JPH03274431A - 温度測定回路 - Google Patents
温度測定回路Info
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- JPH03274431A JPH03274431A JP7650490A JP7650490A JPH03274431A JP H03274431 A JPH03274431 A JP H03274431A JP 7650490 A JP7650490 A JP 7650490A JP 7650490 A JP7650490 A JP 7650490A JP H03274431 A JPH03274431 A JP H03274431A
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- thermistor
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- temperature measuring
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- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、温度測定回路に関し、更に詳しくは、３線式
の測温抵抗体と２線式のサーミスタか接続できる温度測
定回路に関する。
の測温抵抗体と２線式のサーミスタか接続できる温度測
定回路に関する。
〈従来の技術〉
記録計や温度調節計等の温度測定手段として、３線式の
測温抵抗体や２線式のサーミスタか用いられている。
測温抵抗体や２線式のサーミスタか用いられている。
第４図は３線式の測温抵抗体を用いた従来の温度測定回
路の一例を示すブロック図である。図において、測温抵
抗体Ｒ３の第１のリード線ＬＡは定電流源■、に接続さ
れるとともにスイッチＳを介してアンプＡに接続され、
第２のリード線Ｌ８はにイッチＳ２を介してアンプＡに
接続され、第３のリード線り、は抵抗Ｒ１，を介して接
地されるとともにスイッチＳ、を介してアンプＡに接続
されている。また、抵抗Ｒａｌの接地点側の端子もスイ
ッチＳ４を介してアンプＡに接続されている。
路の一例を示すブロック図である。図において、測温抵
抗体Ｒ３の第１のリード線ＬＡは定電流源■、に接続さ
れるとともにスイッチＳを介してアンプＡに接続され、
第２のリード線Ｌ８はにイッチＳ２を介してアンプＡに
接続され、第３のリード線り、は抵抗Ｒ１，を介して接
地されるとともにスイッチＳ、を介してアンプＡに接続
されている。また、抵抗Ｒａｌの接地点側の端子もスイ
ッチＳ４を介してアンプＡに接続されている。
これらスイッチ８１〜Ｓ４は選択的に駆動され、アンプ
Ａには各リード線ＬＡ、ＬＢ、Ｌｂの端子電圧ＶＡ、Ｖ
、、Ｖ、及び抵抗Ｒｔ１の接地点側の端子電圧ｖｚが選
択的に加えられる。Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣは、アンプへの
出力信号を順次ディジタル信号に変換して演算部ＣＰＵ
に入力する。そして、演算部ＣＰＵは、 Ｒ，−（Ｖ Ａ −２Ｖ Ｂ ＋Ｖｂ ）Ｒ
，ｌ／（Ｖ 、 −Ｖｚ ）で表される演算を行
い、測温抵抗体Ｒ１の抵抗値を求める。そしてその後、
リニアライズ演算を行つＯ 第５図は２線式のサーミスタを用いた従来の温度測定回
路の一例を示すブロック図である。図において、サーミ
スタＲ７の第１のリード線り、は定電流源Ｉ２に接続さ
れるとともにスイッチＳ。
Ａには各リード線ＬＡ、ＬＢ、Ｌｂの端子電圧ＶＡ、Ｖ
、、Ｖ、及び抵抗Ｒｔ１の接地点側の端子電圧ｖｚが選
択的に加えられる。Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣは、アンプへの
