JPS5913963A - 干渉雑音試験装置 - Google Patents
干渉雑音試験装置Info
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- JPS5913963A JPS5913963A JP57122613A JP12261382A JPS5913963A JP S5913963 A JPS5913963 A JP S5913963A JP 57122613 A JP57122613 A JP 57122613A JP 12261382 A JP12261382 A JP 12261382A JP S5913963 A JPS5913963 A JP S5913963A
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- receiver
- interference noise
- noise
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
- G01R31/3161—Marginal testing
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は干渉雑音試験装置の改良に関するもので、詳
しくは電子機器から発生する干渉雑音を計測する感度と
正確さを向上させた干渉雑音試験装置を提供するもので
ある。
しくは電子機器から発生する干渉雑音を計測する感度と
正確さを向上させた干渉雑音試験装置を提供するもので
ある。
さて、電子機器が発生する干渉雑音（以下、 ＢＭＩと
呼ぶ）は、上記電子機器の信号ラインや電源ライン等に
て伝送される伝導性ＢＭＩと、上記電子機器から電波や
磁界どして空間に放射される放射性ＢＭＩに大きく分類
される。
呼ぶ）は、上記電子機器の信号ラインや電源ライン等に
て伝送される伝導性ＢＭＩと、上記電子機器から電波や
磁界どして空間に放射される放射性ＢＭＩに大きく分類
される。
これらのＢＭＩは電子機器の動作に不具合をもたらすの
で、そのレベルがある一定直内におさまっていることが
要求されている。このため電子機器の上記ＢＭＩを計測
し、その強度が一定呟内におさまっているかどうかを試
験しなければならず、上記（３） ＥＭＩ試験装置が必要となるのである。
で、そのレベルがある一定直内におさまっていることが
要求されている。このため電子機器の上記ＢＭＩを計測
し、その強度が一定呟内におさまっているかどうかを試
験しなければならず、上記（３） ＥＭＩ試験装置が必要となるのである。
なおここでは説明の便宜上、計測の対象を上記放射性Ｅ
ＭＩに限って説明する。
ＭＩに限って説明する。
まず従来のこの種装置について図を用いて簡単に説明す
る。第１図は従来のこの種装置の構成ブロック図、第２
図はＥＭ工試験規格の一例を示す図である。
る。第１図は従来のこの種装置の構成ブロック図、第２
図はＥＭ工試験規格の一例を示す図である。
第１図において（１）は供試体、（２）は上記供試体（
＋１から放射される放射性ＥＭ工’ｉ検出する受信アン
テナ、（３）は上記放射性ＥＭＩ’４伝送する高周波伝
送路（以下、ＲＦ伝送路と呼ぶ）、（４１は上記受信ア
ンテナ（２）で検出され、上記ＲＦ伝送路（３）により
伝送される上記放射性ＥＭＩＴ帯域制限するための帯域
通過フィルタで構成され、かつ中央処理装置（以下、ｃ
ｐｕと呼ぶ）（８）の制御により上記帯域通過フィルタ
の中心周波数を掃引する機能を備えたブリセレクタ、（
５）は上記ブリセレクタ（４）にＲＦ伝送路（３）ヲ経
由して接続され、上記放射性ＫＭＩの強度を上記ＣＰ
ｕ （８）の制御に基づいて調節する減衰器。
＋１から放射される放射性ＥＭ工’ｉ検出する受信アン
テナ、（３）は上記放射性ＥＭＩ’４伝送する高周波伝
