JPH03269241A - 非金属介在物検査方法及び非金属介在物検査装置 - Google Patents
非金属介在物検査方法及び非金属介在物検査装置Info
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- JPH03269241A JPH03269241A JP2069227A JP6922790A JPH03269241A JP H03269241 A JPH03269241 A JP H03269241A JP 2069227 A JP2069227 A JP 2069227A JP 6922790 A JP6922790 A JP 6922790A JP H03269241 A JPH03269241 A JP H03269241A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
置に関する。
諸特性を左右するため、これらの定量解析を行うことは
金属材料の品質管理を行ううえで大変重要である。
法として、A S T M (American 5o
cietyror Testing Material
s)法と呼ばれる方法が知られている。これは、金属材
料から採取された試料の表面に表れる非金属介在物を顕
微鏡で観察し、その形状や分布状態により金属材料の品
質が決定されるものである。ASTM法では、非金属介
在物は形状や分布状態により第5図に示すようなA系、
B系、C系、D系、TiB系、TiD系の6種類に分類
される。さらに、各々はTh1n(薄型)とHeavy
(原型)とに分類される。そして、分類された非金属
介在物の各々に対して、金属材料の品質が決定される。
や誤差の面で問題があるため、最近では金属材料の検査
を画像処理技術を用いて自動的に行う検査装置が開発さ
れている。
れたうえで顕微鏡3のステージに固定される。ステージ
に固定された試料1は、照明光源4により顕微鏡3の光
軸と同軸で照明される。顕微鏡3により拡大された試料
1の画像は、顕微鏡3に取付けられたITVカメラ(I
ndustrial Te1evisjon ;工業
用テレビカメラ)5によって映像信号に変換される。I
TVカメラ5から出力された映像信号は、画像処理装置
6に入力され所定の画像処理が行われる。
メモリ8、制御CPU9から構成されており、入力され
た映像信号は、まず、A/Dコンバータ7によって1画
面を構成する各画素ごとの濃度が例えば8ビツトのディ
ジタルの濃度情報に変換され、フレームメモリ8に順次
格納される。
御CPU9により所定の閾値で二値化される。なぜなら
ば、フレームメモリ8に格納された濃度情報には8ビツ
ト幅の濃淡があり、そのままでは非金属介在物の形状を
把握しにくい。そこで、画像の背景と非金属介在物の濃
度が概ね異なる点に着目し、濃度情報を適当な濃度を閾
値として二値化することで、非金属介在物の形状が明確
に抽出される。
トCPUl0に送られて、非金属介在物の形状や濃度な
どの特徴から解析がなされる。
像モニタである。
査装置による検査では、二値化された画像の画像品質が
検査精度を大きく左右する。一方、原画像の背景の明る
さや非金属介在物とのコントラストなどは、金属材料の
種類や試料によって異なるので、閾値を固定的に設定し
ておくわけにはいかず、それぞれの場合に適した閾値が
選択的に設定されなければならない。
像処理された試料の画像をたよりに試行を繰返すことで
、最適と思われる閾値が設定されていた。
すために時間がかかり、検査者に起因する誤差も避けら
れなかった。
濃度情報を二値化する閾値が検査者の試行によって設定
されていたので、検査に時間を要し、しかも検査精度が
悪いという問題があった。
値の設定を自動化して検査効率を向上させ、精度よく検
査を行うことができる非金属介在物の検査装置を提供す
るものである。
試料を拡大視する顕微鏡と、この顕微鏡により拡大視さ
れた試料を映像信号に変換する撮像手段と、前記映像信
号を構成する各画素の濃度を多値化する変換器と、この
変換器により多値化された各画素の濃度情報を記憶する
記憶手段と、前記濃度情報をもとに濃度ごとの画素数を
集計し、最も画素数の多い濃度ピーク値を検出する濃度
ピーク値検出手段と、この濃度ピーク値検出手段により
検出された濃度ピーク値から所定の値を差引いた値を閾
値として前期記憶手段に記憶されている濃度情報を二値
化する二値化手段と、この二値化手段によって二値化さ
れた濃度情報と前記記憶手段に記憶されている濃度情報
とから前記非金属介在物の解析を行う非金属介在物解析
手段とを具備するものである。
に濃度を多値化し、多値化された各画素の濃度情報をも
とに濃度ごとの画素数を集計して濃度のヒストグラムを
作成する。そして、最も画素数の多い濃度を、濃度のピ
ーク値として検出する。この濃度のピーク値か非金属介
在物の背景の濃度のピーク値となるので、さらにこの濃
度のピーク値から所定の値を差引いた値を閾値として記
