JPH0338757Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0338757Y2 JPH0338757Y2 JP1983172717U JP17271783U JPH0338757Y2 JP H0338757 Y2 JPH0338757 Y2 JP H0338757Y2 JP 1983172717 U JP1983172717 U JP 1983172717U JP 17271783 U JP17271783 U JP 17271783U JP H0338757 Y2 JPH0338757 Y2 JP H0338757Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- small hole
- screen
- image observation
- electron beam
- observation screen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 19
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は電子顕微鏡に用いられるシヤツター装
置に関し、特に透過走査像観察装置等を用いた際
の集束された電子線をカツトするためのシヤツタ
ー装置に関する。
置に関し、特に透過走査像観察装置等を用いた際
の集束された電子線をカツトするためのシヤツタ
ー装置に関する。
電子顕微鏡において透過走査像を観察する場合
には、カメラ室の下部に配置された透過電子検出
器に、電子線EBを導かなければならない。又、
エネルギーアナライザーを用いて、エネルギース
ペクトルを観察する場合にも、カメラ室の下部の
アナライザーに電子線EBを導かなければならな
い。このような場合、第1図に示す如き従来の装
置においては、写真フイルム3を光軸Cから外し
た後、像観察用スクリーン1を大きく回転させて
1′で示すように光軸から外し、電子線を通過で
きるようにしている。但し第1図において、2は
投影レンズであり、4は透過電子検出器である。
には、カメラ室の下部に配置された透過電子検出
器に、電子線EBを導かなければならない。又、
エネルギーアナライザーを用いて、エネルギース
ペクトルを観察する場合にも、カメラ室の下部の
アナライザーに電子線EBを導かなければならな
い。このような場合、第1図に示す如き従来の装
置においては、写真フイルム3を光軸Cから外し
た後、像観察用スクリーン1を大きく回転させて
1′で示すように光軸から外し、電子線を通過で
きるようにしている。但し第1図において、2は
投影レンズであり、4は透過電子検出器である。
そのため、このような装置においては、透過走
査像を観察するためには、像観察用スクリーンを
大きく回転させなければならないばかりでなく、
電子線スポツトをスクリーン上に表示してモニタ
ーしながら、透過走査像あるいはエネルギースペ
クトルを観察することはできない。
査像を観察するためには、像観察用スクリーンを
大きく回転させなければならないばかりでなく、
電子線スポツトをスクリーン上に表示してモニタ
ーしながら、透過走査像あるいはエネルギースペ
クトルを観察することはできない。
このような欠点を除くため、第1図に示した像
観察用スクリーン1に代えて小孔6を設けたスク
リーン5を使用する装置もある。但し第2図にお
いても、第1図と同一の構成要素に対しては、同
一番号を付されている。しかしながら、このよう
な装置においては、小孔6を通過する電子線EB
によつて写真フイルム3が露光されるのを防ぐた
め、大型のシヤツター板7を写真フイルム3の上
部に配置しなければならず、このシヤツター板7
が大型であることから、その駆動機構も含めた製
作費用は大きなものであつた。
観察用スクリーン1に代えて小孔6を設けたスク
リーン5を使用する装置もある。但し第2図にお
いても、第1図と同一の構成要素に対しては、同
一番号を付されている。しかしながら、このよう
な装置においては、小孔6を通過する電子線EB
によつて写真フイルム3が露光されるのを防ぐた
め、大型のシヤツター板7を写真フイルム3の上
部に配置しなければならず、このシヤツター板7
が大型であることから、その駆動機構も含めた製
作費用は大きなものであつた。
本考案は、このような従来の欠点を解決すべく
なされたもので、像観察用スクリーンに電子線を
通過させるための小孔を設けると共に、前記像観
察用スクリーンの所定の傾斜操作に基づいて前記
小孔に入射した電子線を遮断する位置から通過さ
せる位置に位置を変える阻止部材を前記スクリー
ンの小孔の近傍に取り付けた電子顕微鏡のシヤツ
ター装置を特徴としている。
なされたもので、像観察用スクリーンに電子線を
通過させるための小孔を設けると共に、前記像観
察用スクリーンの所定の傾斜操作に基づいて前記
小孔に入射した電子線を遮断する位置から通過さ
せる位置に位置を変える阻止部材を前記スクリー
ンの小孔の近傍に取り付けた電子顕微鏡のシヤツ
ター装置を特徴としている。
以下、図面に基づき本考案の一実施例を詳述す
る。
る。
本考案の一実施例を示す第3図において、8は
像観察用スクリーンであり、このスクリーン8の
中央には、集束された電子線を通過させるための
小孔9が設けられている。スクリーン8は支持基
板10に対して回転可能にされた軸11にボス1
2を介して固定されている。第3図を矢印A方向
から見た第4図より明らかなように、スクリーン
