JPH03264182A - 制御装置 - Google Patents
制御装置Info
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- JPH03264182A JPH03264182A JP2060324A JP6032490A JPH03264182A JP H03264182 A JPH03264182 A JP H03264182A JP 2060324 A JP2060324 A JP 2060324A JP 6032490 A JP6032490 A JP 6032490A JP H03264182 A JPH03264182 A JP H03264182A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 5
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
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- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Numerical Control (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、加工装置の加工ヘッドに装着されるセンサ
の出力とワーク・加工ノズル間の高さとの間の校正曲線
に関するものである。
の出力とワーク・加工ノズル間の高さとの間の校正曲線
に関するものである。
[従来の技術]
一般に、鋼材等の被加工物の表面にレーザビームを照射
して溶接や切断などのレーザ加工を行うレーザ加工装置
において、レーザビームの焦点を被加工物の表面に正確
に一致させるための手段について、例えば特開昭59−
223189号公報に開示されている技術によって知ら
れている。
して溶接や切断などのレーザ加工を行うレーザ加工装置
において、レーザビームの焦点を被加工物の表面に正確
に一致させるための手段について、例えば特開昭59−
223189号公報に開示されている技術によって知ら
れている。
このものは、レーザ出射端と被加工物の表面との相対距
離を測定する距離センサを被加工物の表面に対して上下
に移動自在な装置の先端部に取付け、この距離センサか
らの信号に基づいて上記先端部を移動させてレーザ出射
端と被加工物の表面との相対距離を一定に保持するサー
ボ機構を備えたものであり、このように被加工物(ワー
ク)とレーザ出射端(加工ノズル〉との間の距離(高さ
)をある設定された距離に制御することは、いわゆるバ
イト制御と云われている。
離を測定する距離センサを被加工物の表面に対して上下
に移動自在な装置の先端部に取付け、この距離センサか
らの信号に基づいて上記先端部を移動させてレーザ出射
端と被加工物の表面との相対距離を一定に保持するサー
ボ機構を備えたものであり、このように被加工物(ワー
ク)とレーザ出射端(加工ノズル〉との間の距離(高さ
)をある設定された距離に制御することは、いわゆるバ
イト制御と云われている。
また、上記の距離センサとして静電容量式センサを用い
、加工ノズルを兼用した静電容量式センサが装着された
加工ヘッドを備える三次元のレーザ加工装置が知られて
いる。
、加工ノズルを兼用した静電容量式センサが装着された
加工ヘッドを備える三次元のレーザ加工装置が知られて
いる。
第3図は従来の三次元のレーザ加工装置の構成を示すブ
ロック図である。図において、1はワークW上の加工線
Kにレーザ光りを照射する加工ヘッドであり、この加工
ヘッドlに加工ノズルを兼用した静電容量式センサ1a
が装着されている。
ロック図である。図において、1はワークW上の加工線
Kにレーザ光りを照射する加工ヘッドであり、この加工
ヘッドlに加工ノズルを兼用した静電容量式センサ1a
が装着されている。
7は後述するα、β、Z軸から成るアーム、11は複数
の駆動軸、モータ及びレーザ光りの光路系を有する加工
機本体、12はCPU (中央処理装置)及びメモリ等
を備え、加ニブログラムの指令に基づいて加工機本体1
1を駆動する制御信号Mや、レーザ発振器15の出力等
の加工条件を制御する制御信号Nを出力するNC制御部
、13は操作スイッチやCRTなどを備えた操作部で、
加ニブログラムの初期設定、動作指令等を手動操作によ
りNC制御部12に入力する機能を有している。
の駆動軸、モータ及びレーザ光りの光路系を有する加工
機本体、12はCPU (中央処理装置)及びメモリ等
を備え、加ニブログラムの指令に基づいて加工機本体1
1を駆動する制御信号Mや、レーザ発振器15の出力等
の加工条件を制御する制御信号Nを出力するNC制御部
、13は操作スイッチやCRTなどを備えた操作部で、
加ニブログラムの初期設定、動作指令等を手動操作によ
りNC制御部12に入力する機能を有している。
