JPH03271368A - 薄膜形成装置 - Google Patents

薄膜形成装置

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JPH03271368A
JPH03271368A JP7284590A JP7284590A JPH03271368A JP H03271368 A JPH03271368 A JP H03271368A JP 7284590 A JP7284590 A JP 7284590A JP 7284590 A JP7284590 A JP 7284590A JP H03271368 A JPH03271368 A JP H03271368A
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JP
Japan
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target
filament
counter electrode
potential
electrode
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JP7284590A
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English (en)
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Wasaburo Ota
太田 和三郎
Tatsuya Sato
達哉 佐藤
Mikio Kinoshita
幹夫 木下
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication of JPH03271368A publication Critical patent/JPH03271368A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は薄膜形成装置に関し、特に、CVD法の長所で
ある強い反応性と、PVD法の長所である高真空中での
成膜とを同時に実現でき、大面積の基板に対しても極め
て均一に薄膜を形成できる新規な構成の薄膜形成装置に
関する。
〔従来の技術〕
従来の薄膜形成装置としては、不活性ガス等の雰囲気中
で、陰極側のターゲットと陽極側の基板ホルダーとの間
に低圧気体放電(グロー放電)を起してイオンを陰極側
のターゲットに衝突させ。
このイオンのスパッタにより飛散したターゲット物質を
基板の表面に蒸着させて成膜する、所謂、二極スパッタ
法による薄膜形成装置が知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、上述した従来の二極スパッタ法による薄膜形
成装置においては、膜中へのガスの混入を防ぐために高
真空中でスパッタを行おうとする場合、イオン電流が極
めて小さい、あるいは放電が起こらない等の問題があり
、スパッタを行うことは困難であった。また、被薄膜形
成基板として大面積基板を使用した場合、基板−ターゲ
ット間の電界が、使用するターゲットの大きさや形状に
影響され、基板−ターゲット間の電界を均一にすること
は困難であった。このため、形成された薄膜の膜厚や膜
質を均一にすることが難しいという問題があった。
そこで、放電の安定化と、均一な薄膜形成とを行うため
、ターゲットと基板ホルダーとの間に一枚のメツシュ状
電極を配備した構成の薄膜形成装置が提案されている(
例えば、特公昭57−52955号公報、特公昭63−
43467号公報)。
しかしながら、このような構成の薄膜形成装置において
は、高真空中でのスパッタリングを行うことは困難で、
スパッタ速度が低いという問題があった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、高真
空中でスパッタリングを行うことができ、尚且つ大面積
の基板に対しても極めて均一に薄膜を形成できる新規な
構成の薄膜形成装置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、本発明による第1の構成の薄
膜形成装置は、活性ガス若しくは不活性ガス、あるいは
、これら両者の混合ガスが導入される真空槽と、スパッ
タ用のターゲットと、このターゲットを保持するターゲ
ット電極と、上記真空槽内において基板を上記ターゲッ
