JPH03295474A - 受信アンテナの出力レベル測定装置 - Google Patents

受信アンテナの出力レベル測定装置

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JPH03295474A
JPH03295474A JP9830490A JP9830490A JPH03295474A JP H03295474 A JPH03295474 A JP H03295474A JP 9830490 A JP9830490 A JP 9830490A JP 9830490 A JP9830490 A JP 9830490A JP H03295474 A JPH03295474 A JP H03295474A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、受信アンテナからの土カレベルを測定する出
力レベル測定装置に関する。
[従来の技術] 従来、この種の装置(よ受信アンテナから出力される受
信信号の中から使用者が指定した所定チャンネルの通信
信号を選局し、この選局した通信信号を検波して、その
検波電圧を絶対レベルに変換して表示するようにされて
いる。
ところがこの種の装置では、受信信号の入力端子から選
局した通信信号を検波する検波回路までの信号系の特性
のばらつきにより、検波電圧が変動し、絶対レベルの表
示値には誤差が生ずるといった問題があった。そこで従
来では、各装置毎に、測定結果の誤差を表記した較正表
を付けている。
[発明が解決しようとする課題] しかしこのような対策では、使用者は、レベル測定の度
に、この較正表を使用して装置に表示された絶対しベル
を補正しなければならず、測定作業が煩雑となってしま
う。また較正表の読み違いや計算間違い等により、絶対
レベルを誤って測定してしまうこともある。
本発明1表 こうした問題に鑑みなされたもので、信号
系の特性にばらつきがあっても、常に正確な絶対レベル
を表示できるようにした受信アンテナの出力レベル測定
装量を提供することを目的としてなされた [課題を解決するだめの手段] 即ち上記目的を達するためになされた本発明は、第1図
に例示する如く、 受信アンテナから出力される受信信号の中から所定チャ
ンネルの通信信号を選局する選局回路と、該選局された
通信信号乞検波する検波回路と、該検波回路から出力さ
れる検波電圧から上記通信信号の絶対レベルを換算する
ための換算データが予め記憶された記憶手段と、 該記憶手段に記憶された換算データに基づき、上記検波
電圧から上記通信信号の絶対レベル包算出し、表示装置
に表示する絶対レベル算出手段と、を備えた受信アンテ
ナの出力レベル測定装置において、 外部から、上記選局回路の選局チャンネル、通信信号の
絶対レベル、及び換算データの校正指令、を夫々入力す
るための入力端子を設けると共に、該入力端子から校正
指令が入力されているとき、上記選局回路の選局チャン
ネルを上記入力端子から入力された選局チャンネルに制
御する選局制御手段と、 該選局制御手段が上記選局回路の選局チャンネルを制御
すると、上記検波回路から出力される検波電圧を読み込
み、該検波電圧と上記入力端子から入力された絶対レベ
ルとを対応付けて上記記憶手段に格納することにより、
上記換算データを更新する換算データ更新手段と、 を備えたこと乞特徴とする受信アンテナの出力レベル測
定装置を要旨どしている。
[作用] 以上のように構成された本発明の受信状態検出装置にお
いて、入力端子に校正指令が入力されていないときに(
表組対レベル算出手段が、記憶手段に記憶された換算デ
ータに基づき、検波回路から出力される選局回路にて選
局された通信信号の検波電圧の絶対レベルを算出し、表
示装置に表示する。−力入力端子に校正指令が入力され
