JPH0330500A - Lead insertion state detecting mechanism - Google Patents

Lead insertion state detecting mechanism

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JPH0330500A
JPH0330500A JP1166290A JP16629089A JPH0330500A JP H0330500 A JPH0330500 A JP H0330500A JP 1166290 A JP1166290 A JP 1166290A JP 16629089 A JP16629089 A JP 16629089A JP H0330500 A JPH0330500 A JP H0330500A
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JP
Japan
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lead
lead insertion
light
circuit board
insertion hole
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JP1166290A
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Japanese (ja)
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Nozomi Niito
新戸 望
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH0330500A publication Critical patent/JPH0330500A/en
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Abstract

PURPOSE:To enable the check of a circuit board at a high speed and to prevent it from being left unchecked by a method wherein a matter that a detecting pin bears against a lead or not is converted into the corresponding displacement of the detecting pin in an axial direction and detected as the output signal of a photodetector corresponding to that light is blocked by the check pin or not. CONSTITUTION:Detecting pins 9 and 10 are made opposed to a lead insertion hole 5c into which a lead 3c is inserted and a lead insertion hole 6c where a lead 4c is inserted respectively from below. For instance, when the lead 3c is properly inserted into the lead insertion hole 5c, light is detected by a photodetector 15. When the lead 4c is not inserted into the lead insertion hole 6c, light traveling from a light emitting element 14' to a photodetector 15' is blocked by a light screening section 10b. When even one of leads is not inserted into a lead insertion hole, a buzzer is sounded by the output of a circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明リード挿入状態検出機構を以下の項目に従って詳
細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The lead insertion state detection mechanism of the present invention will be described in detail according to the following items.

A、a業上の利用分計 B2発明の概要 C1背景技術 り0発明が解決しようとする課題 E4課題を解決するための手段 F、実施例 F −1。A. Total usage for business a. Summary of B2 invention C1 background technology Problems that the invention attempts to solve Means to solve E4 issues F. Example F-1.

第1の実施例[第1図乃至第5図] a、プリント回路基板[第1図、第 2図、第5図〕 b、リード挿入状態検出機構[第1図 乃至第4図] b−1,検査用基板、検出ピン[第 1図乃至第3図] b−2,光検出器、検出回路[第 1図乃至第4図] b−3リード挿入状態の検出[第 1図] F−2,第2の実施例[第6図乃至第88図コミ回路基
板[第6図乃至第8図、] b、リード挿入状態検出機構[第6 図、第7図] b−1,構造 b−2,リード挿入状態の検出 G1発明の効果 (A、a東上の利用分計) 本発明は新規なリード挿入状態検出機構に関する。詳し
くは、挿入型リード部品、即ち、プリント回路基板に形
成されたリード挿通孔に挿通されるリードを備えた電子
部品のリード挿通孔への挿入の有無を検出するための機
構に関するものであり、リードの数や配列形態の如何に
拘らず、個々のリードのリード挿通孔への挿入の有無を
検出することができるようにした新規なリード挿入状態
検出機構を提供しようとするものである。
First embodiment [Figures 1 to 5] a. Printed circuit board [Figures 1, 2, and 5] b. Lead insertion state detection mechanism [Figures 1 to 4] b- 1. Inspection board, detection pin [Figures 1 to 3] b-2, Photodetector, detection circuit [Figures 1 to 4] b-3 Detection of lead insertion state [Figure 1] F -2, Second embodiment [Figs. 6 to 88] Comic circuit board [Figs. 6 to 8] b. Lead insertion state detection mechanism [Figs. 6 and 7] b-1. Structure b-2. Detection of lead insertion state G1 Effects of the invention (A, a Togami usage total) The present invention relates to a novel lead insertion state detection mechanism. Specifically, the present invention relates to a mechanism for detecting whether or not an insertion type lead component, that is, an electronic component equipped with a lead that is inserted into a lead insertion hole formed in a printed circuit board, is inserted into a lead insertion hole. It is an object of the present invention to provide a novel lead insertion state detection mechanism that can detect whether or not each lead is inserted into a lead insertion hole, regardless of the number or arrangement of the leads.

(B、発明の概要) 本発明リード挿入状態検出機構は、回路基板のり−ド挿
通孔に対応した検出ピンをリート挿通孔の軸方向へ擢勤
自在に設けると共に、上記検出ピンの軸方向における位
置の変化を検出する光検出器を設け、電子部品のリード
がリード挿通孔に挿通されているときは当該リードとそ
れに対応した検出ピンとが軸方向で当接して検出ピンが
光検出器に対して変位するようにし、それにより、電子
部品のリードのリート挿通孔への挿通の有無を光検出器
からの出力信号として検出することができるようにした
ものである。
(B. Summary of the Invention) The lead insertion state detection mechanism of the present invention is provided with a detection pin corresponding to the circuit board glue insertion hole so as to be freely movable in the axial direction of the lead insertion hole, and a detection pin corresponding to the circuit board glue insertion hole. A photodetector is provided to detect changes in position, and when the lead of an electronic component is inserted into the lead insertion hole, the lead and the corresponding detection pin abut in the axial direction, and the detection pin is placed against the photodetector. Accordingly, whether or not the lead of the electronic component is inserted into the lead insertion hole can be detected as an output signal from the photodetector.

(C,背景技術) 挿入型のリードを有する電子部品のプリンI・回路基板
への搭載は、そのリードをプリント回路基板に形成され
たリード挿通孔に挿通し、かつ、複数のリードの全部も
しくは一部の先端部を折り曲げることにより行なわれる
(C, Background Art) Electronic components having insertion type leads are mounted on a printed circuit board by inserting the leads into lead insertion holes formed on the printed circuit board, and inserting all or all of the multiple leads. This is done by bending a portion of the tip.