14は加工機本体11に対する駆動指令等をNC制御1
部12に入力すると共に、加ニブログラムの作成のため
に用いるハンディタイプのティーチングボックスであり
、通常、NC制御部12.操作部13. ティーチン
グボックス14を総称して制御装置と呼んでいる。16
はCADデータの作成などNC制御部12にない種々の
データ処理等を行う補助計算機であり、NC制御部12
とは伝送ケーブルで接続されている。
部12に入力すると共に、加ニブログラムの作成のため
に用いるハンディタイプのティーチングボックスであり
、通常、NC制御部12.操作部13. ティーチン
グボックス14を総称して制御装置と呼んでいる。16
はCADデータの作成などNC制御部12にない種々の
データ処理等を行う補助計算機であり、NC制御部12
とは伝送ケーブルで接続されている。
第4図は第3図のレーザ加工装置における加工機本体の
軸構成を示す説明図である。図において、8はアーム7
の駆動端に位置するβ軸、9はβ軸8に接続されたα軸
、10はα軸9に接続されたZ軸であり、β軸8.α軸
9. Z軸1oはアーム7を構成している。また、加
工ヘッド1はβ軸8の先端部に取り付Gすられており、
ワークW上の加工線Kに沿って進行するように制御され
ている。
軸構成を示す説明図である。図において、8はアーム7
の駆動端に位置するβ軸、9はβ軸8に接続されたα軸
、10はα軸9に接続されたZ軸であり、β軸8.α軸
9. Z軸1oはアーム7を構成している。また、加
工ヘッド1はβ軸8の先端部に取り付Gすられており、
ワークW上の加工線Kに沿って進行するように制御され
ている。
2はモータM5によりβ軸8を図の矢印β方向に回転さ
せるβ軸受、3はモータM4によりα軸9を図の矢印α
方向に回転させるα軸受、4はモータM3により加工ヘ
ッド1を図の矢印Z方向に移動させるZ軸受、δはモー
タM2により加工ヘッド1を図の矢印Y方向に移動させ
るY軸受、6はモータMlにより加工ヘッドlを図の矢
印X方向に移動させるX軸受である。
せるβ軸受、3はモータM4によりα軸9を図の矢印α
方向に回転させるα軸受、4はモータM3により加工ヘ
ッド1を図の矢印Z方向に移動させるZ軸受、δはモー
タM2により加工ヘッド1を図の矢印Y方向に移動させ
るY軸受、6はモータMlにより加工ヘッドlを図の矢
印X方向に移動させるX軸受である。
なお、上記モータM1〜M5はNC制御部12からの加
工機本体lを駆動する制御信号Mにより駆動され、加ニ
ブログラムに従ってワークWに対する加工へラドlとの
間の距離を一定に保持しながらレーザ光りのスポットが
加工線Kを倣うと共に、加工ヘッドlの姿勢がワークW
の表面に対してほぼ垂直となるように制御される。
工機本体lを駆動する制御信号Mにより駆動され、加ニ
ブログラムに従ってワークWに対する加工へラドlとの
間の距離を一定に保持しながらレーザ光りのスポットが
加工線Kを倣うと共に、加工ヘッドlの姿勢がワークW
の表面に対してほぼ垂直となるように制御される。
第6図及び第6図は第3図のレーザ加工装置における加
工ノズルを兼用した静電容量式センサの構成を示す図、
及びその静電容量式センサの出力特性図である。第5図
において、21は加工ノズルを兼用した静電容量式セン
サIaの中心電極、22はガード電極であり、中心電極
21とガード電極22を総称してセンサヘッド20と呼
んでいる。このセンサヘッド20の内部の詳細な構造に
ついては、この発明とは直接に関係がないためにその説
明は省略する。23は処理ユニットであり、この処理ユ
ニット23はセンサヘット20へ電圧を供給し、ワーク
Wと中心電極21との間の静電容量の変化を電圧の変化
に換算してその電圧を増幅させ、NC制御部12のセン
サインタフェース24へ出力する。また、hはワークW
と中心電極21との間の距離、すなわちワークWに対す
る加工ノズルの高さを表わしている。
工ノズルを兼用した静電容量式センサの構成を示す図、
及びその静電容量式センサの出力特性図である。第5図
において、21は加工ノズルを兼用した静電容量式セン
サIaの中心電極、22はガード電極であり、中心電極
21とガード電極22を総称してセンサヘッド20と呼
んでいる。このセンサヘッド20の内部の詳細な構造に
ついては、この発明とは直接に関係がないためにその説
明は省略する。23は処理ユニットであり、この処理ユ
ニット23はセンサヘット20へ電圧を供給し、ワーク
Wと中心電極21との間の静電容量の変化を電圧の変化
に換算してその電圧を増幅させ、NC制御部12のセン
サインタフェース24へ出力する。また、hはワークW
と中心電極21との間の距離、すなわちワークWに対す
る加工ノズルの高さを表わしている。
第6図はワークWと加工ノズル間の高さhと処理ユニッ
ト23の出力電圧Vとの間の関係を示したもので、上記
高さhと出力電圧Vの複数次数(通常は4次)の曲線に
近似計算して得られた近似曲線を示しており、この近似
