JPH0355409B2 - - Google Patents
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- JPH0355409B2 JPH0355409B2 JP25815986A JP25815986A JPH0355409B2 JP H0355409 B2 JPH0355409 B2 JP H0355409B2 JP 25815986 A JP25815986 A JP 25815986A JP 25815986 A JP25815986 A JP 25815986A JP H0355409 B2 JPH0355409 B2 JP H0355409B2
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Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は多結晶珪素および各種フアインセラミ
ツクスの中間原料であるトリクロルシランを四塩
化珪素を原料として、著るしい高収率従つて低コ
ストで製造する方法に関するものである。
ツクスの中間原料であるトリクロルシランを四塩
化珪素を原料として、著るしい高収率従つて低コ
ストで製造する方法に関するものである。
従来の技術
現在多結晶珪素の大部分は、流動層内で、300
〜350℃の温度で、例えばJISに規定された金属珪
素を塩化水素ガス(HCl)と反応させ、トリクロ
ルシラン(SiHCl3)をつくり、これを精密蒸溜
し、更に適当な薬品と化合させて不純物を除去
し、精製されたSiHCl3を水素ガス(H2)中で熱
分解、還元することにより製造されている。
〜350℃の温度で、例えばJISに規定された金属珪
素を塩化水素ガス(HCl)と反応させ、トリクロ
ルシラン(SiHCl3)をつくり、これを精密蒸溜
し、更に適当な薬品と化合させて不純物を除去
し、精製されたSiHCl3を水素ガス(H2)中で熱
分解、還元することにより製造されている。
この方法の欠点はSiHCl3の熱分解時に多量の
四塩化珪素(SiCl4)を副生することであり、原
料珪素の利用率が低く、3.7トンの金属珪素から
1トンの多結晶珪素を得るに過ぎない。
四塩化珪素(SiCl4)を副生することであり、原
料珪素の利用率が低く、3.7トンの金属珪素から
1トンの多結晶珪素を得るに過ぎない。
このためSiCl4を原料として、SiHCl3を再生し
ようとする試みが行なわれるようになつた。例え
ば「ジヤーナル・オブ・マテリアルサイエンス」、
(1982)、3077〜3096頁等に示されているように
SiCl4と金属珪素とH2ガスを、流動層等で500〜
550℃、5〜40Kg/cm2の圧力下で反応させるのが
この方式の基本的な実施条件で、現在得られてい
る結果は、供給されたSiCl4の30〜40モル%が
SiHCl3に変化するとされている。この方法によ
れば副生するSiCl4が循環使用されるために、原
料の金属珪素が理論的には全量使用できる。
ようとする試みが行なわれるようになつた。例え
ば「ジヤーナル・オブ・マテリアルサイエンス」、
(1982)、3077〜3096頁等に示されているように
SiCl4と金属珪素とH2ガスを、流動層等で500〜
550℃、5〜40Kg/cm2の圧力下で反応させるのが
この方式の基本的な実施条件で、現在得られてい
る結果は、供給されたSiCl4の30〜40モル%が
SiHCl3に変化するとされている。この方法によ
れば副生するSiCl4が循環使用されるために、原
料の金属珪素が理論的には全量使用できる。
本発明に類似する方法として特開昭48−95396
号では、1100℃でSiCl4とH2を反応させ、短時間
で300℃以下に冷却することによつて37%の
SiHCl3を得る方法が提案されている。
号では、1100℃でSiCl4とH2を反応させ、短時間
で300℃以下に冷却することによつて37%の
SiHCl3を得る方法が提案されている。
また珪素、水素、塩素に関する文献は若干見受
けられる。これらは任意の温度で、任意の水素対
塩素比での気相中のガス成分の平衡条件を計算し
たものである。この種の文献からすると前記のト
リクロルシランの収率は大体予想できる値であ
る。(例えばジヤーナル・オブ・エレクトロケミ
カル・ソサイエテイ、121、919、(1974)および
119、1741、(1972))。
けられる。これらは任意の温度で、任意の水素対