ると、選局制御手段が、選局回路の選局チャンネルを入
力端子から入力された選局チャンネルに制御し、換算デ
ータ更新手段が、検波回路から出力される検波電圧と入
力端子から入力された絶対レベルとを対応付けて記憶手
段l二格納することにより、換算デ〜り夕更新する。
[実施例] 以下、本発明の実施例を図面と共に説明する。
まず第2図は、通信衛星から送出された電波を受信し、
所定(本実施例ではl G Hz帯)の中間周波信号に
変換して出力する通信衛星電波受信用パラボラアンテナ
(受信アンテナ)からの受信信号の出力レベルを測定す
る出力レベル測定装置全体の構成を表す概略構成図であ
る。
図に示す如く、本実施例の出力[/ベル測定装置10(
友受信信号入力端子]2に入力された受信アンテナから
の受信信号(950〜1880Ml−12)を増幅する
増幅回路14と、この増幅された受信信号レベルを減衰
させる可変減衰器16と、1350〜2280MHzの
間で発振周波数を変更可能な可変発振回路]8と、可変
発振回路18からの8力信号と可変減衰器16からの受
信信号とを混合して、受信信号中の特定チャンネルの通
信信号を400MHz帯(中心周波数402.78MH
z)の信号に変換するミキサ20と、ミキサ20からの
出力信号を増幅する増幅回路22と、増幅回路22にて
増幅された信号の中から400MHz帯の特定チャンネ
ルの通信信号(中心周波数402.78MHz、 帯域
幅±5MHz)のみを通過させるバンドパスフィルタ(
以下単にBPFという。)24と、からなる周知の選局
回路26が備えられている。
また出力レベル測定装置10に(上 上記選局回路26
の4N 選局回路26からの出力信号を検波する検波回
路28、検波回路28から出力される検波電圧VDをデ
ジタル信号に変換するA/Dコンバータ(以下単にAD
Cという。)30、レベル測定時に選局チャンネルの指
定やレベル測定の開始指令等を行うための操作部32、
液晶表示パネル等からなる表示部34、この表示部34
を駆動する表示回路36、当該装置1oをレベル測定モ
ードから校正モードに変更するための校正指令や9校正
に必要な校正用選局チャンネル、校正用入力レベルを入
力するための制御信号入力端子38、及び、制御信号入
力端子38や操作部32からの入力信号に応じて後述の
レベル測定ルーチン。
校正ルーチン等の各種処理を実行する、CPU40a、
ROM40b、 不揮発性のRAM40cを中心とする
周知のマイクロコンピュータにより構成された制御回路
40が備えられている。
このように構成された本実施例の出力レベル測定装置1
0で(よ第3図(a)に示す如く、受信アンテナ50の
出力端子52と受信信号入力端子12とを同軸ケーブル
54にて接続し、装置前面に設けられた操作部32を操
作して選局チャンネルを指定すると、制御回路40が図
示しない選局ルーチンを実行して、その選局チャンネル
に応じて可変発振回路18の発振周波数を調整し、選局
回路26にて指定した選局チャンネルの通信信号を選局
させる。そしてその後操作部32を操作してレベル測定
開始指令を入力すると、制御回路40が第4図1こ示す
レベル測定ルーチンを実行し、その選局チャンネルの入
力レベル(絶対値)を表示部34に表示する。
以下このレベル測定ルーチンについて説明する。
第4図に示す如く、レベル測定ルーチンが開始されると
、まずステップ100にて、ADC30を介して検波回
路28から出力されている検波電圧VDを読み込み、ス
テップ]]0に移行して、この読み込んだ検波電圧VD
が予めRAM40c内に格納されている上限値VDma
xを越えているか否かを判断する。ここで上限値V D
max (1検波回路28への通信信号の入力レベルが
最適レベルとなるように可変減衰器16の減衰量ATT
を10[dB]ステップで増加させるための基準値であ
