JPH03252563A - アラン分散測定器 - Google Patents
アラン分散測定器Info
- Publication number
- JPH03252563A JPH03252563A JP5141790A JP5141790A JPH03252563A JP H03252563 A JPH03252563 A JP H03252563A JP 5141790 A JP5141790 A JP 5141790A JP 5141790 A JP5141790 A JP 5141790A JP H03252563 A JPH03252563 A JP H03252563A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- frequency
- counter
- oscillator
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 19
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 24
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 7
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、アラン分散測定器（アラン分散測定装置とも
いう、）に係る。
いう、）に係る。
このアラン分散測定器は、発振器のもつごくわずかな周
波数のゆらぎを高精度に測定する装置であり、通信計測
分野においてはＲｂ原子発振器やＣｓ原子発振器等のマ
イクロ波周波数標準の評価に。
波数のゆらぎを高精度に測定する装置であり、通信計測
分野においてはＲｂ原子発振器やＣｓ原子発振器等のマ
イクロ波周波数標準の評価に。
また光計測分野においては高安定なレーザ光源の周波数
安定度の評価装置として利用される。さらに、つぎの世
代の通信方式として研究が進められている光ヘテロダイ
ン通信用レーザ光源の周波数安定度の評価にも用いられ
るものである。
安定度の評価装置として利用される。さらに、つぎの世
代の通信方式として研究が進められている光ヘテロダイ
ン通信用レーザ光源の周波数安定度の評価にも用いられ
るものである。
アラン分散は、発振器の周波数安定度を表す一つの指標
であり、一般に次のように定義される。
であり、一般に次のように定義される。
第４図に示すように、まず時間的に周波数が変化してい
る信号源において、その周波数のτ時間平均値ν、を順
次得る。連続する２個の周波数のτ時間の平均値ν、と
ν２についての標本標準偏差の２乗は、 となるが、アラン分散はこれをＮ個の平均値ν、に対し
計算を行ない、それらを平均したもので、ν ｔ で表される。ここで、Ｔ は信号源のτ時間におτ ける公称周波数である。
る信号源において、その周波数のτ時間平均値ν、を順
次得る。連続する２個の周波数のτ時間の平均値ν、と
ν２についての標本標準偏差の２乗は、 となるが、アラン分散はこれをＮ個の平均値ν、に対し
計算を行ない、それらを平均したもので、ν ｔ で表される。ここで、Ｔ は信号源のτ時間におτ ける公称周波数である。
一般に周波数安定度を表すにはσ（τ）すなわち、（２
）式の平方根が用いられている。アラン分散は（２）式
に示されるように、平均された周波数データ数Ｎと積分
時間τの二つの変数の関数で表され、さらに定義として
測定の空き時間、すなわち第４図でν、とν１．１の積
分領域の境界部分の時間がゼロであることが要求されて
いる。
）式の平方根が用いられている。アラン分散は（２）式
に示されるように、平均された周波数データ数Ｎと積分
時間τの二つの変数の関数で表され、さらに定義として
測定の空き時間、すなわち第４図でν、とν１．１の積
分領域の境界部分の時間がゼロであることが要求されて
いる。
第５図は、従来のアラン分散測定器の構成を示す一実施
例で、入力信号Ｓａは波形整形機能を有する検出器１に
より矩形波信号ｓｂに変換される。この信号ｓｂを周波
数カウンタ部２で計数し、メモリ３に一旦データを蓄え
た後、データ処理部４でアラン分散値を計算する方法が
用いられている。さらに詳しく述べると、前記検出器１
を通して矩形化された矩形波信号ｓｂは、前記周波数カ
ウンタ部２内のカウンタ５に入力され、立上り信号数が
計数・累積される。このカウンタ５に累積された立上り
信号数の計数値ｆｃは、計数タイミング信号発生器６に
おいて設定された周期τ秒のラッチ信号Ｓｃにより、τ
秒毎にラッチ回路７に送られる。
例で、入力信号Ｓａは波形整形機能を有する検出器１に
より矩形波信号ｓｂに変換される。この信号ｓｂを周波
数カウンタ部２で計数し、メモリ３に一旦データを蓄え
た後、データ処理部４でアラン分散値を計算する方法が
