JPH0342601B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0342601B2
JPH0342601B2 JP58105625A JP10562583A JPH0342601B2 JP H0342601 B2 JPH0342601 B2 JP H0342601B2 JP 58105625 A JP58105625 A JP 58105625A JP 10562583 A JP10562583 A JP 10562583A JP H0342601 B2 JPH0342601 B2 JP H0342601B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
probe
pivot plate
reference surface
plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58105625A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5963501A (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of JPS5963501A publication Critical patent/JPS5963501A/ja
Publication of JPH0342601B2 publication Critical patent/JPH0342601B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/002Constructional details of contacts for gauges actuating one or more contacts

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の背景) (発明の分野) この発明は一般的に、測定及び計測システムで
使われる位置検知装置に関する。特にこの発明
は、接触式検知プローブを用いた機械的な位置復
帰装置に関するものである。
(従来技術の説明) 自動化工作システムや座標測定システムでは、
工作部品の表面を正確に位置決めする手段が必要
である。本発明の関係した1つの測定方法では、
標準プローブと測定すべき表面との機械的接触を
検知し、その標準プローブの接触時における工作
台又はマシンスピンドルのx,y,z軸上の位置
が求められている。この方法の精度は、外部の接
触力がプローブに加わつていないときに必ず検知
装置がプローブを所定の静止位置へ正確に復帰さ
せられるかどうか、その装置の能力に依存してい
る。又、接触力はあらゆる方向にプローブを変位
させるから、復帰又は再位置復帰装置は測定表面
との接触で生じた前回のプローブ変位の方向と無
関係に、正確且つ反復的に静止位置の状態へ戻る
よう動作しなければならない。
プローブの正しい静止位置を反復的に得ようと
試みた従来の方法は、アメリカ特許第4270275号
(マツクマートリー)、第4153998号(マツクマー
トリー)及び第4279080号(ナカヤ)に開示され
ている。これらはいずれも、複数の位置決め手段
又は入れ子によつて限定されたプローブ位置を与
えており、可動プローブあるいはプローブハウジ
ングの固定標準点のいずれか一方に形成された一
対の収束面を有し、これらの収束面が可動プロー
ブあるいは固定標準点の他方に形成された一つの
曲面と係合する。
プローブを正確に位置復帰させるという目的を
達成するための別の従来法は、相互に複雑に接続
されたリードスプリング(板バネ)を利用してい
る。この種の方法は、例えばアメリカ特許第
3869799号(ニアー他)、第4084323号(マツクマ
ートリー)及び第4158919号(マツクマートリー)
に見られる。
こうした従来法にもかかわらず、自動化測定の
分野では、構造的に簡単で、頑丈で、経済的で、
正確に反復するばかりでなく、各種の電気的又は
電気光学的な接点検知表示信号発生回路に適用で
きる接触プローブ型機械的位置決め装置の必要が
長い間望まれ続けてきた。
(発明の要旨) 従つてこの発明の主な目的は、接触プローブ組
体を含む改良された機械的プローブ位置復帰装置
によつて、上記の要望を満たすことにある。
本発明の接触プローブは、ハウジングから突き
出た探針を備えている。ハウジングの内部空所で
は、探針が従動体つまりピボツトプレートに結合
され、この従動体がリードスプリング等実質上平
板から成る弾性部材の片側に結合される。弾性部
材の他側は、従動体の運動に対して静止した基準
面に結合される。従動体と基準面の間に少くとも
3個の接点が配置され、従動体と基準面との間で
安定した静止位置接触を与える。そして、平板状
の弾性部材が従動体の運動として現われる横断方
向及び軸方向に沿つてプローブに加わる接触力に
応じてたわみ、接触力がなくなつたときは少くと
も3個の接点によつて限定される静止位置へ正確
にプローブを反復復帰させるように構成される。
(詳細な説明) 本発明のその他の目的及び特徴は、以下の図面