出力信号を順次ディジタル信号に変換して演算部ＣＰＵ
に入力する。そして、演算部ＣＰＵは、 Ｒ，−（Ｖ Ａ −２Ｖ Ｂ ＋Ｖｂ ）Ｒ
，ｌ／（Ｖ 、 −Ｖｚ ）で表される演算を行
い、測温抵抗体Ｒ１の抵抗値を求める。そしてその後、
リニアライズ演算を行つＯ 第５図は２線式のサーミスタを用いた従来の温度測定回
路の一例を示すブロック図である。図において、サーミ
スタＲ７の第１のリード線り、は定電流源Ｉ２に接続さ
れるとともにスイッチＳ。
を介してアンプＡに接続され、第２のリード線Ｌ２は抵
抗Ｒ１２を介して接地されるとともにスイッチＳ６を介
してアンプＡに接続されている。また、抵抗Ｒ１２の接
地点側の端子もスイッチＳ７を介してアンプＡに接続さ
れている。これらスイッチＳ、〜Ｓ７も選択的に駆動さ
れ、アンプＡには各リード線り、、Ｌ２の端子電圧Ｖ、
、Ｖ２及び抵抗Ｒ１２の接地点側の端子電圧■、が選択
的に加えられる。Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣは、アンプへの出
力信号を順次ディジタル信号に変換して演算部ＣＰＵに
入力する。そして、演算部ＣＰＵは、ＲＴ −（Ｖ
ｌ −Ｖ２ ）Ｒ−２／（Ｖ ２ −Ｖ３
）で表される演算を行い、測温抵抗体ＲＴの抵抗値を求
める。そしてその後、リニアライズ演算を行う。
抗Ｒ１２を介して接地されるとともにスイッチＳ６を介
してアンプＡに接続されている。また、抵抗Ｒ１２の接
地点側の端子もスイッチＳ７を介してアンプＡに接続さ
れている。これらスイッチＳ、〜Ｓ７も選択的に駆動さ
れ、アンプＡには各リード線り、、Ｌ２の端子電圧Ｖ、
、Ｖ２及び抵抗Ｒ１２の接地点側の端子電圧■、が選択
的に加えられる。Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣは、アンプへの出
力信号を順次ディジタル信号に変換して演算部ＣＰＵに
入力する。そして、演算部ＣＰＵは、ＲＴ −（Ｖ
ｌ −Ｖ２ ）Ｒ−２／（Ｖ ２ −Ｖ３
）で表される演算を行い、測温抵抗体ＲＴの抵抗値を求
める。そしてその後、リニアライズ演算を行う。
ところで、温度測定回路としては、測温抵抗体Ｒ１とサ
ーミスタＲ０で回路を共通化できることが望ましい。
ーミスタＲ０で回路を共通化できることが望ましい。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、測温抵抗体Ｒ１は３線式であって抵抗値が数Ω
乃至数百Ωであるのに対し、サーミスタＲ１は２線式で
あって抵抗値は数百Ω乃至数十にΩであり、方式及び抵
抗値の範囲が異なることから回路の共通化は困難とされ
ていた。
乃至数百Ωであるのに対し、サーミスタＲ１は２線式で
あって抵抗値は数百Ω乃至数十にΩであり、方式及び抵
抗値の範囲が異なることから回路の共通化は困難とされ
ていた。
本発明はこのような点に着目してなされたものであり、
その目的は、比較的簡単な構成て測温抵抗体及びサーミ
スタで回路を共通化できる温度測定回路を提供すること
にある。
その目的は、比較的簡単な構成て測温抵抗体及びサーミ
スタで回路を共通化できる温度測定回路を提供すること
にある。
〈課題を解決するための手段〉
上記課題を解決する本発明は、
出力電流が切り換えられる定電流源と、該定電流源が接
続される第１の入力端子と、第２の入力端子と、 基準抵抗と、 該基準抵抗を介して接地される第３の入力端子と、 測温抵抗体とサーミスタに応じてゲインが切り換えられ
るプログラマブルゲインプリアンプと、前記第１乃至第
３の各入力端子及び基準抵抗と接地点との接続点を選択
的にプログラマブルゲインプリアンプに接続するマルチ
プレクサと、前記プログラマブルゲインプリアンプの出