用いられている。さらに詳しく述べると、前記検出器１
を通して矩形化された矩形波信号ｓｂは、前記周波数カ
ウンタ部２内のカウンタ５に入力され、立上り信号数が
計数・累積される。このカウンタ５に累積された立上り
信号数の計数値ｆｃは、計数タイミング信号発生器６に
おいて設定された周期τ秒のラッチ信号Ｓｃにより、τ
秒毎にラッチ回路７に送られる。
ここで、立上り信号の度数を計数する前記カウンタ５は
前記ラッチ信号Ｓｃとは無関係に前記矩形波信号ｓｂの
立上り信号の度数を計数し続けており、従って時間τの
計数と次の時間τの計数との間には、アラン分散の定義
どおり、空き時間は発生しない方法がとられている。
前記ラッチ信号Ｓｃとは無関係に前記矩形波信号ｓｂの
立上り信号の度数を計数し続けており、従って時間τの
計数と次の時間τの計数との間には、アラン分散の定義
どおり、空き時間は発生しない方法がとられている。
しかしながら、第６図に示すように、この立上り信号を
計数する場合、設定時間τの計数開始時あるいは計数終
了時のタイミングのずれにより、１カウントの数え落し
、あるいは、数え過ぎによる±１の丸め誤差が発生する
ことは避けられない構成になっていた。
計数する場合、設定時間τの計数開始時あるいは計数終
了時のタイミングのずれにより、１カウントの数え落し
、あるいは、数え過ぎによる±１の丸め誤差が発生する
ことは避けられない構成になっていた。
この丸め誤差により、アラン分散測定器の安定度測定限
界が決定され、その値は、 σＬｉ＋＊ｉｔ ＝ □・ τ弓 −・−一−−
−・・−−−−・・・・ （３）ｆＬ となる、ここでｆＬは１秒間の入力信号Ｓａの公称周波
数である０例えば、ｆＬが５ ＭＨｚの周波数入力の場
合、τ＝１秒の積分時間では２ Ｘ １０−’のアラン
分散平方根以下の安定度は測定不能となる。
界が決定され、その値は、 σＬｉ＋＊ｉｔ ＝ □・ τ弓 −・−一−−
−・・−−−−・・・・ （３）ｆＬ となる、ここでｆＬは１秒間の入力信号Ｓａの公称周波
数である０例えば、ｆＬが５ ＭＨｚの周波数入力の場
合、τ＝１秒の積分時間では２ Ｘ １０−’のアラン
分散平方根以下の安定度は測定不能となる。
アラン分散測定装置に関する文献としては、次のものが
知−られている。
知−られている。
（１）「レーザ周波数安定度の実時間測定装置」推尾、
大津、田幸：電子通信学会技術研究報告ＯＱＥ ＰＰ
、８２−５２（１９８１）（２）［レーザ周波数安定度
の実時間測定装置の試作」椎尾、大津、田幸：電子通信
学会論文誌６４−Ｃ１（１９８１） Ｐ２Ｏ４ （３）「周波数オフセットロックシステムの性能評価」
加藤、久保木、大津：レーザ・原子発振器の周波数制御
と応用、第２回シンポジウム予稿（１９８７） 〔発明が解決しようとする課題〕 本発明は、従来技術において発生する±１カウントの丸
め誤差を低減することを課題とし、この丸め誤差により
制限されていた安定度測定限界を改善したアラン分散測
定器を実現することを目的としている。
大津、田幸：電子通信学会技術研究報告ＯＱＥ ＰＰ
、８２−５２（１９８１）（２）［レーザ周波数安定度
の実時間測定装置の試作」椎尾、大津、田幸：電子通信
学会論文誌６４−Ｃ１（１９８１） Ｐ２Ｏ４ （３）「周波数オフセットロックシステムの性能評価」
加藤、久保木、大津：レーザ・原子発振器の周波数制御
と応用、第２回シンポジウム予稿（１９８７） 〔発明が解決しようとする課題〕 本発明は、従来技術において発生する±１カウントの丸
め誤差を低減することを課題とし、この丸め誤差により
制限されていた安定度測定限界を改善したアラン分散測
定器を実現することを目的としている。
本発明では、上記課題に対して次の技術手段を用いて解
決している。従来は、第５図に示すように、入力信号Ｓ
ａを波形整形機能を有する検出器１に通して矩形波信号
ｓｂに変換し、この矩形波信号ｓｂの立上りをカウンタ
５により計数していたのに対し、本発明は、第１図に示
すように、入力信号Ｓａの周波数ｆＬと同程度の参照周
波数ｆ、の電気信号を出力する発振器８の出力信号の立
上りをカウンタ５で累積計数する。差周波数出力回路１
０により前記入力信号Ｓａの周波数ｆ、と前記発振器８
の出力信号ｆつとの差の差周波数ｆ３の電気信号（差周
波数信号Ｓｅ）を得て、この差周波数信号Ｓｅをラッチ
信号Ｓｃとして前記カウンタ５で累積計数されている値
をラッチ回路７にラッチする。このラッチされた計数値
をもとにしてデータ処理部４によりアラン分散値を算出
する。このような方式により前記入力信号Ｓａの周波数
安定度を測定した場合、該入力信号Ｓａの周波数ゆらぎ
を持つ前記差周波数信号Ｓｓの周波数ｆ、の逆数すなわ
ち、差周波数信号Ｓｅの周期を積分時間τとして測定し
ていることになり、測定すべき入力信号Ｓａの周波数ゆ
らぎは、この積分時間τのゆらぎとして前記発振器８の
