JPH03270091A - 内層用回路板の銅回路の処理方法 - Google Patents

内層用回路板の銅回路の処理方法

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JPH03270091A
JPH03270091A JP6936490A JP6936490A JPH03270091A JP H03270091 A JPH03270091 A JP H03270091A JP 6936490 A JP6936490 A JP 6936490A JP 6936490 A JP6936490 A JP 6936490A JP H03270091 A JPH03270091 A JP H03270091A
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Tomio Tanno
淡野 富男
Tsutomu Ichiki
一木 勉
Hideo Funo
布野 秀雄
Toshiyuki Akamatsu
資幸 赤松
Tomoaki Yamane
知明 山根
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、多層プリント配線板の製造に使用される内層
用回路板の銅回路の処理方法に関するものである。
【従来の技術】
多層プリント配線板は、片面乃至両面に銅箔等で回路を
形成した内層用回路板にプリプレグを介して外層用回路
板もしくは銅箔を重ね、これを加熱加圧成形して内層用
回路板と外層用回路板もしくは銅箔とを積層することに
よって、製造されるのが一般的である。 この多層プリント配線板にあっては、内層用回路板に形
成した銅の回路と外層用回路板もしくは銅箔を積Mさせ
るプリプレグの樹脂との接着性を確保することが必要で
ある。特に内層用回路板の回路を電解#4情によって形
成する場合、銅箔の片面は粗面に形成されるが他の片面
は平滑面に形成されており、内層用回路板の製造に際し
ては粗面で銅箔を接着させているために、内層用回路板
の銅回路の表面は@箔の平滑面となり、銅回路とプリプ
レグの樹脂との接着性は非常に低くなるものであって、
接着性を高める工夫が必要となるのである。 そこで、従来から種々の方法で銅の回路と樹脂との接着
性を高めることが検討されており、例えば銅回路の表面
に銅酸化物を形成して接着性を高めることが一般になさ
れている。#4を酸化処理して得られる銅酸化物には表
面に微細な突起が形成されることになり、この突起によ
って銅の回路の表面を粗面化して接着性を高めることが
できるのである。そしてこの銅回路の表面に銅酸化物を
形成する方法としては、過硫酸カリウムを含むアルカリ
水溶液、あるいは亜塩素酸ナトリウムを含むアルカリ水
溶液などを用いて処理することによっておこなうことが
一般的である。 このように銅回路の表面に酸化物層を形成させることに
よって、銅回路と樹脂との接着性を十分に確保すること
ができる。しかしながら、特開昭56−153797号
公報や特開昭61−176192号公報においても報告
されているように、銅酸化物、特に酸化第二銅は酸に溶
解し易いために、多層プリント配線板にスルーホールを
ドリル加工した後にスルーホールメツキをする際に化学
メツキ液や電気メツキ液に浸漬すると、スルーホールの
内周に露出する銅回路の断面部分の銅酸化物層が77キ
液の酸(塩酸等)に溶解し、スルーホールの内周から銅
回路と樹脂との界面を酸が浸入する溶解侵食が発生する
いわゆるハロー現象が起こり易くなり、多層プリント配
線板の信頼性が低下するおそれがあるという問題が発生
するものて゛あった。
【発明が解決しようとする課題1 このために上記特開昭56−153797号公報では、
内層用回路板の銅回路の表面に銅酸化物を形成した後に
、アルカリ性還元剤溶液に浸漬処理することによって、
表面の微細な凹凸を残しtこまま銅酸化物を酸に溶解し
にくい酸化第一銅あるいは金属銅に還元し、ハロー現象
を卸制する試みがなされている。しかし上記vf開昭6
1−176192号公報に示唆されているように、アル
カリ性還元剤溶液では銅酸化物の還元が不十分であって
ハロー現象の抑制が十分ではない。このために特開昭6
1−176192号公報ではアミンボラン類の水溶液を