そして、このような電子部品のプリント回路基板への搭
載を機械的に行なう装置である所謂自動挿入機は、通常
、電子部品を保持してそのリードをプリント回路基板の
り−ド挿通孔に挿通ずる挿入機構の他に、上記したリー
ドの曲げを行なうリード曲げ機構を備えており、該リー
ド曲げ機構によるリードの曲げは、リードがリード挿通
孔に挿通されたことを直接あるいは間接的に検知した後
行なわれるようになっている。
A so-called automatic insertion machine, which is a device that mechanically mounts such electronic components onto a printed circuit board, usually holds the electronic component and inserts its leads into the printed circuit board board insertion holes. In addition to the insertion mechanism, it is equipped with a lead bending mechanism that bends the lead as described above, and the lead bending mechanism bends the lead after directly or indirectly detecting that the lead has been inserted into the lead insertion hole. It is supposed to be done.

ところで、このような電子部品の数や配列形態は様々で
あり、例えば、可変コンデンサあるいは半固定型コンデ
ンサ等が有するリードのように3本以上が非直線方向へ
配列されたもの、あるいは所謂ICやコネクタやスライ
ドスイッチ等が有するリードのように、多数直線状に1
列もしくは複数列で配列されたもの等がある。
By the way, the number and arrangement form of such electronic components are various, for example, those in which three or more are arranged in a non-linear direction, such as the leads of variable capacitors or semi-fixed capacitors, or so-called ICs, etc. Like the leads of connectors, slide switches, etc., many wires are connected in a straight line.
There are some that are arranged in a row or multiple rows.

ところが、自動挿入機にあっては、上記したように不規
則な配列形態の3本以上のリードを有する電子部品や規
則的な配列形態であっても数が多いリードを有する電子
部品についてリードがリード挿通孔に挿通されたことの
検知やリードの曲げ等を全てのリードに対して行なうよ
うにすることが極めて困難であるため、そのような電子
部品については、一部のリードのみに対して挿通の検知
や曲げを行なうようにしている。
However, with automatic insertion machines, as mentioned above, electronic components that have three or more leads in an irregular arrangement, or electronic components that have a large number of leads even in a regular arrangement, cannot be easily inserted. Since it is extremely difficult to detect that the lead has been inserted into the lead insertion hole and to bend the lead for all the leads, it is difficult It is designed to detect insertion and bend.

例えば、3本のリードを有する半固定型コンデンサにつ
いては2本のリードだけに対して挿通の有無の検知と曲
げを行ない、また、コネクタやICなどについては多数
のリードのうちそのリードの配列方向における両端のも
のについてだけ曲げを行ない、挿通の有無の検知はその
本体部の当該プリント回路基板に対する高さ方向におけ
る位置を見ることにより行なうようにされている。
For example, for a semi-fixed capacitor with three leads, the presence or absence of insertion is detected and bent for only two leads, and for connectors and ICs, the direction in which the leads are arranged out of a large number of leads is detected. Bending is performed only at both ends of the board, and the presence or absence of insertion is detected by checking the position of the main body relative to the printed circuit board in the height direction.

(D、発明が解決しようとする課題) 従って、このような電子部品が自動挿入機によりプリン
ト回路基板に搭載された場合は、リードがリード挿通孔
に挿通されたか否かの確認がその全てのリードについて
為されることが無く、あるいは直接的に確認さねないた
め、一部のリードがリード挿通孔に挿通されていなくて
も当該電子部品のプリント回路基板への搭載が正常に完
了したものとして半田デイツプ工程等へ移送されてしま
うという問題がある。
(D. Problem to be Solved by the Invention) Therefore, when such electronic components are mounted on a printed circuit board by an automatic insertion machine, it is necessary to check whether the leads are inserted into the lead insertion holes or not. The electronic component has been successfully mounted on the printed circuit board even if some of the leads are not inserted into the lead insertion holes because nothing is done or the leads cannot be directly checked. There is a problem in that the solder is transferred to the solder dip process or the like.

勿論、半田デイツプ工程等へ移送される前に、回路基板
を検査して、リードの挿通もれがあるか否かを確認する
ことが行なわれるが、このような検査を目視で行なうこ
とは非常に面倒であり、しかも、挿通もれがあった場合
それを見逃さずに必ず発見できるという保証も無い。
Of course, before being transferred to the solder dip process, etc., the circuit board is inspected to confirm whether there are any leaks in the lead insertion, but it is extremely difficult to perform such an inspection visually. Moreover, there is no guarantee that if there is any omission in insertion, it will be discovered without being overlooked.

(E、課題を解決するための手段) そこで、本発明リード挿入状態検出機構は、上記した検
査を行なう上での問題点を解決するために為されたもの
であり、発光部と受光部とが相対向して設けられた光検
出器と、回路基板のリード挿通孔に対応して位置され、
かつ、リード挿通孔の軸方向に摺動自在に支持されると
共に、光検出器の発光部から受光部へ向かう光を遮る遮
光部を有する検出ピンとを設け、電子部品のリードが回
路基板のり−ド挿通孔に挿通されているか否かを、リー
ドと検出ピンとの当接の有無に対応した検出ピンの軸方
向に於ける変位に変換し、検出ピンによる遮光の有無に
対応した光検出器の出力信号として検出することができ
るようにしたものである。
(E. Means for Solving the Problems) Therefore, the lead insertion state detection mechanism of the present invention was developed in order to solve the above-mentioned problems in performing the inspection, and it is designed to are located corresponding to the photodetector and the lead insertion hole of the circuit board, which are provided facing each other.
In addition, a detection pin is provided that is slidably supported in the axial direction of the lead insertion hole and has a light shielding part that blocks light traveling from the light emitting part to the light receiving part of the photodetector, so that the lead of the electronic component can be attached to the circuit board. Converts whether or not the lead is inserted into the insertion hole into the displacement in the axial direction of the detection pin corresponding to the presence or absence of contact between the lead and the detection pin, and the detection of the photodetector corresponding to the presence or absence of light shielding by the detection pin. This allows it to be detected as an output signal.

