JPH03243842A - 微量漏洩ガス測定法 - Google Patents

微量漏洩ガス測定法

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JPH03243842A
JPH03243842A JP2040434A JP4043490A JPH03243842A JP H03243842 A JPH03243842 A JP H03243842A JP 2040434 A JP2040434 A JP 2040434A JP 4043490 A JP4043490 A JP 4043490A JP H03243842 A JPH03243842 A JP H03243842A
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chamber
gas
helium
leakage
stop valve
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JP2040434A
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Shigeru Usui
臼井 茂
Seihachirou Baba
馬場 誠八郎
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Global Nuclear Fuel Japan Co Ltd
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Japan Nuclear Fuel Co Ltd
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    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

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  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、微量漏洩ガス測定法に係り、特に原子燃料体
等から漏洩するヘリウム等の微量漏洩ガス測定法に関す
る。
(従来の技術及び発明が解決しようとする課題)一般に
、原子燃料体内部に封入されたヘリウムの漏洩量を検出
する方法として、原子燃料体をチャンバー内に密封し、
真空排気後、この漏洩ヘリウムを検出器例えば質量分析
計に導き分析して漏洩ヘリウム量を測定することが行わ
れていた。
これを第4図により具体的に示すと、チャンバー10内
を開閉弁11を介して所定時間排気ポンプ12により排
気した後、チャンバー10内に漏洩するヘリウム等の気
体を開閉弁13を介して直に排気ポンプ14により検出
器15に導きヘリウム等の漏洩量を検出し、これを第5
図のようにレコーダチャト上に過度特性曲線を描くよう
にして求めていた。
この検出方法は単純ではあるが、ヘリウム等の飽和漏洩
量Qを検出するには相当の時間がかかってしまうので、
普通、前記過度特性曲線の時定数τを求め、この時定値
τを1,59倍(1/τ)して概略的な飽和漏洩量Qを
算出する方法が採用されていた。
ところで、チャンバー10からヘリウム等の気体を直接
に検出器15に導くと、このチャンバー内壁等に吸蔵さ
れているヘリウムが断続的に放出されるのでその検出特
性に大きな揺らぎ部PI。
P2・・・が生しく第5図参照)、この特性値からでは
飽和漏洩ff1Qを正確に読取ることがでいない等の問
題がある。
そのため、特性が水平になった時点Qをとらえ、この値
からヘリウムの飽和漏洩量を検出していたか、この値に
もバラツキがあり正確な飽和値を求めることかできない
と言う問題かあった。
そこで、本発明は、チャンバー内壁等に吸蔵されるヘリ
ウムがあっても、このヘリウムによって漏洩量の検出に
誤差を生しないようにした微量漏洩ガス/fJj定注を
得ようとするものである。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明は、チャンバー内の気体を排気した後、このチャ
ンバーを所定時間密封し、このチャンバーに生じる漏洩
ガスを一時的に封じ込め、この封じ込んだ漏洩ガスを検
出器に導くようにしたものであり、また、封じ込み時間
を時定数にしたものである。
(作 用) チャンバー内の気体が排気され真空状態にされた後、チ
ャンバーを密閉すると、チャンバー内には原子燃料体か
らの漏洩気体例えばヘリウムガスが漏洩される。そこで
一定時間例えば時定数経過後に、このチャンバー内の漏
洩ガスが検出器に導かれてチャンバー内の漏洩ガスが検
出される。
(実施例) 以下本発明微量漏洩ガス測定法の一実施例を図面につい
て説明する。
全体を20で示す微量漏洩ガス測定装置は、第4図に示
したものと同一である。即ち、原子燃料体の挿入された
チャンバー21が配置される。このチャンバー21には
分岐管路22が連結され、1つの分岐管路22aには開
閉弁23を介して真空ポンプ24が連結される。
また、他の分岐管路22bには開閉弁25を介して検出
器26と真空ポンプ27が直列的に連結される。なお、