曲線を校正曲線と呼んでいる。
ト23の出力電圧Vとの間の関係を示したもので、上記
高さhと出力電圧Vの複数次数(通常は4次)の曲線に
近似計算して得られた近似曲線を示しており、この近似
曲線を校正曲線と呼んでいる。
第7図は第3図のレーザ加工装置における校正曲線の係
数の計算を説明するためのフローチャートである。
数の計算を説明するためのフローチャートである。
次に、上記従来のレーザ加工装置における校正曲線の求
め方について、第7図に示すフローチャートを用いて説
明する。
め方について、第7図に示すフローチャートを用いて説
明する。
■ティーチングボックス14を用いてZ軸10を動作さ
せ、中心電極21をワークWに接触させて出力電圧がO
V(ボルト)になるように処理ユニット23を調整する
。
せ、中心電極21をワークWに接触させて出力電圧がO
V(ボルト)になるように処理ユニット23を調整する
。
■同様にティーチングボックス14を用いてZ軸10を
動作させ、測定範囲の最大の高さh m aX(例えば
12mm)に対して、最大の出力電圧vmax(例えば
10v)となるように処理ユニット23を調整する。
動作させ、測定範囲の最大の高さh m aX(例えば
12mm)に対して、最大の出力電圧vmax(例えば
10v)となるように処理ユニット23を調整する。
■高さhの0〜h m a xと出力電圧Vの0〜Vm
a Xとの間の途中の関係は、チイーチングボックス
14を用いて2軸10を動作せ、順次に高さhと出力電
圧Vとの間のデータを測定して記録していく。ここで、
処理ユニット23から出力される出力電圧Vはアナログ
量であるが、NC制御部12のセンサインタフェース2
4へ入力された後はディジタル量へ変換される。従って
、記録されるデータ(h、 v)のVの値はディジタ
ル量へ変換された後の値を用いる。
a Xとの間の途中の関係は、チイーチングボックス
14を用いて2軸10を動作せ、順次に高さhと出力電
圧Vとの間のデータを測定して記録していく。ここで、
処理ユニット23から出力される出力電圧Vはアナログ
量であるが、NC制御部12のセンサインタフェース2
4へ入力された後はディジタル量へ変換される。従って
、記録されるデータ(h、 v)のVの値はディジタ
ル量へ変換された後の値を用いる。
■記録されたデータ(h、 v ) +−+、2.3
.・・・・・・。
.・・・・・・。
(n:データ数)を補助計算機16に手動操作により入
力する。
力する。
0入力されたデータ(h、v); をもとに最小2乗法
を用いて、下記(1)式 %式% (1) の係数all、 at、 a2+ a3. &
Aを算出する。
を用いて、下記(1)式 %式% (1) の係数all、 at、 a2+ a3. &
Aを算出する。
■算出された係数alI、 all &22 a
3+ 84の値をそれぞれ操作部13からNC制御部
12へ入力して、このNC制御部12のメモリへ格納す
る。
3+ 84の値をそれぞれ操作部13からNC制御部
12へ入力して、このNC制御部12のメモリへ格納す
る。
実際にハイド制御をする場合には、センサヘッド20か
ら処理ユニット23を介して出力される出力電圧VをN
CIJ御部12のメモリに格納されている係数as、
at、 a2t &3p a4をもとに、上
記(1)式にて高さhを計算する。この計算された高さ
hを所定の高ざh−<制御高さと呼ぶ)との差Δh =
h”−h に相当する分だけ、加ニブログラムにお
ける座標値を修正していく。
ら処理ユニット23を介して出力される出力電圧VをN
CIJ御部12のメモリに格納されている係数as、
at、 a2t &3p a4をもとに、上
記(1)式にて高さhを計算する。この計算された高さ
hを所定の高ざh−<制御高さと呼ぶ)との差Δh =
h”−h に相当する分だけ、加ニブログラムにお
ける座標値を修正していく。
上述したように、加工ノズルを兼用した静電容量式セン
サが装着された加工ヘッドを備えるレーザ加工装置にお
いて、静電容量式センサの出力特性を測定して、ワーク
と加工ノズルとの間のギャップ量を適正値に制御する制
gI装置については、例えば特開昭64−78691号
公報にも開示されている。
サが装着された加工ヘッドを備えるレーザ加工装置にお
いて、静電容量式センサの出力特性を測定して、ワーク
と加工ノズルとの間のギャップ量を適正値に制御する制
gI装置については、例えば特開昭64−78691号
公報にも開示されている。
[発明が解決しようとする課題]
上記のような従来のレーザ加工装置の制御装置には、ワ
ークWと加工ノズル間の高さh、センサヘッド20から
処理ユニット23を介して出力される出力電圧Vに関す
るデータを自動的に測定してメモリに格納する機能や、
最小2乗法による校正曲線の係数を算出する機能が装備
されていないために、オペレータが手動操作によって加
工機本体11を動作させながら上記高さh及び出力電圧