従って、本発明リード挿入状態検出機構によれば、電子
部品のリードが回路基板のリード挿通孔に挿通されてい
るか否かを当該リードの数や配列形態の如何に拘らず、
個々に、電気的信号として検出することができ、それに
より、電子部品の搭載が終了した回路基板の検査を迅速
に、かつ、検査もれが無い状態で行なうことができる。
Therefore, the lead insertion state detection mechanism of the present invention can detect whether or not the leads of an electronic component are inserted into the lead insertion holes of the circuit board, regardless of the number or arrangement of the leads.
They can be detected individually as electrical signals, so that circuit boards on which electronic components have been mounted can be inspected quickly and without any omissions.

(F、実施例) 以下に、本発明リード挿入状態検出機構の詳細を図示し
た各実施例に従って説明する。
(F. Embodiments) Details of the lead insertion state detection mechanism of the present invention will be described below according to the illustrated embodiments.

(F−1,第1の実施例)[第1図乃至第5図] 第1図乃至第5図は本発明リード挿入状態検出機構の第
1の実施例1を示すものである。
(F-1, First Embodiment) [Figs. 1 to 5] Figs. 1 to 5 show a first embodiment 1 of the lead insertion state detection mechanism of the present invention.

先ず、回路基板の一例について説明し、その後でリード
挿入状態検出機構1について説明する。
First, an example of the circuit board will be explained, and then the lead insertion state detection mechanism 1 will be explained.

(a、プリント回路基板)[第1図、第2図、第5図] 2はプリント回路基板(図面では一部のみを示しである
。)であり、該プリント回路基板2に2つの半固定型コ
ンデンサ3.4及びその他の図示しない電子部品が搭載
されている。
(a, printed circuit board) [Figure 1, Figure 2, Figure 5] 2 is a printed circuit board (only a part is shown in the drawing), and the printed circuit board 2 has two semi-fixed parts. A type capacitor 3.4 and other electronic components (not shown) are mounted.

そして、半固定型コンデンサ3及び4はそれぞれ3本の
リード3a、3b、3c、4a、4b。
The semi-fixed capacitors 3 and 4 each have three leads 3a, 3b, 3c, 4a, and 4b.

4Cを有し、これらリードは、半固定型コンデンサ3.
4を高さ方向から見て、三角形の3つの頂点に各別に位
置するように配置され、プリント回路基板2の所定の位
置に形成されたリード挿通孔5a、5b、5c及び6a
、6b、6cに各別に挿通される。
4C and these leads are semi-fixed capacitors 3.
Lead insertion holes 5a, 5b, 5c, and 6a are formed at predetermined positions on the printed circuit board 2, and are arranged at three vertices of a triangle when viewed from the height direction.
, 6b, and 6c, respectively.

尚、これら半固定型コンデンサ3及び4のプリント回路
基板2への搭載は自動挿入機により行なわれ、また、そ
の各3本のリード3a、3b。
The semi-fixed capacitors 3 and 4 are mounted on the printed circuit board 2 by an automatic insertion machine, and each of the three leads 3a and 3b are mounted on the printed circuit board 2.

3C及び4a、4b、4cのうちそれらの板厚方向で対
向する2本3aと3b、4aと4bは当該自動挿入機が
有する挿入検知機構によりリード挿通孔へ挿通されたこ
とが確認された後クリンチ機構により第1図に示すよう
に折り曲げられ、それによって半固定型コンデンサ3.
4がプリント回路基板2に保持される。
After it is confirmed that the two wires 3a and 3b, 4a and 4b, which are opposite in the thickness direction of 3C, 4a, 4b, and 4c, have been inserted into the lead insertion hole by the insertion detection mechanism of the automatic insertion machine. The clinch mechanism bends the semi-rigid capacitor 3 as shown in FIG.
4 is held on the printed circuit board 2.

(b、  リード挿入状態検出機構)[第1図乃至第4
図] リード挿入状態検出機構1は検査用基板と該検査用基板
に軸方向へ移動自在に支持された検出ピンと検査用基板
に固定された光検出器と検出回路等から成る。
(b. Lead insertion state detection mechanism) [Figures 1 to 4
Figure] The lead insertion state detection mechanism 1 includes a test board, a detection pin supported movably in the axial direction on the test board, a photodetector fixed to the test board, a detection circuit, and the like.

(b−1,検査用基板、検出ピン)[第1図乃至第3図
] 7は検査用基板(図面では一部のみを示しである。)で
ある。
(b-1, inspection board, detection pin) [Figs. 1 to 3] 7 is an inspection board (only a portion is shown in the drawing).

該検査用基板7は、例えば、前記プリント回路基板2と
略同じ大きさの平板状をし、その所定の位置に検出ピン
挿通孔8a、8bが形成されている。そして、これら検
出ピン挿通孔8a、8bは、前記リート挿通孔5a、5
b、5C18a、6b、6cと略同じ直径を有し、また
、この検査用基板7の基準位置に対する位置関係がプリ
ント回路基板2に形成された2つのリード挿通孔5C及
び6C1即ち、自動挿入機による折り曲げが行なわれな
いリード3c、4cが挿通されるリード挿通孔のプリン
ト回路基板2の基準位置に対する位置関係と一致するよ
うに形成されている。
The test board 7 has, for example, a flat plate shape that is approximately the same size as the printed circuit board 2, and has detection pin insertion holes 8a and 8b formed at predetermined positions. These detection pin insertion holes 8a and 8b are connected to the lead insertion holes 5a and 5.
Two lead insertion holes 5C and 6C1 formed in the printed circuit board 2 have approximately the same diameter as those of the test board 7a, 6b, and 6c, and have a positional relationship with respect to the reference position of the test board 7, i.e., an automatic insertion machine. The lead insertion holes through which the leads 3c and 4c, which are not bent by the bending process, are inserted are formed so as to match the positional relationship with respect to the reference position of the printed circuit board 2.