8の裏面にはシヤツター板13が軸14を中心に
回転可能に備えられている。このシヤツター板1
3の一端にはケーブル15が取り付けられてお
り、このケーブル15の他端は前記支持基板10
に取り付けられている。シヤツター板13の他端
にはスプリング16の一端が取り付けられてお
り、このスプリング16の他端はスクリーン8の
一部に固定されている。
像観察用スクリーンであり、このスクリーン8の
中央には、集束された電子線を通過させるための
小孔9が設けられている。スクリーン8は支持基
板10に対して回転可能にされた軸11にボス1
2を介して固定されている。第3図を矢印A方向
から見た第4図より明らかなように、スクリーン
8の裏面にはシヤツター板13が軸14を中心に
回転可能に備えられている。このシヤツター板1
3の一端にはケーブル15が取り付けられてお
り、このケーブル15の他端は前記支持基板10
に取り付けられている。シヤツター板13の他端
にはスプリング16の一端が取り付けられてお
り、このスプリング16の他端はスクリーン8の
一部に固定されている。
このような構成において、スクリーン8が光軸
Cと垂直な状態においては、シヤツター板13は
第4図において実線で示すように、小孔9を塞ぐ
位置にあるが、スクリーン8を第3図において点
線で示すように、所定の小角度傾斜させると、ケ
ーブル15がスプリング16の力に抗してシヤツ
ター板13を回転させるため、シヤツター板13
は第4図で点線で示すように、小孔9を開く位置
まで回転する。そこで、スクリーン板8は小角度
しか回転していないため、電子線のスポツトをス
クリーン8上においてモニターしながなら、透過
電子線を検出器に導いて、透過透過走査像を観察
することができるが、小型のシヤツター板を用い
ているだけであるため、装置の製作費用を従来に
比して、低減させることができる。
Cと垂直な状態においては、シヤツター板13は
第4図において実線で示すように、小孔9を塞ぐ
位置にあるが、スクリーン8を第3図において点
線で示すように、所定の小角度傾斜させると、ケ
ーブル15がスプリング16の力に抗してシヤツ
ター板13を回転させるため、シヤツター板13
は第4図で点線で示すように、小孔9を開く位置
まで回転する。そこで、スクリーン板8は小角度
しか回転していないため、電子線のスポツトをス
クリーン8上においてモニターしながなら、透過
電子線を検出器に導いて、透過透過走査像を観察
することができるが、小型のシヤツター板を用い
ているだけであるため、装置の製作費用を従来に
比して、低減させることができる。
第5図は、本考案の他の実施例を示すためのも
ので、スクリーン板8に小孔9を設けると共に、
この小孔9の位置に、スクリーン板8に対して小
角度傾斜したパイプ17を取り付けるようにした
ものである。
ので、スクリーン板8に小孔9を設けると共に、
この小孔9の位置に、スクリーン板8に対して小
角度傾斜したパイプ17を取り付けるようにした
ものである。
このようにしても、スクリーン板8を第6図に
示すように、所定の小角度傾斜した際のみ、電子
線EBがパイプ7を通過できるため、電子線スポ
ツトをモニターしながら、透過走査像を観察する
ことができる。
示すように、所定の小角度傾斜した際のみ、電子
線EBがパイプ7を通過できるため、電子線スポ
ツトをモニターしながら、透過走査像を観察する
ことができる。
上述した説明から明らかなように、本考案に基
づく装置においては、像観察用スクリーンに電子
線を通過させるための小孔を設けると共に、前記
像観察用スクリーンの所定の傾斜操作に基づいて
前記小孔に入射した電子線を遮断する位置から通
過させる位置に位置を変える阻止部材を前記スク
リーンの小孔の近傍に取り付けるようにしたた
め、電子線スポツトをスクリーンにおいてモニタ
ーしながら透過走査像を観察できると共に、大形
のシヤツター板とその駆動機構を用いることな
く、透過走査像の非観察時におけるフイルムの露
光を防ぐことができる。そのため、本考案により
電子顕微鏡のシヤツター装置の製作コストを大幅
に低減させることができる。
づく装置においては、像観察用スクリーンに電子
線を通過させるための小孔を設けると共に、前記
像観察用スクリーンの所定の傾斜操作に基づいて
前記小孔に入射した電子線を遮断する位置から通
過させる位置に位置を変える阻止部材を前記スク
リーンの小孔の近傍に取り付けるようにしたた
め、電子線スポツトをスクリーンにおいてモニタ
ーしながら透過走査像を観察できると共に、大形
のシヤツター板とその駆動機構を用いることな
く、透過走査像の非観察時におけるフイルムの露
光を防ぐことができる。そのため、本考案により
電子顕微鏡のシヤツター装置の製作コストを大幅
に低減させることができる。
第1図は従来装置を説明するための図、第2図
は他の従来装置を示すための図、第3図は本考案
の一実施例を示すための図、第4図は本考案の他
の一実施例を示すための図、第5図は本考案の他
の一実施例を示すための図、第6図は第5図に示
した実施例の動作を説明するための図である。 1,1′,5,8:スクリーン板、2:投影レ
ンズ、3:写真フイルム、4:透過電子検出器、
6,9:小孔、7,13:シヤツター板、10:
支持基板、11,14:軸、12:ボス、15:
ケーブル、16:スプリング、17:パイプ、
C:光軸、EB:電子線。
は他の従来装置を示すための図、第3図は本考案
の一実施例を示すための図、第4図は本考案の他
の一実施例を示すための図、第5図は本考案の他