力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、こ
れら各部を測温抵抗体とサーミスタに応じて切換制御す
る制御部と、 前記Ａ／Ｄ変換器から入力されるディジタル信号に対し
て演算処理を行う演算部を具備し、３線式の測温抵抗体
は端子Ａ、 ｂ、 Ｂか前記第１乃至第３の入力端
子に接続され、サーミスタは前記第１．第３の入力端子
に接続されることを特徴とするものである。
続される第１の入力端子と、第２の入力端子と、 基準抵抗と、 該基準抵抗を介して接地される第３の入力端子と、 測温抵抗体とサーミスタに応じてゲインが切り換えられ
るプログラマブルゲインプリアンプと、前記第１乃至第
３の各入力端子及び基準抵抗と接地点との接続点を選択
的にプログラマブルゲインプリアンプに接続するマルチ
プレクサと、前記プログラマブルゲインプリアンプの出
力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、こ
れら各部を測温抵抗体とサーミスタに応じて切換制御す
る制御部と、 前記Ａ／Ｄ変換器から入力されるディジタル信号に対し
て演算処理を行う演算部を具備し、３線式の測温抵抗体
は端子Ａ、 ｂ、 Ｂか前記第１乃至第３の入力端
子に接続され、サーミスタは前記第１．第３の入力端子
に接続されることを特徴とするものである。
く作用〉
本発明の温度測定回路において、測温抵抗体とサーミス
タのいずれか接続されるかによって、制御部は定電流源
の出力電流を切り換えるとともにプログラマブルゲイン
プリアンプのゲインも切り換える。
タのいずれか接続されるかによって、制御部は定電流源
の出力電流を切り換えるとともにプログラマブルゲイン
プリアンプのゲインも切り換える。
これにより、入力端子に測温抵抗体とサーミスタのいず
れが接続されても、Ａ／Ｄ変換器には同じ範囲の電圧か
入力されることになり回路の共通が可能となる。
れが接続されても、Ａ／Ｄ変換器には同じ範囲の電圧か
入力されることになり回路の共通が可能となる。
〈実施例〉
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図であって、
第４図及び第５図と同一の部分には同一の符号を付けて
それらの再説明は省略する。定電流源■３は出力電流が
切り換えられるように構成されている。該定電流源Ｉ３
は第１の入力端子ＴＡに接続されている。ＴＢは第２の
入力端子、ＴＣは第３の端子である。第３の入力端子Ｔ
Ｃは基準抵抗Ｒ１３を介して接地されている。これら第
１乃至第３の各入力端子ＴＡ、ＴＢ、ＴＣ及び基準抵抗
Ｒ６，と接地点との接続点はマルチプレクサＭＰＸを介
して選択的にプログラマブルゲインプリアンプＰＡに接
続される。該プログラマブルゲインプリアンプＰＡのゲ
インは入力端子ＴＡ ＴＢＴＣに測温抵抗体Ｒ，が接
続されるかサーミスタＲ１が接続されるかに応じて切り
換えられる。プログラマブルゲインプリアンプＰＡの出
力信号はＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに加えられてディジタル信
号に変換される。制御部ＣＴＬは、定電流源Ｉ、の出力
電流、マルチプレクサＭＰＸの各スイッチ及びプログラ
マブルゲインプリアンプＰＡのゲインを入力端子ＴＡ、
ＴＢ、ＴＣに接続される測温抵抗体Ｒ０及びサーミスタ
Ｒ丁に応じて切換制御する。
第４図及び第５図と同一の部分には同一の符号を付けて
それらの再説明は省略する。定電流源■３は出力電流が
切り換えられるように構成されている。該定電流源Ｉ３
は第１の入力端子ＴＡに接続されている。ＴＢは第２の
入力端子、ＴＣは第３の端子である。第３の入力端子Ｔ
Ｃは基準抵抗Ｒ１３を介して接地されている。これら第