尚、このような検査用基板としては、プリント回路基板
2と同じプリント回路基板を用いるか、あるいは、プリ
ント回路基板2のベースを為す積層板にプリント回路基
板2が有するリード挿通孔の穿孔パターンと同じ穿孔パ
ターンでリード挿通孔が形成されたものを用い、その多
数のリード挿通孔のうち上記リード挿通孔5C16Cに
対応したものを検出ピン挿通孔8a、8bとするように
しても良い。
In addition, as such a test board, the same printed circuit board as the printed circuit board 2 may be used, or the perforation pattern of the lead insertion holes of the printed circuit board 2 may be formed on the laminated board that forms the base of the printed circuit board 2. It is also possible to use a device in which lead insertion holes are formed in the same drilling pattern, and among the many lead insertion holes, those corresponding to the lead insertion holes 5C16C may be used as the detection pin insertion holes 8a and 8b.

9.10は横断面が円形をした検出ピンであり、検出ピ
ン挿通孔8a、8bの直径と略同じ太さを有する主部9
a、10aと該主部9a、10aの上端部に形成された
遮光部9b、iobとから成り、該遮光部9b、10b
は主部9a、10aの直径の略2倍の直径を有し、そし
て、主部9a、10aが検出ピン挿通孔8a、8bに各
別に摺動自在なるように挿通されている。
Reference numeral 9.10 indicates a detection pin having a circular cross section, and a main portion 9 having approximately the same thickness as the diameter of the detection pin insertion holes 8a and 8b.
a, 10a and light shielding parts 9b, iob formed at the upper ends of the main parts 9a, 10a, the light shielding parts 9b, 10b
has a diameter approximately twice that of the main portions 9a, 10a, and the main portions 9a, 10a are slidably inserted into the detection pin insertion holes 8a, 8b, respectively.

(b−2,光検出器、検出回路)[第1図乃至第4図] 11及び12は光検出器であり、上方から見て略コ字状
をしたベース部13,13’と該ベース部13.13′
の互いに平行な状態で対向した2つの側部13aと13
a、13’aと13′aに、例えば、発光ダイオード等
の発光素子室4.14′と、例えばフォトトランジスタ
等の光電変換型の受光素子15.15′とが対向する向
きで各別に設けられており、ベース部13.13′は上
記検査用基板7の上面7aのうち2つの検出ピン挿通孔
8a、8bと各別に対応した位置に固定されている。
(b-2, photodetector, detection circuit) [Figures 1 to 4] Reference numerals 11 and 12 are photodetectors, which include base portions 13 and 13' that are approximately U-shaped when viewed from above; Section 13.13'
Two side parts 13a and 13 facing each other in parallel to each other
a, 13'a and 13'a, a light emitting element chamber 4.14', such as a light emitting diode, and a photoelectric conversion type light receiving element 15, 15', such as a phototransistor, are provided separately in opposing directions. The base portions 13 and 13' are fixed at positions corresponding to the two detection pin insertion holes 8a and 8b on the upper surface 7a of the inspection board 7, respectively.

尚、これら光検出器11.12は、上方から見て、発光
素子14.14′から受光素子15.15′へ向けて出
射した光の光路が検出ピン9.10の主部9a、10a
の外周面をかすめて行くように配置されている。
In addition, when these photodetectors 11.12 are viewed from above, the optical path of the light emitted from the light emitting element 14.14' toward the light receiving element 15.15' is the main part 9a, 10a of the detection pin 9.10.
It is arranged so that it brushes against the outer peripheral surface of.

また、検出ピン9.10の遮光部9b。Also, the light shielding portion 9b of the detection pin 9.10.

10bの高さは、これら検出ピン9.10が、第1図に
示す検圧ピン10のように、検査用基板7の上面7aに
載置された位置(以下、「非押上位置」と言う。)に来
た状態で上記光路を遮ることができる高さになっている
The height of the detection pins 9 and 10b is determined at the position where these detection pins 9 and 10 are placed on the upper surface 7a of the test substrate 7 (hereinafter referred to as the "non-push-up position") like the pressure detection pins 10 shown in FIG. ), the height is such that it can block the above optical path.

しかして、検出ピン9.10が非押上位置に来ている状
態では発光素子14.14′から出射した光の受光素子
15.15′による受光が妨げられ、また、検出ピン9
.10が押し上げられてその遮光部9b、10bが前記
光路より上に来た状態では発光素子14.14′から出
射した光が受光素子15.15′によって受光され得る
状態となる。
Therefore, when the detection pin 9.10 is in the non-push-up position, the light emitted from the light emitting element 14.14' is prevented from being received by the light receiving element 15.15'.
.. 10 is pushed up so that its light shielding parts 9b and 10b are above the optical path, the light emitted from the light emitting element 14.14' can be received by the light receiving element 15.15'.

尚、検査用基板7の上面7aと前記光路との間の距離は
半固定型コンデンサ3.4のリード3a、3b、3c、
4a、4b、4cのうちリード挿通孔への挿入が正しく
行なわれた場合にリード挿通孔から突出する長さより稍
短い距離になっている。
Note that the distance between the upper surface 7a of the test board 7 and the optical path is determined by the leads 3a, 3b, 3c, and 3c of the semi-fixed capacitor 3.4.
Of 4a, 4b, and 4c, the distance is slightly shorter than the length that would protrude from the lead insertion hole if insertion into the lead insertion hole was performed correctly.

16は上記光検出器11.12を含む検出回路である。16 is a detection circuit including the photodetectors 11 and 12.