用いて、銅回路の表面に形成した銅酸化物を還元処理す
る試みがなされている。このように7ミンポラン類の水
fB液を用いると銅酸化物を強力に還元することができ
、ハロー現象を有効に抑制することができる。しかしア
ミンボラン類による還元反応はある部分を核にして連鎖
反応的になされるらのであり、回路のパターンの形状に
よって反応の時間が大幅に異なってくるなど、反応時間
のバラツキが大きくて量産のうえで問題になると共に、
アミンボラン類はlk、当たり数万円と非常に高価でも
あり、実用性が低いものである。 本発明は上記の点に鑑みて為されたものであり、銅回路
と樹脂との接着性を高める効果を維持しつつハロー現象
の発生を防止することができる内層用回路板の銅回路の
処理方法を提供することを目的とするものである。 【課題を解決するための手段1 本発明に係る内層用回路板の銅回路の処理方法は、内層
用回路板に設けた銅の回路を酸化処理して回路の表面に
@酸化物を形成し、次いで標準電極電位が+0.3V以
下の金属を添加して水素が発生している処理液に内層用
回路板を浸漬し、銅酸化物の表面にこの発生期の水素を
作用させて銅酸化物を還元させることを特徴とするもの
である。 以下本発明の詳細な説明する。 内層用回路板としては、銅箔を張った銅張ガラスエポキ
シ樹脂積層板、銅張〃ラスポリイミド樹脂積層板などの
銅箔をエツチング処理等することによって、片面もしく
は両面に銅の回路を設けて形成したものを使用すること
ができるが、その他、積層板に化学メツキや電気メツキ
で銅の回路を片面もしくは両面に形成したものなどを使
用することもできる。そしてまずこの内層用回路板の表
面を粗面化処理するのが好ましい。粗面化処理は、バフ
Wt庁、ン7トエッチング等による化学薬品処理、電解
処理、液体ホーニング等によっておこなうことができる
。銅箔として両面が粗面に予め形成されたものを用いる
場合には、このような粗面化処理は省略することができ
る。 次に、この内層用回路板の銅回路の表面を酸化処理する
。酸化処理は、過硫酸カリウムを含むアルカリ水溶液や
、亜塩素酸ナトリウムを含むアルカリ水溶液など、酸化
剤を含むアルカリ水溶液を用いて処理することによって
おこなうことができる。このように酸化処理することに
よって銅回路の表面に銅酸化物を形成することができる
ものであり、銅酸化物は主として酸化第二銅(Cub)
によって形成される。そしてこの酸化処理によって銅回
路の表面には微細な突起が生成され、銅回路の表面に凹
凸を形成して粗面化することができるのである。 このようにして内層用回路板の銅回路の表面に銅酸化物
を形成させた後に、本発明では標準電極電位が+0.3
V以下の金属、すなわち銅よりイオン化傾向の大きい金
属を添加して水素が発生している処F+!液に内層用回
路板を浸漬し、銅酸化物の表面にこの水素を作用させて
銅酸化物をその表面の凹凸を残したまま酸化第一銅ある
いは金属銅に還元させるものである。 そして本発明において処理液としては、水に標??!電
極電位が+0.3V以下の金属の粉末を分散させて水素
を発生させるようにした処理液を用いることができる。 標準電極電位が+0.3V以下の金属としては、例えば
Sn(−0,14V)、Fe(−〇、?4V)、Zn(
−0,76V)などを例示することができ、その他に、
Na、Mal、Niなども使用することができる。これ
らは一種単独であるいは複数種を混合して使用すること
ができる。 この金属は還元反応を促進させると共に内層用回路板の
銅回路の銅酸化物との接触頻度を上げるために粉末の状
態で用いるものであり、金属粉末としては平均粒子径が
100μm以下のものが、金属粉末の比表面積が大きく
なって水素の発生効率に優れると共に処理液中で沈降が
生じにくいために好ましい。また還元反応を十分に得る
ためにはこの金属粉末を水11当たり1g以上、好まし
くは10.以上の濃度で分散させて処理液を調製するの
が好適である。このように水に標準電極電位が十0.3
V以下の金属粉末を分散させると、金属粉末と水とが反
応する。例えば 3Fe+8820−’Fe、O,+41(zO+88”
のように反応し、水素が発生する。この反応は高温にる
程加速されるために、処理液温度は高い程好ましい。そ
してこの処理液に内層用回路板を浸漬すると、内層用回