憶手段に記憶されている濃度情報を二値化する。
予め定められた値が用いられる。
定が行え、高速かつ精度よく検査が行える。
の構成を示す図である。
された試料100を拡大視した映像信号を得るための光
学系200と、光学系200により得られた映像信号を
画像処理して非金属介在物の解析を行う処理系300と
から構成されている。
ホールダ210、試料面を光学的に拡大する光学顕微鏡
220、光学顕微鏡220により拡大された試料面を撮
像して映像信号に変換するITVカメラ(Indust
rial Te1evision ;工業用テレビカメ
ラ)230、試料面を顕微鏡220の光軸と同軸で照明
する照明光源240、顕微鏡220に備えられたオート
フォーカス機構の制御を行うオートフォーカスコントロ
ーラ250、ホールダ210の位置をX−Y2方向に移
動させるXYステージ260、処理系300からの指示
に基づいてX−Yステージ260の移動制御を行うX−
Yステージコントローラ270から構成されている。
タの処理を行う情報処理装置310、情報処理装置31
0の指示に基づいてITVカメラ230から映像信号を
入力し検査に必要な画像処理を行う画像処理装置320
、ITVカメラ230で撮像された生画像の表示を行う
画像モニタ330、画像処理装置320で画像処理され
た画像の表示を行う画像モニタ340、画像処理装置3
20で画像処理された画像のハードコピーを出力するビ
デオプリンター350、・情報処理装置310で処理さ
れた測定データなどの印字を行うプリンター360から
構成されている。
ついて詳細な構成を第2図に示す。
を行う制御CPUである。
信号の濃度をディジタル値に変換するA/Dコンバータ
、323はA/Dコンバータ322により変換された濃
度情報を記憶するフレームメモリである。
る濃度情報からなる画像データの画像処理を行う画像処
理専用プロセッサ、325は画像処理専用プロセッサが
画像処理に用いる作業RAMである。
理の動作を第3図に示すフローチャートを参照しつつ説
明する。
まれる(ステップ301)。これは、A/Dコンバータ
322に入力された1画面分の映像信号を構成する例え
ば縦512画素×横512画素の各画素の濃度が、A/
Dコンバータ322により例えば8ビツト(O〜255
)のディジタルの濃度情報に変換され、この濃度情報が
フレーム0 メモリ323に順次記憶されることで行われる。
配列が設けられ、それぞれ初期値0が設定される(ステ
ップ302)。そして、フレームメモリ323から1画
素分の濃度情報を読出しくステップ303 ) 、その
濃度情報に対応する濃度配列の値を+1する(ステップ
304)。この後、全画素に対し読出しを行ったか否か
を調べ(ステップ305 ) 、全ての画素が読出され
たと判定されるまで、ステップ303からステップ30
5の処理が繰返される。そして、全ての画素が読出され
たと判定されたとき、濃度配列には濃度ごとの画素数の
分布を示す濃度ヒストグラムが作成されている。第4図
はこの濃度ヒストグラムをグラフ化したものを示す。
テップ30B)。濃度ヒストグラムから容易に分かるよ
うに、濃度ピーク値Gは、濃度配列の中で最も大きい値
に対応する濃度である。
ップ307 ) 、この閾値でフレームメモリ323内
の濃度情報が二値化される(ステップ308)従って、
撮像された試料の画像の濃度情報から計算によって二値
化の閾値が求められるので、閾値の設定を自動化するこ
とが可能となる。
実施例に限定されるものではなく、他の値であって構わ
ない。
ら濃度ピーク値を算出し、この濃度ピーク値からさらに
二値化の閾値を算出しているので、閾値の設定を自動化
することができ、高速かつ精度よく検査が行える。
成を示すブロック図、第2図はこの検査装置の画像処理
装置で行われる画像処理に係わる2 部分の構成を示すブロック図、第3図はこの画像処理装
置の画像処理の動作を示すフローチャート、第4図は濃
度情報から作成された濃度ヒストグラム、第5図はAS
TM法による非金属介在物の分類図、第6図は従来例の
非金属介在物の検査装置の構成を示すブロック図である
。 100・・・試料、220・・・光学顕微鏡、230・
・・ITVカメラ、240・・・照明光源、260・・
・X−Yステージ、310・・・情報処理装置、320
・・・画像処理装置、321・・・制御CPU、322
・・・A/Dコンバータ、323・・・フレームメモリ
、324・・・画像処理専用プロセッサ、325・・・
作業RAM。 330.340・・・画像モニタ。
Claims (1)
- (1)非金属介在物を含む試料を拡大視する顕微鏡と、 この顕微鏡により拡大視された試料を映像信号に変換す
る撮像手段と、 前記映像信号を構成する各画素の濃度を多値化する変換
器と、 この変換器により多値化された各画素の濃度情報を記憶
する記憶手段と、 前記濃度情報をもとに濃度ごとの画素数を集計し、最も
画素数の多い濃度ピーク値を検出する濃度ピーク値検出
手段と、 この濃度ピーク値検出手段により検出された濃度ピーク