を参照した好適実施例の詳細な説明から明らかに
なるであろう。尚同一の装置又は部品は、その装
置と部品を表わした全ての図面中同一の参照番号
で表わしてある。
本発明の第1実施例を示した第1〜5図におい
て、接触プローブ組体100は、プローブハウジ
ング110の前面壁111に設けた開口を通つて
延びる探針140を有する。開口部中の探針14
0は、シール用のダイアフラムスリーブ150で
取り囲まれている。ハウジング110はさらに、
取付プレート180から成る背面壁を有する。ハ
ウジング110は前面壁111と取付プレート1
80の間でほぼ円筒形状を成し、その内部に後述
する探針偏差従動復帰装置を受け入れる空所19
0を形成している。3本の取付ボルト112,1
15,116(第2図に3本とも示す)が、ハウ
ジング110のほぼカツプ状部分を取付プレート
180に固定している。
プローブハウジング110は取付ネジ113,
114(第1図)と取付ボルト202,204
(第2図)を介しほぼ円筒形状の中空ハウジング
120に結合され、この中空ハウジングの中には
プローブハウジング110に収納される機械装置
と連動して動作する検知回路が入れられる。検知
回路の1例は、1981年4月30日に出願され、現在
審査中で、本出願人に譲渡されたアメリカ特許願
第259257号に記載してある。本発明では、この回
路の詳細を理解する必要はないので、説明は繰り
返さない。中空ハウジング120内に収納された
検知回路は、取付プレート180に隣接して位置
させたO−リング170で外部からの汚染に対し
シールされる。
取付プレート180と反対側の検知回路用ハウ
ジング120の一端には、工作機械工業規格のテ
ーパーや駆動キー受入れ用の溝付フランジ131
等を含むアダプター部130が固定され、このア
ダプター130は工作機械のスピンドル又は工具
取扱用タレツトの対応ソケツトを受け入れるのに
適した形状を有する。アダプター130は一般
に、ネジ切りレセプタクル131を介しアダプタ
ー130と噛み合う引張バー(図示せず)によつ
て上記ソケツト内へ引き込まれる。本発明の構成
要件ではないが、NC制御の下で切削工具が自動
的に選択され、所定の径路内を駆動されるのと同
じように、NC工作センターで接触プローブ装置
を容易に使えることを示すための一例としてアダ
プター130を図示した。接触プロープ組体10
0は、その他各種環境での使用に適した形状とす
ることができ、例えばロボツト用のマニピユレー
タに取付けてもよい。
次に第2,3及び5図を参照して、探針偏差従
動復帰機構装置について説明する。探針140は
接触先端141から前面壁111の開口とスリー
ブ150を通り、フランジ部140Aとネジ切り
突出部142から成る接続端へと延びている。突
出部142は孔142Aと保持ナツト143を介
して探針従動部つまりピボツトプレート530に
結合され、このピボツトプレート530が探針先
端141に加わる接触力に応じて移動する。
ほぼ3角形を成すピボツトプレート530の3
隅には、球状の接点541,546,548がそ
れぞれの軸部(例えば第5図中の542)を介し
ピボツトプレート530へ結合され、各軸部はピ
ボツトプレート530の対応孔542Aと端子ポ
スト550の孔を通り接触保持ナツト543と係
合している。又接点541と546の間のピボツ
トプレート530の単一部分だけに、ほぼ平板状
の弾性部材例えばリードスプリング(板バネ)5
20の片面が結合されている。リードスプリング
520とピボツトプレート530間の接続は3本
の保持ネジ523によつて成され、各ネジ523
は第1リードスプリング保持具522の対応穴5
23A、リードスプリング520の対応穴523
B及びピボツトプレート530のネジ噛合孔52
3Cを通つている。
リードスプリング520は、探針140が貫通
するようにハウジング前面壁111の開口とほぼ
軸合せされた第1の孔526を有する。リードス
プリング520はさらに孔527を有し、ここか
ら球状接点548が突き出ている。リードスプリ
ング520の他面は、ハウジング前面壁111に
固定されるかあるいはその一部を成すベーススプ
レート510に接点548に隣接して接合され
る。ベーススプレート510の役割は接点54
1,546,548の基準面を与えることにあ
り、この基準面はハウジングに対し静止してい
る。ベースプレート510も、探針が貫通するよ
うにハウジング前面壁111の開口と軸合せされ
た孔511を有する。
リードスプリング520は2本のネジ525で
ベースプレート510へ結合され、各ネジ525
は第2リードスプリング保持具524の対応穴5
25A、リードスプリング520の対応孔525
B及びベースプレート510のネジ噛合い孔52
5Cを通つている。第2リードスプリング保持具
524は、リードスプリング520の孔527か
ら突き出た接点548の一部が静止位置でベース
プレート510の基準面と当接するように形成さ
れた切込み部を有する。
ピボツトプレート、基準面、これに当接する球
状接点及びリードスプリングが上記のように構成
されているため、探針140はその先端141に
接触力が加わつていない場合、リードスプリング