り、後述の校正ルーチンにて予め設定さね 第5図(a
)に示す如く、RAM40c内に、各選局チャンネル毎
に、減衰量ATTをパラメータとする上限値マツプとし
て記憶されている。このためステップ110で(よ R
AM40 cから現在の選局チャンネルに対応する上限
値マツプを抽出して、減衰量ATTに対する上限値V 
Dmaxを読み込み、この値V Dmaxと検波電圧V
Dとを大小比較する。
そしてこのステップ110にて、検波電圧VDが上限値
VDmaxを越えたと判断されると、次ステツプ120
に移行して、現在の可変減衰器16の減衰量ATTが最
大減衰量ATTmaxになっているか否かを判断し、減
衰量ATTが最大減衰量A T Tmaxになっている
場合には、これ以上可変減衰器16の減衰量ATTを増
加することができず、現在選局している通信信号のレベ
ル測定は不可能であるため、ステップ130に移行して
、その旨(オーバフロー)を表示部34に表示し、当該
処理を終了する。
一方ステップ120にて、減衰量ATTは最大減衰量A
TTmaxになっていないと判断されると、ステップ]
40に移行する。そしてステップ140で(よ可変減衰
器16の減衰量ATTを現在の値から10[dB]増加
させるべく、可変減衰器16の制御電圧を変更し、再度
ステップ100に移行する。尚この制御電圧(よ上限値
V Dmaxと同様、後述の校正ルーチンにて予め設定
された値であり、第5図(b)に示す如く、RAM40
c内に、各選局チャンネル毎に、減衰量ATTをパラメ
ータとする制御電圧マツプとして記憶されている。従っ
てステップ]40でfi  RAM40cから現在の選
局チャンネルに対応する制御電圧マツプを抽出して、現
在の減衰■ATTより10[dB]大きい減衰[ATT
に対する制御電圧を読み込み、この読み取った制御電圧
を可変減衰器16に印加する。
次にステップ110にて、検波電圧VDが上限値V D
max以下であると判断されると、ステップ]50に移
行し、今度は検波電圧VDが下限値VDminを下回っ
ているか否かを判断する。そして検波電圧VDが下限値
V Dminを下回っていると判断されると、ステップ
160に移行して、現在の可変減衰器]6の減衰量AT
Tは最小減衰量AT Trninになっているか否かを
判断し、減衰量ATTが最小減衰量A T Tm1nに
なっている場合に(よ これ以上可変減衰器16の減衰
量ATTを減少させることができず、現在選局している
通信信号のレベル測定は不可能であるため、ステップ]
70に移行して、その旨(アンダフロー)を表示1−だ
後、当該処理を終了する。また逆に減衰量ATT−が最
小減衰量A T Tm1nになっていない場合二は、ス
テップ180に移行して、上記ステップ]40とは逆に
、可変減衰器16の減衰量A T’ Tを現在の値から
10[dB]低下させるべく、可変減衰器]6の制御電
圧マツプし、再度ステップ100に移行する。尚検波電
圧VDの下限値V Dminには、予め固定値(本実施
例ではO25[V])が設定されている。
次にステップ150にて、検波電圧VDが下限値V D
min以上であると判断された場合、即ち検波電圧VD
は上下限値V Dmax 、  V Dminで決定さ
れる所定範囲内にあると判断されると、ステップ]90
に移行して、現在校正ルーチンを実行中であるか否かを
判断する。そして現在校正ルーチンの実行中である場合
には、そのまま処理を終了し、校正ルーチンの実行中で
なければ、即ち当該装置がレベル測定モードにある場合
には、ステップ200に移行して、ステップ100にて
読み込んだ検波電圧VDに基づき、RAM40cに記憶
されている第5図(c)に示す如きレベル換算マツプを
用いた周知の補間割算を行うことにより入力レベル(絶