塩素比での気相中のガス成分の平衡条件を計算し
たものである。この種の文献からすると前記のト
リクロルシランの収率は大体予想できる値であ
る。(例えばジヤーナル・オブ・エレクトロケミ
カル・ソサイエテイ、121、919、(1974)および
119、1741、(1972))。
発明が解決しようとする問題点
SiCl4とH2とを要すれば珪素又は珪素合金の存
在下で反応させた生成物中のSiHCl3生成率が低
ければ、結果的に未反応のSiCl4の還流量が多く、
精製の費用が増加する。従つて従来得らてれた結
果を超えて著るしい高収率でSiHCl3を得ようと
するのが本発明の目的である。
在下で反応させた生成物中のSiHCl3生成率が低
ければ、結果的に未反応のSiCl4の還流量が多く、
精製の費用が増加する。従つて従来得らてれた結
果を超えて著るしい高収率でSiHCl3を得ようと
するのが本発明の目的である。
問題点を解決するための手段
本発明ではSiCl4を珪素または珪素合金または
珪素化合物を高温、好ましくは溶融状態に保持し
た第一反応室に導入して反応させ、生じた二塩化
珪素を主体とする高温生成ガスを別の反応室に導
びき、ここにH2ガスを吹きこんで混合反応させ、
次いで生成ガスを冷却凝縮させ、あるいは溶剤に
吸収させてSiHCl3を含有する凝縮液を得ること
を特徴とするSiHCl3の製造方法であり、この凝
縮液を精密分溜してSiHCl3を高収率で得ること
ができる。
珪素化合物を高温、好ましくは溶融状態に保持し
た第一反応室に導入して反応させ、生じた二塩化
珪素を主体とする高温生成ガスを別の反応室に導
びき、ここにH2ガスを吹きこんで混合反応させ、
次いで生成ガスを冷却凝縮させ、あるいは溶剤に
吸収させてSiHCl3を含有する凝縮液を得ること
を特徴とするSiHCl3の製造方法であり、この凝
縮液を精密分溜してSiHCl3を高収率で得ること
ができる。
以下、本発明について詳述する。
前述のようにSiCl4をH2で還元してSiHCl3を得
る方法が二つあり、それは低温高圧か高温常圧か
の選択であつた。
る方法が二つあり、それは低温高圧か高温常圧か
の選択であつた。
本発明者らは、珪素の製造方法として特開昭60
−103015号で、珪素合金の溶融浴中にSiCl4ガス
を通じ、発生するガスを必要な純化工程を通して
のち冷却すると、純度のよい珪素(Si)が得らえ
ることを示した。これは次の反応で、 SiCl4+Si高温 ――→ ←―― 低温2SiCl2 まず二塩化珪素(SiCl2)が生じ、低温にする
と逆反応によりSiが得られる。ところでこの方法
でSiCl4ガスのみを通じる代りに、アルゴンガス
を稀釈ガスとして用いるとこれは単純に稀釈効果
が生じ、上記反応はSiCl2の分圧が増大する。従
つて同一量のSiCl4当りSiの生成が増加し、より
有利な結果で反応が行なわれる。
−103015号で、珪素合金の溶融浴中にSiCl4ガス
を通じ、発生するガスを必要な純化工程を通して
のち冷却すると、純度のよい珪素(Si)が得らえ
ることを示した。これは次の反応で、 SiCl4+Si高温 ――→ ←―― 低温2SiCl2 まず二塩化珪素(SiCl2)が生じ、低温にする
と逆反応によりSiが得られる。ところでこの方法
でSiCl4ガスのみを通じる代りに、アルゴンガス
を稀釈ガスとして用いるとこれは単純に稀釈効果
が生じ、上記反応はSiCl2の分圧が増大する。従
つて同一量のSiCl4当りSiの生成が増加し、より
有利な結果で反応が行なわれる。
この結果をもとに、H2ガスを稀釈ガスとして
用いたところ思いがけない結果となつた。即ち冷
却室には珪素はまつたく生成しないのである。そ
こでガスを凝縮して分析したところ通じたSiCl4
の30〜40%がSiHCl3に変化していることが判明
した。この結果は、特開昭48−95396号と差がな
いといえよう。つまりこの結果では珪素合金浴は
何等反応に関与しないと結論される。
用いたところ思いがけない結果となつた。即ち冷
却室には珪素はまつたく生成しないのである。そ
こでガスを凝縮して分析したところ通じたSiCl4
の30〜40%がSiHCl3に変化していることが判明
した。この結果は、特開昭48−95396号と差がな
いといえよう。つまりこの結果では珪素合金浴は
何等反応に関与しないと結論される。
この結果とは別に、前式によりSi+SiCl4の反
応を起させたあとでH2ガスと反応させてみた。