520の作用で基準面と当接する3個の接点によ
つて繰返し正確に静止位置へと復帰する。プロー
ブ力をいつそう高めると同時に、探針のはね返り
つまり見かけのガタツキを防ぐため、コイル状の
付勢スプリング160はピボツトプレート530
に形成された適当な環状溝532と係合する一端
と、取付プレート180に形成された対応溝と係
合する他端を有する。従つてスプリング160は
探針140の縦方向軸と平行な付勢力を与え、ピ
ボツトプレート530とベースプレート510が
接点541,546,548を介して静止位置に
保たれるようにしている。スプリング160の役
割はリードスプリング520の強度を適切に選択
することで果すこともできるが、この強度は極め
て制限された探針の過剰移動を接触プロープ装置
で吸収できるものでなければいけない。
当業者にとつては明らかなように、ピボツトプ
レート530とベースプレート510の間で3個
の接点が静止位置の状態にあるかどうかの検知
は、さまざまな方法で行える。例えば、ハウジン
グ120内のダイオード加算回路から延びたリー
ド線を端子ポスト550を介して並列に3個の接
点541,546,548全てへ配線し、検知回
路からベースプレート510へ標準電位を加えれ
ば、静止位置を表わす電気信号を発生させること
ができる。この場合には、3個の接点全てがベー
スプレート110と当接しているときのみ、接点
541,546,548と並列に接続されたリー
ド線上に真の標準電位が現われる。一方、第4図
に矢印401で示したような接触力が探針の先端
141に加わると、ピボツトプレート530は探
針の動きに従動し、第4図中関隙402として示
したように接点541を標準面510から離間さ
せる。そしてこの接点における交流インピーダン
スが、第1図のハウジング120内に収納された
回路で周知の方法により検知される。
本発明の機械的構成に適用できるさらに別の検
知方法としては、例えば接点とベースプレート1
50の基準面に形成した電気絶縁接触領域から成
る直列電気回路、各接点と基準面の間での磁気的
接近検知、各接点と基準面の間での容量的接近検
知、ベースプレート又はピボツトプレートのひず
み検知、あるいは基準面に対するピボツトプレー
トの移動の光学的検知等が可能だが、これらに限
定されるものではない。直列接続式の接点を使つ
た検知回路の一例は、上記のアメリカ特許願第
259257号に示してある。直列回路法の場合、ピボ
ツトプレート530を非導体とするか、接点54
1,546,548からピボツトプレート530
を絶縁するための手段を設けなければならないこ
とは当業者にとつて自明であろう。この必要はあ
るが、検知回路と各接点の直列接続とをつなぐの
が簡単となるため、直列回路検知法の方が一般に
望ましい。
本発明の原理に基いて構成された接触プローブ
装置の別の実施例を第6,7図に示す。第6,7
図に示すように、この変形接触プローブは2体に
分れた探針を有し、永久固定された探針のベース
部つまり取付端部10に連結点16Aで接合され
る取外し可能な接点つまり先端部16から成つて
いる。この構成では、各種のサイズ及び形状の先
端を持つた探針を、プローブハウジング本体2の
外側に位置した連結点16Aで第7図の接触プロ
ーブ装置へ用意に結合させることができる。
ハウジング本体2の前面壁には、シール用ダイ
アフラム9の外周を所定位置に保持するカバー留
め具7がボルト止めされ、ダイアフラム9の内周
はワツシヤ8によつてダイアフラム9の内側面に
保持され、又探針取付端部10のフランジ部によ
つてダイアフラムの外側面に保持される。
ハウジング本体2の背面壁は取付プレート1か
ら成り、この取付プレート1は2個のナイロン製
絶縁ワツシヤのうち一方5によつて付勢スプリン
グ6から電気的に絶縁されている。他方のナイロ
ン製絶縁ワツシヤ20は、付勢スプリング6の他
端をピボツトプレート4から電気的に絶縁する。
取付プレート1とハウジング本体2の間には、シ
ール用ガスケツト17が入れてある。さらにハウ
ジングの背面壁1には付勢スプリング保持プレー
ト18が設けてあり、この保持プレート18はネ
ジヘツド部12で回転される調整装置19と協働
して、付勢スプリング6からピボツトプレート4
へ加わる力を可変とする。保持プレート18は絶
縁ワツシヤ5と一体状に図示してあるが、別々に
構成してもよい。
前述の実施例と同じく、第6,7図の接触プロ
ーブでも探針の取付端部10にピボツトプレート
4が結合され一緒に移動する。しかし第6,7図
のプローブ装置では前例と異り、ハウジング本体
2と一体の面を固定基準面として使い、ピボツト
プレートではなくこの固定面に球状接点21を備
えている。各球状接点21と対応したピボツトプ
レート4の位置には、接点21と当接するほぼ平
坦な面を与える耐摩耗パツド13が取付けてあ
る。パツド13と球状接点21は、焼結タングス
テン炭化物等耐摩耗性の高い素材で作るのが好ま
しい。球状接点と組合せて耐摩耗性の平坦面を使
えば、ハウジング内の空所に潤滑用流体を満たす
必要が無くなるばかりか、これに伴つて電気検知
回路に問題を生ずる恐れも避けられることが見い
出された。