対値)を算出し、次ステツプ210にて、この算出され
た入力レベルを表示部34に表示した後、処理を終了す
る。尚このレベル換算マツプは、前述の換算データに相
当するもので、上述の上限値マツプや制御電圧マツプと
同様、後述の校正ルーチンにて予め設定さk  RAM
40Cに、第5図(C)に示すように、各選局チャンネ
ル、各減衰量毎に、検波電圧VDと入力レベルとを対応
付けて記憶されている。このためステップ200でLt
、  RA M 40 cから現在の選局チャンネル及
び減衰量A 1− Tに対応するレベル換算マツプを抽
出し、このマツプから検波電圧VDに最も近い二つの入
力レベルを読み込み、周知の補間計算を行うといった手
順で、選局チャンネルの入力レベルを算出する。
このようにレベル測定ルーチンで(よ検波回路28から
出力される検波電圧をレベル換算マツプを用いて1ノベ
ル換算して、表示部34に表示するため、受信信号入力
端子]2からADC30までの信号系に特定のばらつき
があっても、RAM40cに記憶されているレベル換算
マツプを初めとする上記各マツプのデータが正確であれ
ば、受信アンテナ50から出力される受信信号の各チャ
ンネル毎の絶対レベルを、常に正確に測定することがで
きる。尚本実施例では、このレベル測定ルーチンが絶対
レベル算出手段に相当する。
そこで次に上記各マツプデータを設定する校正ルーチン
について説明する。
まずこの校正ルーチンを実行するに当たっては、第3図
(b)に示す如く、受信信号入力端子12二信号発生器
60の信号出力端子62を同軸ケーブル64F介して接
続すると共に、制御信号入力端子38に当該出力レベル
測定装置]0を校正するための校正装置66を接続する
尚校正装置66(上 制御回路40と同様、マイクロコ
ンピュータにより構成されており、上記のように接続さ
れると、まず出力レベル測定装置の制御信号入力端子3
8に校正指令信号を入力し、その後予め記憶された制御
プログラムに従って、出力レベル測定装置]0が選局可
能な全ての選局チャンネルについて、各選局チャンネル
毎に順次以下の動作を行なうようにされている。
即ち校正装置66は、各選局チャンネル毎に、選局チャ
ンネルに対応した周波数の信号を信号発生器60から発
生させると共に、その信号レベル(絶対値)を43 [
d8μ]から105 [d8μ]まで2[dB]ステッ
プで順次増加させ、そのときの選局チャンネル及び信号
レベルを、夫々、校正用選局チャンネル、校正用入力レ
ベルとして、出力レベル測定装置10の制御信号入力端
子38に入力する。
また信号発生器60からの信号レベル(よ単に2[dB
]ステップで増加させるだけでなく、2 [dB]ステ
ップで増加させた信号レベルが55. 65. 75.
85.95[d8μ]のいずれかになったときに1よ−
H信号レベルを2 [dB]低下させ(即ち53゜63
.73,83.93[d8μ]とし)、その後再度2 
[dB]ステップで増加させるといった手順で、信号レ
ベルを43 [d8μ]から105 [d8μ]まで増
加させる。
このように信号発生器60及び校正装置66を接続する
と、出力レベル測定装置]O側では、校正装置66から
の校正指令信号により校正ルーチンが起動し、第6図の
フローチャートに沿って校正ルーチンを実行する。
第6図に示す如く校正ルーチンが開始されると、まずス
テップ300にて10校正装置66から入力される校正
用選局チャンネルを読み込み、続くステップ310にて
、その選局チャンネルに応じて、可変発振回路18の発
振周波数を調整し、選局回路26にて信号発生器60か
らの8力信号を選局させる。次にステップ320では、
以降の処理で使用する算出減衰量ATTOに初期値0 
[dB]を設定し、ステップ330に移行する。
ステップ330で(唄現在の算出減衰量ATT○に対す