反応はSiCl2の複分解が起らない程度の温度に保
持される状態で行ない、生成ガスは著るしい急冷
は行なつていない。その結果反応室には僅かの珪
素の生成は見られたが、多くのSiHCl3の存在が
認められた。その生成した量は吹き込んだSiCl4
に対して40モル%を超えることが明らかであり、
通常50モル%以上のSiHCl3収率があり、すぐれ
た例では60〜70%という高い収率を示すことが判
明した。
応を起させたあとでH2ガスと反応させてみた。
反応はSiCl2の複分解が起らない程度の温度に保
持される状態で行ない、生成ガスは著るしい急冷
は行なつていない。その結果反応室には僅かの珪
素の生成は見られたが、多くのSiHCl3の存在が
認められた。その生成した量は吹き込んだSiCl4
に対して40モル%を超えることが明らかであり、
通常50モル%以上のSiHCl3収率があり、すぐれ
た例では60〜70%という高い収率を示すことが判
明した。
この結果によつて第1図に示すような実験装置
を製作し、反応条件と収率との関係を調べた。以
下この装置によつて説明する。
を製作し、反応条件と収率との関係を調べた。以
下この装置によつて説明する。
Aは原料ガス供給系統で、1はSiCl4ガス発生
装置、2は流量計、3は水素ホルダー、4は減圧
弁、5は流量計である。いづれの系統もガスの純
化装置は省略して示してある。
装置、2は流量計、3は水素ホルダー、4は減圧
弁、5は流量計である。いづれの系統もガスの純
化装置は省略して示してある。
Bは反応炉であり、第一反応室C、第二反応室
D、冷却室Eとに別れている。全体が黒鉛で気密
に構成され、ねじこみ、カーボンセメント等を用
いて製作されているほか、要部は鋼板等で支持さ
れている。7が黒鉛製炉筒体、8は耐火物で断熱
保温のため構成される。6は焼成された耐火物る
つぼである。
D、冷却室Eとに別れている。全体が黒鉛で気密
に構成され、ねじこみ、カーボンセメント等を用
いて製作されているほか、要部は鋼板等で支持さ
れている。7が黒鉛製炉筒体、8は耐火物で断熱
保温のため構成される。6は焼成された耐火物る
つぼである。
第一反応室は高周波コイル15で加熱され、珪
素または珪素合金が溶解され浴14を形づくる。
浴温は熱電対11でこの場合黒鉛筒対底の温度を
測定して制御される。16は給電端子である。
素または珪素合金が溶解され浴14を形づくる。
浴温は熱電対11でこの場合黒鉛筒対底の温度を
測定して制御される。16は給電端子である。
この第一反応室の溶融浴中に吹込管9から
SiCl4ガスが吹きこまれる。生成する反応ガスは
隔壁17にある連絡孔19を経て第二反応室に入
る。
SiCl4ガスが吹きこまれる。生成する反応ガスは
隔壁17にある連絡孔19を経て第二反応室に入
る。
第二反応室は、第一反応室で生成したSiCl2ガ
スが分解しない程度にコイル15によつて1部加
熱されており、下方から上昇した反応ガスは、吹
込管10から供給されるH2ガスと速やかに混合
される。混合したガスは隔壁18の連絡孔20を
経て冷却室Eに入る。
スが分解しない程度にコイル15によつて1部加
熱されており、下方から上昇した反応ガスは、吹
込管10から供給されるH2ガスと速やかに混合
される。混合したガスは隔壁18の連絡孔20を
経て冷却室Eに入る。
反応炉全体は黒鉛の酸化を防ぐため透明石英管
の筒体に入り、低速の不活性ガスの循環と熱放射
により冷却されている。冷却したガスは流出口2
1から同収工程へと導かれる。なお反応炉には原
料装入管12があり、珪素または珪素合金が必要
に応じて供給される。常時は12は冷却室位まで
引きあげ、コツク13を閉じておく。
の筒体に入り、低速の不活性ガスの循環と熱放射
により冷却されている。冷却したガスは流出口2
1から同収工程へと導かれる。なお反応炉には原
料装入管12があり、珪素または珪素合金が必要
に応じて供給される。常時は12は冷却室位まで
引きあげ、コツク13を閉じておく。
Fは凝縮器で22は本体、23ほ充填層、24
は凝縮液であり、適宜取出口25から間歇的に取
り出される。26はジユワー瓶で、本発明では2
2との間にドライアイ−アセトン冷媒を間歇的に
充填して冷却した。大部分の反応生成SiHCl3お
よび未反応のSiCl4はここで凝縮する。
は凝縮液であり、適宜取出口25から間歇的に取
り出される。26はジユワー瓶で、本発明では2
2との間にドライアイ−アセトン冷媒を間歇的に