17は増幅器18.18′を介して受光素子15.15
′と各別に接続さねたオア回路であり、その出力端子が
ブザー鳴動用の警報回路19とプリント回路基板2をリ
ード挿入状態検出機I、!l 1の下方へ移送する図示
しない8送機構を制御する移送制御回路20とに接続さ
れており、受光素子15.15′のいずれか一方からロ
ーレベルの信号、即ち、発光素子14.14′からの光
が受光素子15.15′によって受光されないときの信
号が出力されたときオア回路17から信号が出力され、
この圧力があったときブザーが口鳴動されると共に、上
記移送機構の働きが休止されるようになっている。
17 is a light receiving element 15.15 via an amplifier 18.18'.
' and the OR circuits are connected separately to each other, and its output terminal connects the alarm circuit 19 for buzzer sounding and the printed circuit board 2 to the lead insertion state detector I, ! It is connected to a transfer control circuit 20 that controls an eight-feeding mechanism (not shown) that transfers the light to the lower part of the light emitting element 14, 14'. When a signal is output when the light from the light receiving element 15, 15' is not received, a signal is output from the OR circuit 17,
When this pressure is present, the buzzer sounds and the transfer mechanism stops working.

(b−3,1,J−ド挿入状態の検出)[第1図]前記
プリント回路基板2は半固定型コンデンサ3.4その他
所窓の電子部品の搭載が終了した後、第1図に示すよう
に、そのリード突出面2a、即ち、リード3a、3b、
3c、4a。
(Detection of insertion state of b-3, 1, J-card) [Fig. 1] After the printed circuit board 2 has been loaded with the semi-fixed capacitors 3, 4, and other electronic components, as shown in Fig. 1. As shown, the lead protruding surfaces 2a, that is, the leads 3a, 3b,
3c, 4a.

4b、4cの先端部が突出している側の面が上方を向く
姿勢とされて、図示しない移送機構により、リード挿入
状態検出機構1の下方の被検査位置へと移送されると共
に、図示しない位置合わせ機構によりプリント回路基板
2と検査用基板7との位置合わせが為される。
4b, 4c with their protruding tips facing upward, and are transported to a position to be inspected below the lead insertion state detection mechanism 1 by a transport mechanism (not shown), and to a position (not shown). The alignment mechanism aligns the printed circuit board 2 and the test board 7.

従って、プリント回路基板2が被検査位置に来ると、そ
の半固定型コンデンサ3のリード3Cが挿通されるべき
リード挿通孔5Cが検出ピン9に、また、半固定型コン
デンサ4のリード4cが挿通されるべきリード挿通孔6
Cが検出ピン10にそれぞれ下方から対向される。
Therefore, when the printed circuit board 2 comes to the position to be inspected, the lead insertion hole 5C into which the lead 3C of the semi-fixed capacitor 3 should be inserted is inserted into the detection pin 9, and the lead 4c of the semi-fixed capacitor 4 is inserted into the lead insertion hole 5C. Lead insertion hole 6 to be
C are opposed to the detection pins 10 from below.

また、リード挿入状態検出機構1は、その検査用基板7
が図示しないエレベータ機構に支持されており、初期状
態においては、上記被検査位置より稍上方へ離間した待
機位置に待機され、プリント回路基板2が被検査位置へ
と坪多送されて来ると下方へ向けて9勤され、そのN5
fJlは、第1図に示す検出位置、即ち、検査用基板7
とプリント回路基板2との間の距離が前記非押上位置に
来ている状態の検出ピン9、lOの検査用基板7から下
方へ突出した長さと略同じ長さになる位置に到達するま
で行なわれ、それにより、半固定型コンデンサ3のリー
ド3C及び半固定型コンデンサ4のリード4cの挿入状
態が検出される。
In addition, the lead insertion state detection mechanism 1 also has a test board 7.
is supported by an elevator mechanism (not shown), and in the initial state, it is placed on standby at a standby position slightly above the inspection position, and when the printed circuit board 2 is transported to the inspection position, it is moved downward. He worked 9 shifts for the N5
fJl is the detection position shown in FIG.
This is done until the distance between the detection pins 9 and the printed circuit board 2 is approximately the same length as the length of the detection pins 9 and 10 protruding downward from the test board 7 when they are in the non-push-up position. As a result, the insertion state of the lead 3C of the semi-fixed capacitor 3 and the lead 4c of the semi-fixed capacitor 4 is detected.

そして、例えば、第1図に示すリード3Cのように当該
リード挿通孔5Cに正しく挿入されている場合は、リー
ド挿入状態検出機構1が検出位置に至る少し手前のとこ
ろまで来ると、該リード3cに対応した検出ピン9がリ
ード3cの先端に載り、リード挿入状態検出機構1が検
出位置へと移動する開光検出器11に対して相対的に上
方へ0勅されるので、その遮光部9bが発光素子14か
ら受光素子15へ向う光の光路から外れることになり、
それにより、上記光が受光素子15によって受光される
。また、第1図に示すリード4Cのようにリード挿通孔
6Cに挿入されていない場合は、リード挿入状態検出機
構1が検出位置へと移動しても該リード4Cに対応した
検出ピン10が遮光部12に対して相対的に上方へオ多
勅されることが無く非押上位置にとどまった状態のまま
となるので、発光素子14′から受光素子15′へ向う
光が遮光部i o bによって遮られることになる。
For example, when the lead 3C shown in FIG. 1 is correctly inserted into the lead insertion hole 5C, when the lead insertion state detection mechanism 1 comes a little short of the detection position, the lead 3c The detection pin 9 corresponding to the above is placed on the tip of the lead 3c, and the lead insertion state detection mechanism 1 is moved upward relative to the open light detector 11 moving to the detection position, so that the light shielding portion 9b is It will be removed from the optical path of the light heading from the light emitting element 14 to the light receiving element 15,
Thereby, the light is received by the light receiving element 15. Furthermore, when the lead 4C shown in FIG. 1 is not inserted into the lead insertion hole 6C, the detection pin 10 corresponding to the lead 4C is blocked from light even if the lead insertion state detection mechanism 1 moves to the detection position. Since the light from the light emitting element 14' to the light receiving element 15' is not pushed upward relative to the part 12 and remains in the non-pushed position, the light directed from the light emitting element 14' to the light receiving element 15' is blocked by the light shielding part i o b. It will be blocked.