送路（以下、ＲＦ伝送路と呼ぶ）、（４１は上記受信ア
ンテナ（２）で検出され、上記ＲＦ伝送路（３）により
伝送される上記放射性ＥＭＩＴ帯域制限するための帯域
通過フィルタで構成され、かつ中央処理装置（以下、ｃ
ｐｕと呼ぶ）（８）の制御により上記帯域通過フィルタ
の中心周波数を掃引する機能を備えたブリセレクタ、（
５）は上記ブリセレクタ（４）にＲＦ伝送路（３）ヲ経
由して接続され、上記放射性ＫＭＩの強度を上記ＣＰ
ｕ （８）の制御に基づいて調節する減衰器。
（６）は上記減衰器（５）にＲＦ伝送路（３）経由接続
され。
され。
（４）
上記放射性ＢＭＩの強度を周波数スペクト７ムの形で、
０Ｐｕ（８）の制御によって計測する機能を備えた受信
機（例えばスペクトラムアナライザや電界測定器など）
、（７１は、ブリセレクタ（４）、減衰器（５）。
０Ｐｕ（８）の制御によって計測する機能を備えた受信
機（例えばスペクトラムアナライザや電界測定器など）
、（７１は、ブリセレクタ（４）、減衰器（５）。
受信機（６）、出力表示装置Ｑ（１，入力装置０１）及
び０Ｆｕ（８）との中継を行う入出力インタフェース、
（８）は処理プログラムに従ってブリセレクタ（４）、
減衰器（５）、受信機（６）、出力表示装置θＱ、入力
装置α】）を制御し、かつ上記受信機（６）で計測さね
た上記放射性ＥＭＩ計測＠を収集し、その処理を行５ａ
ｐｕ、（９１は上記処理プログラム、計測呟及び試験条
件などを記憶し、」二記ＯＰ ｕ （８）との間で情報
の授受を行う記憶装置、００）は上記入出力インタフェ
ースに接続され上記計測騰などを出力表示する出力表示
装置（例えばプロッタやラインプリンタなど）、（１υ
は上記入出力インタフェース（７）に接続され試験条件
などの情報Ｙ ＯＰ ｕ （８）に入力する入力装置（
例えばキーボードなど）、α２は上記入出力インタフェ
ース（７）とブリセレクタ（４）、減衰器（５）、受信
機（６）。
び０Ｆｕ（８）との中継を行う入出力インタフェース、
（８）は処理プログラムに従ってブリセレクタ（４）、
減衰器（５）、受信機（６）、出力表示装置θＱ、入力
装置α】）を制御し、かつ上記受信機（６）で計測さね
た上記放射性ＥＭＩ計測＠を収集し、その処理を行５ａ
ｐｕ、（９１は上記処理プログラム、計測呟及び試験条
件などを記憶し、」二記ＯＰ ｕ （８）との間で情報
の授受を行う記憶装置、００）は上記入出力インタフェ
ースに接続され上記計測騰などを出力表示する出力表示
装置（例えばプロッタやラインプリンタなど）、（１υ
は上記入出力インタフェース（７）に接続され試験条件
などの情報Ｙ ＯＰ ｕ （８）に入力する入力装置（
例えばキーボードなど）、α２は上記入出力インタフェ
ース（７）とブリセレクタ（４）、減衰器（５）、受信
機（６）。
出力表示装置ｆ１１及び入力装置α１）ヲ接続し、０Ｐ
ｕ（８）とブリセレクタ（４）、減衰器（５）、受信機
（６）、出力表示装置αｑ及び入力装置（１１）との間
で授受されるディジタル信号を伝送するインタフェース
バスケーブルである。
ｕ（８）とブリセレクタ（４）、減衰器（５）、受信機
（６）、出力表示装置αｑ及び入力装置（１１）との間
で授受されるディジタル信号を伝送するインタフェース
バスケーブルである。
第２図において、Ｓは放射性ＥＭ工規格の一例。
Ｓ、及びＳ２ は上記放射性ＥＭＩ規格の一例日におい
て特に低い強度を適用した一例（例えば通信装置に適用
される放射性ＥＭＩ規格）、Ｔは上記受信アンテナ（２
；、ＲＦ伝送路（３）、ブリセレクタ（４）、減衰器（
５）、及び受信機（６）からなる受信系の受信感度すな
わちスレッシホールドレベルでアル。
て特に低い強度を適用した一例（例えば通信装置に適用
される放射性ＥＭＩ規格）、Ｔは上記受信アンテナ（２