る検波電圧VDの上限値V Dmaxとして所定の最大
値(例えば5[V])を設定すると共に、その下限値V
 Dminとして固定値(既述したように本実施例では
0.5[V])を夫々設定し、続くステップ340に移
行して、校正装置66から入力される校正用入力レベル
を読み込み、これが信号発生器60から入力される最小
の信号レベル(即ち、43[d8μ])、であるか、或
は信号レベルの増加中に一旦低下する信号レベル(53
,63゜73.83,93[d8μ])であるかを確認
し、続くステップ350に移行する。尚このステップ3
40にて、校正用入力レベルが、43. 53. 63
.73,83,93[d8μ]のうちのいずれがである
旨が確認できない場合に(よ何等かの異常があるため、
表示部34にエラー表示を行ない、処理を一旦終了する
ステップ350では、可変減衰器16の減衰量ATTを
算出減衰量ATT○に制御するために予め設定された制
御電圧VATTを可変減衰器]6に出力し、続くステッ
プ360にて、ADC30を介して検波電圧VDを読み
込む。そして続くステップ370で(よ この読み込ん
だ検波電圧VDが下限値V Dminを越えているか否
かを判断し、検波電圧VDが下限値V Dminを越え
ている場合には、ステップ380に移行して、可変減衰
器16の減衰量を増加させるべく、制御電圧V ATT
を減少させ、再度ステップ360に移行する。
尚本実施例の可変減衰器16は、PINダイオードを用
いて、制御電圧が増加する程、減衰量が低下するように
構成されているため、このステップ380で(よ制御電
圧VATTを減少させているが、可変減衰器16に、制
御電圧が増加する程減衰量が増加するように構成された
可変減衰器を用いた場合に1表 このステップ380で
は制御電圧VATTを増加させることとなる。
一方ステップ370にて、検波電圧VDが下限値V D
minを越えていないと判断されると、今度はステップ
390に移行して、検波電圧VDが下限値V Dmin
を下回っているか否かを判断する。
そして検波電圧VDが下限値V Dminを下回ってい
る場合に(よ ステップ400に移行して、可変減衰器
16の減衰量を低下させるべく、制御電圧VATTを増
加させた後、再度ステップ360に移行し、そうでなけ
れ(戴即ち検波電圧VDと下限値VDmin  (0,
5[V])とが一致している場合には、ステップ410
にて、算出減衰量ATT○と制御電圧V ATTとを対
応させてRAM40c内に格納することにより、第5図
(b)に示した制御電圧マツプの一つのデータを作成す
る。例えば算出減衰量ATTOがO[d8]であれば、
制御電圧V ATTを減衰量0 [dB]に対する制御
電圧として制御電圧マツプ内に記憶する。
次にステップ420では、校正装置66から次に入力さ
れる校正用入力レベルを読み込み、続くステップ430
にて、その読み込んだ校正用入力レベルが前回読み込ん
だ校正用入力レベルに対して低下しているか否か色判断
する。そして校正用入力レベルが低下していない場合に
(飄 ステップ440に移行して上述のレベル測定ルー
チンを実行する。尚このステップ440が実行される時
点では、校正用入力レベルは下限値V Drninに対
する減衰量の制御電圧を設定したときより大きくなって
いるため検波電圧VDは下限値V Dminより必ず大
きく、また上限値V [)maxにはステップ330に
て最大値が初期設定されているため検波電圧VDは上限
値V Dmaxを越えることはない。従つてステップ4
40にて実行されるレベル測定ルチンでは、ステップ]
00にて検波電圧VDが読み込まれるだけである。
このようにステップ440が実行されると、今度はステ
ップ450に移行して、ステップ420にて読み込んだ
校正用入力レベルとステップ440にて読み込んだ検波