Vに関するデータを取り、またそのデータを補助計算機
16に手動操作により入力するなどの処理を行う必要が
あった。その結果、処理が非常に煩雑となり時間がかか
り、また入力ミスを起こしやすいなどの課題があった。
ークWと加工ノズル間の高さh、センサヘッド20から
処理ユニット23を介して出力される出力電圧Vに関す
るデータを自動的に測定してメモリに格納する機能や、
最小2乗法による校正曲線の係数を算出する機能が装備
されていないために、オペレータが手動操作によって加
工機本体11を動作させながら上記高さh及び出力電圧
Vに関するデータを取り、またそのデータを補助計算機
16に手動操作により入力するなどの処理を行う必要が
あった。その結果、処理が非常に煩雑となり時間がかか
り、また入力ミスを起こしやすいなどの課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、オペレータによる手動操作を極力少なくし、補
助計算機を用いることなく短時間に上記高さhと出力電
圧Vに関するデータを自動に入力して校正曲線の係数を
算出し、かつメモリへ格納できる制御装置を得ることを
目的とする。
もので、オペレータによる手動操作を極力少なくし、補
助計算機を用いることなく短時間に上記高さhと出力電
圧Vに関するデータを自動に入力して校正曲線の係数を
算出し、かつメモリへ格納できる制御装置を得ることを
目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る制御装置は、ワークと加工ノズル間の高
さhとセンサの出力電圧Vに関するデータの測定を自動
的に行う測定プログラムを有し、この測定プログラムに
よって測定されたデータをメモリへ自動的に入力し、か
つ格納する機能を備え、また、メモリに格納されたデー
タをもとに最小2乗法により任意の次数の係数を算出し
、算出されたデータをメモリへ自動的に格納する機能を
備えたものである。
さhとセンサの出力電圧Vに関するデータの測定を自動
的に行う測定プログラムを有し、この測定プログラムに
よって測定されたデータをメモリへ自動的に入力し、か
つ格納する機能を備え、また、メモリに格納されたデー
タをもとに最小2乗法により任意の次数の係数を算出し
、算出されたデータをメモリへ自動的に格納する機能を
備えたものである。
[作用]
この発明における制御装置は、オペレータによる手動操
作を行うことなく、測定プログラムによってワークと加
工ノズル間の高さhとセンサの出力電圧Vに関するデー
タを自動的に測定し、かつ測定されたデータをメモリに
格納できる機能な懺えているので、データの処理時間が
短縮でき、またデータの記録ミスが防止できる。
作を行うことなく、測定プログラムによってワークと加
工ノズル間の高さhとセンサの出力電圧Vに関するデー
タを自動的に測定し、かつ測定されたデータをメモリに
格納できる機能な懺えているので、データの処理時間が
短縮でき、またデータの記録ミスが防止できる。
さらに、最小2乗法による校正曲線の係数を算出し、算
出されたデータをメモリに自動的に格納する機能を備え
ているので、補助計算機が不要となり、作業時間の短縮
が可能となる。
出されたデータをメモリに自動的に格納する機能を備え
ているので、補助計算機が不要となり、作業時間の短縮
が可能となる。
[実施例]
第1図はこの発明の実施例である制御装置を備えた三次
元のレーザ加工装置の構成を示すブロック図で、第3図
と同一符号は同−又は相当部分を示しており、その詳細
な説明は省略する。第1図に示すこの発明の制御装置で
は、上記第3図に示す従来の制御装置における補助計算
機16が不要となり存在していない。その他の構成は、
両者ともほぼ同じ構成を備えている。
元のレーザ加工装置の構成を示すブロック図で、第3図
と同一符号は同−又は相当部分を示しており、その詳細
な説明は省略する。第1図に示すこの発明の制御装置で
は、上記第3図に示す従来の制御装置における補助計算
機16が不要となり存在していない。その他の構成は、
両者ともほぼ同じ構成を備えている。
第2図は第1図のレーザ加工装置における校正曲線の係
数の計算を説明するためのフローチャートである。
数の計算を説明するためのフローチャートである。
次に、上記この発明のレーザ加工装置における校正曲線
の求め方について、第2図に示すフローチャートを用い
て説明する。
の求め方について、第2図に示すフローチャートを用い
て説明する。
■および■については、上記従来の第7図に示すフロー
チャートの場合と同様であり、処理ユニット23につい
ての調整を実施する。
チャートの場合と同様であり、処理ユニット23につい
ての調整を実施する。
■操作部13から設定して起動させた測定プログラムに
より、Z軸10を所定のピッチごとに上昇させ、それに
対応した高さhとその時の出力電圧Vをディジタル量に
変換させたデータを、自動的に順次にNC制御部12の
メモリへ格納する。
