JPH0330843Y2 - - Google Patents

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JPH0330843Y2
JPH0330843Y2 JP1985176592U JP17659285U JPH0330843Y2 JP H0330843 Y2 JPH0330843 Y2 JP H0330843Y2 JP 1985176592 U JP1985176592 U JP 1985176592U JP 17659285 U JP17659285 U JP 17659285U JP H0330843 Y2 JPH0330843 Y2 JP H0330843Y2
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JP
Japan
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outside air
environmental test
air
introduction duct
constant temperature
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JP1985176592U
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JPS6284745U (ja
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は、半導体等の電子機器部品の信頼性の
試験を高温または低温下にて行なうための環境試
験装置に関するものである。
従来技術 従来の環境試験装置としては第3図に示すよう
に、ケーシング1及び透明ガラス等からなるスラ
イドドア2で覆われた環境試験槽において、仕切
板3により環境試験室4と恒温空気発生室5とに
区画し、該恒温空気発生室5内に冷凍サイクルの
蒸発器6、ヒーター7及び空気循環用のブロワー
8を配置し、空気が循環するように構成されたも
のが知られている。尚9は、恒温空気を環境試験
室4内に通風するための通気孔であり、10は環
境試験室4内に置かれた被試験物を操作するため
の操作用グローブである。
以上のような構成において、蒸発器6の空気取
入口より環境試験室4内の空気が吸引される。吸
引された空気は蒸発器6で冷やされ、次にヒータ
ー7で所定の温度に調節される。そして循環用の
ブロワー8により通気孔9を介して環境試験室4
内に恒温空気が送風される。環境試験室4内で
は、被試験物が所定の温度に冷やされた後に、電
子機器部品の信頼性の試験が行なわれる。
考案が解決しようとする問題点 しかしながら、かかる従来の環境試験装置の場
合は、蒸発器を超低温となるように稼働させてと
きには、スライドドアをあけたときには外気が環
境試験室内に入り込む結果蒸発器の冷却フインに
霜が付着してしまい、充分な冷却能力を発揮する
ことができないといつた不都合や、一度霜が付着
した場合にフインに付着した霜を除去するまでは
信頼性の試験を行なうことが出来ず、長時間待た
なくてはならないといつた不都合があつた。
さらに冷却中は、操作用のグローブをつかつて
被試験物を操作せざるを得なく、こまかな作業を
するのに不向きといつた不都合があつた。
そのため環境試験装置において外気を導入する
場合に蒸発器のフインに霜が付着しにくいものが
望まれていた。そこで、本考案はかかる従来技術
の欠点に鑑み外気導入型の環境試験装置において
霜の付着が少ないものを提供することを目的とす
る。
問題を解決するための手段 すなわち本考案は、ケーシングで覆れた環境試
験槽内を仕切板で環境試験室と恒温空気発生室と
に区画し、該恒温空気発生室内に少なくとも冷凍
サイクルの蒸発器、空気循環用のブロワーを直列
に配置した環境試験装置において、ケーシングの
一部に設けた操作孔と、前記蒸発器の空気取入口
付近とケーシングに設けた外気導入口とを連通す
る熱伝導性の材料からなり縦方向に屈曲した外気
導入ダクトとを有し、該外気導入ダクトが恒温空
気発生室に隣接して設けられ、さらに該外気導入
ダクト内を横方向に伸びる仕切板を設けて縦方向
及び横方向に蛇行する多段通路構造として環境試
験装置により本目的を達成する。
さらに外気導入ダクトの通路が霜等で閉塞され
るのを防ぐべく、外気導入ダクト内の空気通路を
上流から下流にいくにしたがつて狭くなるように
構成した。
作 用 本考案にかかる、環境試験装置では、外気は外
気導入ダクトから吸引されるが、その際、ダクト
内部が仕切板を介して多段通路となるように構成
されているので、蒸発器の空気取入口に達するま
でに長い距離を経て流入する。そして外気導入ダ
クトが恒温空気発生室と隣接して設けられている
ので、多段通路を流れる際に熱交換され、外気は
予備冷却される。予備冷却された外気は環境試験
室内から吸引された空気と共に蒸発器でさらに冷
却され、循環用ブロワーを経て環境試験室内に送
風される。このように予備冷却された外気を吸引
しつつ空気を循環させている。
実施例 以下に本考案を図面に示された一実施例に従つ
て詳細に説明する。
孫1図において、20は環境試験槽を形成する
ための断熱材からなるケーシングであり、環境試
験槽はこのほかに透明ガラス等からなるスライド
ドア21と操作孔22を有する遮蔽板23により
覆われている。この環境試験槽内は、仕切板24
により環境試験室25と恒温空気発生室26とに
区画されている。恒温空気発生室26内は、空気
取入部から冷凍サイクルの蒸発器27、空気加熱