路板の銅回路の表面に形成した銅酸化物にこの水素が次
ぎのように作用し、2 CuO+ 2 H” −Cu2
0 + H20CuO+28” =Cu+820 銅酸化物中の酸化第二銅(Cub)を酸化第一銅(Cu
20)や金属銅(Cu)に還元させることができる。 特に、金属が水と反応して生成される水素の発生直後の
状態は極めて反応性に富み、この発生期の水素は還元作
用が非常に高いものであり、処理液中で発生期の水素が
#4Wl化物に直接接触して銅酸化物を強力に還元させ
ることができる。このように銅回路の表面に形成した銅
酸化物を還元させる二とによって、既述の特開昭56−
153797号公報や特開昭61−176192号公報
においても報告されているように、銅酸化物を酸に溶解
しにくいものにすることができるものであり、酸に溶解
することによって発生するハロー現象を防ぐことが可能
になるのである。この処理液においては、水素の発生を
促進するために攪拌をおこなったり、加熱したりするこ
とが好ましく、特に金属として鉄や亜鉛を用いる場合に
は煮沸に近い状態に加熱するのが好ましい。 また本発明においては、上記のような水に標準′Ii極
電位が+0.3V以下の金属の粉末を分散させて水素を
発生させるようにした処理液を用いる他に、酸又はアル
カリ溶液に標準電極電位が+0゜3V以下の金属を添加
して水素が発生している処理液を用いることができる。 この場合に用いる標準電極電位が+0.3V以下の金属
としても、前記したものと同じものが使用できるが、そ
の他にZn、Sn、Fe等の7マル〃ムを使用すること
もできる。この金属は還元反応を促進させると共に内層
用回路板の銅回路の銅酸化物との接触頻度を上げるため
に粉末の状態で用いるのが好ましい。 既述したように金属粉末としては平均粒子径が100μ
m以下のものが好ましく、還元反応の仕上がりを十分に
得るためにはこの金属粉末の濃度をできるだけ高めて処
理液を調製するのが好ましい。 このように酸又はアルカリ溶液に標準電極電位が十0.
3V以下の金属を添加すると、酸又はアルカリ土類金属
が溶解して水素が発生する。金属が総て酸又はアルカリ
溶液に溶解してしまうと水素の発生が停止してしまうた
めlこ、金属粉末を継続して酸又はアルカリ溶液に添加
混合して、水素が継続して発生されるようにするのがよ
い。そしてこの処理液に内層用回路板を浸漬すると、内
層用回路板の銅回路の表面に形成した銅酸化物にこの水
素が作用し、銅酸化物中の酸化第二銅(Cub)を酸化
第一銅(Cu20)や金属銅(Cu)に還元させること
ができる。特に、金属が酸やアルカリと反応して生成さ
れる水素の発生直後の発生期の水素は還元作用が非常に
高く、処理液中で発生期の水素が銅酸化物に直接接触し
て銅酸化物を強力に還元させることができる。ここで、
銅酸化物の還元を効率よくおこなわせるために、処理液
の酸やアルカリとして酸性還元剤を用いるのが好ましい
。 この酸性還元剤としては酸化還元電位が+0.3V以下
のもの、例えばギ酸(−0,2V)、スルファミンFI
R<−0,2V)、次亜リン酸(−0,5V)を用いる
のが好ましい。ここで、上記のように酸やアルカリを作
用させる際に銅回路の表面に形成した銅酸化物が酸やア
ルカリに溶解されると、銅の酸化で形成された凹凸粗面
が消失されてしまうおそれがあるが、標準電極電位が+
0.3以下の金属は銅酸化物に優先して酸やアルカリに
溶解するものであり、また前記のように酸性還元剤を用
いると銅酸化物が還元されて酸に溶解しにくい酸化第一
銅や金属銅になる速度のほうが溶解する速度よりも大幅
に速くなるために、銅酸化物が酸やアルカリに溶解する
ことを防ぎながら還元させることができ、銅の酸化で形
成される凹凸粗面を保持しつつ銅酸化物を酸に溶解しに
くい状態に還元することができるものである。 また、上記のように金属粉末を処理液に添加して分散さ
せたり溶解させたりするにあたって、金属粉末を処理液
に均一に混合させることは困難であり、特に水に灯して
金属粉末を均一に分散させることは困難であるので、金
属粉末の凝集を抑制して分散を良くする物質を処理液中
に含有させておくのがよい。この凝集抑制物質としては
、平均粒子径が1μ醜以下の嵩密度の高い無慨貿微粉末
、例えば酸化珪素(S io 2)やアルミナ(A1.