；、ＲＦ伝送路（３）、ブリセレクタ（４）、減衰器（
５）、及び受信機（６）からなる受信系の受信感度すな
わちスレッシホールドレベルでアル。
次に、従来のこの種装置の動作を説明する。
供試体（１１から発生した上記放射性ＢＭＩは受信アン
テナ（２；によって検出され、ＲＦ伝送路（３）ヲ通っ
てブリセレクタ（４）へ入力する。
テナ（２；によって検出され、ＲＦ伝送路（３）ヲ通っ
てブリセレクタ（４）へ入力する。
上記ブリセレクタ（４）はＯＰ ｕ （８）の命令によ
り通過帯域が制御され上記放射性ＥＭＴ’ｇ帯域制限す
るから、その通過帯域内に落込む上記放射性ＥＭＩだ汁
がこれを通過し、ＲＦ伝送路（３）を通って減衰器（５
）へ入力する。
り通過帯域が制御され上記放射性ＥＭＴ’ｇ帯域制限す
るから、その通過帯域内に落込む上記放射性ＥＭＩだ汁
がこれを通過し、ＲＦ伝送路（３）を通って減衰器（５
）へ入力する。
上記減衰器（５）は上記放射性ＥＭＩの強度を適度の値
に調節して受信機（６）に過大な上記放射性ＥＭＩが入
力しないようにするものでＣＰ ｕ （８１によりその
減衰器が制御される。
に調節して受信機（６）に過大な上記放射性ＥＭＩが入
力しないようにするものでＣＰ ｕ （８１によりその
減衰器が制御される。
そして、上記減衰器（５）ヲ通過した上記放射性Ｋ１．
４工はＲＦ伝送路（３）ヲ通って受信機（６）へ入力す
る。
４工はＲＦ伝送路（３）ヲ通って受信機（６）へ入力す
る。
受信機（６）はＣＰ ｕ （８）の命令に従って上記放
射性ＥＭＩの強度７周波数スペクトラムの形で１測する
。
射性ＥＭＩの強度７周波数スペクトラムの形で１測する
。
この計測値は入出力インタフェース（力経由ＣＰｕ（８
）にとりこまれ、ここで上記受信アンテナ（２）の利得
、ＲＦ伝送路（３）の損失などを補正する処理がなされ
、工学学位に変換されて記憶装置（９）に記憶される。
）にとりこまれ、ここで上記受信アンテナ（２）の利得
、ＲＦ伝送路（３）の損失などを補正する処理がなされ
、工学学位に変換されて記憶装置（９）に記憶される。
そしてまた出力表示装置αＣに所定の形式で表示される
。
。
この様な動作をするから上記供試体（１）が発する上記
放射性ＥＭ工の強度を自動的にかつ迅速に試験すること
ができる。
放射性ＥＭ工の強度を自動的にかつ迅速に試験すること
ができる。
しかしながら上記放射性ＥＭ工の試験において適用され
る規格は第２図に示されるようなものであって、放射性
ＥＭ工規格Ｓは＋ ＳｌやＳ２のように非常（７） に低いレベルで設定されることが多い。
る規格は第２図に示されるようなものであって、放射性
ＥＭ工規格Ｓは＋ ＳｌやＳ２のように非常（７） に低いレベルで設定されることが多い。
上記Ｓ１やＳ２は上記供試体（１）が組みこまれるシス
テムの中に１例えば高感度の受信系がある場合。
テムの中に１例えば高感度の受信系がある場合。
これに干渉を与えないよう、その受信中心周波数近辺で
放射性ＥＭＩ’ｉ低く抑える必要があるために設定され
たものである。
放射性ＥＭＩ’ｉ低く抑える必要があるために設定され
たものである。
したがって上記Ｓ１やＳ２は極めて低い強度となり。
受信系のスレッシホールドレベルＴよりさらに低い場合
が多い。
が多い。
このようなとき上記Ｓ１やＳ２の指示する周波数範囲で
は上記放射性ＥＭＩの計測が不可能となる欠点があった
。
は上記放射性ＥＭＩの計測が不可能となる欠点があった
。
さらに、上記放射性ＥＭ工の強度が低く上記Ｔ近辺であ
るとき受信機（６）の内部雑音など測定系の雑音により
上記放射性ＫＭ工の計測値に大きな誤差を与えるという
欠点もあった。
るとき受信機（６）の内部雑音など測定系の雑音により
上記放射性ＫＭ工の計測値に大きな誤差を与えるという
欠点もあった。
このような欠点は放射性ＥＭ工計測において致命的な問
