
原因の所在が容易に直ちに判定できるという効果がある
As explained above, in the present invention, when the read data written and read by the channel under test and the expected value are compared by the comparing means and there is a mismatch, that is, the data is failed, the data is compared with the read data read by the normal channel. Based on the result of the comparing means comparing the data read by the channel under test and the expected value, it is determined whether the cause of the failure was due to data write transfer processing or continuous data transfer processing of the channel under test. By providing the cause determining means, the cause of failure of the channel data transfer test can be easily and immediately determined.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

11図は本発明のチャネルのデータ転送試験方式の一実
施例を示す情報処理装置のブロック図、第2図は第1図
の試験プログラム2の処理の流れ図である。 1・・・・・・cpu, 2・・・・・・試験プログラム、 3・・・・・・データ比較手段、 4・・・・・・原因判定手段、 5・・・・・・入出力動作指示手段、 6・・・・・・記憶装置、 7・・・・・・書込データ領域、 8・・・・・・読出データの期待値、 91. 92・・・・・・読出データ格納領域、lO・
・・・・・入出力処理装置、 11+.・・・.111). − ,llq,−,ll
n−−−−・−チャネル、l2・・・・・・周辺装置、 l3・・・・・・書込/読出データ格納領域。 特許出頭人 日本電気株式会社 代 埋 人
FIG. 11 is a block diagram of an information processing device showing an embodiment of the channel data transfer test method of the present invention, and FIG. 2 is a flow chart of the processing of the test program 2 shown in FIG. 1... CPU, 2... Test program, 3... Data comparison means, 4... Cause determination means, 5... Input/output Operation instruction means, 6... Storage device, 7... Write data area, 8... Expected value of read data, 91. 92... Read data storage area, lO.
...Input/output processing device, 11+.・・・. 111). −,llq,−,ll
n--channel, l2...peripheral device, l3...write/read data storage area. Patent Applicant: NEC Co., Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、複数のチャネルを介して入出力処理装置と接続され
た周辺装置を用いてCPUからのデータ転送試験を行な
う、チャネルのデータ転送試験方式であって、 前記周辺装置内に設けられ、試験プログラムが動作する
前記CPUの指示により入出力処理を行なう前記入出力
処理装置からデータの書込/読出がなされる書込/読出
データ格納領域と、 試験対象チャネルを用いて前記周辺装置の書込/読出デ
ータ格納領域から読出されたデータが格納される第1の
読出データ格納領域と、 正常チャネルを用いて前記周辺装置の書込/読出データ
格納領域から読出されたデータが格納される第2の読出
データ格納領域とを有し、 前記試験プログラムは、 読出データの期待値と、第1の読出データ格納領域内の
読出データと、第2の読出データ格納領域内の読出デー
タとを相互に比較するデータ比較手段と、 前記期待値と、試験対象チャネルにより前記周辺装置の
書込/読出データ格納領域に書込まれ試験対象チャネル
により読出されて格納された第1の読出データ格納領域
内の読出データを前記比較手段が比較して不一致の場合
、試験対象チャネルにより前記周辺装置の書込/読出デ
ータ格納領域に書込まれ正常チャネルにより読出されて
格納された第2の読出データ格納領域内の読出データと
前記期待値を前記比較手段が比較して一致したときは、
試験対象チャネルのデータ読出転送処理に不合格の原因
があると判断し、第1の読出データ格納領域内の読出デ
ータと第2の読出データ格納領域内の読出データを前記
比較手段が比較して一致したときは、試験対象チャネル
のデータ書込転送処理に不合格の原因があると判断し、
前記期待値と第2の読出データ格納領域内の読出データ
を前記比較手段が比較して不一致で、かつ第1の読出デ
ータ格納領域内の読出データと第2の読出データ格納領
域内の読出データを前記比較手段が比較して不一致であ
れば、試験対象チャネルの書込転送処理と読出転送処理
の両方に不合格の原因があると判断する原因判定手段と
を含むチャネルのデータ転送試験方式。
[Claims] 1. A channel data transfer test method for performing a data transfer test from a CPU using a peripheral device connected to an input/output processing device via a plurality of channels, comprising: a write/read data storage area in which data is written/read from the input/output processing device that performs input/output processing according to instructions from the CPU on which a test program runs; a first read data storage area in which data read from the write/read data storage area of the peripheral device is stored; and a first read data storage area in which data read from the write/read data storage area of the peripheral device is stored using the normal channel. and a second read data storage area in which the test program stores the expected value of the read data, the read data in the first read data storage area, and the read data in the second read data storage area. data comparison means for comparing data with each other; and a first readout data written to a write/read data storage area of the peripheral device by the channel under test and read and stored by the channel under test. The comparison means compares the read data in the data storage area, and if there is a mismatch, the second When the comparing means compares the read data in the read data storage area and the expected value and they match,
The comparison means determines that the cause of the failure is in the data read transfer process of the channel under test, and compares the read data in the first read data storage area and the read data in the second read data storage area. If they match, it is determined that the cause of the failure is in the data write transfer process of the channel being tested.
The comparing means compares the expected value and the read data in the second read data storage area, and if the comparison means does not match, and the read data in the first read data storage area and the read data in the second read data storage area and a cause determination means for determining that there is a cause of failure in both write transfer processing and read transfer processing of the channel to be tested if the comparing means compares and there is a discrepancy.
JP1195498A 1989-07-27 1989-07-27 Data transfer testing system for channel Pending JPH0358254A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05233483A (en) * 1992-02-20 1993-09-10 Hokuriku Nippon Denki Software Kk Test system for input/output processor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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