手段であるヒーター28、空気循環用のブロワー
29が配置されている。恒温空気発生室26の隣
には熱伝導性の良く縦方向に屈曲した外気導入ダ
クト30が配設されており、該外気導入ダクト3
0内は複数の仕切板31によつて空気が縦方向及
び横方向に蛇行するように多段通路が構成されて
いる。そして、第2図に示すようにこの多段通路
は、外気導入口32から恒温空気発生室26に近
付くにしたがつて、空気通路断面積が狭くなるよ
うに構成されている。
尚、33は恒温空気を送風するために設けた通
気孔であり、34は環境試験室25内に置かれた
被試験物である。
以上の構成において本実施例の装置の場合に
は、外気導入口32から外気導入ダクト30を通
じて外気が導入される。導入された空気は、多段
通路を通過する際に冷やされたダクト材料と熱交
換され少しずつ冷やされていく。このとき外気が
湿気をおびていたいた場合に、通路に霜が発生し
て通路内を閉塞しまいそうであるが、本実施例の
場合には通路の断面積を外気導入口32から高温
空気発生室26に近付くにしたがつて狭くなるよ
うに構成しているために、霜は通路に均一に付着
する。このようにして吸引された外気は、さらに
蒸発器27で冷やされ、ヒーター28、空気循環
用ブロワー29を経て環境試験室25内に送風さ
れる。この時環境試験室25内の空気圧は陽圧の
状態にあり、たとえ操作孔22から試験者が手を
入れて被試験物を操作した場合にも、操作孔を介
して環境試験室25内に外気が入り込むことがな
い。
このように外気を導入しながら空気を循環させ
ているので環境試験室内は常に陽圧の状態にあ
る。
本考案にかかる環境試験装置は、従来のかかる
装置に比較して操作用グローブを用いる必要がな
く細かな作業を行なうことができる。
環境試験室内を外気を導入することにより陽圧
となるように構成したので、操作孔から手を入れ
て作業をしても内部に外気が入り込むことがな
い。また外気を導入する際に外気導入ダクトを介
して予備冷却するように構成したため、外気の導
入により環境試験室内の温度が大きく変化するこ
とがない。
さらに外気導入ダクト内の空気通路の断面積を
恒温空気発生室内に近付くにしたがつて、狭くな
るように構成したので、該通路内が霜により閉塞
されることがない等の長所を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本考案にかかる環境試験装
置の一実施例を示すもので、第1図は装置の概略
縦断面図、第2図は第1図の−断面図、第3
図は従来技術を示す装置の縦断面図である。 1,20……ケーシング、2,21……スライ
ドドア、3,24,31……仕切板、4,25…
…環境試験室、5……恒温空気発生室、6,27
……蒸発器、7,28……ヒーター、8……空気
循環用ブロワー、9,33……通気孔、10……
操作用グローブ、22……操作孔、23……遮蔽
板、26……恒温空気発生室、29……空気循環
用ブロワー、30……外気導入ダクト、32……
外気導入口、33……通気孔。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ケーシングで覆われた環境試験槽内を仕切板
    で環境試験室と恒温空気発生室とに区画し、該
    恒温空気発生室内に少なくとも冷凍サイクルの
    蒸発器、空気循環用のブロワーを直列に配置し
    た環境試験装置において、ケーシングの一部に
    設けた操作孔と、前記蒸発器の空気取入口付近
    とケーシングに設けた外気導入口とを連通する
    熱伝導性の材料からなり縦方向に屈曲した外気
    導入ダクトとを有し、該外気導入ダクトが恒温
    空気発生室に隣接して設けられ、さらに該外気
    導入ダクト内を横方向に伸びる仕切板を設けて
    縦方向及び横方向に蛇行する多段通路構造とし
    たことを特徴とする環境試験装置。 (2) 外気導入ダクト内の空気通路断面積を上流か
    ら下流にいくにしたがつて狭くなるように構成
    したことを特徴とする実用新案登録請求の範囲
    第1項記載の環境試験装置。
JP1985176592U 1985-11-15 1985-11-15 Expired JPH0330843Y2 (ja)

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JPS6284745U JPS6284745U (ja) 1987-05-29
JPH0330843Y2 true JPH0330843Y2 (ja) 1991-06-28

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5222269A (en) * 1975-08-13 1977-02-19 Hitachi Ltd Material hoisting electromagnet
JPS59129335A (ja) * 1983-01-11 1984-07-25 Hitachi Ltd 恒温恒湿装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6017448U (ja) * 1983-03-09 1985-02-06 楠本化成株式会社 恒温恒湿器の調温調湿室構造

Patent Citations (2)

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JPS6284745U (ja) 1987-05-29

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