題であり、これを解決するＥＭＩ試験装置が望まれてい
た。
題であり、これを解決するＥＭＩ試験装置が望まれてい
た。
この発明はこのような問題を解決するためにな（８）
されたもので以下２図を用いてこの発明を詳述する。
第３図はこの発明の一実施例の構成ブロック図。
第４図は処理の流れを示す流れ図である。図中（１）か
ら０旧ま第１図と同じもの、 （＋３． （１４１，Ｑ
ωはＲＦ伝送路（３）の接続１０Ｐｕ（８）の命令によ
って切換える機能を備えた切換器、００は上記切換器（
１階に接続され、既知の標準雑音Ｙ ＯＰ ｕ （ｓ）
の制御によって発生する較正装置、０７１は上記切換器
（１４）と０勺の間に挿入され上記放射性ＫＭ工の増幅
を行う増幅器、０引よ」二記増幅器αηに接続され、ｃ
ｐｕ（８）の制御によって上記増幅器αηの電源投入、
遮断を行う電源制御装置である。
ら０旧ま第１図と同じもの、 （＋３． （１４１，Ｑ
ωはＲＦ伝送路（３）の接続１０Ｐｕ（８）の命令によ
って切換える機能を備えた切換器、００は上記切換器（
１階に接続され、既知の標準雑音Ｙ ＯＰ ｕ （ｓ）
の制御によって発生する較正装置、０７１は上記切換器
（１４）と０勺の間に挿入され上記放射性ＫＭ工の増幅
を行う増幅器、０引よ」二記増幅器αηに接続され、ｃ
ｐｕ（８）の制御によって上記増幅器αηの電源投入、
遮断を行う電源制御装置である。
次にこの発明の動作を第３図及び第４図を用いて説明す
る。
る。
記憶装置（９）に処理プログラムな予じめ記憶させてお
くが、この処理プログラムによってＯＰ ｕ （８）が
動き出す前に第４図Ａで供試体（１）や受信アンテナ（
２）ヲ所定の位置にセットアツプする。次いでＣＰ ｕ
（８）が動き出したとき第４図Ｂで、試験周波数帯域
、受信アンテナ（２）の種類、規格の種類及び初期較正
の要否などの試験条件が入力装置０１）から入力され、
入出力インタフェース（７）経由、０Ｐｕ（８）へ送ら
れ記憶装置（９）に記憶される。
くが、この処理プログラムによってＯＰ ｕ （８）が
動き出す前に第４図Ａで供試体（１）や受信アンテナ（
２）ヲ所定の位置にセットアツプする。次いでＣＰ ｕ
（８）が動き出したとき第４図Ｂで、試験周波数帯域
、受信アンテナ（２）の種類、規格の種類及び初期較正
の要否などの試験条件が入力装置０１）から入力され、
入出力インタフェース（７）経由、０Ｐｕ（８）へ送ら
れ記憶装置（９）に記憶される。
次に第４図Ｃで切換器（ＩＩ、 （Ｉ４）、 （１！９
． ブリセレクタ（４）、減衰器（５）、受信機（６
）、較正装置Ｏｅ及び電源制御装置Ｏ〜の初期設定を行
う。′ｆなわち上記各構成要素、ブリセレクタ（４）、
減衰器（５）、受信機（６）、切換器Ｈ，０４）、 ＋
１■、較正装置θ０及び電源制御装置０椋ｉ ＣＰ ＋
１ （８１の命令待ち受は状態に設定し、かつ減衰器（
５）は最大減衰を与えるように設定されるなどの動作が
ＣＰ ｕ （８）によって行われる。
． ブリセレクタ（４）、減衰器（５）、受信機（６
）、較正装置Ｏｅ及び電源制御装置Ｏ〜の初期設定を行
う。′ｆなわち上記各構成要素、ブリセレクタ（４）、
減衰器（５）、受信機（６）、切換器Ｈ，０４）、 ＋
１■、較正装置θ０及び電源制御装置０椋ｉ ＣＰ ＋
１ （８１の命令待ち受は状態に設定し、かつ減衰器（
５）は最大減衰を与えるように設定されるなどの動作が
ＣＰ ｕ （８）によって行われる。
次に第４図りでＯＰ ｕ （８１によって較正動作の要
否が判断される。ここでの判断とは前述した初期較正の
要否に関する入力情報に従って行われるもので、初期較
正を要するときは直ちにＥへ進む。
否が判断される。ここでの判断とは前述した初期較正の
要否に関する入力情報に従って行われるもので、初期較
正を要するときは直ちにＥへ進む。
