JPH0345195Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0345195Y2
JPH0345195Y2 JP17982685U JP17982685U JPH0345195Y2 JP H0345195 Y2 JPH0345195 Y2 JP H0345195Y2 JP 17982685 U JP17982685 U JP 17982685U JP 17982685 U JP17982685 U JP 17982685U JP H0345195 Y2 JPH0345195 Y2 JP H0345195Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
foreign object
object detection
optical
light
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP17982685U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6288549U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP17982685U priority Critical patent/JPH0345195Y2/ja
Publication of JPS6288549U publication Critical patent/JPS6288549U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0345195Y2 publication Critical patent/JPH0345195Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、NC機器等の産業機械における作業
テーブル並びにその周辺の異物を検出するために
用いて好適な光学式異物検出装置に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
従来より、NC機器等の自動化装置の一部にお
いては、その作業テーブル上の異物を検出するた
めに、発光素子と受光素子とを作業テーブルを挾
んで複数個対向配置し、異物検出装置を構成して
いる。
〔考案が解決しようとする問題点〕
しかしながら、このような異物検出装置による
と、隣接する一対の発光素子および受光素子の間
隔によつて異物検出性能が決まり、この異物検出
性能を高めようとすると、多数の発・受光素子を
細かい間隔で配置しなければならず、極めて高価
な検出装置となるものであつた。
〔問題点を解決するための手段〕
本考案はこのような問題点に鑑みてなされたも
ので、矩形状の被異物検出板面上の空間を挾んで
第1および第2の光学式異物検出手段を対向配置
し、各光学式異物検出手段を被異物検出板面上の
空間に隣接して配置した再帰反射面と、この再帰
反射面から被異物検出板面上の空間を挾んで対向
する位置に配置した光学系とにより構成すると共
に、この光学系を、光源と、検出器と、ハーフミ
ラーと、このハーフミラーを介する光源からの光
を再帰反射面に導き且つこの再帰反射面から再帰
してくる反射光をハーフミラーを介して検出器に
導く回転ミラーと、この回転ミラーを回転させる
回転ミラー駆動手段とで構成し、各光学式異物検
出手段の各回転ミラーを被異物検出板面を含む四
角形の対角線上に所定の段差をもつて対向配置す
るようにしたものである。
〔作 用〕
したがつてこの考案によれば、対向する回転ミ
ラーの対角線で区画される被異物検出板面上の空
間の一方の領域を第1の光学式異物検出手段で、
他方の領域を第2の光学式異物検出手段でサーチ
し、この板面上の異物の全てを検出することが可
能となる。
〔実施例〕
以下、本考案に係る光学式異物検出装置を詳細
に説明する。第1図はこの光学式異物検出装置の
一実施例の構成を示す平面図である。同図におい
て、1はNC機器等の産業機械における作業テー
ブル、2aおよび2bは投光源、3aおよび3b
は投光源2aおよび2bより出射される光を集束
する凸レンズ、4aおよび4bはレンズ3aおよ
び3bの集束する光(以下、スポツトビームと呼
ぶ)を透過するハーフミラー、5aおよび5bは
ハーフミラー4aおよび4bを透過して入射され
るスポツトビームを反射してその反射光を異物検
出スポツトビームとなす回転ミラー、6aおよび
6bはこの回転ミラー5aおよび5bを回転し、
異物検出スポツトビームの照射方向を可変するパ
ルスモータ、7aおよび7bは作業テーブル1上
の空間を挾んで対向配置された反射面である。反
射面7aおよび7bは再帰反射面としてプリズム
あるいはガラス玉を集めて構成されており、回転
ミラー5aおよび5bにて回転しながら反射する
異物検出スポツトビームが作業テーブル1の上面
を横断して反射面7aおよび7bに照射されるよ
うになつている。そして、反射面7aおよび7b
に照射される異物検出スポツトビームは、この反
射面において再帰反射し、回転ミラー5aおよび
5bの鏡面を経由してハーフミラー4aおよび4
bの鏡面に導びかれて反射し、凸レンズ8aおよ
び8bを介して受光素子9aおよび9bにおいて
受光されるようになつている。すなわち、投光源
2aおよび2b、凸レンズ3aおよび3b、ハー
フミラー4aおよび4b、回転ミラー5aおよび
5b、パルスモータ6aおよび6b、凸レンズ8
aおよび8b、受光素子9aおよび9bよりなる
第1の光学系および第2の光学系と反射面7aお
よび7bとで第1の光学式異物検出手段および第
2の光学式異物検出手段が構成されている。
第2図aは第1の光学系と反射面7bとを一体
に構成した第1の異物検出器を示す外観斜視図、
第2図bは第2の光学系と反射面7aとを一体に
構成した第2の異物検出器を示す外観斜視図であ
る。同図において、10aおよび11aは回転ミ
ラー5aおよび5bを介して出射される異物検出
スポツトビームの投光窓であり、投光窓10aの
下方領域に反射面7bが投光窓11aの上方領域
に反射面7aが分割形成されている。そして、こ
の第1の異物検出器10と第2の異物検出器11
とが作業テーブル1上の空間を挾んで対向配置さ
れている。
次に、このように構成された光学式異物検出装
置の動作を説明する。すなわち、投光源2aおよ
び2bの出射する光は、、レンズ3aおよび4b
によつて集束されてスポツトビームとなり、ハー
フミラー4aおよび4bを透過して回転ミラー5
aおよび5bに照射される。今、この回転ミラー
5aおよび5bの回転位置が入射されるスポツト