トに対向するように保持する対電極と、上記ターゲット
と対電極との間の対電極に平行な平面上に設置され対電
極の面積をカバーするように且つ均一に配列され蒸発物
質を通過させうるフィラメントと、上記フィラメントの
電位を対電極の電位に対し負とし上記ターゲットの電位
を上記対電極およびフィラメントの電位に対し負電位と
する手段とを有することを特徴とする。
また、第2の構成として、上記薄膜形成装置において、
ターゲットの電位を対電極及びフィラメントの電位に対
し負電位とする手段に替えて、ターゲット電極に高周波
電圧を印加する手段を設けた構成としてもよい。
また、第3の構成として、上記第1、第2の構成の薄膜
形成装置において、フィラメントに張力を与え、フィラ
メントの配列された面の平面性を維持する手段を設ける
〔作   用〕
本発明による薄膜形成装置は、上述のように、真空槽と
、対電極と、フィラメントと、スパッタ用の゛ターゲッ
ト(単数または複数)と、フィラメント及びターゲット
と対電極間の電位を所定の電位関係とするための電源手
段とを有し、上記真空槽内には、活性若しくは不活性ガ
ス、あるいは。
こ九ら両者の混合ガスが導入される。
ここで、上記対電極は真空槽内に配置され、被薄膜形成
用基板をターゲットに対向するように保持している。
フィラメントは、ターゲットと対電極との間の対電極に
平行な平面上に、対電極の面積をカバーするように、且
つ均一に配列され、ターゲットからの蒸発物質を通過さ
せうるものであって、対電極の電位に対して負電位にお
かれる。
このフィラメントにより発生する熱電子は、ターゲット
からの粒子の一部及び導入されたガスをイオン化するの
に供される。
ターゲットが導電性を有する母材(元素単体、又は化合
物)で構成される場合には、その電位は対電極、フィラ
メントより負電位におかれ、フィラメント一対電極間を
飛行する熱電子により(正)イオン化されたイオンはタ
ーゲット表面へと拡散し、高速でターゲット表面をスパ
ッタするにのスパッタによりターゲットから飛散した粒
子は、フィラメントを通過し、基板へと拡散し、基板表
面に到達して薄膜を形成する。
ターゲットが絶縁性の母材(元素単体又は化合物)の場
合や、ターゲット表面に絶縁性の皮膜が存在する場合に
は、前述の第2の構成を用い、ターゲットの電位を対電
極、フィラメントよりも負電位とする替わりにターゲッ
ト電極に高周波電圧を印加すれば、電子はイオンに対し
て移動度が大きいため、絶縁状態のターゲット表面は負
に帯電し、フィラメントに対し、ターゲット表面には負
のバイアスがかかることとなり、フィラメント−対電極
間を飛行する熱電子により(正)イオン化されたイオン
はターゲット表面へと拡散し、高速でターゲット表面を
スパッタする。
そして、前述したように、スパッタによりターゲットか
ら飛散した粒子は、フィラメントを通過し、基板へと拡
散し、基板表面に到達して薄膜を形成する。
また、本発明の第3の構成の薄膜形成装置によれば、通
電加熱によるフィラメントの熱膨張が大きい場合にもフ
ィラメントの配列された面の平面性を保つことができ、
均一な電界を維持することが可能となる。
〔実 施 例〕
以下1本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
第1図は本発明の一実施例を示す薄膜形成装置の概略的
構成図である。
第1図において、ベースプレート1とペルジャー2とは
バッキング21を介して一体化され真空槽を形成してい
る。ベースプレート1は支持体兼用の電極5,7.11
により貫通されているが、これら支持体兼用電極5,7
.11の貫通部はもちろん気密状態であり、さらにこれ
ら支持体兼用電極5゜7.11とベースプレート1とは
電気的に絶縁されている。また、ベースプレート1の中
央部に穿設された孔IAは、図示されていない真空排気
系へ連結されている。
図中符号5で示す支持体兼用電極にはターゲット電極6
が支持されており、このターゲット電極6にはターゲッ
ト16が保持されている。
また、図中符号7で示す一対の支持体兼用電極の間には
、タングステンなどによる熱電子発生用のフィラメント
8が支持されている。このフィラメント8は、ターゲッ
ト16と対電極12との間の対電極12に平行な平面上
に、対電極の面積をカバーするように、且つ均一に配列
されており、その形状は、ターゲット16からの蒸発物
質を通過させうるちのであって1例えば、第2図に示す