リードスプリング(板バネ)3はその一端が第
1の保持具11を介してピボツトプレート4へ結
合され、他端が第2の保持具15を介して一体の
基準面に結合されており、この標準面は探針の軸
にほぼ直角な方向に、ハウジング本体2の前面壁
に形成された探針貫通口の周囲へと延びている。
バネ接触式プローブ14はハウジング本体2と
一体の基準面と接する溝切端部を有する一方、取
付プレート1へと延び、ハウジングの前背両面間
の電気的接続を確保している。
本発明の原理に従つて構成した接触プローブの
試品は、接触力が探針から除かれた時必ずいつで
も探針がその静止位置へ正確に復帰する点で、改
善された反復性を示した。本発明による接触プロ
ーブの試品1個は、最悪条件の軸方向に沿つて
200万回繰返した結果、12ミクロインチ2シグマ
より優れた反復復帰精度が得られた。この性能向
上は、平面プレートが3個の等しく離間した接点
上へ確実且つ正確に静止できることと、ほぼ平板
状の弾性部材が平面プレートを接点上の同じ反復
位置へ位置させられることによるものと考えられ
る。
以上本発明を、好適実施例を参照しながら説明
した。これらの実施例で示された個々の構成は説
明の便宜上選んだもので、本発明の範囲を限定す
るものではない。本発明の要旨を逸脱することな
く、当業者が上記以外の実施例を考え出すことも
勿論可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の原料に従つて構成された接触
プローブの一部断面を含む平面図;第2図は第1
図の2−2線に沿つた断面図;第3図は第1図の
3−3線に沿つた断面図;第4図は第1図と同様
の部分断面図で、接触力により変位した位置にあ
るプローブを示す図;第5図は第1図に示した位
置復帰装置の分解斜視図;第6図は別の実施例を
示す断面図;及び第7図は第6図の7−7線に沿
つた断面図である。 1…取付プレート(背面壁)、2,110…プ
ローブハウジング、3,520…リードスプリン
グ、4,530…ピボツトプレート、5,20…
絶縁ワツシヤ、6,160…付勢スプリング、7
…カバー留め具、8…ワツシヤ、9…シール用ダ
イアフラム、10…探針取付ベース部、11,5
22…第1保持具、12…ネジヘツド部、13…
パツド、14…バネ接触式プローブ、15,52
4…第2保持具、16…探針先端部、16A…連
結点、17…シール用ガスケツト、18…保持プ
レート、19…調整装置、21,541,54
6,548…球状接点、100…接触プローブ組
体、111…前面壁、112,115,116,
202,204…取付ボルト、113,114…
取付ネジ、120…中空ハウジング、130…ア
ダプター、131…溝付フランジ、140…探
針、140A…フランジ部、141…探針先端、
142…ネジ切り突出部、142A…孔、143
…保持ナツト、150…シール用ダイアフラムス
リーブ、170…O−リング、180…取付プレ
ート(背面壁)、190…空所、402…間隙、
510…ベースプレート、511…孔、523,
525…ネジ、523A〜C,525A〜C…対
応穴、526…第1の孔、527…孔、532…
環状溝、542…接点軸部、542A…対応孔、
543…接触保持ナツト、550…端子ポスト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 別の物体との接触を検出する接触プローブ装
    置であつて、 接触端と取付端とを有する探針と、 基準面と、 探針の取付端に連結されたピボツトプレート
    と、 前記ピボツトプレートか前記基準面のいずれか
    一方に固着された少なくとも3つの接触部材と、 基準面とピボツトプレートの間に位置決めされ
    た弾性部材とからなり、探針の接触端が上記他の
    物品との接触によつて移動されないときはいつで
    も、各接触部材が押圧されてピボツトプレート及
    び基準面のうちの他方のそれぞれの対向する部分
    と係合するように、かつ基準面とピボツトプレー
    トの両方に堅く連結されるように、そして、接触
    部材がピボツトプレートと基準面との間に延びる
    ように、前記弾性部材はピボツトプレートに少な
    くとも3つの接触部材のうちの2つの間のピボツ
    トプレートの単一部分だけで結合され、かつ基準
    面の前記2つの接触部材から遠い第3の接触部材
    に隣接した部分に結合されており、 ピボツトプレートが回動し、接触部材がこの移
    動を検出し、弾性部材が探針を移動前のほぼ同じ
    位置に戻すように探針は基準面に対して自由に移
    動する、別の物体との接触を検出する接触プロー
    プ装置。 2 弾性部材は、ほぼ平らなリードスプリングで
    あり、前記リードスプリングは、その一方の縁に
    隣接して基準面に堅く連結され、他方の縁に隣接
    してピボツトプレートに堅く連結されている、請
    求項第1項記載の接触プロープ装置。 3 接触部材はピボツトプレートに固着され、基
    準面は基準プレートであり、前記接触部材は、探
    針が動かされてないときに基準プレートと接触し