ビームに対して45゜(図示状態)の位置にあるもの
とすると、照射されるスポツトビームは入射方向
に対して90゜方向に反射して反射面7aおよび7
bに照射される。そして、この反射面7aおよび
7bに照射された異物検出スポツトビームは、こ
の反射面7aおよび7bによつて再帰反射し、回
転ミラー5aおよび5bを経由してハーフミラー
4aおよび4bの鏡面に照射される。しかして、
このハーフミラー4aおよび4bに照射されて反
射する異物検出スポツトビームがレンズ8aおよ
び8bを介して受光素子9aおよび9bにて受光
される。
今、このような状態を基準として回転ミラー5
aおよび5bを時計方向に回転すると、これに伴
い異物検出スポツトビームの照射方向が時計方向
に回転移動し、反射面7aおよび7bにおける照
射位置が移動する。この時、反射面7aおよび7
bに照射される異物検出スポツトビームは、反射
面7aおよび7bにて再帰反射するため、移動中
にも回転ミラー5aおよび5b、ハーフミラー4
aおよび4bを経由して受光素子9aおよび9b
にて常に受光される。したがつて、作業テーブル
1上の異物にこの異物検出スポツトビームが照射
されると、受光素子9aおよび9bにおける受光
が中断され、この受光の中断を検知することによ
り異物の存在を知ることができる。
しかして、回転ミラー5aおよび5bをさらに
時計方向に回転すると、異物検出スポツトビーム
の照射方向が回転ミラー5aの中心と回転ミラー
5bの中心とを結ぶ直線aと一致し、この時点で
作業テーブル1上での全ての異物のサーチを終え
ることができる。即ち、本実施例においては、図
示斜線で示す領域が作業テーブル1上の被異物検
出板面であり、この被異物検出板面を含む四角形
の対角線(直線a)上に回転ミラー5aおよび5
bが所定段差をもつて対向配置されている。そし
て、対角線aで区画される図示上方の空間領域を
回転ミラー5aを介して照射される異物検出スポ
ツトビームが、対角線aで区画される図示下方の
領域を回転ミラー5bを介して照射される異物検
出スポツトビームが横断し異物のサーチを行なつ
ている。尚、本実施例においては作業テーブル1
の斜線で示す領域を異物検出板面としたが、第3
図に示すように作業テーブル1の全ての領域並び
にその周辺を被異物検出板面としてもよい。この
ように、第1および第2の光学式異物検出器10
および11を対向配置することによつて、光学式
異物検出手段を1つしか用いない異物検出装置に
比して(第4図)、その被異物検出板面の大きさ
を大幅に広げることができる。さらに、作業テー
ブル1の対向する長手片は異物検出器が配置され
ていないので、ロボツトアーム等の移動通路ある
いは加工部材の搬入搬出通路等になり得、支障な
く作業を行なうことができる。
また、第1および第2の光学式異物検出器10
および11は、第2図に示すようにその投光窓1
0a,11aと反射面7b,7aとが上下に分割
形成され、且つ投光窓10aおよび11aの下方
および上方部位にも反射面7bおよび7aが形成
されて、さらにテーブル1上の空間を挾んで各々
の投光窓と反射面とが対向するように配置されて
いるので、異物検出時に死角が生じるという問題
が解消されている。すなわち、第5図に示すよう
に、異物検出器が構成されていると、第6図に示
すようにその異物検出スポツトビームが投光窓部
において入射方向へ反射せず、図示斜線で示す死
角が生じてしまう。これに対して、本実施例のよ
うに構成した異物検出器10および11において
は、投光窓10aおよび11a部においてもその
下方および上方部位の反射面7bおよび7aにお
いて異物検出スポツトビームが反射するので死角
が生じることがない。尚、第7図に示すように投
光窓の周囲に反射面を形成して死角を生じさせな
いようにしてもよく、この場合作業テーブル1上
の空間を挾んで対向配置する異物検出器の共用化
を図ることができる。
〔考案の効果〕
以上説明したことから明らかなように本考案に
よれば、対向する回転ミラーの対角線で区画され
る被異物検出板面上の空間の一方の領域を第1の
光学式異物検出手段で、他方の領域を第2の光学
式異物検出手段でサーチし、この板面上の異物の
全てを検出することが可能であり、従来の如く多
数の発・受光素子を細かい間隔で配置せずとも、
簡単な構成でしかも安価に被異物検出板面の全て
の領域での異物を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る光学式異物検出装置の一
実施例の構成を示す平面図、第2図はこの異物検
出装置に用いる異物検出器を示す外観斜視図、第
3図は作業テーブルの全ての領域を被異物検出板
面とした例を示す平面図、第4図は1つの光学式
異物検出手段を用いて検出できる被異物検出板面
の大きさを示す平面図、第5図は異物検出時に死
角が生じる異物検出器の構成を示す正面図、第6
図はこの異物検出器を用いて生じる死角を示す平
面図、第7図は死角の生じない異物検出器の他の
例を示す外観斜視図である。 1……作業テーブル、2a,2b……投光源、
4a,4b……ハーフミラー、5a,5b……回
転ミラー、6a,6b……パルスモータ、7a,
7b……反射面、9a,9b……受光素子、1
0,11……異物検出器。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 矩形状の被異物検出板面上の空間を挾んで対向
    配置された第1および第2の光学式異物検出手段
    を備え、 各光学式異物検出手段は前記被異物検出板面上
    の空間に隣接して配置された再帰反射面と、この
    再帰反射面から前記被異物検出板面上の空間を挾
    んで対向する位置に配置された光学系とを有し、 この光学系は、光源と、検出器と、ハーフミラ
    ーと、このハーフミラーを介する光源からの光を
    前記再帰反射面に導き且つこの再帰反射面から再
    帰してくる反射光を前記ハーフミラーを介して前
    記検出器に導く回転ミラーと、この回転ミラーを
    回転させる回転ミラー駆動手段とを有し、 前記各光学式異物検出手段の各回転ミラーは前
    記被異物検出板面を含む四角形の対角線上に所定
    の段差をもつて対向配置されていることを特徴と
    する光学式異物検出装置。
JP17982685U 1985-11-25 1985-11-25 Expired JPH0345195Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17982685U JPH0345195Y2 (ja) 1985-11-25 1985-11-25