Ol)などの微粉末を用いることができる。 上記のようにして銅回路の銅酸化物層を還元する処理を
おこなったのちに、内層用回路板の表面に付着する金属
粉末を除去する。金属粉末の除去は、内層用回路板を)
4C1やH2SO,などの酸水溶液や、NaOH+KO
)lなとのアルカリ水溶液で洗浄して溶解することによ
っておこなうことができる。またエアーガンを用いてv
I!Xを内層用回路板に吹き付けたり、ウォーターノエ
7トを用いて水を内層用回路板に吹き付けたりして、洗
い流すことによっておこなうこともできる。もちろんこ
れらの方法を併用してもよい。そして水洗や湯洗等して
乾燥し、あとはこの内層用回路板を用いて、通常の工程
で多層プリント配線板を製造することができる。すなわ
ち、この内層用回路板にプリプレグを介して外層用回路
板(あるいは他の内層用回路板)やもしくは銅箔を重わ
、これを加熱加圧して積層成形することによってプリプ
レグをポンディング層として多層に積層し、さらにスル
ーホールをドリル加工して設けると共に化学メツキ等に
よってスルーホールメツキを施し、さらにエツチング等
の処理をして外層回路を形成することによって、多層プ
リント配線板を製造することができる。 【作用】 本発明にあっては、内層用回路板の銅回路の表面を酸化
処理して銅酸化物を形成することによって、銅回路の表
面に微細な突起を形成させることができるものであり、
表面を粗面化して銅回路と樹脂との接着性を高めること
ができる。しかも標準電極電位が+0.3V以下の金属
を添加して水素を発生させた処理液に内層用回路板を浸
漬し、銅酸化物の表面にこの水素を作用させて銅酸化物
を還元させることによって、#1fa化物を酸に溶解し
にくい状態にすることができ、銅酸化物に形成した銅酸
化物がメツキ処理の際などに酸に溶解してハロー現象が
生じることを防止することができる。また、処理液に発
生する水素は発生直後は発生期の水素として高い還元作
用を有するものであり、銅酸化物を強力に還元させるこ
とができるも
【実施例】
次に本発明を実施例によって説明する。 X遣事31 ■ 両面に70μ厚の銅箔を張って形成した厚み1.0
L611のがラス布基材エポキシ樹脂積層板(松下電工
株式会社製品番R176F)を用いて内層用回路板を作
威し、内層用回路板の銅回路の表面をバフ研摩して粗面
化処理した。 ■ 次に、 K2S20.      ・・・13Ft/1NaOH
−55g/l の組成の過硫酸カリウム浴を60℃に調整し、この酸化
処理浴に内層用回路板を3分lll浸漬して銅回路の表
面を酸化処理した後、水洗して乾燥した。 ■ 次に、次亜リン酸(純正化学株式会社製試薬1級)
を11の水に対して3Fi溶解した酸性還元剤に、平均
粒径が約6μmの金属Zn粉末(三井金属塗料化学株式
会社製LS−5)を11に対して5g添加して処理液を
調製し、この処理液に内層用回路板を浸漬して攪拌翼を
600 rpmで回転させて攪拌しながら室温で5分I
Il@持した。この際に銅回路の表面の銅酸化物層は還
元作用を受けた。 ■ このように還元処理した後に、内層用回路板をウォ
ータージェットで洗って内層用回路板に付着したZn粉
末を除去し、湯洗して乾燥した。 ■ このつを−タージェット洗浄後、約2.5g/鴫2
程度の金属粉末が付着して残っているために、10%H
t S O−水溶液に内層用回路板を3分間浸漬してZ
nIPj末を完全に除去した後、直ちに内層用回路板を
流水で水洗して乾燥した。 そしてこのように処理した内層用回路板1の両面に、第
1図に示すように〃ラス布基材にエポキシ樹脂を含浸乾
燥してll]91した厚み0.1−一のプリプレグ(松
下電工株式会社製R1661)2を三枚ずつ重りると共
に、さらにその外側に厚み18μの銅?!3を重りてビ
ルドアップし、G、7X10コバスカルに減圧した雰囲
気下で、170℃、40kgf/am’、120分間の
条件で二次積層成形することによって多層板を得た。 41虹り 実施例1において、■の工程で次亜リン酸の代わりにス
ルファミン酸10gを溶解すると共に金属Zn粉末の添
加量を10.に変更するようにした他は、実施例1と同
様にして多層板を得た。 監施北1 実施例1の■及び■の工程と同様にして内層回路板を粗
面化処理すると共に酸化処理した。 ■ 次に、ギ酸を11の水に対して20g溶解した酸性
浴に、平均粒径が釣6μ■の金属Zn粉末を111:対
して80g添加して処理液を8m191L、この処8!