28は開閉弁25と検出器26との間に設けられたヘリ
ウムガス漏洩標準チューブであって、検出器26がヘリ
ウムガスを測定中においてヘリウムガス漏洩の標準値を
定めるものであり、29は分岐管路22bとヘリウムガ
ス漏洩標準チューブ28との間に連結された開閉弁であ
る。
このような構成の微量漏洩ガス測定装置において、まず
開閉弁25が閉じられ開閉弁23が開かれ真空ポンプ2
4が運転され、チャンバー21内の気体が排気され不純
気体が除去される。
排気作業が終了したら、開閉弁23が閉じられ、チャン
バー21内には原子燃料体から漏洩する気体、例えばヘ
リウムガスが収集される。この場合、チャンバー21の
内壁等の吸蔵ヘリウムもチャンバー21内に収集される
所定の時間が経過した後、開閉弁25が開かれ真空ポン
プ27が運転されてチャンバー21の内部気体が開閉弁
25を介して検出器26に導かれ、ヘリウムガス漏洩標
準チューブ28の標準値と比較されながらチャンバー2
1の内部のヘリウムガスが検出される。この検出により
得られた漏洩ヘリウム量は第2図に実線Yoで示される
ように表される。これは波線で示した従来の特性曲線Y
qとは異なり矩形波的に検出される。これを数値的に解
析すると、開閉弁25を開いたときのチャンバー21内
のヘリウム圧は次の式で表わせる。
P= (Po−Q/5)exp (−t/r)+Q/S
   −(1)ここで、 P :ヘリウム圧(To r r) Po:チャンバー内初期ヘリウム圧(To r r)S
 :排気ポンプのヘリウム排気速度(1/s)Q :原
子燃料体のヘリウム漏洩量(Torr・1/S)t :
開閉弁25を開いてからの時間(s)τ :時定数(τ
−V/s、ただしV:チャンバー容積)この(1)式は
下式のように変形できる。即ち、5P−8(Po −Q
/S) eXp (−t/r) +Q   ・−(2)
(2)式よりヘリウム漏洩tEtsPがQを示すには Po−Q/S=O−(3) でなければならない。一方、 Po−Q/V−th          ・・・(4)
(ただし、th:チャンバーを閉している時間)である
から、(3)式と(4)式とからth−V/S−τ  
        ・・・(5)の関係式が得られる。
従って、チャンバー21を時定数τの時間だけ閉じるこ
とにより、ヘリウム漏洩mQを正確に検出することかで
きる。
第3図は、従来例による特性曲線Yqと本発明方法によ
り得られた特性曲線Yoの一例である。
ヘリウム漏洩量の飽和値では本発明方法ではQの値まで
検出されたが、従来例による方法てはQqまでしか検出
できず精度的に見劣りし、また、検出時間は本発明方法
ではは、時定数τでよいが、従来例の方法ではある程度
安定するまでのt1時間かかつてしまう。
まお、上記実施例では検出気体としてヘリウムについて
行ったが、他の同様な微量気体についても適応できるこ
とは勿論である。
〔発明の効果〕
チャンバーの気体を排気してからチャンバーを時定数時
間閉じ、その後このチャンバーの気体を検出器に導き検
出するようにしたことにより正確にヘリウム漏洩量を直
接検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明微量漏洩ガス測定法の主要部を示すブ
ロック線図、第2図および第3図は、第1図の微量漏洩
ガス測定法を用いて検出した特性曲線と従来の方法によ
る特性曲線図、第4図は、微量漏洩ガス測定法の主要部
を示すブロック線図、第5図は、従来の方法による検出
した詳細な特性曲線図である。 10・・・チャンバー、11.13.23,25゜29
・・・開閉弁、12,14,24.27・・・真空ボン
フ、15.26・・・検出器、20・・・微量漏洩ガス
測装置、22・・・分岐管路、28・・・標準チュウブ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、漏洩検査対象物の入ったチャンバー内の気体を排気
    した後、このチャンバーを所定時間密封しこのチャンバ
    ー内に生じる漏洩ガスを一時的に封じ込め、この封じ込
    んだ漏洩ガスを検出器に導ようにしたことを特徴とする
    微量漏洩ガス測定法。 2、前記漏洩ガスをチャンバーに封じ込める時間を時定
    数としたことを特徴とする請求項1記載の微量漏洩ガス
    測定法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003106924A (ja) * 2001-09-28 2003-04-09 Shimadzu System Solutions Co Ltd 包装された物品におけるシールの良否判定方法
WO2012117887A1 (ja) * 2011-03-01 2012-09-07 株式会社oneA 気密性検査装置
CN106017819A (zh) * 2016-06-24 2016-10-12 中国科学院光电研究院 一种分压漏率测量装置及方法
JP2018194415A (ja) * 2017-05-17 2018-12-06 株式会社デンソー 漏れ検出方法及び漏れ検出装置

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