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17982685U JPH0345195Y2 (ja) 1985-11-25 1985-11-25

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6288549U JPS6288549U (ja) 1987-06-06
JPH0345195Y2 true JPH0345195Y2 (ja) 1991-09-24

Family

ID=31123231

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17982685U Expired JPH0345195Y2 (ja) 1985-11-25 1985-11-25

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0345195Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6288549U (ja) 1987-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4999482A (en) Optical scanning system for a bar code reader
JPS625428A (ja) 光学的位置決め装置
JPH0712569A (ja) 対象反射物体及び対象反射物体検出装置
US6420694B1 (en) Steerable retroreflective system and method
JPH03198175A (ja) バーコードリーダ
JPS6312521B2 (ja)
JPS60238909A (ja) 光ビ−ム発生装置
JPH0345195Y2 (ja)
JPS581120A (ja) テレセントリツク光線を発生する装置および物体の寸法または位置を測定する方法
JPH0457463B2 (ja)
JPH048351Y2 (ja)
JPH03127191A (ja) 光走査装置
JP3155188B2 (ja) 自動追尾装置
JPH11230746A (ja) 移動体の位置検出設備
JP2000338259A (ja) 回帰反射形の安全及び正常確認装置
JPH11166969A (ja) レーザ式測距装置
JPH052194B2 (ja)
JP2578868Y2 (ja) 光路切換ユニット
JPH0755464A (ja) レーザ測量システム
JPH07134026A (ja) 対象反射物体検出装置
JPS5927988Y2 (ja) レ−ザ加工装置
JP2001056210A (ja) 光反射型センサ
US4624527A (en) Radiation-utilizing measurement system
JPH0424424Y2 (ja)
JPS61151490A (ja) 物体検出装置