ごとく、複数本の線状のフィラメントを格子状に平行に
配列した形などがある。
図中符号11で示す支持体兼用電極には対電極12が支
持されており、この対電極12の下位には、基板13が
適宜の方法で保持されている。この状態をターゲット1
6の側から見れば、基板13の背後に対電極12が配備
される事となる。
さて、上述の各支持体兼用電極5,7.11は導電体で
あって電極としての役割を兼ねており、それらの真空槽
外へ突出した端部間は、図示のように種々の電源に接続
されている。
先ず、第1図に示す例の場合には、支持体兼用電極11
が直流電圧電源18の正端子に接続されている。また、
支持体兼用電極5には直流電源20の負極が接続されて
おり、この直流電源20の正極は直流電圧電源18の負
端子に接続されている。さらに、一対の支持体兼用電極
7の両端には直流電源19が接続されている。この際、
ターゲット16の電位は対電極12及びフィラメントの
電位よりも負電位の状態にある。
ここで、本発明の第2の構成のように、ターゲット電極
6に高周波電圧を印加する場合には、第3図に示すよう
に、電極5と電極7の間にコンデンサ24を介して高周
波電源23を接続する。
尚、第1図及び第3図において、図中の接地は必ずしも
必要ない。また、直流電源19の替わりに交流電源を使
用してもよい。
また、上述の電気的接続は、実際には、種々のスイッチ
類を含み、これらの操作により、成膜プロセスを実現す
るのであるが、これらスイッチ類は図中に示されていな
い。
次に、本発明の第3の構成においては、第4図あるいは
第5図に示すごとく、ばね27を用いてフィラメント8
に張力を与えることにより、通電加熱によるフィラメン
ト8の熱膨張が大きい場合にもフィラメントの配列され
た面の平面性を保つことができ、均一な電界を維持する
ことが可能となる。
尚、第4図及び第5図の例では、ばね27が加熱されて
弾性を失うことがないように、ばね27とフィラメント
部とはセラミックスなどの絶縁体28を介して接続され
ている。したがってフィラメント8への電流はリード部
25を通して流れ、ばね27には通電しないので、ばね
27は加熱されない。
また、ばね27の他の一端は支持体26に接続されてい
るが、必要に応じて支持体26に冷却設備を設け、ばね
27の加熱を抑えることも可能である。
以下、上述の薄膜形成装置による薄膜形成について説明
するが、フィラメント−ターゲット間の電源部分以外の
構成は、第1図についても第3図についても同様である
から、ここでは第1図の例についてのみ説明する。
第1図において、先ずペルジャー2を開き、基板13を
対電極12に、ターゲット16をターゲット電極6に夫
々保持させた後、ペルジャー2を閉じ、真空槽内を図示
されない真空排気系によって真空状態に排気する。
尚、ターゲット16を構成する母材、導入ガス種の組合
せは、どのような薄膜を形成するかに応じて選定される
。例えば、鉄−ニッケル(Fe−Ni)合金磁性体を形
成する場合には、ターゲット16の母材としてFe−N
i合金を、導入ガスとしてアルゴン(Ar)を選択でき
る。また、ターゲット16としてチタン(Ti) 、導
入ガスとして窒素(N2)を選べばTiN膜が得られる
真空槽内は、真空排気系によって、あらかじめ1O−5
〜10−’Torrの圧力にされ、これに、必要に応じ
て、活性ガス若しくは不活性ガス、あるいは、これらの
混合ガスが10″2〜10−’Torrの圧力で導入さ
れる。ここでは、説明の具体性のため、導入ガスは、例
えばアルゴン(Ar)などの不活性ガスであるとする。
さて、この雰囲気状態において、電源を作動させると、
ターゲット16に負の電位が印加され、これによりフィ
ラメント8−ターゲット16間に放電が起りプラズマ状
態が実現する。
尚、この放電には基板は関与してないので、基板の影響
を受けず、安定した放電を持続させることができる。
フィラメント8−ターゲット16間の電界によりターゲ
ット16の表面には高速でイオンが衝突し、ターゲット
16の母材をスパッタする。こうしてスパッタされター
ゲット16から飛散した粒子は、基板13へ向い飛行す
る。
スパッタされターゲット16から飛散した粒子は拡がり
をもって基板13の側へ向かって飛行するが、その一部
、及び、前記導入ガスはフィラメント8−ターゲット1
6間の放電によって、正イオンにイオン化される。
このようにして、正イオンにイオン化されたスパッタ粒