電圧VDとを対応させてRAM40cに記憶することに
より、第5図(C)に示したレベル換算マツプの一つの
データを作成する。例えば現在の校正用入力レベルが4
5 [dBμ]であれ(瓜今回読み込A2だ検波電圧V
Dを入力レベル45 [dBμ]に対する検波電圧と1
2でレベル換算マツプ内に記憶する。
尚、校正用入力レベルが最小の信号レベル(即ち、43
[d8μ])であるか、或は増加中に一旦低下したとき
の信号レベル(53,63,73,83,93[dBμ
])である場合に(よ 前述のステップ340〜400
の処理で可変減衰器16の減衰量を調整することにより
、検波電圧VDが下限値V Dminになるようにして
いるため、各レベル換算マツプ内の最小入力レベル(4
3,53,63゜73.83.93[dBμ])には、
検波電圧VDの下限値V Dmin  (0,5[V]
)が設定されている。
そして続くステップ460では、ステップ420で読み
込んだ校正用入力レベルが校正装置66から入力される
最大しベル、即ち105 [dBμ]。
であるか否かを判断し、校正用入力レベルが最大レベル
でなければ再度ステップ420に移行する。
一方ステップ430にて、校正装置66から入力された
校正用入力レベルが低下したと判断された場合1こは、
ステップ470に移行して、校正用入力レベルが低下す
る前に読み込んだ検波電圧VDを、現在の算出減衰量A
TTOに対する検波電圧の上限値V DmaxとしてR
AM40cに記憶することにより、第5図(a)に示し
た上限値マツプの一つのデータを作成する。例えば現在
の算出減衰量ATTOが0 [dB]であれば、校正用
入力レベルが低下する前に読み込んだ検波電圧VDを、
減衰量0 [dB]での検波電圧VDの上限値VDma
xとして上限値マツプ内に記憶する。そして続くステッ
プ480では算出減衰量ATTOを10 [dB]増加
し、再度ステップ330に移行する。
次にステップ460にて、校正用入力レベルが最大レベ
ルであると判断された場合には、ステップ490に移行
して、今回読み込んだ検波電圧VDを、現在の算出減衰
量ATT0(この場合50[dB])に対する検波電圧
の上限値V DmaxとしてRAM40cに記憶するこ
と(こより、第5図(a)に示した最大減衰量50 [
dB]に対する上限値マツプを作成する。そして続くス
テップ500では、現在の校正用選局チャンネルは、当
該装置にて選局可能な選局チャンネルのうちの最大チャ
ンネルであるか否かを判断し、選局チャンネルが最大チ
ャンネルでなけれ(戴 ステップ510に移行して、校
正装置66から次1こ入力される校正用選局チャンネル
を読み込み、再度ステップ310に移行し、逆に選局チ
ャンネルが最大チャンネルであれば、全チャンネルに対
する校正が終了したとして、ステップ520にて校正モ
ードを解除1−1当該処理を終了する。尚上記校正ルー
チンにおいて、ステツブ300,310,500及び5
]○の処理が選局制御手段に相当し、ステップ410,
450゜470及び490の処理が記憶手段に相当し、
その他のステップが換算データ更新手段に相当する。
以上説明したように、本実施例では、校正ルチンにて、
校正用入力レベルが43. 53. 63゜73.83
,93[dBμ]である場合に、可変減衰器16の減衰
量を調整して、検波電圧VDが下限値V Dminにな
るよう制御し、その後校正入力レベルが2 [dB]ス
テップで増加する度1:、そのレベルに対する検波電圧
値を記憶するため、レベル換算マツプ(よ第7図に示す
如く、各減衰量ATT毎に、出力レベル測定装置10の
特性に応じて正確に設定されることとなり、検波電圧V
Dから入力レベルを正確に求めることが可能となる。
また各減衰量ATTでの上限値V Dmaxに(飄下限
値V Dminの入力レベル43.53,63゜73.