１乃至第３の各入力端子ＴＡ、ＴＢ、ＴＣ及び基準抵抗
Ｒ６，と接地点との接続点はマルチプレクサＭＰＸを介
して選択的にプログラマブルゲインプリアンプＰＡに接
続される。該プログラマブルゲインプリアンプＰＡのゲ
インは入力端子ＴＡ ＴＢＴＣに測温抵抗体Ｒ，が接
続されるかサーミスタＲ１が接続されるかに応じて切り
換えられる。プログラマブルゲインプリアンプＰＡの出
力信号はＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに加えられてディジタル信
号に変換される。制御部ＣＴＬは、定電流源Ｉ、の出力
電流、マルチプレクサＭＰＸの各スイッチ及びプログラ
マブルゲインプリアンプＰＡのゲインを入力端子ＴＡ、
ＴＢ、ＴＣに接続される測温抵抗体Ｒ０及びサーミスタ
Ｒ丁に応じて切換制御する。
このように構成された回路の動作を、測温抵抗体Ｒ，の
測定及びサーミスタＲ１の測定についてそれぞれ説明す
る。
測定及びサーミスタＲ１の測定についてそれぞれ説明す
る。
■測温抵抗体Ｒ１の測定
測温抵抗体Ｒ８の端子Ａ、 Ｂ、 ｂは第２図に示
すように入力端子ＴＡ、ＴＢ、ＴＣにそれぞれ接続され
、定電流源Ｉ３から入力端子ＴＡ−測温抵抗体Ｒ１−入
力端子ＴＣ−基準抵抗Ｒ１，の経路を通って接地点に電
流が流れる。これにより、マルチプレクサＭＰＸの各ス
イッチの一端に接続されているラインには電圧ｖＡ、Ｖ
Ｂ、■ｏ、ｖ２が発生する。制御部ＣＴＬはパスライン
ＢＬを介して定電流源Ｉ３の出力電流のｉｔへの切換制
御マルチプレクサＭＰＸの各スイッチの切換制御及びプ
ログラマブルゲインアンプＰＡのゲインの切換制御を行
う。演算部ＣＰＵは、Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣからディジタ
ル信号に変換して出力される電圧■６．ＶＢ、■ｏ、■
２を取り込み、Ｒ＋−（ｖＡ −２Ｖ Ｂ”Ｖｃ ）ｉ
ｔ”（Ｖ Ａ −２Ｖ ａ ”Ｖｃ ）Ｒ，３／（Ｖ
ｃ −Ｖｚ ）で表される演算を行って測温抵抗体Ｒ９
の抵抗値を求め、リニアライズ演算も行う。
すように入力端子ＴＡ、ＴＢ、ＴＣにそれぞれ接続され
、定電流源Ｉ３から入力端子ＴＡ−測温抵抗体Ｒ１−入
力端子ＴＣ−基準抵抗Ｒ１，の経路を通って接地点に電
流が流れる。これにより、マルチプレクサＭＰＸの各ス
イッチの一端に接続されているラインには電圧ｖＡ、Ｖ
Ｂ、■ｏ、ｖ２が発生する。制御部ＣＴＬはパスライン
ＢＬを介して定電流源Ｉ３の出力電流のｉｔへの切換制
御マルチプレクサＭＰＸの各スイッチの切換制御及びプ
ログラマブルゲインアンプＰＡのゲインの切換制御を行
う。演算部ＣＰＵは、Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣからディジタ
ル信号に変換して出力される電圧■６．ＶＢ、■ｏ、■
２を取り込み、Ｒ＋−（ｖＡ −２Ｖ Ｂ”Ｖｃ ）ｉ
ｔ”（Ｖ Ａ −２Ｖ ａ ”Ｖｃ ）Ｒ，３／（Ｖ
ｃ −Ｖｚ ）で表される演算を行って測温抵抗体Ｒ９
の抵抗値を求め、リニアライズ演算も行う。
なお、Ｌは、
ｉ、 −（ｖ ｃ −Ｖｚ ）／Ｒａ３て表すことがで
き、例えば１ｍＡにする。
き、例えば１ｍＡにする。
■サーミスタＲＴの測定
サーミスタＲ１の端子Ａ、Ｂは第３図に示すように入力
端子ＴＡ、ＴＣにそれぞれ接続され、定電流源■３から
入力端子ＴＡ−サーミスタＲＴ−１−入力端子ＴＣ−基
準抵抗Ｒ１，の経路を通って接地点に電流が流れる。こ
れにより、マルチプレクサＭＰＸの各スイッチの一端に
接続されている端子ＴＢを除く各ラインには電圧ＶＡ、
Ｖ、、Ｖ２か発生する。制御部ＣＴＬはパスラインＢＬ
を介して定電流源Ｉ３の出力電流の１丁への切換制御。
端子ＴＡ、ＴＣにそれぞれ接続され、定電流源■３から
入力端子ＴＡ−サーミスタＲＴ−１−入力端子ＴＣ−基