しかして、検査対象になっているリード3Cと40のい
ずれか一方でもリード挿通孔に挿通されていない場合は
オア回路17からの信号の出力が為され、そねにより、
ブザー・が鳴動されると共に プリント回路基板2を被
検査位置へ移送する移送機構の働きが休止される。
If either of the leads 3C and 40 to be inspected is not inserted into the lead insertion hole, a signal is output from the OR circuit 17, and as a result of twisting,
At the same time as the buzzer sounds, the operation of the transfer mechanism for transferring the printed circuit board 2 to the position to be inspected is stopped.

尚、検出位置へとB勤されたリード挿入状態検出機構1
は、一定時間、例えば、数秒経過後に待機位置に戻され
、それに伴ない、そわまで押し上げられていた検出ピン
は自重により非押上位置に戻ることになる。
Note that the lead insertion state detection mechanism 1 has been moved to the detection position.
is returned to the standby position after a predetermined period of time, for example, several seconds, and as a result, the detection pin, which had been pushed up to the side, returns to the non-pushed position due to its own weight.

また、リード3cと4cのいずれもがリード挿通孔に挿
通されていた場合は、検査終了済のプリント回路基板2
が被検査位置から先へ移送されて行くと共に、次のプリ
ント回路基板2が被検査位置に移送されて来る。
In addition, if both leads 3c and 4c are inserted into the lead insertion holes, the printed circuit board 2 that has been inspected
As the printed circuit board 2 is transferred from the position to be inspected, the next printed circuit board 2 is transferred to the position to be inspected.

(F−2,第2の実施例)[第6図乃至第8図] 第6図乃至第8図は本発明リート挿入状態検出機構の第
2の実施例IAを示すものである。
(F-2, Second Embodiment) [Figs. 6 to 8] Figs. 6 to 8 show a second embodiment IA of the reed insertion state detection mechanism of the present invention.

この第2の実施例に示すリート挿入状態検出機構IAは
多数のリードが2列に直線方向へ配列された電子部品5
例えば、コネクタのリード挿入状態を検出するためのも
のである。
The lead insertion state detection mechanism IA shown in this second embodiment is an electronic component 5 in which a large number of leads are arranged linearly in two rows.
For example, it is used to detect the insertion state of a lead in a connector.

(a、回路基板)[第6図乃至第8図]プリント回路基
板2Aにコネクタ21及びその他の図示しない電子部品
が搭載されている。
(a, Circuit Board) [FIGS. 6 to 8] A connector 21 and other electronic components (not shown) are mounted on the printed circuit board 2A.

22はコネクタ21の本体部、23.23、・はそのリ
ードであり、これらリード23.23、・・・はその上
端部が本体22に形成された図示しないピン挿入孔内に
突出されると共にその余の部分が本体部22の下面から
突出されており、1列に4本づつ一定のピッチで直線方
向へ並ぶようにして2列に配列され、また、上記直線方
向と直交する側方から見て、一方の列のリード23a、
23b、23c、23ciと他方の列のリード23e、
23f、23g、23hとが交互に位置するように配置
されている。
22 is the main body of the connector 21, and 23, 23, . . . are its leads, and the upper ends of these leads 23, 23, . . . project into pin insertion holes (not shown) formed in the main body 22. The remaining portion protrudes from the lower surface of the main body portion 22, and is arranged in two rows with four wires in each row lined up at a constant pitch in the linear direction. Look, one row of leads 23a,
23b, 23c, 23ci and the other row of leads 23e,
23f, 23g, and 23h are arranged alternately.

そして、このようなコネクタ21はリード23.23、
・・・がプリント回路基板2Aに形成されたリード挿通
孔24.24、・・・に挿通されると共に、これらリー
ド23.23、・・・のうち一方の列の一端に位置した
もの23aと他方の列の他端に位置したもの23hとが
折り曲げられることによりプリント回路基板2に保持さ
れる。
And, such a connector 21 has leads 23, 23,
are inserted into the lead insertion holes 24, 24, . . . formed in the printed circuit board 2A, and the leads 23, 23, . 23h located at the other end of the other row is held on the printed circuit board 2 by being bent.

(b、 リード挿入状態検出機構)[第6図、第7図] リード挿入状態検出機構IAは前記第1の実施例で示し
・た検査用基板7、検出ピン9.10及び光検出器11
.12と同様な構造あるいは機能を有する検査用基板と
6木の検出ピンと1つの光検出器等から成る。
(b. Lead insertion state detection mechanism) [Figs. 6 and 7] The lead insertion state detection mechanism IA includes the inspection board 7, the detection pins 9 and 10, and the photodetector 11 shown in the first embodiment.
.. It consists of a test board having the same structure or function as No. 12, six detection pins, one photodetector, etc.

(b−1,構造) 25は検査用基板であり、プリント回路基板2Aに形成
された8個のソード挿通孔24.24、・・・のうち自
動挿入機により折り曲げられるリード23a、23h以
外の6本のリード挿通孔24.24、・・・と各別に対
応した位置に検出ピン挿通孔26.26、・・・が形成
され、これら検出ピン挿通孔26.26、・・・に6本
の検圧ピン27.27、・・・の主部27a127a1
 ・・・が軸方向へ摺動自在なるように挿通され、これ
ら検圧ピン27.27、・・・の上端部に主部27 a
、 27 a、  ・・・より大径な遮光部27b、2
7b1 ・・・が形成されている。
(b-1, structure) 25 is a board for inspection, and among the eight sword insertion holes 24, 24, . Detection pin insertion holes 26, 26, . . . are formed at positions corresponding to the six lead insertion holes 24, 24, . . . , and six lead insertion holes 26, 26, . Main part 27a127a1 of pressure detection pin 27.27,...
... are inserted so as to be able to freely slide in the axial direction, and the main portion 27 a is inserted into the upper end of these pressure detection pins 27, 27, ...
, 27a, . . . Larger diameter light shielding portions 27b, 2
7b1... is formed.