充填して冷却した。大部分の反応生成SiHCl3お
よび未反応のSiCl4はここで凝縮する。
次いで反応ガスは連結管27を経て吸収塔Gに
入る。この吸収塔Gも前記凝縮器Fと同様にジユ
ワー瓶34中に、本体28、充填層29から構成
されており、別設するポンプ32から配管を経て
充填層29にトルエンが供給され、残つた
SiHCl3等が吸収される。また少量の塩化水素が
吸収され、その吸収液30は排出管31から間欠
的または連続的に取り出すことができる。なおこ
の吸収等Gも同様本体28とジユワー瓶34との
間に寒材を充填する。
入る。この吸収塔Gも前記凝縮器Fと同様にジユ
ワー瓶34中に、本体28、充填層29から構成
されており、別設するポンプ32から配管を経て
充填層29にトルエンが供給され、残つた
SiHCl3等が吸収される。また少量の塩化水素が
吸収され、その吸収液30は排出管31から間欠
的または連続的に取り出すことができる。なおこ
の吸収等Gも同様本体28とジユワー瓶34との
間に寒材を充填する。
連結管35を経て吸収塔Gから排出されるガス
は主として塩化水素(HCl)を含む水素ガスであ
るが、このガスを洗滌塔Hに導き、水吸収により
HClを除去する。洗滌塔Hにおいて41は本体で
あり、給水管37から吸収水が充填塔36に供給
され、その結果稀塩酸38が本体41の下方に溜
まり、排出管39から間歇的または連続的に排出
される。
は主として塩化水素(HCl)を含む水素ガスであ
るが、このガスを洗滌塔Hに導き、水吸収により
HClを除去する。洗滌塔Hにおいて41は本体で
あり、給水管37から吸収水が充填塔36に供給
され、その結果稀塩酸38が本体41の下方に溜
まり、排出管39から間歇的または連続的に排出
される。
このようにして得られる捕収液の各部を分析し
て、反応生成物の組成を明らかにすることができ
る。
て、反応生成物の組成を明らかにすることができ
る。
第2図は原料ガスのH2対SiCl4のモル比率に対
して、供給したSiCl4モル数に対してSiHCl3の生
成モル生成率(モル%)を示したものである。
して、供給したSiCl4モル数に対してSiHCl3の生
成モル生成率(モル%)を示したものである。
第2図において×印のものは、従来法による
SiCl4とH2ガスの高温による直接反応の、本実験
装置による追試結果である。即ち第1図装置で溶
湯14を設けず、水素吹込管10を第一反応室C
まで引きおろして反応させたものである。この結
果ではH2/SiCl4配合比が10程度ではSiHCl3生成
率が35%程度で、H2/SiCl4比を増大すると55%
〜60%の好結果も得られる。
SiCl4とH2ガスの高温による直接反応の、本実験
装置による追試結果である。即ち第1図装置で溶
湯14を設けず、水素吹込管10を第一反応室C
まで引きおろして反応させたものである。この結
果ではH2/SiCl4配合比が10程度ではSiHCl3生成
率が35%程度で、H2/SiCl4比を増大すると55%
〜60%の好結果も得られる。
次の黒丸印のものは、珪素を40%程度含む銅合
金の1250〜1500℃の溶融浴を用いた場合である。
この場合でもH2/SiCl4配合比が10程度で、従来
法の最高の結果を達成しうることが分る。
金の1250〜1500℃の溶融浴を用いた場合である。
この場合でもH2/SiCl4配合比が10程度で、従来
法の最高の結果を達成しうることが分る。
また△印のものは珪素80%〜90%、残部は鉄の
1400〜1500℃における合金溶湯である。
1400〜1500℃における合金溶湯である。
また白丸印のものは珪素98%、つまり所謂金属
珪素に相当する成分の溶湯である。この場合は
SiHCl3生成率が70〜75%に達する。
珪素に相当する成分の溶湯である。この場合は
SiHCl3生成率が70〜75%に達する。
また星印は炭化珪素粉(SiC)中に、1550℃で
SiCl4を吹きこんだ場合である。
SiCl4を吹きこんだ場合である。
図から明らかなように本方法によると、低い
H2/SiCl4配合比で高いSiHCl3生成率を得ること
ができる。
H2/SiCl4配合比で高いSiHCl3生成率を得ること
ができる。
この反応の珪素原料は溶融物であることは必須
でない。たとえばSiCを固体で用いることができ
る。
でない。たとえばSiCを固体で用いることができ
る。
第一次反応室は反応浴または反応量たとえば充
填層もしくは流動層である。しかしSiCは反応性