出力電気信号を計数して測定する。この際に発生する丸
め誤差は、前記カウンタ５により計数された±１カウン
トであるが、前記入力信号Ｓａと前記発振器８の周波数
は同程度であり、したがって、両方の差の周波数である
前記差周波数信号Ｓｅは発振器８の出力信号周波数ｆｌ
に比べて十分低い周波数であるため、この±１カウント
の丸め誤差を入力信号Ｓａの周波数ｆＬに対する丸め誤
差已に換算すると、 Ｅ ＝ ｔｍ ／ ｆｌ −・−・−・−・−・
−・−・−・−・・・ （４）となる、したがって、（
４）式で得られる丸め誤差に制限される本発明のアラン
分散測定器の安定度測定限界は、 ｆ っ ｆＬ となる０例えば、前記入力信号Ｓａの周波数ｆ、を５Ｍ
Ｈｚとし、前記発振器８の出力信号周波数ｆヨを４．９
９９ＭＨｚに設定して、前記差周波数信号Ｓｅを周波数
ｆｓ ＝Ｉ ＫＨｚで測定した場合、その安定度測定限
界はτ＝１秒の場合で４ Ｘ １０−”を得ることがで
きる。
決している。従来は、第５図に示すように、入力信号Ｓ
ａを波形整形機能を有する検出器１に通して矩形波信号
ｓｂに変換し、この矩形波信号ｓｂの立上りをカウンタ
５により計数していたのに対し、本発明は、第１図に示
すように、入力信号Ｓａの周波数ｆＬと同程度の参照周
波数ｆ、の電気信号を出力する発振器８の出力信号の立
上りをカウンタ５で累積計数する。差周波数出力回路１
０により前記入力信号Ｓａの周波数ｆ、と前記発振器８
の出力信号ｆつとの差の差周波数ｆ３の電気信号（差周
波数信号Ｓｅ）を得て、この差周波数信号Ｓｅをラッチ
信号Ｓｃとして前記カウンタ５で累積計数されている値
をラッチ回路７にラッチする。このラッチされた計数値
をもとにしてデータ処理部４によりアラン分散値を算出
する。このような方式により前記入力信号Ｓａの周波数
安定度を測定した場合、該入力信号Ｓａの周波数ゆらぎ
を持つ前記差周波数信号Ｓｓの周波数ｆ、の逆数すなわ
ち、差周波数信号Ｓｅの周期を積分時間τとして測定し
ていることになり、測定すべき入力信号Ｓａの周波数ゆ
らぎは、この積分時間τのゆらぎとして前記発振器８の
出力電気信号を計数して測定する。この際に発生する丸
め誤差は、前記カウンタ５により計数された±１カウン
トであるが、前記入力信号Ｓａと前記発振器８の周波数
は同程度であり、したがって、両方の差の周波数である
前記差周波数信号Ｓｅは発振器８の出力信号周波数ｆｌ
に比べて十分低い周波数であるため、この±１カウント
の丸め誤差を入力信号Ｓａの周波数ｆＬに対する丸め誤
差已に換算すると、 Ｅ ＝ ｔｍ ／ ｆｌ −・−・−・−・−・
−・−・−・−・・・ （４）となる、したがって、（
４）式で得られる丸め誤差に制限される本発明のアラン
分散測定器の安定度測定限界は、 ｆ っ ｆＬ となる０例えば、前記入力信号Ｓａの周波数ｆ、を５Ｍ
Ｈｚとし、前記発振器８の出力信号周波数ｆヨを４．９
９９ＭＨｚに設定して、前記差周波数信号Ｓｅを周波数
ｆｓ ＝Ｉ ＫＨｚで測定した場合、その安定度測定限
界はτ＝１秒の場合で４ Ｘ １０−”を得ることがで
きる。
この値は、従来技術における ｆｔ ＝ ５ ＭＨｚの
場合の安定度測定限界２Ｘ１０−’に比べ３桁以上の向
上が得られることになる。
場合の安定度測定限界２Ｘ１０−’に比べ３桁以上の向
上が得られることになる。
第１図は本発明に係るアラン分散測定器の構成を示す基
本的な第１の実施例であり、更に第２図は本発明に係る
アラン分散測定器の第２の実施例である。入力信号Ｓａ
を波形整形機能を有する検出器１で検知し、該入力信号
Ｓａと同じ周波数ｆＬの繰返し周期を持つ矩形波信号ｓ
ｂに変換する。
本的な第１の実施例であり、更に第２図は本発明に係る
アラン分散測定器の第２の実施例である。入力信号Ｓａ
を波形整形機能を有する検出器１で検知し、該入力信号
Ｓａと同じ周波数ｆＬの繰返し周期を持つ矩形波信号ｓ
ｂに変換する。
また、入力信号Ｓａの周波数ｆＬと同程度の発振周波数
ｆ８の電気信号が発振器８から該入力信号Ｓａとは独立
して出力される。この発振器８がら出力される周波数ｆ
いと前記矩形波信号ｓｂの周波数ｆＬとの差の差周波数
ｆｉの電気信号（以下、差周波数信号という、）Ｓｅを
差周波数出力回路１ｏにより得る０発振器８より出力さ
れた出力信号はカウンタ５で常に累積計数され続けてお
り、この計数値は計数タイミング信号発生器６の出力信
号であるラッチ信号Ｓｃによりラッチ回路７にラッチさ
れる。この計数タイミング信号発生器６からのランチ信
号Ｓｃの出力タイミングは、前記差周波数信号Ｓｅを計
数タイミング信号発生器６により計数し、該差周波数信
号Ｓｅの周期の整数倍の時間に対応していて、かつ、設
定されたアラン分散値を測定する積分時間τのうち、最
小時間単位τｅｈｉｎに対応するｎ計数毎にラッチ信号
Ｓｃを出力する。