液に内層用回路板を浸漬して攪拌翼を600rp−で回
転させて攪拌しながら室温で5分間維持した。この際に
銅回路の表面の銅酸化物層は還元作用を受けた。 ■ このように還元処理した後に、内層用回路板をウォ
ータージェットて゛洗って内層用回路板に付着したZn
粉末を除去した。 ■ このウォータージェットだけでは除去は不十分で、
釣1g71程度のZn粉末が付着して残っているために
、10%H2SO,水溶液に内層用回路板を3分間浸漬
してZn粉末を完全に除去した後、直ちに内層用回路板
を流水で水洗して乾燥した。 えI埋土 実施例1の■及ヅ■の工程と同様にして内層回路板を粗
面化処理すると共に酸化処理した。 ■ 次に、次亜リン酸(純正化学株式会社製試薬1級)
を11の水に対して20.溶解した酸性浴に、平均粒径
が釣10μmの金!j4Sn粉末を111.m対して2
0.添加して処J!!液を調製し、この処理液に内層用
回路板を浸漬して攪拌翼を600rp−で回転させて攪
拌しながら室温で5分1111維持した。この際に銅回
路の表面の銅酸化物層は還元作用を受けた。 ■ この上うに還元処理した後に、内層用回路板にエア
ーを吹き付けて内層用回路板に付着したZn粉末を除去
し、湯洗して乾燥した。 ■ このエアー吹き付けだけでは除去は不十分で、約0
.5g/■2程度のSn粉末が付着して残っているため
に、10%NaOH水溶液に内層用回路板を3分間浸漬
してSn粉末を完全に除去した後、直ちに内層用回路板
を流水で水洗して乾燥した。 あとは実施例1と同様にして多層板を得た。 友m例−這 実施例1の■及び■の工程と同様にして内層回路板を粗
面化処理すると共に酸化処理した。 ■ 次に、平均粒径が約6μyの會71. Z n粉末
と、平均粒径が杓10μlfiの金属Sn粉末と、平均
粒径が約15μmの金属Fe粉末(ともに純正化学株式
会社製試薬1級)を11の水に対して各100(Isず
つ添加分散させて処理液を調製し、攪拌翼を600 r
pmで回転させて攪拌しつつ40℃に加熱して、この処
理液に内層用回路板を5分間浸漬した。 この際に銅回路の表面の銅酸化物層は還元作用を受けた
。 ■ この上う1こ還元処理した後に、内層用回路板をウ
ォータージェットで洗って内層用回路板に付着したZn
粉末、Sn粉末、Fe粉末を除去した。 ■ このウォータージェットだけでは除去は不十分で、
約1.5g/+”程度の金属粉末が付着して残っている
ために、10%H2SO、水溶液に内層用回路板を3分
間浸漬してZn粉末、Sn粉末、Fe粉末を完全に除去
した後、直ちに内層用回路板を流水で水洗して乾燥した
。 あとは実施例1と同様にして多層板を得た。 大遍1」一 実施例5において、■の工程での金属Zn粉末と金属S
n粉末と金属Fe粉末の添加量をそれぞれ20gに変更
すると共に処理液の加熱温度を90℃に変更する他は、
実施例5と同様にして多層板を得た。尚、このとき、実
施例5における工程■での金属粉末の残存付着量は約2
.5Fi/m2であった。 X遣1ごし ■ 実施例1と同様にして内層用回路板を作威し、Cu
C72−30g/ 1 HC1−−−350ml の組成の塩化銅のン7トエッチング液を30 ’Cにl
ll整し、このン7トエッチング液で内層用回路板の表
面を1.5分間処理することによって、銅回路の表面を
粗面化処理した。 ■ 次に、 NaClO2・=60g/1 NaOH−1011/I N aiP O4−1211/ 1 の組成の亜塩素酸ソーダ裕を95℃にW4整し、この酸
化処J!l!俗に内層用回路板を2分間浸漬して銅回路
の表面を酸化処理した後、水洗して乾燥した。 ■ 次に、スルファミン酸(純正化学株式会社製試薬1
級)を11の水に対して20.溶解した酸性還元剤に、
平均粒径が釣7μmの金属Zn粉末(三井金属塗料化学
株式会社!!LS−51と平均粒径が釣10μ鶴の金属
Sn粉末(純正化学株式会社製試薬1級)を11に対し
て各200gずつ添加して処理液を調製し、この処理液
に内層用回路板を浸漬して攪拌翼を600 rpmで回
転させて攪拌しながら5分間維持した。この際に銅回路
の表面の銅酸化物層は還元作用を受けた。 このように還元処理をおこなった後、実施例1の■及び
■と同様にして内層用回路板からZn粉末とSn粉末を
