JPH0324716A - レジスト現像装置 - Google Patents

レジスト現像装置

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JPH0324716A
JPH0324716A JP15842889A JP15842889A JPH0324716A JP H0324716 A JPH0324716 A JP H0324716A JP 15842889 A JP15842889 A JP 15842889A JP 15842889 A JP15842889 A JP 15842889A JP H0324716 A JPH0324716 A JP H0324716A
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JP
Japan
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resist
developer
processed
workpiece
eliminated
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JP15842889A
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Taro Saito
太郎 齋藤
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体製造におけるレジスト現像装置に関す
るものである. (従来の技術) 従来、このような分野の技術としては、例えば特開昭5
6 − 26435号に示すようなものがあった.第3
図はかかる従来のレジスト現像装置の断面図である. この図において、1は現像槽、2はその現像槽に入った
現像処理液、3は気泡発生板、4はガス導入口、5は流
量計、6は被加工体支持具、7は被加工体を示している
. このようなレジスト現像装置で現像すると、被加工体7
の表面では気泡による攪拌のため、常に新鮮な現像処理
液2が供給され、かつ気泡が被加工体7の表面に衝突す
る際の力学的作用により、必要としない領域のレジスト
層を物理的に除去でき、加工精度の高い現像処理が可能
である.第4図は従来のエッチング液撹拌装置の断面図
である. この図において、11はウエハ、I2はウエハ11を収
納するウエハキャリア、l3は回転子、l4はスクリュ
ーファン、15はマグネットスターラーテーブルであり
、このマグネットスターラーテーブルl5の回転子13
にスクリューファンL4を取付け、このスクリューファ
ンl4の回転によりエッチング液に水平方向及び鉛直方
向の対流をつくるように構戒されている(特開昭60−
119728号参照).(発明が解決しようとする課題
) しかしながら、上記構成の装置では、現像液に溶けたレ
ジスト残渣が現像液中に浮遊して、被加工体に再付着す
るといった問題があった.本発明は、以上述べたレジス
ト残渣の再付着の問題点を除去し、加工精度の高い現像
処理ができる優れたレジスト現像装1を提供することを
目的とする. (課題を解決するための手段) 本発明は、上記目的を達威するために、レジスト現像装
置において、現像槽(11)中の現像液(12)を攪拌
する手段と、被加工体(l5)をその現像液中に浸す手
段と、前記被加工体(l5〉から除去されるレジスト残
渣を捕獲する手段と、前記被加工体(15)をその現像
液(l2)中から取り出す手段を設けるようにしたもの
である. (作用) 本発明によれば、上記のように、レジスト現像に際して
、現像液(12)を掻き混ぜる最中に被加工体(15)
を浸し、必要としない領域のレジスト層を除去し、取り
出すことができる.その場合、被加工体(15〉から除
去されるレジスト残渣は、フィルタ(l7)により有効
に除去することができる.(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細
に説明する. 第1図は本発明の実施例を示すレジスト現像装置の断面
図、第2図はそのレジスト現像装置の斜視図である. これらの図において、l1は現像槽、12は現像液、l
3は現像液を掻き混ぜるファン、l4はファンl3を駆
動するモータ、l5は被加工体(通常はウエハ)、l6
は被加工体支持具、l7はレジスト残渣を捕獲するフィ
ルタである. 次に、上記レジスト現像装置を用いた本発明のレジスト
現像手順について述べる. まず、被加工体l5を現像液12に浸す前にファンl3
を50〜l00rpmで回転させることにより、渦状の
水流を作る. その後、被加工体支持具16を下降させ、被加工体15
を現像液12に浸す.すると、第1図に示すように、現
像液l2中に溶け出したレジスト残渣は下方向への水流
に乗ってファン13付近まで到達し、フィルタ17に捕
獲される. なお、フィルタl7は脱着可能とし、目づまりしない程
度で交換する. また、フィルタ17は残渣の流路に設ける。但し、ファ
ン13によって現像液12が攪拌されるように、大きさ
、位置を設定する.例えば第1図及び第2図に示すよう
に、ファン13より外側で現像槽下方内壁に設ける. このように構成することにより、現像時のレジスト残渣
は下方のフィルタに捕獲されるので、被加工体に再付着
することがない. また、水流を積極的に発生させると共に、レジスト残渣
の除去を行うようにしているため、現像槽は小型化、及
び高効率のレジストの現像を行うことができる. なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の趣旨に基づいて種々の変形が可能であり、これ
らを本発明の範囲から排除するものではない. (発明の効果) 以上、詳細に説明したように、本発明によれば、現像時
のレジスト残渣が下方のフィルタに捕獲されるので、被
加工体に再付着することがない.従って、より加工精度
の高い現像処理を行うことができる. また、水流を積極的に発生させると共に、レジスト残渣
の除去を行うようにしているため、現像槽を小型化する
ことができると共に、効率良くレジストの現像を行うこ
とができる.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すレジスト現像装置の断面
図、第2図はそのレジスト現像装置の斜視図、第3図は
従来のレジスト現像装置の断面図、第4図は従来のエッ
チング液攪拌装置の断面図である. 1l・・・現像槽、12・・・現像液、13・・・ファ
ン、l4・・・モータ、 15・・・被加工体、l6・・・被加工体支持具、l7
・・・フィルタ.

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (a)現像槽中の現像液を攪拌する手段と、(b)被加
    工体をその現像液中に浸す手段と、(c)前記被加工体
    から除去されるレジスト残渣を捕獲する手段と、 (d)前記被加工体をその現像液中から取り出す手段と
    を具備することを特徴とするレジスト現像装置。
JP15842889A 1989-06-22 1989-06-22 レジスト現像装置 Expired - Fee Related JP2810419B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03100555A (ja) * 1989-09-13 1991-04-25 Konica Corp Ps版の処理装置
JP2014082234A (ja) * 2012-10-12 2014-05-08 Shindengen Electric Mfg Co Ltd ディップ式現像装置及び半導体ウェーハの現像方法
CN110888305A (zh) * 2018-09-07 2020-03-17 王彦智 高阶负型光阻剥膜槽

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CN110888305A (zh) * 2018-09-07 2020-03-17 王彦智 高阶负型光阻剥膜槽

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