従って、これら検出ピン27.27、・・・は1列に3
本づつ直線方向へ並ぶようにして2列に配列され、上記
直線方向と直交する側、方から見て、一方の列の検出ピ
ン27.27.27と他方の列の検出ピン27.27.
27とが交互に位置するように配置される。
Therefore, these detection pins 27, 27, . . . are 3 in one row.
The detection pins 27.27.27. of one row and the detection pins 27.27.27.
27 are arranged alternately.

尚、遮光部27b、27b、  ・・・の太さは、上記
直線方向から見て一方の列の検出ピン27.27.27
の遮光部27b、27b、27bの一部と他方の列の検
出ピン27.27.27の遮光部27b、27b、27
bの一部とが重なり合うような太さにされている。
The thickness of the light shielding parts 27b, 27b, .
A part of the light shielding parts 27b, 27b, 27b and the light shielding parts 27b, 27b, 27 of the detection pins 27.27.27 in the other row
The thickness is such that it overlaps a part of b.

28は検査用基板25の上面に固定された光検出器であ
り、上方から見て略コ字形をしたベース部29の両側部
内に発光素子30と受光素子31が互いに対向するよう
に設けられており、上方から見て、発光素子3oから受
光素子31へ向う光の光路が検出ピン27.27、・・
・の遮光部27b、27b、  ・・・のうち前記互い
に重なり合う部分を通って延びるように配置されている
Reference numeral 28 denotes a photodetector fixed to the upper surface of the inspection substrate 25, and a light emitting element 30 and a light receiving element 31 are provided in opposite sides of the base part 29, which is approximately U-shaped when viewed from above, so as to face each other. When viewed from above, the optical path of light from the light emitting element 3o to the light receiving element 31 is the detection pin 27, 27, . . .
The light shielding portions 27b, 27b, . . . are arranged so as to extend through the mutually overlapping portions.

尚、受光素子31は前記した検出回路16と同様な機能
を有する図示しない検出回路に接続されている。
Note that the light receiving element 31 is connected to a detection circuit (not shown) having the same function as the detection circuit 16 described above.

(b−2,リード挿入状態の検圧) そこで、プリント回路基板2Aがリード挿入状態検出機
構IAの下方の被検査位置に移送されて来ると、リード
挿入状態検出機構IAが下降され、そして、コネクタ2
1の6木のリード23 b、 23 c、 23 d、
23e、23f、23gがリード挿通孔24.24、・
・・に正しく挿通されていれば検出ピン27.27、・
・・がそれらリード23.23、・・・によって押し上
げられてその遮光部27b、27b、  ・・・が発光
素子30から受光素子31へ向う光の光路より上に逃げ
るため、上記光が受光素子31によって受光され、また
、上記6本のリード23.23、・・・の1つでもリー
ド挿通孔24.24、・・・を挿通されていなかったと
きく第6図は、一方の列の一端側から数えて3番目のリ
ード23cがリード挿通孔24に挿入されないで曲って
しまった状態で示しである。)は、当該リードに対応し
た検出ピン27が非押上位置にとどまったままになるの
で、当該検出ピン27の遮光部27bにより前記光路が
遮られ、それにより、受光素子31による受光が為され
ないことになる。
(b-2, Pressure Testing in Lead Insertion State) Then, when the printed circuit board 2A is transferred to the position to be inspected below the lead insertion state detection mechanism IA, the lead insertion state detection mechanism IA is lowered, and, Connector 2
1 of 6 tree leads 23 b, 23 c, 23 d,
23e, 23f, 23g are lead insertion holes 24.24,・
If it is correctly inserted into..., the detection pin 27.27,...
... are pushed up by the leads 23, 23, ... and the light shielding portions 27b, 27b, ... escape above the optical path of the light from the light emitting element 30 to the light receiving element 31, so that the light is transmitted to the light receiving element. 31, and when not one of the six leads 23, 23, . . . has been inserted through the lead insertion holes 24, 24, . . . The third lead 23c counted from the side is shown bent without being inserted into the lead insertion hole 24. ), since the detection pin 27 corresponding to the lead remains in the non-push-up position, the light path is blocked by the light shielding portion 27b of the detection pin 27, so that the light receiving element 31 does not receive light. become.

(G、発明の効果) 以上に記載したところから明らかなように、本発明リー
ド挿入状態検出機構は、発光部と受光部とが相対向して
設けられた光検出器と、回路基板のリード挿通孔に対応
して位置され、かつ、リード挿通孔の軸方向に摺動自在
に支持されると共に、光検出器の発光部から受光部へ向
かう光を遮る遮光部を有する検出ピンとを備え、電子部
品のリードが回路基板のり一ド挿通孔に挿通されている
か否かを、リードと検出ピンとの当接の有無に対応した
検出ピンの軸方向に於ける変位に変換し、検出ピンによ
る遮光の有無に対応した光検出器の出力信号として検出
することができるようにしたことを特徴とする。
(G. Effects of the Invention) As is clear from the above description, the lead insertion state detection mechanism of the present invention includes a photodetector in which a light emitting part and a light receiving part are provided facing each other, and a lead on a circuit board. a detection pin that is positioned corresponding to the insertion hole, is slidably supported in the axial direction of the lead insertion hole, and has a light blocking portion that blocks light directed from the light emitting portion to the light receiving portion of the photodetector; Converts whether or not the lead of the electronic component is inserted into the circuit board glue insertion hole into the displacement in the axial direction of the detection pin corresponding to the presence or absence of contact between the lead and the detection pin, and blocks light by the detection pin. It is characterized in that it can be detected as an output signal of a photodetector corresponding to the presence or absence of.