除去し、あとはこの内層用回路板を用いて実施例1と同
様にして二次成形して多層板を得た。 大農藁」一 実施例7の■の工程において、金属Zn粉末と金属Sn
粉末の合計量に対して2重量%の5in2微粉末(日本
アエロジル工業株式会社製$200)を水に添加すると
共にバスケットミル(浅田鉄工株式会社製5S−3)を
用いてl 000rpmで30分間攪押した後、これに
スルファミン酸を溶解するようにした他Cよ、実施例7
と同様にして多層板を得た。 絵艷卸り 実施例1において■乃至■の還元処理およびその後処理
をおこなわないようにした他は、実施例1と同様にして
多層板を得た。 思上1」一 実施例7において■の還元処理およびその後処理をおこ
なわないようにした他は、実施例1と同様にして多層板
を得た。 社竪鮭よ 実施例7の■と■の粗面化処理と酸化処理をした内層用
回路板を、アルカリ性還元剤水溶液(水素化ホ’7素ナ
トリウム2g/l、NaOH125g/l、液温55°
C)に5分間浸漬し、銅回路の表面の銅酸化物を還元処
理した。あとはこの内層用回路板を用いて実施例1と同
様にして二次成形して多層板を得た。 處−IL剋−上 実施例1、実施例2、実施例3の各■の工程で、処理液
として次亜リン酸やスルファミン酸やギ酸のみが添加さ
れ金属粉末を添加しない6のを用いて還元処理をおこな
ったところ、銅回路の表面の銅酸化物は還元よりも溶解
が先行してしまい、実用できないものであった。 上記各実施例、各従来例及び及び各比較例(比較例4は
除く)で得た多層板に、0.4a+−のドリルビットを
用いて8万rpmの回転速度及V 1、6 m/訓0の
送り速度の条件でスルーホール加工をおこなった。これ
を17.5%の塩酸水溶液に60分間浸漬して、ハロー
の発生状態を100倍の顕像襞で観察した。ハローの大
きさ(スルーホールの内周からの酸溶液の浸入幅寸法で
測定)を次段に示す。また多層板をダイヤモンドカッタ
ーで10II11幅に切断してサンプルを作成し、銅回
路の処理面とプリプレグとの開の接着力を株式会社島津
製作所製オートグラフAGS−500B形を用いて測定
した。同様のサンプルをD−4/100(100℃の蒸
留水に48¥1間浸漬)の条件で煮沸吸水処理し、この
ものについても銅回路とプリプレグとの開の接着力を測
定した。これらの結果を次段に示す。そして処理前の接
着力に対する煮沸吸水処理後の接着力の比率を保持率と
して算出し、結前表にみられるように、銅回路を酸化処
理したのちに、ZnやSnやあるいはFeを添加して水
素が発生している処理液に内層用回路板を浸漬すること
によって、銅回路の銅酸化物を還元するようにした各実
施例のものは、このような処理をおこなわない比較例1
,2のものに比べて、ハローの発生を大幅に低減できる
ことが、また還元処理をアルカリ性還元剤溶液でおこな
うようにした比較例3のものに比べてもハローの発生を
低減できることが、それぞれ確認される。また銅回路と
プリプレグとの接着力についても、各実施例のものは接
着力の保持率が高く、煮沸吸水処理をしても接着力の低
下が小さいことが確認される。
【発明の効果】
上述のように本発明にあっては、内層用回路板の銅回路
の表面を酸化処理して銅酸化物を形成するようにしたの
で、銅回路の表面に微細な突起を形成させて粗面化する
ことができ、銅回路と樹脂との接着性を高めることがで
きるものであり、しかも標準電極電位が+0.3V以下
の金属を添加して水素が発生している処理液に内層用回
路板を浸漬し、銅酸化物の表面にこの水素を作用させて
銅酸化物を還元させるようにしたので、銅酸化物を酸に
溶解しにくい状態にすることが′Chき、銅酸化物に形
成した#4酸化物がメツキ処理の際などに酸に溶解して
ハロー現象が生じることを防止することができるもので
ある。また、処Fl!液に発生する水素は発生直後は発
生期の水素として高い還元作用を有するものであり、銅
酸化物を強力に還元させることができるものである。 さらに本発明では、金属として粉末を使用する場合に、
処Fl!液に金属粉末を添加するにあたって、処理液に
金属粉末の凝集を抑制する物質を含有させるようにした
ので、金属粉末を処理液中に均一に分散させることがで
き、銅回路の表面の銅酸化物に水素を均一に作用させて
還元処理を均一におこなうことができるものである。加