83,93[d8μ]に対して12[dB]高い入力レ
ベル55,65,75,85,95,105[d8μ]
での検波電圧VDを設定しており、減衰量ATTの変化
10[dB]に対して2 [dB]のヒステリシスを設
けているため、可変減衰器16の減衰量を頻繁に切り替
えることなく、レベル測定を行なうことができる。
ここで上記実施例では、検波電圧VDから入力レベルを
算出するためのレベル換算マツプを、第5図(C)に示
したように、各選局チャンネル。
各減衰量毎に、検波電圧VDと入力レベルとを対応付け
て記憶することにより作成し、入力レベルの算出時に(
よ検波電圧VDに基づき、現在の選局チャンネル及び減
衰量ATTに対応するレベル換算マツプを用いて入力レ
ベルを算出するようにしたが、レベル換算マツプ(飄 
必ずしも各減衰量毎に作成する必要はなく、例えば各チ
ャンネル毎1ミ第5図(C)における減衰量ATTh<
O(=ATTmin)の領域のデータのみをレベル換算
マツプとして記憶しておき、入力レベルの算出時に(飄
選局チャンネルに対応するレベル換算マツプを用いて、
検波電圧VDに対応した入力レベルを算出し、この算出
結果に現在の減衰量ATT(0゜10.20,30,4
0又は50)を加えることにより、入力レベルを決定す
るようにしてもよい。
[発明の効果] 以上詳述したように本発明の出力レベル測定装置におい
ては、入力端子に校正指令を入力すると、選局制御手段
が、選局回路の選局チャンネルを入力端子から入力され
た選局チャンネルに制御し、換算データ更新手段が、検
波回路から出力される検波電圧と入力端子から入力され
た絶対レベルとを対応付けて記憶手段に格納することに
より、検波電圧から絶対レベルを算出するための換算デ
ータを更新するようにされているため、入力端子に入力
する選局チャンネルと絶対レベルとに対応した信号を選
局回路に入力することにより、装置の校正を簡単に行う
ことができ、従来のように、レベル測定時に較正表を使
用することなく、常に正確なレベル測定を行なうことが
可能となる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の構成を例示するブロック図、第2図は
実施例の出力レベル測定装置全体の構成を表す概略構成
図、第3図(a)はレベル測定時の出力レベル測定装置
と受信アンテナとの接続状態を表す説明図、第3図(b
)は校正時の出力レベル測定装置と他の装置との接続状
態を表す説明図、第4図は制御回路で実行されるレベル
測定ルーチンを表すフローチャート第5図はレベル測定
ルーチン実行時に使用される各種マツプを表す説明図、
第6図は制御回路で実行される校正ルーチンを表すフロ
ーチャート 第7図はこの校正ルーチンにより得られる
データを表す線図、である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 受信アンテナから出力される受信信号の中から所定チャ
    ンネルの通信信号を選局する選局回路と、該選局された
    通信信号を検波する検波回路と、該検波回路から出力さ
    れる検波電圧から上記通信信号の絶対レベルを換算する
    ための換算データが予め記憶された記憶手段と、該記憶
    手段に記憶された換算データに基づき、上記検波電圧か
    ら上記通信信号の絶対レベルを算出し、表示装置に表示
    する絶対レベル算出手段と、を備えた受信アンテナの出
    力レベル測定装置において、外部から、上記選局回路の
    選局チャンネル、通信信号の絶対レベル、及び換算デー
    タの校正指令、を夫々入力するための入力端子を設ける
    と共に、該入力端子から校正指令が入力されているとき
    、上記選局回路の選局チャンネルを上記入力端子から入
    力された選局チャンネルに制御する選局制御手段と、該
    選局制御手段が上記選局回路の選局チャンネルを制御す
    ると、上記検波回路から出力される検波電圧を読み込み
    、該検波電圧と上記入力端子から入力された絶対レベル
    とを対応付けて上記記憶手段に格納することにより、上
    記換算データを更新する換算データ更新手段と、を備え
    たことを特徴とする受信アンテナの出力レベル測定装置
JP9830490A 1990-04-13 1990-04-13 受信アンテナの出力レベル測定装置 Expired - Lifetime JPH0786520B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005167861A (ja) * 2003-12-04 2005-06-23 Nec Corp 受信レベルモニタ機能付agc回路
JP2010239540A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Maspro Denkoh Corp レベルチェッカ
CN111505555A (zh) * 2020-03-26 2020-08-07 中国航天系统科学与工程研究院 一种非相参电磁侦测外场自动标校系统及方法

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JP2010239540A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Maspro Denkoh Corp レベルチェッカ
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