JPH0347573A - 微粉体の分級方法並びにその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、セラミック等の微細粉体の分級方法並びに
その装置の改良に関する。

〔従来技術〕

従来、セラミック等の微細な粉体の分級方法としては、
サイクロン装置で大径の粒子（ｌ　Ｏｇｍ程度以上の粒
子）を分離したのち、サブミクロンの粒子迄含な粉体を
バッグフィルターで濾過してサブミクロンの粒子を捕捉
してｔｎ、Ｂ。

〔発明が解決しようとする問題点〕

然しながら、このような従来の技術によると、例えば、
１０μｍ〜０．０４μｍ径の粒子を６０〜９０％含むよ
うな粒子分布のセラミックの粉体からサブミクロンの粒
子を分離しようとすると、バフグフィルターの負荷が大
きくなり、急速に目詰りして頻繁に目詰り物を除去しな
ければならず、作業を度々中断しなければならない。こ
れを防ぐためニハ、バッグフィルターの容量を大きくす
ることも考えられるがコストの点、プロセスを構成する
上等で問題がある。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明は、上述のような問題点を解決するためになさ
れたものであって、次のような方法および手段を採用し
た。すなわち、 （１）　　サブミクロン乃至１０声程度の粒子よりなる
粉体を分級するに当り、先ず、サイクロン装置で粒子径
が１０μｍ以上の粒子を分離した後、フィルターを通し
て１μｍ乃至１０岬の粒径の粒子を分離し、さらに１こ
れら分離装置を通過した粉体を１ｐ以下の微細粒子を捕
捉できるバッグフィルターで濾過するようＫした。

（２）　　上記（１１項における粉体を分級する手段と
して１０μｍ程度以上の粒子径の粒子を分離することが
できるサイクロン装置と、その後段に設けられて１ｐ以
下の粒子を分離することができるバックフィルターとの
間に、１１１ｍ〜１０μｍの粒子を捕捉することができ
るフィルターを設けた。

（３）　　上記（２）項におけるフィルターとして、そ
の１戸材がステンレス材のウェッジワイヤで構成されて
、そのスリット巾が１ｐ程度のカートリッジフィルター
を用いるとともにその濾材の設置室に圧力検出装置を設
けた。

〔作用〕

上述のような、方法および手段を採用することによって
次のように問題点を解決した。

すなわち、サイクロン装置の後段に粒径１ｐｍ〜１０ｇ
ｍの粒子を捕捉することができるフィルターを設けるこ
とによってバッグフィルターの負荷を大巾に軽減すると
ともに大径の粒子を除去することによって目詰りを防止
し１長時間の連続運転を可能にした。そして、そのフィ
ルターとしてステンレスのウェッジワイヤで構成した　
　　　　　゛フィルターを用いることによって窒化チタ
ン等のセラミックが付着した場合に剥離性を良好にして
目詰りしても簡単に再生できるようになった。すなわち
、フィルターの再生手段として、フィルターをステンレ
ス製のウェッジワイヤで構成したことによって剥離性が
良好で高圧空気によって逆ブローするのみの簡単な操作
で目詰りを落すことができ、連続作業性を殆ど阻害する
ことなく運転ができるようになった。以下、図面に基づ
いてこの発明を具体的に説明する。

〔実施例〕

第１図において、符号１は１０μｍ程変以上の粒子を分
離できるサイクロン、符号２はサイクロン１の後段に設
けたフィルターで、その濾材３としてステンレス製のウ
ェッジワイヤで円筒状に構成したものを用いている。

第２図に断面図としてその一部分を示す。この濾材のス
リ７）Ｓは１ｐ程度に構成しである。また、第１図にお
いて符号４は圧力検知器である。

次に、符号５は、フィルター２の後段に設けたバッグフ
ィルターであり、そのＰ布６の目は粒径１戸以下の粒子
捕捉できる細い目のものを用いている。符号７は圧力検
知器を示す。尚、前述サイクロン１に送られてくる粉体
は、セラミックの粉末無機質のダスト等である。

次に、作動について説明する。第１図のように構成した
粉体の分級プロセスでは、サイクロン１に送られてきた
粉体は、ここで１０岬程度の粒子が先ず分離され、続い
てフィルター２で１／ｎｎ〜１０卿の粒子が捕捉分離さ
れ、さらに、バッグフィルター５では１ＩＩＩ１１以下
の粒子の粉体がＰ布５によって濾過分離される。すなわ
ち、バッグフィルター５には１声以上の大径の粒子が分
離された粉体が送られてくるので、その負荷が大巾に軽
減され、長時間目詰りするととなく運転が可能となった
。

そして、このようにして長時間運転をして、濾材が目詰
りしたときには、圧力検知器４および７によってフィル
ター内の圧力上昇が検知できるので、その検知圧力に基
づいて逆ブロー等によって炉材の目詰りを解消すること
ができる。この目詰りの除去作業に当って、この事例で
は、濾材３がステンレス製のウェッジワイヤで構成しで
あるので、粉体がセラミックである場合には剥離し易く
、高圧空気による逆ブローで簡単に目詰りを除去して再
生できろものである。

従来のこの種セラミック等の微粉体の分級装置は、第３
図に示すようにサイクロン力）ら送られる大粒子（ｌＰ
以上のもの）をいきなり微粉粒子捕捉用のバッグフィル
ターにかけるためにバッグフィルターが短時間に目詰り
して、これのＰ布の再生に時間を費していたのであるが
、この発明によれば、サイクロンと微粒子捕捉用のバッ
グフィルターの間に目詰りの原因となる大径の粒子捕捉
用のフィルターを設けることで微粉体の分級上の問題点
を全て解決し得たものである。

〔発明の効果〕

以上の説明で明ら必なように、この発明は微粉体を分級
するに当り、その分級プロセスの各装置のバランスを工
夫することによって、従来の微粉体の分級上の問題を解
決したものである。尚、無機質のダクト等を分級する場
合、サイクロンとバッグフィルターとの間に設けるフィ
ルターとしてステンレス製のウェッジワイヤで構成した
フィルターを用いると、目詰りしたときに逆ブロー、加
振等でこれを簡単に剥離再生でき、−層効果的である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明に係る微粉体の分級方法のフローシ
ート、第２図は、そのフィルター装置に用いる濾材の一
部分の縦断面図、第３図は、従来の微粉体の分級方法の
フローシートを示すものである。 １サイクロン　　２　　　　　　゛フィルタ３濾材　　
４圧力検知器　　５バッグフィルターＳスリット

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）サブミクロン乃至１０μｍ程度の粒子よりなる粉
   体を分級するに当り、先ず、サイクロン装置１で粒径が
   １０μｍ以上の粒子を分離した後、フィルター２で１μ
   ｍ乃至１０μｍの粒径の粒子を分離し、さらに、これら
   分離装置を通過した粉体を１μｍ以下の微細粒子を捕捉
   できるバッグ５フィルターで濾過することを特長とする
   微粉体の分級方法。
2. （２）粉体から１０μｍ程度以上の粒径の粒子を分離す
   ることができるサイクロン装置１と、その後段に設けら
   れて１μ以下の粒子を分離することができるバッグフィ
   ルター５との中間に、１μｍ〜１０μｍの粒子を捕捉す
   ることができるフィルター２を設けたこと を特長とする微粉体の分級装置。
3. （３）上記サイクロン装置の後段に設けるフィルター２
   の濾材３がステンレス材のウェッジワイヤで構成されて
   おり、そのスリットＳの巾が１μｍ程度であるとともに
   、その濾材の設置室に圧力検出装置４が設けられている
   ことを特長とする微粉体の分級装置。