    ており、探針の移動は、基準プレートから1つ以
    上の接触部材の離れることによつて検出される、
    請求項第1項記載の接触プロープ装置。 4 接触部材は基準面に堅く連結されている、請
    求項第1項記載の接触プロープ装置。 5 接触部材の接触部分、或いは基準面かピボツ
    トプレートの接点部材と対向した接触面、の一方
    又は両方が、耐摩耗性の焼結炭化物材料からな
    る、請求項第1項記載の接触プロープ装置。 6 接点部材の接触面は球形である、請求項第1
    項記載の接触プロープ装置。 7 探針は、探針を簡単に交換できるようにピボ
    ツトプレートに取外し可能に連結される、請求項
    第1項記載の接触プロープ装置。 8 ピボツトプレートはほぼ平らであり、接触部
    材はピボツトプレートのまわりに縁に隣接して等
    距離離されている、請求項第1項記載の接触プロ
    ープ装置。 9 基準面、ピボツトプレート及び弾性部材はす
    べて、ハウジング内に位置決めされ、探針の接触
    端はハウジングを貫通する、請求項第1項記載の
    接触プロープ装置。 10 更に、ピボツトプレートの弾性部材と反対
    側で、ピボツトプレートとハウジングの壁との間
    に位置決めされた付勢用スプリングを備え、前記
    付勢用スプリングはピボツトプレートと壁の両方
    に当接している、請求項第9項記載の接触プロー
    プ装置。
JP58105625A 1982-06-14 1983-06-13 位置検知装置 Granted JPS5963501A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US388187 1982-06-14
US06/388,187 US4451987A (en) 1982-06-14 1982-06-14 Touch probe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5963501A JPS5963501A (ja) 1984-04-11
JPH0342601B2 true JPH0342601B2 (ja) 1991-06-27

Family

ID=23533049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58105625A Granted JPS5963501A (ja) 1982-06-14 1983-06-13 位置検知装置

Country Status (13)

Country Link
US (1) US4451987A (ja)
JP (1) JPS5963501A (ja)
AU (1) AU557558B2 (ja)
BE (1) BE897040A (ja)
BR (1) BR8303114A (ja)
CA (1) CA1198188A (ja)
DE (1) DE3321454A1 (ja)
FR (1) FR2528565B1 (ja)
GB (1) GB2121966B (ja)
IT (1) IT1170396B (ja)
NL (1) NL8302096A (ja)
SE (1) SE8303325L (ja)
ZA (1) ZA834262B (ja)

Families Citing this family (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4401945A (en) * 1981-04-30 1983-08-30 The Valeron Corporation Apparatus for detecting the position of a probe relative to a workpiece
US4670989A (en) * 1981-04-30 1987-06-09 Gte Valeron Corporation Touch probe using microwave transmission
US5065035A (en) * 1981-04-30 1991-11-12 Gte Valenite Corporation Optical data system having flash/receiver head for energizing/receiving information from a battery operated transmitter
US4510693A (en) * 1982-06-14 1985-04-16 Gte Valeron Corporation Probe with stylus adjustment
DE3234851C2 (de) * 1982-09-21 1985-11-14 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Dynamischer Tastkopf
US4608763A (en) * 1983-06-14 1986-09-02 Gte Valeron Corporation Probe