より、Z軸10を所定のピッチごとに上昇させ、それに
対応した高さhとその時の出力電圧Vをディジタル量に
変換させたデータを、自動的に順次にNC制御部12の
メモリへ格納する。
■NC制御部12のメモリへ格納されたデータ(h、
v) +−52,3,・=・=、。(n:データ数)
をもとに、最小2乗法によってN次(例えば4次)の係
数aBy al、82g ・・・・・・+aNを算
出する。算出された係数as、 aly &2t
・・・・・・ aNはNC制御部12のメモリへ自動
的に格納する。
v) +−52,3,・=・=、。(n:データ数)
をもとに、最小2乗法によってN次(例えば4次)の係
数aBy al、82g ・・・・・・+aNを算
出する。算出された係数as、 aly &2t
・・・・・・ aNはNC制御部12のメモリへ自動
的に格納する。
実際にハイド制御をする場合には、上記従来装置と同様
に下記(2)式 %式% (2) を用いて、出力電圧Vをもとに高ざhを計算して制御す
る。
に下記(2)式 %式% (2) を用いて、出力電圧Vをもとに高ざhを計算して制御す
る。
この発明によるレーザ加工装置の制御装置においては、
測定プログラムにより自動的に測定されたデータをもと
に、高さhを出力電圧Vの多項式により近似計算してい
るので、高さhの測定範囲を上記従来装置より拡張して
も、例えば従来装置でO〜5mm程度であった測定範囲
を、この発明の装置てO〜20mm程度に拡張した場合
にも精度上はほとんど変わらない値が得られる。
測定プログラムにより自動的に測定されたデータをもと
に、高さhを出力電圧Vの多項式により近似計算してい
るので、高さhの測定範囲を上記従来装置より拡張して
も、例えば従来装置でO〜5mm程度であった測定範囲
を、この発明の装置てO〜20mm程度に拡張した場合
にも精度上はほとんど変わらない値が得られる。
なお、上記実施例では三次元のレーザ加工装置における
静電容量式センサに実施した場合について説明している
が、他の加工装置や計測装置において静電容量式センサ
を用いる場合にも同様に適用することができる。
静電容量式センサに実施した場合について説明している
が、他の加工装置や計測装置において静電容量式センサ
を用いる場合にも同様に適用することができる。
[発明の効果]
以上のように、この発明の制御Ve置によれば、ワーク
と加工ノズル間の高さhとセンサの出力電圧Vに関する
データの測定を自動的に行う測定プログラムを有し、こ
の測定プログラムによって測定されたデータをメモリへ
自動的に入力し、かっ格納する機能を備え、また、メモ
リに格納されたデータをもとに最小2乗法により任意の
次数の係数を算出し、算出されたデータをメモリへ自動
的に格納するS能を備えた構成としたので、オペレータ
による手動操作を極力少なくし、補助計算機を用いるこ
となくデータの処理を正確に、かつ容易に行うことが可
能となり、さらに作業時間を大幅に短縮することができ
るなとの優れた効果を奏する。
と加工ノズル間の高さhとセンサの出力電圧Vに関する
データの測定を自動的に行う測定プログラムを有し、こ
の測定プログラムによって測定されたデータをメモリへ
自動的に入力し、かっ格納する機能を備え、また、メモ
リに格納されたデータをもとに最小2乗法により任意の
次数の係数を算出し、算出されたデータをメモリへ自動
的に格納するS能を備えた構成としたので、オペレータ
による手動操作を極力少なくし、補助計算機を用いるこ
となくデータの処理を正確に、かつ容易に行うことが可
能となり、さらに作業時間を大幅に短縮することができ
るなとの優れた効果を奏する。
第1図はこの発明の実施例である制al装置を備えた三
次元のレーザ加工装置の構成を示すブロック図、第2図
は第1図のレーザ加工装置における校正曲線の係数の計
算を説明するためのフローチャート、第3図は従来の三
次元のレーザ加工装置の構成を示すブロック図、第4図
は第3図のレーザ加工装置における加工機本体の軸構成
を示す説明図、第5図及び第6図は第3図のレーザ加工
装置における加工ノズルを兼用した静電容量式センサの
構成を示す図、及びその静電容量式センサの出力特性図
、第7図は第3図のレーザ加工装置における校正曲線の
係数の計算を説明するためのフローチャートである。 図において、l・・・加工ヘッド、1a・・・加工ノズ
ルを兼用した静電容量式センサ、2・・・β軸受、3・
・・α軸受、 4・・・Z軸受、 5・・・Y軸受、
6・−X軸受、7・・・アーム、 8・・・β軸、 9
・・・α軸、 10・・・Z軸、11・・・加工機本体
、12・・・NC111111部、13・・・操作部、
14・・・ティーチングボックス、15・・・レーザ発
振器、16・・・補助計算機、20・・・センサヘッド
、21・・・中心電極、22・・・ガード電極、23・
・・処理ユニット、24・・・センサインタフェース
である。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。