が劣るので同じ結果を得るためには高温を要し、
炭素を副成する欠点がある。いづれの場合も次に
のべる要件を満たすような反応条件を必要とす
る。
填層もしくは流動層である。しかしSiCは反応性
が劣るので同じ結果を得るためには高温を要し、
炭素を副成する欠点がある。いづれの場合も次に
のべる要件を満たすような反応条件を必要とす
る。
前述のSiCl2の副生する反応は、1200℃位で分
圧が0.2をこえ活発になる。これに対応して
SiHCl3の生成率も急速に増大する。このような
条件を数多くの実験から調べた結果第一反応室か
らSiが運び出されることが必要であることが判つ
た。この条件はSi/Clの比率であらわすことがで
きる。SiCl4ではSi/Cl=1/4=0.25である。
SiHCl3では0.333、SiHCl345%、SiCl455%であれ
ば同様の計算で0.282となる。一方SiCl2分圧0.2、
SiCl4分圧0.8のガスは0.278となる。
圧が0.2をこえ活発になる。これに対応して
SiHCl3の生成率も急速に増大する。このような
条件を数多くの実験から調べた結果第一反応室か
らSiが運び出されることが必要であることが判つ
た。この条件はSi/Clの比率であらわすことがで
きる。SiCl4ではSi/Cl=1/4=0.25である。
SiHCl3では0.333、SiHCl345%、SiCl455%であれ
ば同様の計算で0.282となる。一方SiCl2分圧0.2、
SiCl4分圧0.8のガスは0.278となる。
従つて本発明は反応機構は不明であるが、第一
反応室からSiを運び上げることが、第二反応室で
のSiHCl3高収率での生成に対応しているものと
みられる。そのためには言いかえれば本発明では
Si/Clをおよそ0.28より高くして第二反応室に入
れる要がある。
反応室からSiを運び上げることが、第二反応室で
のSiHCl3高収率での生成に対応しているものと
みられる。そのためには言いかえれば本発明では
Si/Clをおよそ0.28より高くして第二反応室に入
れる要がある。
又、第一室にH2をまつたく吹きこんではいけ
ないということはない。すなはち前記程度以上の
Si/Cl比を維持するH2は吹きこまれて差支えな
いことになる。このH2吹込限度は平衡計算によ
つて算出できるが、文献的には前記「ジヤーナ
ル・オブ・エレクトロケミカルソサイテイ」、
119、1741(1972)が参考となる。この資料では
Cl/H比と温度によつてSi/Clが決定されること
が示されている。
ないということはない。すなはち前記程度以上の
Si/Cl比を維持するH2は吹きこまれて差支えな
いことになる。このH2吹込限度は平衡計算によ
つて算出できるが、文献的には前記「ジヤーナ
ル・オブ・エレクトロケミカルソサイテイ」、
119、1741(1972)が参考となる。この資料では
Cl/H比と温度によつてSi/Clが決定されること
が示されている。
若干の例を引用すると、前記のSi/Cl比の閾値
とみられる0.28をこすのは、1000〓ではCl/H>
10であり、1700〓では0.33以上とみられる。この
値から容易にH2/SiCl4<1.5となる。また低温で
はH2/SiCl4<0.05となる。第2図からみると実
用範囲のH2/SiCl4は3〜4より大きいとみられ
るから、過半のH2ガスは第二反応室に送られる
ことになる。
とみられる0.28をこすのは、1000〓ではCl/H>
10であり、1700〓では0.33以上とみられる。この
値から容易にH2/SiCl4<1.5となる。また低温で
はH2/SiCl4<0.05となる。第2図からみると実
用範囲のH2/SiCl4は3〜4より大きいとみられ
るから、過半のH2ガスは第二反応室に送られる
ことになる。
すなわち、第一反応室にはSiCl4ガスが単独で、
または不活性ガスとともに送りこまれるか、第一
反応室で行なうSiのSiCl2としての気化を必要限
度保証するまでのH2ガスとともに送りこまれて
もよい。ここに送らえるH2ガスは、従来のSiCl4
と金属珪素とH2ガスとを500〜550℃で反応させ
るやり方と異り、反応平衡上は利点はないが、反
応制御上は利点のあることも考えられる。
または不活性ガスとともに送りこまれるか、第一
反応室で行なうSiのSiCl2としての気化を必要限
度保証するまでのH2ガスとともに送りこまれて
もよい。ここに送らえるH2ガスは、従来のSiCl4
と金属珪素とH2ガスとを500〜550℃で反応させ