準抵抗Ｒ１，の経路を通って接地点に電流が流れる。こ
れにより、マルチプレクサＭＰＸの各スイッチの一端に
接続されている端子ＴＢを除く各ラインには電圧ＶＡ、
Ｖ、、Ｖ２か発生する。制御部ＣＴＬはパスラインＢＬ
を介して定電流源Ｉ３の出力電流の１丁への切換制御。
マルチプレクサＭＰＸの各スイッチの切換制御及びプロ
グラマブルゲインアンプＰＡのゲインの切換制御を行う
。演算部ＣＰＵは、Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣからディジタル
信号に変換して出力される電圧Ｖ、、Ｖｏ、Ｖ２を取り
込み、 Ｒｔ ＝（Ｖ Ａ −ＶＣ）ＩＴ −（Ｖ Ａ −ＶＣ）ｇ Ｒ，３／Ｇ（ＶＣ−Ｖ
ｚ ）で表される演算を行ってサーミスタＲ１の抵抗
値を求め、リニアライズ演算も行う。
グラマブルゲインアンプＰＡのゲインの切換制御を行う
。演算部ＣＰＵは、Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣからディジタル
信号に変換して出力される電圧Ｖ、、Ｖｏ、Ｖ２を取り
込み、 Ｒｔ ＝（Ｖ Ａ −ＶＣ）ＩＴ −（Ｖ Ａ −ＶＣ）ｇ Ｒ，３／Ｇ（ＶＣ−Ｖ
ｚ ）で表される演算を行ってサーミスタＲ１の抵抗
値を求め、リニアライズ演算も行う。
ここで、サーミスタＲＴの抵抗値は上述のように測温抵
抗体Ｒ５に比べて大きい。従って、同じ入力端子範囲の
Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣを使用するためには定電流源Ｉ３の
出力電流をｉＴ＜ｉ、にする必要がある。ところが、ｉ
、＜ｉ、の条件では、（Ｖｃ −Ｖｚ ）とＡ／′Ｄ変
換器ＡＤＣのフルスケール電圧■Ｆの関係は、（ＶＣ−
’ｚ）＜ｖＦになってしまう。そこで、プログラマブル
ゲインアンプＰＡでゲインＧをかけることにより、 １ｌ−ｆＧ（Ｖ ｃ −Ｖｚ ）／Ｒ−３１／ｇとし、
具体的には例えば０．１ｍＡにする。ｇはソフトウェア
で考えるゲイン、Ｇはハードウェアでかけるゲインであ
り、理想的にはｇ−Ｇが望ましい。
抗体Ｒ５に比べて大きい。従って、同じ入力端子範囲の
Ａ／Ｄ変換器ＡＤＣを使用するためには定電流源Ｉ３の
出力電流をｉＴ＜ｉ、にする必要がある。ところが、ｉ
、＜ｉ、の条件では、（Ｖｃ −Ｖｚ ）とＡ／′Ｄ変
換器ＡＤＣのフルスケール電圧■Ｆの関係は、（ＶＣ−
’ｚ）＜ｖＦになってしまう。そこで、プログラマブル
ゲインアンプＰＡでゲインＧをかけることにより、 １ｌ−ｆＧ（Ｖ ｃ −Ｖｚ ）／Ｒ−３１／ｇとし、
具体的には例えば０．１ｍＡにする。ｇはソフトウェア
で考えるゲイン、Ｇはハードウェアでかけるゲインであ
り、理想的にはｇ−Ｇが望ましい。
このように構成することにより、比較的低コストの構成
で測温抵抗体Ｒ，とサーミスタＲＴの測定回路の共通化
ができる。
で測温抵抗体Ｒ，とサーミスタＲＴの測定回路の共通化
ができる。
なお、測温抵抗体Ｒ，の測定時に適当な電流ｉを設定し
、ｖＡ＋ ＶＢ ＋ ＶＣ＋ ｃｙ−ｖｃｌ Ｇ”Ｖｚ
を取り込み、 Ｒ１−（Ｖ Ａ −２Ｖ Ｂ＋■ｃ ）Ｒ−３・ｇ／Ｇ
（Ｖ ｃ −Ｖｚ ）で表される演算を行うことにより
各種の測温抵抗体Ｒ，の測定を行うことができる。
、ｖＡ＋ ＶＢ ＋ ＶＣ＋ ｃｙ−ｖｃｌ Ｇ”Ｖｚ
を取り込み、 Ｒ１−（Ｖ Ａ −２Ｖ Ｂ＋■ｃ ）Ｒ−３・ｇ／Ｇ
（Ｖ ｃ −Ｖｚ ）で表される演算を行うことにより
各種の測温抵抗体Ｒ，の測定を行うことができる。
また、上述実施例では演算部と制御部を個別に設ける例
を示しているが、１台のマイクロプロセッサを共用して
もよい。
を示しているが、１台のマイクロプロセッサを共用して
もよい。
〈発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明によれば、比較的簡