値から所定の値を差引いた値を閾値として前期記憶手段
に記憶されている濃度情報を二値化する二値化手段と、 この二値化手段によって二値化された濃度情報と前記記
憶手段に記憶されている濃度情報とから前記非金属介在
物の解析を行う非金属介在物解析手段と を具備することを特徴とする非金属介在物の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2069227A JP2909756B2 (ja) | 1990-03-19 | 1990-03-19 | 非金属介在物検査方法及び非金属介在物検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2069227A JP2909756B2 (ja) | 1990-03-19 | 1990-03-19 | 非金属介在物検査方法及び非金属介在物検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03269241A true JPH03269241A (ja) | 1991-11-29 |
JP2909756B2 JP2909756B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=13396629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2069227A Expired - Lifetime JP2909756B2 (ja) | 1990-03-19 | 1990-03-19 | 非金属介在物検査方法及び非金属介在物検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2909756B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2710154A1 (fr) * | 1993-09-14 | 1995-03-24 | Ascometal Sa | Procédé d'analyse et de quantification des bandes de perlite dans les aciers ferritoperlitiques. |
JPH08145984A (ja) * | 1994-11-21 | 1996-06-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 非金属介在物の検査装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63309844A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-16 | Nippon Steel Corp | 非金属介在物の検査装置 |
JPS6484147A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-29 | Nippon Steel Corp | Internal quality inspecting method for metal piece |
-
1990
- 1990-03-19 JP JP2069227A patent/JP2909756B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63309844A (ja) * | 1987-06-12 | 1988-12-16 | Nippon Steel Corp | 非金属介在物の検査装置 |
JPS6484147A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-29 | Nippon Steel Corp | Internal quality inspecting method for metal piece |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2710154A1 (fr) * | 1993-09-14 | 1995-03-24 | Ascometal Sa | Procédé d'analyse et de quantification des bandes de perlite dans les aciers ferritoperlitiques. |
JPH08145984A (ja) * | 1994-11-21 | 1996-06-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 非金属介在物の検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2909756B2 (ja) | 1999-06-23 |
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