上記初期較正が不要のときは直ちに第４図Ｈへ移る。・
次に第４図ＥでＣ！ Ｐ ｕ （８）によ′つて較正セ
ットアツプが行われる。ここでは切換器θ３ｙ、−ａｐ
ｕ（８）の命令により駆動し、較正装置Ｏｅが発生する
標準雑音をブリセレクタ（４）へ入力するよう接続が行
われると共に上記較正装置αｅからは較正７行うべき周
波数帯の標準雑音が出力される。
ットアツプが行われる。ここでは切換器θ３ｙ、−ａｐ
ｕ（８）の命令により駆動し、較正装置Ｏｅが発生する
標準雑音をブリセレクタ（４）へ入力するよう接続が行
われると共に上記較正装置αｅからは較正７行うべき周
波数帯の標準雑音が出力される。
次に第４図Ｆで、上記標準雑音を増幅器θ力で増幅した
後、減衰器（５）ヲ通して受信機（６）に入力し。
後、減衰器（５）ヲ通して受信機（６）に入力し。
上記標準雑音を計測する。ここで用いられる標準雑音は
予じめ較正されているので上記標準雑音の計測により受
信機（６）の受信精度が把握される。さらに上記標準雑
音の計測において、標準雑音の強度ケ２段階に切換えた
ときの受信機（６）の受信強度’ｅ Ｃ！ Ｐ ｕ ＋
８＋によって読みとり所定の演算を行うことで、ブリセ
レクタ（４）増幅器０７）、及び受信機（６）の内部雑
音強度＠を取得する。そして上記標準雑音の計測値と内
部雑音計測値とを記憶装置（９）に記憶する。
予じめ較正されているので上記標準雑音の計測により受
信機（６）の受信精度が把握される。さらに上記標準雑
音の計測において、標準雑音の強度ケ２段階に切換えた
ときの受信機（６）の受信強度’ｅ Ｃ！ Ｐ ｕ ＋
８＋によって読みとり所定の演算を行うことで、ブリセ
レクタ（４）増幅器０７）、及び受信機（６）の内部雑
音強度＠を取得する。そして上記標準雑音の計測値と内
部雑音計測値とを記憶装置（９）に記憶する。
次に第４図Ｇで、ｃｐｕ（８１が較正動作の終了を判断
し、終了していない場合はＦへ戻って較正動作を継続し
終了の場合は第４図Ｈへ進む。
し、終了していない場合はＦへ戻って較正動作を継続し
終了の場合は第４図Ｈへ進む。
Ｈでは、ｃｐｕ（８１の命令により所定の受信アン（１
１） テナ（２）ヲ切換器θり経由ブリセレクタ（４）へ接続
し。
１） テナ（２）ヲ切換器θり経由ブリセレクタ（４）へ接続
し。
所定の増幅器０？）へ切換器α荀経由接続し、減衰器（
５）へ切換器α騰経由接続し、上記放射性ＥＭＩが受信
機（６）で計測されるよう上記各構成要素の接続を行う
。
５）へ切換器α騰経由接続し、上記放射性ＥＭＩが受信
機（６）で計測されるよう上記各構成要素の接続を行う
。
次に第４図工で供試体（１）から放射される放射性ＥＭ
工の計測を行う。ここではＣＰ ｕ （８）が受信機（
６）に命令を与え、所定の周波数範囲で受信機（６）の
受信周波数を所定分解能で連続的に掃引させることで行
われる。この結果、上記放射性ＥＭ工の強度周波数スペ
クトラム計測値を得、記憶装置（９）に記憶する。そし
て上記強度周波数スペクトラムの１測を受信機（６）が
行っている間に、ＣＰｕ４８）は第４図工で較正動作に
入るタイミングをモニタし、計測を開始してから所定の
時間が経過したとき、あるいは受信アンテナ（２；の切
換を行ったときなどの事象が発生した場合工に割込みを
発生してＥへ飛び。
工の計測を行う。ここではＣＰ ｕ （８）が受信機（
６）に命令を与え、所定の周波数範囲で受信機（６）の
受信周波数を所定分解能で連続的に掃引させることで行
われる。この結果、上記放射性ＥＭ工の強度周波数スペ
クトラム計測値を得、記憶装置（９）に記憶する。そし
て上記強度周波数スペクトラムの１測を受信機（６）が
行っている間に、ＣＰｕ４８）は第４図工で較正動作に
入るタイミングをモニタし、計測を開始してから所定の
時間が経過したとき、あるいは受信アンテナ（２；の切