ｆ８の電気信号が発振器８から該入力信号Ｓａとは独立
して出力される。この発振器８がら出力される周波数ｆ
いと前記矩形波信号ｓｂの周波数ｆＬとの差の差周波数
ｆｉの電気信号（以下、差周波数信号という、）Ｓｅを
差周波数出力回路１ｏにより得る０発振器８より出力さ
れた出力信号はカウンタ５で常に累積計数され続けてお
り、この計数値は計数タイミング信号発生器６の出力信
号であるラッチ信号Ｓｃによりラッチ回路７にラッチさ
れる。この計数タイミング信号発生器６からのランチ信
号Ｓｃの出力タイミングは、前記差周波数信号Ｓｅを計
数タイミング信号発生器６により計数し、該差周波数信
号Ｓｅの周期の整数倍の時間に対応していて、かつ、設
定されたアラン分散値を測定する積分時間τのうち、最
小時間単位τｅｈｉｎに対応するｎ計数毎にラッチ信号
Ｓｃを出力する。
すなわち、前記差周波数信号Ｓｅの周波数ｆ３がＩ Ｋ
Ｈｚで、最小積分時間τ、、ｉを１／１００から測定し
ようとする場合、該差周波数信号Ｓｅの１０波数で１／
１００秒となるためｎは１０となる。前記ラッチ回路７
にラッチされた前記カウンタ５の計数値はラッチが更新
される毎にメモリ３に記憶される。このラッチ回路７に
よる計数値のラッチと、その記憶動作は、ラッチ信号Ｓ
ｃを計数する測定データ数計数器９の計数値が、Ｍ（ア
ラン分散値を測定する最大積分時間τａｍ ｘが最小積
分時間τｓｉ ｎを何回集めて構成できるか、また何回
の最大積分時間τａｍ ｘの測定によりアラン分散値を
算出するがで決定される）の値に等しくなるまで続けら
れる。
Ｈｚで、最小積分時間τ、、ｉを１／１００から測定し
ようとする場合、該差周波数信号Ｓｅの１０波数で１／
１００秒となるためｎは１０となる。前記ラッチ回路７
にラッチされた前記カウンタ５の計数値はラッチが更新
される毎にメモリ３に記憶される。このラッチ回路７に
よる計数値のラッチと、その記憶動作は、ラッチ信号Ｓ
ｃを計数する測定データ数計数器９の計数値が、Ｍ（ア
ラン分散値を測定する最大積分時間τａｍ ｘが最小積
分時間τｓｉ ｎを何回集めて構成できるか、また何回
の最大積分時間τａｍ ｘの測定によりアラン分散値を
算出するがで決定される）の値に等しくなるまで続けら
れる。
したがって、Ｍは
τ −逼 ゎ
である。すなわち、τ−ｉ 、、＝ １／１００秒で、
τ０．Ｘが１０秒であり、τ、、、Ｉの測定回数が１０
回である場合のＭの値は１０，０００である。
τ０．Ｘが１０秒であり、τ、、、Ｉの測定回数が１０
回である場合のＭの値は１０，０００である。
このＭにラッチ信号Ｓｃの計数値が等しくなったとき、
前記測定データ数計数器９はデータ処理部４にデータ処
理開始信号Ｓｄを出力する。
前記測定データ数計数器９はデータ処理部４にデータ処
理開始信号Ｓｄを出力する。
このデータ処理開始信号Ｓｄを受領したデータ処理部４
は、前記メモリ３に記憶されている計数値のデータを基
にアラン分散値の算出を行う。この算出は、τ１４．．
からτａｍ ｗまでの所定の値に対して行われ、メモリ
３に記憶されている計数値は前記カウンタ５の累積値で
あるため、あらかじめ１つの累積計数値からその直前の
τ、１゜で計数した累積値を引き、実際にτ０．７の時
間で計数した値りに変換する。
は、前記メモリ３に記憶されている計数値のデータを基
にアラン分散値の算出を行う。この算出は、τ１４．．
からτａｍ ｗまでの所定の値に対して行われ、メモリ
３に記憶されている計数値は前記カウンタ５の累積値で
あるため、あらかじめ１つの累積計数値からその直前の
τ、１゜で計数した累積値を引き、実際にτ０．７の時
間で計数した値りに変換する。
所定のτ値の間の計数値は、τ／τ、！７個のＤ値の和
であるから、この和によりτ時間の計数値を算出し、τ
時間のアラン分散の計算に必要なτ時間におけるＮ個の
計数値データを作成する。このように算出したτ時間の
計数値は、前記発振器８の計数値であるから、前記差周
波数信号Ｓｅと発振器８の周波数比である ｆ＊／ｆｍ
の係数を各τ時間の計数値に乗算して、差周波数信号Ｓ
ｅのτ時間の波数を最初に求め、その値と発振器８の出
力信号のτ時間における波数との和（ｆＬ＞ ｆｌの場
合）、あるいは、差（ｆＬ＜ｆｍの場合）をとり、前記
入力信号Ｓａのτ時間における周波数計数値νを求める
。その値を基に（２）式を使ってアラン分散を算出する
。
であるから、この和によりτ時間の計数値を算出し、τ
時間のアラン分散の計算に必要なτ時間におけるＮ個の
計数値データを作成する。このように算出したτ時間の
計数値は、前記発振器８の計数値であるから、前記差周
波数信号Ｓｅと発振器８の周波数比である ｆ＊／ｆｍ
の係数を各τ時間の計数値に乗算して、差周波数信号Ｓ
ｅのτ時間の波数を最初に求め、その値と発振器８の出
力信号のτ時間における波数との和（ｆＬ＞ ｆｌの場