るやり方と異り、反応平衡上は利点はないが、反
応制御上は利点のあることも考えられる。
以上の考察にもかかわらず珪素濃度が高いと
SiHCl3の生成率が高い現象の理由は解明できな
い。この種の液ガス反応では、十分な撹拌を行な
うように吹きこまれるべきである。
SiHCl3の生成率が高い現象の理由は解明できな
い。この種の液ガス反応では、十分な撹拌を行な
うように吹きこまれるべきである。
第二反応室の温度は特に限定されないが、急冷
するとSiCl2が分解してSiを生成するので好まし
くない。少なくとも第二室はほゞ保熱されること
になる。また生成ガスも第1図からみるように特
に急冷されている訳でない。通常の冷却によつて
十分である。この区間は吹込H2と熱交換を行な
わせる構造とすることも可能である。
するとSiCl2が分解してSiを生成するので好まし
くない。少なくとも第二室はほゞ保熱されること
になる。また生成ガスも第1図からみるように特
に急冷されている訳でない。通常の冷却によつて
十分である。この区間は吹込H2と熱交換を行な
わせる構造とすることも可能である。
運転の連続性から言つても、溶融珪素または珪
素合金浴を用いることが優れている。原料投入口
から珪素を補充すれば、反応は必要なだけ連続的
に実施できる。
素合金浴を用いることが優れている。原料投入口
から珪素を補充すれば、反応は必要なだけ連続的
に実施できる。
本方法では純珪素が有利なことは明らかである
が、実用的な見地では純珪素を用いると不純物が
濃化して原料の98%濃度は守れない。従つて実用
的には珪素の濃度の下限を定め、あるいは78%Si
合金を用いるならあとは98%珪素を追加投入し
て、一定量を追加したなら合金浴を排出して廃棄
する必要がある。
が、実用的な見地では純珪素を用いると不純物が
濃化して原料の98%濃度は守れない。従つて実用
的には珪素の濃度の下限を定め、あるいは78%Si
合金を用いるならあとは98%珪素を追加投入し
て、一定量を追加したなら合金浴を排出して廃棄
する必要がある。
銅−40%Si合金は高濃度珪素に比し、SiHCl3
生成率は低いものの、燐、硼素等の不純物が銅中
に溶解するため、原料珪素中の不純物を生成
SiHCl3中から減少させる効果を有する。
生成率は低いものの、燐、硼素等の不純物が銅中
に溶解するため、原料珪素中の不純物を生成
SiHCl3中から減少させる効果を有する。
いづれにせよ不純物が濃化する時点で内容物を
排出するため、反応炉には排出口を設けるべきで
ある。
排出するため、反応炉には排出口を設けるべきで
ある。
SiCl4の吹込口は必ずしも上部からでなく、炉
底に設けることも可能である。
底に設けることも可能である。
又、他の実施態様として第1図F、Gにかえて
−100〜−120℃の凝縮装置を設け、SiCl4、
SiHCl3、およびHClの大部分を凝縮させ、残つ
たH2を熱交換する装置も可能である。
−100〜−120℃の凝縮装置を設け、SiCl4、
SiHCl3、およびHClの大部分を凝縮させ、残つ
たH2を熱交換する装置も可能である。
凝縮液は清溜装置によつて、HCl、SiHCl3、
SiCl4を分離し、H2、SiCl4は系内の反応に循環す
ることができる。HClは副生品とするほか、少量
ならばSiCl4とともに浴への吹込に用いることも
可能である。SiHCl3は既知の純化方法によつて
高純度のものとされたのち、多結晶珪素の製造そ
の他の用途に向けられる。
SiCl4を分離し、H2、SiCl4は系内の反応に循環す
ることができる。HClは副生品とするほか、少量
ならばSiCl4とともに浴への吹込に用いることも
可能である。SiHCl3は既知の純化方法によつて
高純度のものとされたのち、多結晶珪素の製造そ
の他の用途に向けられる。
本方法では少量のジクロルシランSiH2Cl2が副
生し、凝縮液中に補足される。その量はSiHCl3
量の数%であるが、実用的にはSiHCl3より有価
物であれため、凝縮液または吸収液の精溜段階で
分取して、SiHCl3と同様の用途に向けるか、別
の用途に向けることが可能である。
生し、凝縮液中に補足される。その量はSiHCl3
量の数%であるが、実用的にはSiHCl3より有価
物であれため、凝縮液または吸収液の精溜段階で
分取して、SiHCl3と同様の用途に向けるか、別
の用途に向けることが可能である。
実施例
実施例 1
第1図に示したプラントの運転例を実施例とし
て示す。