えて本発明では、処理液の酸又はアルカリ溶液として酸
性還元剤を用いるようにしたので、酸性還元剤によって
銅酸化物の還元を効率良くおこなうことができるもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は多層板を底形する際の積層構成を示す概略分解
図であり、1は内層用回路板、2はプリプレグ、3は銅
箔である。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内層用回路板に設けた銅の回路を酸化処理して回
    路の表面に銅酸化物を形成し、次いで標準電極電位が+
    0.3V以下の金属を添加して水素が発生している処理
    液を内層用回路板に接触させ、銅酸化物の表面にこの水
    素を作用させて銅酸化物を還元させることを特徴とする
    内層用回路板の銅回路の処理方法。
  2. (2)水素は発生期の水素であることを特徴とする請求
    項1に記載の内層用回路板の銅回路の処理方法。
  3. (3)水に標準電極電位が+0.3V以下の金属の粉末
    を分散させて水素が発生している処理液を内層用回路板
    に接触させるようにしたことを特徴とする請求項1又は
    2に記載の内層用回路板の銅回路の処理方法。
  4. (4)酸又はアルカリ溶液に標準電極電位が+0.3V
    以下の金属を溶解させて水素が発生している処理液を内
    層用回路板に接触させるようにしたことを特徴とする請
    求項1又は2に記載の内層用回路板の銅回路の処理方法
  5. (5)標準電極電位が+0.3V以下の金属として、S
    n、Fe、Znから選ばれるものを用いることを特徴と
    する請求項1乃至4のいずれかに記載の内層用回路板の
    銅回路の処理方法。
  6. (6)標準電極電位が+0.3V以下の金属として、平
    均粒子径が100μm以下の粉末を用いることを特徴と
    する請求項1乃至5のいずれかに記載の内層用回路板の
    銅回路の処理方法。
  7. (7)処理液に金属の粉末を添加するにあたって、処理
    液に金属粉末の凝集を抑制する物質を含有させることを
    特徴とする請求項1乃至6に記載の内層用回路板の銅回
    路の処理方法。
  8. (8)金属粉末の凝集を抑制する物質が無機質の微粉末
    であることを特徴とする請求項7に記載の内層用回路板
    の銅回路の処理方法。
  9. (9)内層用回路板に処理液を接触させて内層用回路板
    に付着した金属粉末を、酸又はアルカリ溶液で洗浄して
    除去することを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに
    記載の内層用回路板の銅回路の処理方法。
  10. (10)内層用回路板に処理液を接触させて内層用回路
    板に付着した金属粉末を、気体又は液体を吹き付けて除
    去することを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記
    載の内層用回路板の銅回路の処理方法。
  11. (11)処理液の酸又はアルカリ溶液として酸性還元剤
    を用いることを特徴とする請求項4に記載の内層用回路
    板の銅回路の処理方法。
  12. (12)酸性還元剤が酸化還元電位が+0.3V以下の
    ものであることを特徴とする請求項11に記載の内層用
    回路板の銅回路の処理方法。
  13. (13)酸化還元電位が+0.3V以下の酸性還元剤と
    して、ギ酸、スルファミン酸、次亜リン酸から選ばれる
    ものを用いることを特徴とする請求項12に記載の内層
    用回路板の銅回路の処理方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011017067A (ja) * 2009-07-10 2011-01-27 Asahi Glass Co Ltd 表面改質銅粒子の製造方法、導電体形成用組成物、導電体膜の製造方法および物品

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