合）、あるいは、差（ｆＬ＜ｆｍの場合）をとり、前記
入力信号Ｓａのτ時間における周波数計数値νを求める
。その値を基に（２）式を使ってアラン分散を算出する
。
第３図に、入力信号５ ＭＨｚ時における、従来技術と
本発明によるアラン分散測定器の安定度測定限界の比較
を示す。同図内ａが従来技術による測定限界を示す直線
で、ｂが本発明による発振器の周波数を４．９９９ＭＨ
ｚに設定した場合の測定限界を示す直線である。本図に
示されているように従来技術における±１カウントの丸
め誤差を低減する手法を用いることにより測定限界を３
桁程度向上させることができた。この限界は入力信号の
周波数及び発振器の出力信号周波数の差の周波数をさら
に低い周波数にするか、あるいは、発振器の周波数を高
めることによりさらに改善することが可能である。
本発明によるアラン分散測定器の安定度測定限界の比較
を示す。同図内ａが従来技術による測定限界を示す直線
で、ｂが本発明による発振器の周波数を４．９９９ＭＨ
ｚに設定した場合の測定限界を示す直線である。本図に
示されているように従来技術における±１カウントの丸
め誤差を低減する手法を用いることにより測定限界を３
桁程度向上させることができた。この限界は入力信号の
周波数及び発振器の出力信号周波数の差の周波数をさら
に低い周波数にするか、あるいは、発振器の周波数を高
めることによりさらに改善することが可能である。
また、本発明と従来技術のアラン分散測定器を組合せる
ことにより、安定度の非常に悪い発振器から高い精度の
発振器までの安定度の測定ができるダイナミックレンジ
の広いアラン分散測定器を実現することができる。
ことにより、安定度の非常に悪い発振器から高い精度の
発振器までの安定度の測定ができるダイナミックレンジ
の広いアラン分散測定器を実現することができる。
第１図は本発明の第１の実施例の構成図、第２図は本発
明の第２の実施例の構成図、第３図は従来技術と本発明
のアラン分散測定器の安定度測定限界についての比較を
示す図、第４図は時間的に周波数が変化する信号を示す
図、第５図は従来技術によるアラン分散測定器の構成を
示す図、第６図は従来技術によるアラン分散測定器の丸
め誤差を説明する図である。 図において、１は検出器、２は周波数カウンタ部、３は
メモリ、４はデータ処理部、５はカウンタ、６は計数タ
イミング信号発生器、７はラッチ回路、８は発振器、９
は測定データ数計数器、１゜は差周波数出力回路をそれ
ぞれ示す。 ａは従来技術による周波数安定度測定限界を示す直線、
ｂは本発明による周波数安定度測定限界を示す直線、Ｓ
ａは入力信号、ｓｂは矩形波信号、Ｓｃはラッチ信号１
、Ｓｄはデータ処理開始信号、Ｓｅは差周波数信号をそ
れぞれ示す。
明の第２の実施例の構成図、第３図は従来技術と本発明
のアラン分散測定器の安定度測定限界についての比較を
示す図、第４図は時間的に周波数が変化する信号を示す
図、第５図は従来技術によるアラン分散測定器の構成を
示す図、第６図は従来技術によるアラン分散測定器の丸
め誤差を説明する図である。 図において、１は検出器、２は周波数カウンタ部、３は
メモリ、４はデータ処理部、５はカウンタ、６は計数タ
イミング信号発生器、７はラッチ回路、８は発振器、９
は測定データ数計数器、１゜は差周波数出力回路をそれ
ぞれ示す。 ａは従来技術による周波数安定度測定限界を示す直線、
ｂは本発明による周波数安定度測定限界を示す直線、Ｓ
ａは入力信号、ｓｂは矩形波信号、Ｓｃはラッチ信号１
、Ｓｄはデータ処理開始信号、Ｓｅは差周波数信号をそ
れぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 周波数の揺らぎを持つ入力信号を受領し波形整形して２
値の電気信号を出力する検出器（１）と、参照用周波数
信号を出力する発振器（８）と、該検出器（１）と該発
振器（８）とから出力される各々の信号を受領し、その
差周波数の電気信号を出力する差周波数出力回路（１０
）と、 該発振器（８）の出力信号周波数を計数するカウンタ（
５）と、 該差周波数出力回路（１０）の出力電気信号によりラッ
チ信号を形成し、該カウンタ（５）の出力信号をラッチ
するラッチ回路（７）と、 該ラッチ回路（７）の出力信号を受領し、前記周波数の
揺らぎを持つ入力信号のアラン分散値を計算するデータ
処理部（４）とを備え、 入力信号の周波数の揺らぎを１波数以内の誤差でアラン