US4543859A (en) * 1983-06-14 1985-10-01 Gte Valeron Corporation Probe adjustment tool and method of using same
US4567672A (en) * 1983-06-16 1986-02-04 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Coordinate measuring instrument
IT1168698B (it) * 1983-11-21 1987-05-20 Finike Italiana Marposs Testa per il controllo di dimensioni lineari
US4553001A (en) * 1983-12-05 1985-11-12 Gte Valeron Corporation Touch probe having nonconductive contact carriers
US4523063A (en) * 1983-12-05 1985-06-11 Gte Valeron Corporation Touch probe having nonconductive contact carriers
US4542590A (en) * 1984-03-26 1985-09-24 Gte Valeron Corporation Two axis touch probe
US4693110A (en) * 1985-06-06 1987-09-15 Gte Valeron Corporation Method and apparatus for testing the operability of a probe
US4625417A (en) * 1985-06-17 1986-12-02 Gte Valeron Corporation Probe with stylus pressure adjustment
US4658509A (en) * 1985-09-12 1987-04-21 Gte Valeron Corporation Probe having low battery detection/transmission feature
US4603482A (en) * 1985-12-30 1986-08-05 Valeron Corporation Probe shield
US4831742A (en) * 1986-10-15 1989-05-23 Struble James E Contour and outline transducer gage assembly
US4731935A (en) * 1986-10-15 1988-03-22 Struble James E Contour and outline transducer gage assembly
US4831743A (en) * 1986-10-15 1989-05-23 Struble James E Fixture rail snap-mountable transducer gage assembly for selectively making outline (gap) and contour checks
US4780961A (en) * 1986-11-10 1988-11-01 Shelton Russell S Probe assembly and circuit for measuring machine
US4734994A (en) * 1986-12-22 1988-04-05 Gte Valeron Corporation Probe having a plurality of hinged plates
DE3811235A1 (de) * 1987-08-21 1989-10-19 Wegu Messtechnik Dynamischer tastkopf
GB8816358D0 (en) * 1988-07-08 1988-08-10 Renishaw Plc Probe for use with measuring apparatus
US5253428A (en) * 1990-02-23 1993-10-19 Renishaw Plc Touch probe
GB9004117D0 (en) * 1990-02-23 1990-04-18 Renishaw Plc Touch probe
US5491904A (en) * 1990-02-23 1996-02-20 Mcmurtry; David R. Touch probe
DE69120658T2 (de) * 1990-11-24 1996-10-31 Renishaw Plc Tastsonde
DE4123081C2 (de) * 1991-07-12 2001-05-17 Zeiss Carl Tastkopf vom schaltenden Typ
GB2281968B (en) * 1993-09-20 1996-05-01 Hunt Grubbe Robert Measuring instruments