次元のレーザ加工装置の構成を示すブロック図、第2図
は第1図のレーザ加工装置における校正曲線の係数の計
算を説明するためのフローチャート、第3図は従来の三
次元のレーザ加工装置の構成を示すブロック図、第4図
は第3図のレーザ加工装置における加工機本体の軸構成
を示す説明図、第5図及び第6図は第3図のレーザ加工
装置における加工ノズルを兼用した静電容量式センサの
構成を示す図、及びその静電容量式センサの出力特性図
、第7図は第3図のレーザ加工装置における校正曲線の
係数の計算を説明するためのフローチャートである。 図において、l・・・加工ヘッド、1a・・・加工ノズ
ルを兼用した静電容量式センサ、2・・・β軸受、3・
・・α軸受、 4・・・Z軸受、 5・・・Y軸受、
6・−X軸受、7・・・アーム、 8・・・β軸、 9
・・・α軸、 10・・・Z軸、11・・・加工機本体
、12・・・NC111111部、13・・・操作部、
14・・・ティーチングボックス、15・・・レーザ発
振器、16・・・補助計算機、20・・・センサヘッド
、21・・・中心電極、22・・・ガード電極、23・
・・処理ユニット、24・・・センサインタフェース
である。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 加工装置の加工ヘッドに装着されるセンサの出力、及び
ワーク・加工ノズル間の高さに関するデータの測定を自
動的に行う測定プログラムを有する自動測定手段と、測
定された上記データをメモリへ自動的に入力する自動入
力手段と、測定された上記データを上記メモリへ自動的
に格納する格納手段と、上記メモリに格納されたデータ
をもとに上記センサの出力と上記ワーク・加工ノズル間
の高さとの関係を複数次数の校正曲線に近似計算し、こ
れらの次数の係数を算出する係数計算手段と、算出され
た上記係数を上記メモリに自動的に記憶する係数記憶手
段とを備えたことを特徴とする制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2060324A JPH03264182A (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2060324A JPH03264182A (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03264182A true JPH03264182A (ja) | 1991-11-25 |
Family
ID=13138878
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2060324A Pending JPH03264182A (ja) | 1990-03-12 | 1990-03-12 | 制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03264182A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7729821B2 (en) | 2005-08-17 | 2010-06-01 | Murata Kikai Kabushiki Kaisha | Method for mounting pattern in actual machine |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6478691A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-24 | Nippei Toyama Corp | Device for sampling sensor output of laser beam machine |
-
1990
- 1990-03-12 JP JP2060324A patent/JPH03264182A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6478691A (en) * | 1987-09-19 | 1989-03-24 | Nippei Toyama Corp | Device for sampling sensor output of laser beam machine |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7729821B2 (en) | 2005-08-17 | 2010-06-01 | Murata Kikai Kabushiki Kaisha | Method for mounting pattern in actual machine |
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