て示す。
第1図の装置内に、400gの金属珪素1号を装
入して溶解する。SiCl4吹込管から毎時470gの
SiCl4を吹き込む。またH2吹込管からは毎時360
の割合でH2ガスを送入した。浴温を1450℃に
保ち、2時間毎に25gの珪素を追加投入して、24
時間変化なく運転を継続することができた。
入して溶解する。SiCl4吹込管から毎時470gの
SiCl4を吹き込む。またH2吹込管からは毎時360
の割合でH2ガスを送入した。浴温を1450℃に
保ち、2時間毎に25gの珪素を追加投入して、24
時間変化なく運転を継続することができた。
反応中凝縮器Fから毎時369gの凝縮液が、吸
収塔Gからは毎時450g供給するトルエンに毎時
96.7gの重量増加がみられた。
収塔Gからは毎時450g供給するトルエンに毎時
96.7gの重量増加がみられた。
分析の結果、凝縮液中に57.6%、吸収塔の重量
増分中の49.8%がSiHCl3であつた。吸収塔Hの吸
収液も含めて分析した結果、時間当り供給する
SiCl42.77モルのうち、1.13モルが未反応で溜出
し、SiHCl31.93モル、HCl0.80モルが生成してい
るものと算定された。
増分中の49.8%がSiHCl3であつた。吸収塔Hの吸
収液も含めて分析した結果、時間当り供給する
SiCl42.77モルのうち、1.13モルが未反応で溜出
し、SiHCl31.93モル、HCl0.80モルが生成してい
るものと算定された。
実施例 2
第1図の装置で反応炉のみ若干の変更を行なつ
て用いる。
て用いる。
第一反応室Cを二分割するため、隔壁17と同
一のものを中間に設置し、200gのSiC微粉末を
装入する。SiCl4吹込管からは毎時310gのSiCl4
を吹きこみ、反応室を1550℃に保ち、2時間毎に
25gの炭化珪素を追加装入した。またH2吹込管
からは毎時327の割合でH2ガスを送入した。反
応中凝縮器Fから微粉炭素を含む凝縮液が、吸収
塔Gからも相当の吸収液による重量増がみられ
た。
一のものを中間に設置し、200gのSiC微粉末を
装入する。SiCl4吹込管からは毎時310gのSiCl4
を吹きこみ、反応室を1550℃に保ち、2時間毎に
25gの炭化珪素を追加装入した。またH2吹込管
からは毎時327の割合でH2ガスを送入した。反
応中凝縮器Fから微粉炭素を含む凝縮液が、吸収
塔Gからも相当の吸収液による重量増がみられ
た。
炭素および少量の飛散SiCを除いて分析する
と、時間当り供給するSiCl41.825モルのうち、
0.911モルが未反応で溜出し、SiHCl31.049モル、
HCl0.51モルが生成しているものと算定された。
と、時間当り供給するSiCl41.825モルのうち、
0.911モルが未反応で溜出し、SiHCl31.049モル、
HCl0.51モルが生成しているものと算定された。
発明の効果
本発明は簡単な気相反応でSiCl4とH2を原料と
して高純度珪素および各種フアインセラミツクの
原料となるSiHCl3を高収率で得ることのできる
製造方法を提供するものであり、多結晶珪素製造
時の副産物であるSiCl4とHClガスは再度本発明
のSiHCl3製造に利用できるし、過剰の水素は循
環使用すればよく、原料を有効に利用することが
できる。
して高純度珪素および各種フアインセラミツクの
原料となるSiHCl3を高収率で得ることのできる
製造方法を提供するものであり、多結晶珪素製造
時の副産物であるSiCl4とHClガスは再度本発明
のSiHCl3製造に利用できるし、過剰の水素は循
環使用すればよく、原料を有効に利用することが
できる。
又、本発明は常圧を使用することができるため
ガス昇圧のための動力費を節約し、設備の安全性
を高めうる。
ガス昇圧のための動力費を節約し、設備の安全性
を高めうる。
第1図は本発明の実施例に用いた装置の説明図
である。第2図は本発明の効果を示すグラフであ
る。 A……原料ガス供給系統、B……反応炉、C…
…第一反応室、D……第二反応室、E……冷却
室、F……凝縮器、G……吸収塔、H……塩酸ガ
ス吸収塔、1……SiCl4ガス発生装置、2……流
量計、3……水素ホルダー、4……減圧弁、5…
…流量計、6……耐火物るつぼ、7……黒鉛製炉
筒体、8……耐火物、9……SiCl4ガス吹込管、
10……H2吹込管、11……熱電対、12……
珪素原料供給管、13……開閉バルブ、14……
溶湯、15……高周波コイル、16……給電端