GB0118981D0 (en) * 2001-08-03 2001-09-26 Renishaw Plc Electron microscope and spectroscopy system
DE50305077D1 (de) 2003-01-31 2006-10-26 Zeiss Ind Messtechnik Gmbh Tastkopf für ein koordinatenmessgerät
KR100868635B1 (ko) * 2007-05-16 2008-11-12 주식회사 동부하이텍 반도체 소자 검사 장치
US10303270B2 (en) 2016-09-12 2019-05-28 Microsoft Technology Licensing, Llc Linear encoder force transducer
US10663274B2 (en) * 2017-01-27 2020-05-26 Faro Technologies, Inc Articulated arm coordinate measuring machine
US11733021B2 (en) 2021-12-22 2023-08-22 Mitutoyo Corporation Modular configuration for coordinate measuring machine probe
US11713956B2 (en) * 2021-12-22 2023-08-01 Mitutoyo Corporation Shielding for sensor configuration and alignment of coordinate measuring machine probe

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3122970A (en) * 1964-03-03 Certificate of correction
DE1069392B (ja) * 1957-03-25 1959-11-19
US3180030A (en) * 1961-02-23 1965-04-27 Bendix Corp Gage probe
US3219782A (en) * 1962-08-08 1965-11-23 Cincinnati Milling Machine Co Joystick control switch with electromagnetic detent
DE2242355C2 (de) * 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
GB1445977A (en) * 1972-09-21 1976-08-11 Rolls Royce Probes
US4153998A (en) * 1972-09-21 1979-05-15 Rolls-Royce (1971) Limited Probes
GB1551218A (en) * 1975-05-13 1979-08-22 Rolls Royce Probe for use in displacement measuring apparatus
US4158919A (en) * 1976-03-24 1979-06-26 Rolls-Royce Limited Apparatus for measuring displacement in at least two orthogonal dimensions
US4136458A (en) * 1976-10-01 1979-01-30 The Bendix Corporation Bi-axial probe
IT1088539B (it) * 1976-12-24 1985-06-10 Rolls Royce Sonda per l'uso in apparecchi di misura
GB1589297A (en) * 1976-12-24 1981-05-13 Rolls Royce Probe for use in measuring apparatus
DE2712181C3 (de) * 1977-03-19 1981-01-22 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Tastsystem
SE406228B (sv) * 1977-09-20 1979-01-29 Johansson Ab C E Legesgivare avsedd for kontrollmetning av ytor
IT1107310B (it) * 1978-03-23 1985-11-25 Dea Spa Gruppo di attacco per un montaggio di precisione e di sicurezza di un utensile su una macchina particolarmente una macchina di misura
IT1159663B (it) * 1978-05-09 1987-03-04 Dea Spa Palpatore bidimensionale per macchine utensili o macchine di misura