従って、本発明リード挿入状態検出機構によれば、電子
部品のリードが回路基板のり−ド挿通孔に挿通されてい
るか否かを当該リードの数や配列形態の如何に拘らず、
個々に、電気的信号として検出することができ、それに
より、電子部品の搭載が終了した回路基板の検査を迅速
に、かつ、検査もれが無い状態で行なうことができるつ
尚、前言8各実施例に示した電子部品の種類やそのリー
ドの数及び配列形態と、それらに対応した検出ピンの数
や配列形態等は、あくまでも本発明を実施する際の一例
を示したものにすぎず5本発明を適用し得るリード挿入
状態検出機構の検査対象となる電子部品等がこのような
ものに限られることは無い。
Therefore, the lead insertion state detection mechanism of the present invention can detect whether or not the leads of an electronic component are inserted into the circuit board glue insertion holes, regardless of the number or arrangement of the leads.
Each individual component can be detected as an electrical signal, and as a result, a circuit board on which electronic components have been mounted can be inspected quickly and without any omissions. The types of electronic components, the number and arrangement form of their leads, and the number and arrangement form of corresponding detection pins shown in the examples are merely examples of implementing the present invention. Electronic components and the like to be inspected by the lead insertion state detection mechanism to which the present invention can be applied are not limited to these.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第5図は本発明リード挿入状態検出機構の第
1の実力籠例を示すものであり、第1図は検出動作を行
なっている状態の垂直断面図、第2図は下方に回路基板
が来ている状態を示す平面図、第3図は一部を切り欠い
て示す要部の斜視図、第4図は検出回路のブロック図、
第5図は回路基板の一例を示す要部の斜視図、第6図乃
至第8図は本発明リード挿入状態検出機構の第2の実施
例を示すもので、第6図は検出動作を行なっている状態
の垂直断面図、第7図は下方に回路基板が来ている状態
を示す要部の平面図、第8図は回路基板の一例を示す要
部の斜視図である。 ・ ・ ・リード、 ・・・リート挿通孔、 ・・検出ピン、 b・・・遮光部、 ・・・光検出器、 ′・・・発光部、 ′・・・受光部、 リード挿入状態検出機構、 回路基板、 21・・・電子部品、 23c、23cl、23e、23f。 ・リード、 リート挿通孔、 検出ピン、  27b・・・遮光部、 光検出器、  30・・・発光部、 受光部 3c、  4c 5c、  6c 9、10 ・ 9b、10 11 、12 14、14 15、15 1 A ・ ・ ・ 2 A ・ ・ ・ 23b 、 23  g ・ ・ 24 ・ ・ ・ 27 ・ ・ ・ 28 ・ ・ ・ 31 ・ ・ ・ 符号の説明 1・・・リード挿入状態検出機構、
1 to 5 show a first practical example of the lead insertion state detection mechanism of the present invention. FIG. 3 is a partially cutaway perspective view of the main parts; FIG. 4 is a block diagram of the detection circuit;
FIG. 5 is a perspective view of essential parts showing an example of a circuit board, and FIGS. 6 to 8 show a second embodiment of the lead insertion state detection mechanism of the present invention. FIG. FIG. 7 is a plan view of the main part showing the state where the circuit board is located below, and FIG. 8 is a perspective view of the main part showing an example of the circuit board.・ ・ ・Lead, ...Lead insertion hole, ...Detection pin, b...Light shielding part, ...Photodetector, '...Emitting part, '...Light receiving part, Lead insertion state detection mechanism , circuit board, 21... electronic component, 23c, 23cl, 23e, 23f.・Lead, lead insertion hole, detection pin, 27b...light shielding part, photodetector, 30...light emitting part, light receiving part 3c, 4c 5c, 6c 9, 10 ・ 9b, 10 11, 12 14, 14 15 , 15 1 A ・ ・ 2 A ・ ・ 23b , 23 g ・ ・ 24 ・ ・ 27 ・ ・ ・ 28 ・ ・ ・ 31 ・ ・ Explanation of symbols 1...Lead insertion state detection mechanism,

Claims (1)

【特許請求の範囲】  発光部と受光部とが相対向して設けられた光検出器と
、 回路基板のリード挿通孔に対応して位置され、かつ、リ
ード挿通孔の軸方向に摺動自在に支持されると共に、光
検出器の発光部から受光部へ向かう光を遮る遮光部を有
する検出ピンとを備え、電子部品のリードが回路基板の
リード挿通孔に挿通されているか否かを、リードと検出
ピンとの当接の有無に対応した検出ピンの軸方向に於け
る変位に変換し、検出ピンによる遮光の有無に対応した
光検出器の出力信号として検出することができるように
した ことを特徴とするリード挿入状態検出機構。
[Claims] A photodetector in which a light emitting part and a light receiving part are provided facing each other, and a photodetector that is positioned corresponding to a lead insertion hole of a circuit board and is slidable in the axial direction of the lead insertion hole. A detection pin is supported by the detector and has a light shielding part that blocks light from the light emitting part to the light receiving part of the photodetector. This is converted into a displacement in the axial direction of the detection pin corresponding to the presence or absence of contact with the detection pin, and can be detected as an output signal of the photodetector corresponding to the presence or absence of light blocking by the detection pin. Features a lead insertion state detection mechanism.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002303509A (en) * 2001-04-04 2002-10-18 Ibiden Co Ltd Method and device for inspecting printed wiring board
CN102176069A (en) * 2011-01-21 2011-09-07 上海天美生化仪器设备工程有限公司 Sensor for detecting door lock state

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