換を行ったときなどの事象が発生した場合工に割込みを
発生してＥへ飛び。
ここで上述の較正動作を行う。さらにｃ ｐ ｕ （８
１は上記強度スペクトラムの計測を行っている間に第４
図にで上記内部雑音計測値からスレッシホールドレベル
Ｔの計算ケ行い９例えば第２図の８１や（１２） Ｓ２ の領域において受信機（６）の感度が不足と判断
されたとき、増幅器０７）ヲ駆動するため電源制御装置
０υをｃ ｐ ｕ （Ｂ）の命令で駆動し、増幅器ｏ７
）に電源を供給してこれを動作させる。これと同時に０
Ｐｕ（８）は切換器ａ４どαつに命令を与え、増幅器α
ηをブリセレクタ（４）と減衰器（５）の間に挿入し、
放射性ＥＭＩを増幅する。
１は上記強度スペクトラムの計測を行っている間に第４
図にで上記内部雑音計測値からスレッシホールドレベル
Ｔの計算ケ行い９例えば第２図の８１や（１２） Ｓ２ の領域において受信機（６）の感度が不足と判断
されたとき、増幅器０７）ヲ駆動するため電源制御装置
０υをｃ ｐ ｕ （Ｂ）の命令で駆動し、増幅器ｏ７
）に電源を供給してこれを動作させる。これと同時に０
Ｐｕ（８）は切換器ａ４どαつに命令を与え、増幅器α
ηをブリセレクタ（４）と減衰器（５）の間に挿入し、
放射性ＥＭＩを増幅する。
また、上記放射性ＥＭＩの強度が増幅器側の線形動作領
域を超えるほど強い場合は、０Ｐｕ（８１の命令により
増幅器０力の電源を電源制御装置ｏ榎が遮断し切換器ａ
ａとαつが動作して増幅器０７）を取り外し替りに］’
ｔＦ伝送路（３）ヲ挿入する。この様にして所要の受信
感度で上記強度周波数スペクトラム７計測ｔ７．かつ増
幅器０ηの非線形動作に起因する不要波の発生を防止す
ることができる。
域を超えるほど強い場合は、０Ｐｕ（８１の命令により
増幅器０力の電源を電源制御装置ｏ榎が遮断し切換器ａ
ａとαつが動作して増幅器０７）を取り外し替りに］’
ｔＦ伝送路（３）ヲ挿入する。この様にして所要の受信
感度で上記強度周波数スペクトラム７計測ｔ７．かつ増
幅器０ηの非線形動作に起因する不要波の発生を防止す
ることができる。
次にＬで＋ Ｃ” ｕ（ｓ）は上記強度スペクトラム
の計測が終了したかどうかを判断し、終了の場合はＭへ
移り、ここで上記強度スペクトラムの計測値。
の計測が終了したかどうかを判断し、終了の場合はＭへ
移り、ここで上記強度スペクトラムの計測値。
上記内部雑音計測値及び上記標準雑音の計測喧ヲ記憶装
置（９）から取り出し処理プログラム所定の補正処理を
行う。
置（９）から取り出し処理プログラム所定の補正処理を
行う。
次にＮで上記補正処理の結果を出力表示装置（１ｏ）Ｋ
出力表示する。
出力表示する。
以上説明したようにこの発明によれば増幅器０ηを受信
機（６）の前段に挿入し、かつ上記増幅器θηの非線形
動作ケ防ぎ、かつ上記増幅２ｒ＞ （＋’７１などの内
部雑音強度正し、かつ較正動作を必要に応じて行うカラ
、受信系のスレッシホールドレベルＴより低いレベルの
放射性干渉雑音を計測することが可能となるばかりでな
（、上記計測の精度を著しく高めることができるという
利点が生ずる。
機（６）の前段に挿入し、かつ上記増幅器θηの非線形
動作ケ防ぎ、かつ上記増幅２ｒ＞ （＋’７１などの内
部雑音強度正し、かつ較正動作を必要に応じて行うカラ
、受信系のスレッシホールドレベルＴより低いレベルの
放射性干渉雑音を計測することが可能となるばかりでな
（、上記計測の精度を著しく高めることができるという
利点が生ずる。
さらに、上記較正動作や上記増幅器の接続、取外し動作
が自動的に行われるためＥＭＩ試験を省力化しかつ高速
化するという利点も生ずる。
が自動的に行われるためＥＭＩ試験を省力化しかつ高速
化するという利点も生ずる。
なお、ここでは放射性ＥＭ工についてのみ説明したが伝
導性’ＥＭ工についても同様である。