GB2049198B (en) * 1979-05-01 1983-03-30 Renishaw Electrical Ltd Probe for use in measuring apparatus
FR2458791A1 (fr) * 1979-06-13 1981-01-02 Seiv Automation Dispositif de mesure a commande numerique
JPS5920642Y2 (ja) * 1979-08-28 1984-06-15 株式会社 三豊製作所 タツチ信号プロ−ブ
US4443946A (en) * 1980-07-01 1984-04-24 Renishaw Electrical Limited Probe for measuring workpieces
US4386349A (en) * 1981-04-28 1983-05-31 Sperry Corporation High resolution graphics smoothing
JPS58140404U (ja) * 1982-03-16 1983-09-21 株式会社ミツトヨ タッチ信号プロ−ブ
JPS60303A (ja) * 1983-06-16 1985-01-05 Mitsutoyo Mfg Co Ltd タツチ信号プロ−ブ

Also Published As

Publication number Publication date
BE897040A (fr) 1983-10-03
AU557558B2 (en) 1986-12-24
IT8348482A1 (it) 1984-12-10
DE3321454A1 (de) 1983-12-15
IT8348482A0 (it) 1983-06-10
FR2528565B1 (fr) 1988-07-29
GB2121966A (en) 1984-01-04
CA1198188A (en) 1985-12-17
JPS5963501A (ja) 1984-04-11
AU1575683A (en) 1983-12-22
GB2121966B (en) 1985-09-11
ZA834262B (en) 1984-03-28
DE3321454C2 (ja) 1993-03-11
FR2528565A1 (fr) 1983-12-16
SE8303325D0 (sv) 1983-06-13
IT1170396B (it) 1987-06-03
GB8315940D0 (en) 1983-07-13
SE8303325L (sv) 1983-12-15
BR8303114A (pt) 1984-01-31
NL8302096A (nl) 1984-01-02
US4451987A (en) 1984-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0342601B2 (ja)
US5505005A (en) Touch probe
US5404649A (en) Touch probe
US5918378A (en) Inspection system for coordinate positioning machine
US3520063A (en) Multiaxis inspection probe
JPS61290316A (ja) 測定機における測定器具の自動交換装置
US7352271B2 (en) Probe and contour measuring instrument
US4734994A (en) Probe having a plurality of hinged plates
US4561190A (en) Two-directional touch sensor
JPS6197502A (ja) 寸法測定装置
JP2003207330A (ja) トリガプローブおよびトリガプローブの組立て方法
US5839202A (en) Manual three dimensional coordinate measuring machine
CN213657705U (zh) 精密检测装置、刀具辅件和机械加工系统
CN213579023U (zh) 精密检测装置、刀具辅件和机械加工系统
JP2006502536A (ja) 不活性ガスによって保護された接点を備えたスイッチを有するタッチプローブ
US5066176A (en) Probe for machine tool
JPH0511761B2 (ja)
CN213579024U (zh) 精密检测装置、刀具辅件和机械加工系统
US3229200A (en) Resistor test probe
US4493153A (en) Measuring apparatus and method of making
CN109945759A (zh) 精密检测装置、刀具辅件和机械加工系统
US4924715A (en) Contact sensing system
US4603482A (en) Probe shield
CN210173126U (zh) 刀具辅件
CN109945760A (zh) 精密检测装置、刀具辅件和机械加工系统