単な構成で測温抵抗体及びサーミスタで回路を共通化で
きる温度測定回路を提供することができる。
単な構成で測温抵抗体及びサーミスタで回路を共通化で
きる温度測定回路を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図及び第
３図は入力端子の接続関係の説明図、 第４図及び第５図は従来の装置のブロック図である。 ■３・・・定電流源 ＴＡ ＴＢ、ＴＣ・・・入力端子 ＭＰＸ・・・マルチプレクサ Ｒｓ３・・・基準抵抗 ＣＴＬ・・・制御部 ＰＡ・・・プログラマブルゲインアンプＡＤＣ・・・Ａ
／Ｄ変換器 ＣＰＵ・・・演算部
３図は入力端子の接続関係の説明図、 第４図及び第５図は従来の装置のブロック図である。 ■３・・・定電流源 ＴＡ ＴＢ、ＴＣ・・・入力端子 ＭＰＸ・・・マルチプレクサ Ｒｓ３・・・基準抵抗 ＣＴＬ・・・制御部 ＰＡ・・・プログラマブルゲインアンプＡＤＣ・・・Ａ
／Ｄ変換器 ＣＰＵ・・・演算部
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 出力電流が切り換えられる定電流源と、 該定電流源が接続される第１の入力端子と、第２の入力
端子と、 基準抵抗と、 該基準抵抗を介して接地される第３の入力端子と、 測温抵抗体とサーミスタに応じてゲインが切り換えられ
るプログラマブルゲインプリアンプと、前記第１乃至第
３の各入力端子及び基準抵抗と接地点との接続点を選択
的にプログラマブルゲインプリアンプに接続するマルチ
プレクサと、前記プログラマブルゲインプリアンプの出
力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、こ
れら各部を測温抵抗体とサーミスタに応じて切換制御す
る制御部と、 前記Ａ／Ｄ変換器から入力されるディジタル信号に対し
て演算処理を行う演算部を具備し、３線式の測温抵抗体
は端子Ａ、ｂ、Ｂが前記第１乃至第３の入力端子に接続
され、サーミスタは前記第１、第３の入力端子に接続さ
れることを特徴とする温度測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7650490A JPH03274431A (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 温度測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7650490A JPH03274431A (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 温度測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03274431A true JPH03274431A (ja) | 1991-12-05 |
Family
ID=13607070
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7650490A Pending JPH03274431A (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 温度測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03274431A (ja) |
-
1990
- 1990-03-26 JP JP7650490A patent/JPH03274431A/ja active Pending
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