導性’ＥＭ工についても同様である。
また、上述の実施例では各構成要素を一つずつ分離した
形で示したが、いくつかの構成要素を一つにまとめて前
記した各構成要素の機能を持たせることができるなど装
置の構成についてはこの発明の要旨どする点欠逸脱しな
い範囲において各種の変形がある。
形で示したが、いくつかの構成要素を一つにまとめて前
記した各構成要素の機能を持たせることができるなど装
置の構成についてはこの発明の要旨どする点欠逸脱しな
い範囲において各種の変形がある。
第１図は従来の干渉靴音試験装置の構成ブロック図、卯
２図は干渉雑音試験規格の一例ケ示す図。 第３図はこの発明の一実施例の構成ブロック図。 第４図はこの発明による処理の流れケ示す流れ図である
。 図中（１）は供試体、（２；は受信アンテナ、（３）は
高周波伝送路、（４）はブリセレクク、（５）は減衰器
、（６）は受信機、（７）は入出力インタフェース、（
８）は中央処理装置、（９）は記憶装置、 （Ｉａは出
力表示装置、０１）は入力装置、０２はインタフェース
バスケーブル、 （１３は切換器、０４）は切換器、
ａ！ｉｌは切換器、αＤは較正装置、 Ｑ７１は増幅器
、０紛は電源制御装置である。 なお図中同一または相当部分には同一符号ケ付して示し
である。 代理人 葛 野 信 − （１５）
２図は干渉雑音試験規格の一例ケ示す図。 第３図はこの発明の一実施例の構成ブロック図。 第４図はこの発明による処理の流れケ示す流れ図である
。 図中（１）は供試体、（２；は受信アンテナ、（３）は
高周波伝送路、（４）はブリセレクク、（５）は減衰器
、（６）は受信機、（７）は入出力インタフェース、（
８）は中央処理装置、（９）は記憶装置、 （Ｉａは出
力表示装置、０１）は入力装置、０２はインタフェース
バスケーブル、 （１３は切換器、０４）は切換器、
ａ！ｉｌは切換器、αＤは較正装置、 Ｑ７１は増幅器
、０紛は電源制御装置である。 なお図中同一または相当部分には同一符号ケ付して示し
である。 代理人 葛 野 信 − （１５）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 電子機器から発生する干渉雑音ケ検出する検出器と、上
記検出器によって検出された上記干渉雑音を帯域制限す
るブリセレクタと、上記ブリセレクタにより帯域制限さ
れた上記干渉雑音の強度ケ計測する受信機とを備え上記
干渉雑音の強度を計測する干渉雑音試験装置において、
上記検出器と上記ブリセレクタとの間に接続された切換
器と。 上記切換器に接続され、上記切換器経由上記ブリセレク
タに入力する標準雑音を発生する較正装置と、上記ブリ
セレクタと上記受信機との間に接続され上記帯域制限さ
れた干渉雑音を増幅する増幅器と、上記増幅器に接続さ
れ上記増幅器の電源を制御する電源制御装置と、上記増
幅器の入力側と出力側に接続され、上記ブリセレクタと
上記受信機との間で上記増幅器を接続し、あるいは上記
増幅器の接続７はずして上記増幅器のかわりに高周波伝
送路を挿入する切換器と、上記干渉雑音を処理するに必
要なプログラム、試験条件及び上記受信機で計測された
上記干渉雑音の計測直ケ記憶する記憶装置と、上記記憶
装置との間で情報の授受を行うと共に、上記切換器と、
上記ブリセレクタ。 上記受信機、上記較正装置及び上記電源制御装置を制御
し、上記受信機から得られる上記干渉雑音の計測ｒｌＩ
！ヲ収集し、上記計測＠を基に所定の処理を行う中央処
理装置と、上記計測値の処理結果を出力表示する出力表
示装置と、上記試験条件を入力する入力装置とケ備え、
上記試験条件に従い。 上記検出器を上記切換器で切換えるたびに上記較正装置
から送出される標準雑音を上記ブリセレクタと上記増幅
器経由上記受信機へ入力し、上記標準雑音を計測し、も
って上記検出器と上記ブリセレクタと上記増幅器とから