子、17,18……隔壁、19,20……連絡
孔、21……反応生成ガス流出口、22……凝縮
器本体、23……充填層、24……凝縮液、25
……取出口、26……ジユワー瓶、27……配
管、28……吸収塔本体、29……充填層、30
……吸収液、31……排出管、32……吸収液の
供給ポンプ、33……配管、34……ジユワー
瓶、35……連結管、36……充填塔、37……
給水管、38……吸収液、39……出口、40…
…H2ガス排出口、41……洗滌塔本体。
である。第2図は本発明の効果を示すグラフであ
る。 A……原料ガス供給系統、B……反応炉、C…
…第一反応室、D……第二反応室、E……冷却
室、F……凝縮器、G……吸収塔、H……塩酸ガ
ス吸収塔、1……SiCl4ガス発生装置、2……流
量計、3……水素ホルダー、4……減圧弁、5…
…流量計、6……耐火物るつぼ、7……黒鉛製炉
筒体、8……耐火物、9……SiCl4ガス吹込管、
10……H2吹込管、11……熱電対、12……
珪素原料供給管、13……開閉バルブ、14……
溶湯、15……高周波コイル、16……給電端
子、17,18……隔壁、19,20……連絡
孔、21……反応生成ガス流出口、22……凝縮
器本体、23……充填層、24……凝縮液、25
……取出口、26……ジユワー瓶、27……配
管、28……吸収塔本体、29……充填層、30
……吸収液、31……排出管、32……吸収液の
供給ポンプ、33……配管、34……ジユワー
瓶、35……連結管、36……充填塔、37……
給水管、38……吸収液、39……出口、40…
…H2ガス排出口、41……洗滌塔本体。
Claims (1)
- 1 四塩化珪素を、珪素もしくは珪素合金もしく
は珪素化合物と高温で反応させ、生成する二塩化
珪素を主体とする高温ガスを別の反応室に導き、
ここに水素ガスを吹きこんで混合反応させ、次い
で生成ガスを冷却凝縮させ、または溶剤に吸収さ
せてトリクロルシランを含有する凝縮液を得るこ
とを特徴とするトリクロルシランの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25815986A JPS63112410A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | トリクロルシランの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25815986A JPS63112410A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | トリクロルシランの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63112410A JPS63112410A (ja) | 1988-05-17 |
JPH0355409B2 true JPH0355409B2 (ja) | 1991-08-23 |
Family
ID=17316351
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25815986A Granted JPS63112410A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | トリクロルシランの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63112410A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5601438B2 (ja) * | 2006-11-07 | 2014-10-08 | 三菱マテリアル株式会社 | トリクロロシランの製造方法およびトリクロロシラン製造装置 |
WO2010116440A1 (ja) * | 2009-03-30 | 2010-10-14 | 電気化学工業株式会社 | 反応炉 |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP25815986A patent/JPS63112410A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63112410A (ja) | 1988-05-17 |
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