の一実施例を示すための図、第6図は第5図に示
した実施例の動作を説明するための図である。 1,1′,5,8:スクリーン板、2:投影レ
ンズ、3:写真フイルム、4:透過電子検出器、
6,9:小孔、7,13:シヤツター板、10:
支持基板、11,14:軸、12:ボス、15:
ケーブル、16:スプリング、17:パイプ、
C:光軸、EB:電子線。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 像観察用スクリーンに電子線を通過させるた
めの小孔を設けると共に、前記像観察用スクリ
ーンの所定の傾斜操作に基づいて前記小孔に入
射した電子線を遮断する位置から通過させる位
置に位置を変える阻止部材を前記スクリーンの
小孔の近傍に取り付けたことを特徴とする電子
顕微鏡のシヤツター装置。 (2) 前記阻止部材は前記像観察用スクリーンの裏
面に回転可能に取り付けられたシヤツター板で
あつて、前記所定の傾斜操作に連動した回転に
よつて前記シヤツター板は前記小孔を塞ぐ位置
から小孔を開放する位置に位置を変える実用新
案登録請求の範囲第1項記載の電子顕微鏡のシ
ヤツター装置。 (3) 前記阻止部材は前記小孔に連通するように前
記像観察用スクリーンの裏面に取り付けられた
パイプであつて、該パイプによつて通過が阻止
されていた前記小孔通過後の電子線を、前記所
定の傾斜によつて通過させるように該パイプの
像観察用スクリーンへの取り付け角度が選ばれ
ている実用新案登録請求の範囲第1項記載の電
子顕微鏡のシヤツター装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17271783U JPS6080655U (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 電子顕微鏡のシヤツタ−装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17271783U JPS6080655U (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 電子顕微鏡のシヤツタ−装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6080655U JPS6080655U (ja) | 1985-06-04 |
JPH0338757Y2 true JPH0338757Y2 (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=30376422
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17271783U Granted JPS6080655U (ja) | 1983-11-08 | 1983-11-08 | 電子顕微鏡のシヤツタ−装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6080655U (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4964365A (ja) * | 1972-10-23 | 1974-06-21 | ||
JPS5339848A (en) * | 1976-09-23 | 1978-04-12 | Siemens Ag | Method of indicating diffractive picture in transmission scanning particle beam microscope |
JPS54114172A (en) * | 1978-02-27 | 1979-09-06 | Jeol Ltd | Electronic microscope |
JPS5613650A (en) * | 1979-07-13 | 1981-02-10 | Jeol Ltd | Scanning type focusing electron-ray diffractor |
-
1983
- 1983-11-08 JP JP17271783U patent/JPS6080655U/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4964365A (ja) * | 1972-10-23 | 1974-06-21 | ||
JPS5339848A (en) * | 1976-09-23 | 1978-04-12 | Siemens Ag | Method of indicating diffractive picture in transmission scanning particle beam microscope |
JPS54114172A (en) * | 1978-02-27 | 1979-09-06 | Jeol Ltd | Electronic microscope |
JPS5613650A (en) * | 1979-07-13 | 1981-02-10 | Jeol Ltd | Scanning type focusing electron-ray diffractor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6080655U (ja) | 1985-06-04 |
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