成る受信系の内部雑音を計測し、さらに上記受信系の計
測精度値を求め。 これら内部雑音の計測値と計測精度値とを用いて上記干
渉雑音強度の計測値の補正を行い、さらに上記増幅器に
入力する上記干渉雑音によって上記増幅器が非線形動作
をするとき上記増幅器を上記ブリセレクタと上記受信機
との間で接続を切りかえ上記高周波伝送路を挿入するこ
とを上記中央処理装置によって行うことを特徴とする干
渉雑音試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57122613A JPS5913963A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 干渉雑音試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57122613A JPS5913963A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 干渉雑音試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5913963A true JPS5913963A (ja) | 1984-01-24 |
| JPH0330831B2 JPH0330831B2 (ja) | 1991-05-01 |
Family
ID=14840278
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57122613A Granted JPS5913963A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 干渉雑音試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5913963A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60158741A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-20 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光デ−タウエイ |
| JP2001264372A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | 放射ノイズ測定データ表示方法、放射ノイズ測定システムおよび放射ノイズ測定用プログラム記憶媒体 |
-
1982
- 1982-07-14 JP JP57122613A patent/JPS5913963A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60158741A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-20 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 光デ−タウエイ |
| JP2001264372A (ja) * | 2000-03-17 | 2001-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | 放射ノイズ測定データ表示方法、放射ノイズ測定システムおよび放射ノイズ測定用プログラム記憶媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0330831B2 (ja) | 1991-05-01 |
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