分散値を測定するアラン分散測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5141790A JPH081449B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | アラン分散測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5141790A JPH081449B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | アラン分散測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03252563A true JPH03252563A (ja) | 1991-11-11 |
| JPH081449B2 JPH081449B2 (ja) | 1996-01-10 |
Family
ID=12886355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5141790A Expired - Fee Related JPH081449B2 (ja) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | アラン分散測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH081449B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038485A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Anritsu Corp | 周波数安定度測定装置 |
| JP2011227033A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-11-10 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 感知装置 |
| US8107121B2 (en) | 2007-11-02 | 2012-01-31 | Ricoh Company, Ltd. | Image processing device, image processing method, and recording method for managing log of output image data |
| US8553927B2 (en) | 2007-11-02 | 2013-10-08 | Ricoh Company, Ltd. | Image processing device and method for determining image data processes based on additional information |
| US8601859B2 (en) | 2009-06-22 | 2013-12-10 | Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. | Sensing device |
-
1990
- 1990-03-02 JP JP5141790A patent/JPH081449B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006038485A (ja) * | 2004-07-22 | 2006-02-09 | Anritsu Corp | 周波数安定度測定装置 |
| JP4593993B2 (ja) * | 2004-07-22 | 2010-12-08 | アンリツ株式会社 | 周波数安定度測定装置 |
| US8107121B2 (en) | 2007-11-02 | 2012-01-31 | Ricoh Company, Ltd. | Image processing device, image processing method, and recording method for managing log of output image data |
| US8553927B2 (en) | 2007-11-02 | 2013-10-08 | Ricoh Company, Ltd. | Image processing device and method for determining image data processes based on additional information |
| JP2011227033A (ja) * | 2009-06-22 | 2011-11-10 | Nippon Dempa Kogyo Co Ltd | 感知装置 |
| US8601859B2 (en) | 2009-06-22 | 2013-12-10 | Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. | Sensing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH081449B2 (ja) | 1996-01-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Zhao et al. | Narrow laser-linewidth measurement using short delay self-heterodyne interferometry | |