子は、フィラメント8から対電極12に向かう電界の作
用により基板13に向かって加速され、基板13に高エ
ネルギーを持って衝突し付着する。
これによって、非常に密着性の良い薄膜が形成される。
尚、本発明においては、真空槽内に活性ガスを単独で、
あるいは不活性ガスと共に導入して成膜を行うことによ
り、スパッタ粒子と活性ガスとを化合させ、この化合に
より化合物薄膜を形成することも可能である。また、基
板面上の電界が均一であるからターゲットからの粒子と
活性ガスの化合が基板面上で均一に起こり、したがって
、均一な薄膜を作製することができる。
また、ターゲットが絶縁性の場合は、前述したように、
第3図に示す第2の構成の薄膜形成装置を用いることに
よりスパッタを行うことが可能となる。
さて、以上のように、本発明による薄膜形成装置は、大
面積の基板への均一な成膜や、反応性成膜に適しており
、また、絶縁物のスパッタリングも可能である。
〔発明の効果〕
以上、図示の実施例に基づいて説明したように、本発明
の薄膜形成装置によれば、フィラメントの通電加熱によ
り熱電子を発生させ、放電空間内の電子密度を増大させ
ることにより、成膜速度の増大及び反応性成膜を高真空
中で実現できるので、ガス混入の少ない緻密な良質の膜
を得ることができる。
また、大面積基板を使用した場合でも、基板上の電界及
び熱電子の分布をターゲットの影響を受けずに均一にで
きるので、均一な薄膜を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す薄膜形成装置の概略的
構成図、第2図はフィラメント形状の一例を示す概略的
要部斜視図、第3図は本発明の別の実施例を示す薄膜形
成装置の概略的構成図、第4図及び第5図は夫々フィラ
メントの支持構造の一例を示す概略的要部斜視図である
。 1・・・・ベースプレート、2・・・・ペルジャー、5
゜7.11・・・・支持体兼用電極、6・・・・ターゲ
ット電極、8・・・・フィラメント、12・・・・対電
極、13・・・・基板、16・・・・ターゲット、18
.19.20・・・・直流電源、23・・・・高周波電
源、24・・・・コンデンサ、25・・・リード部、2
6・・・・支持体、27・・・・ばね、28・・・・絶
縁体。 v)2口 形4幻 Z5 毒り 久

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.活性ガス若しくは不活性ガス、あるいは、これら両
    者の混合ガスが導入される真空槽と、スパッタ用のター
    ゲットと、このターゲットを保持するターゲット電極と
    、上記真空槽内において基板を上記ターゲットに対向す
    るように保持する対電極と、上記ターゲットと対電極と
    の間の対電極に平行な平面上に設置され対電極の面積を
    カバーするように且つ均一に配列され蒸発物質を通過さ
    せうるフィラメントと、上記フィラメントの電位を対電
    極の電位に対し負とし上記ターゲットの電位を上記対電
    極およびフィラメントの電位に対し負電位とする手段と
    を有することを特徴とする薄膜形成装置。
  2. 2.請求項1記載の薄膜形成装置において、ターゲット
    の電位を対電極及びフィラメントの電位に対し負電位と
    する手段に替えて、ターゲット電極に高周波電圧を印加
    する手段を有することを特徴とする薄膜形成装置。
  3. 3.請求項1及び請求項2記載の薄膜形成装置において
    、フィラメントに張力を与え、フィラメントの配列され
    た面の平面性を維持する手段を有することを特徴とする
    薄膜形成装置。
JP7284590A 1990-03-22 1990-03-22 薄膜形成装置 Pending JPH03271368A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013001970A (ja) * 2011-06-17 2013-01-07 Sumitomo Heavy Ind Ltd 成膜装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013001970A (ja) * 2011-06-17 2013-01-07 Sumitomo Heavy Ind Ltd 成膜装置

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