| JPH03108627A (ja) | 温度測定方法および分布型光ファイバー温度センサー | |
| CN216748451U (zh) | 一种高精度的授时精度测量系统 | |
| CN105091740B (zh) | 一种基于标定高分辨率频率扫描干涉仪色散啁啾斜率补偿色散的方法 | |
| JPH03252563A (ja) | アラン分散測定器 | |
| CN113091617B (zh) | 一种多模光纤光程变化测量系统 | |
| US5249030A (en) | Method and apparatus for determining the position of a moving body and the time of the position measurement | |
| JPH03120437A (ja) | 光導波路の歪または温度の測定方法および装置 | |
| JPH03252562A (ja) | アラン分散の測定器 | |
| Zhang et al. | Modeling of microwave magnetic envelope solitons in thin ferrite films through the nonlinear Schrödinger equation | |
| CN112432767B (zh) | 一种基于光延时自外差的激光器波长漂移范围的测量方法及装置 | |
| JPH0249169A (ja) | アラン分散測定器 | |
| Owens et al. | Complex phase effects on a pulsed-source digital holography system | |
| US6614511B1 (en) | Light wavelength dispersion measuring apparatus and light wavelength dispersion measuring method | |
| US3327212A (en) | Multi-mode microwave power meter having oversized measuring waveguide section with probes on all four walls | |
| Hamza | Investigation of the optimum trigger level in time interval measurement | |
| Bui et al. | Dielectric losses in an H-plane-loaded rectangular waveguide (short papers) | |
| Richings et al. | Measured odd-and even-mode dispersion of coupled microstrip lines (short papers) | |
| Xing et al. | Absolute optical frequency measurement of stabilized lasers using an Er-doped fiber femtosecond laser comb | |
| CN108917923A (zh) | 功率测量方法和电子设备 | |
| CN108871562A (zh) | 激光脉冲时间功率曲线的测量系统和测量方法 | |
| Diz-Bugarín et al. | New electronic implementation of the timestamps method intended for high resolution comparison of laser wavelengths | |
| Samoudi | Realisation of the metre by using a femtosecond laser frequency comb: applications in optical frequency metrology | |
| US4775244A (en) | Method and apparatus for measurement of pulse width of very short pulses | |
| JP3292306B2 (ja) | 光周波数測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |