JPH03243324A - プラスチックフィルムのプロファイル制御方法 - Google Patents
プラスチックフィルムのプロファイル制御方法Info
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- JPH03243324A JPH03243324A JP2038364A JP3836490A JPH03243324A JP H03243324 A JPH03243324 A JP H03243324A JP 2038364 A JP2038364 A JP 2038364A JP 3836490 A JP3836490 A JP 3836490A JP H03243324 A JPH03243324 A JP H03243324A
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Landscapes
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- Extrusion Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、押出成形機によって成形するプラスチック
フィルムもしくはシートの成形プロセスにおいて、最も
重要な品質管理力（要求される平均厚さに対するプロフ
ァイル制御方法に関する。
フィルムもしくはシートの成形プロセスにおいて、最も
重要な品質管理力（要求される平均厚さに対するプロフ
ァイル制御方法に関する。
一般に、この種のプラスチ・ンクフイルムにおける厚さ
制御として、プラスチ・ｙクフイルムの送出方向（Ｍａ
ｃｈｉｎｅ Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ）に対する厚さ制御（
ＭＤ制御という）と、プラスチ・ンクフィルムノ幅方向
（Ｃｒｏｓｓ Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ）に対する厚さ制御
（ＣＤプロファイル制御と〜］う）とか知られている。
制御として、プラスチ・ｙクフイルムの送出方向（Ｍａ
ｃｈｉｎｅ Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ）に対する厚さ制御（
ＭＤ制御という）と、プラスチ・ンクフィルムノ幅方向
（Ｃｒｏｓｓ Ｄｉｒｅｃｔｉｏｎ）に対する厚さ制御
（ＣＤプロファイル制御と〜］う）とか知られている。
そして、これらＭＤ副制御ＣＤプロファイル制御は、い
ずれも走査式厚さ計を使用して同時に行われる。
ずれも走査式厚さ計を使用して同時に行われる。
しかるに、前記プラスチックフィルムの厚さ分布の均一
化を目的とするプロファイル制御は走査式厚さ計によっ
て測定される生データ（原波形）に基ついて行われる。
化を目的とするプロファイル制御は走査式厚さ計によっ
て測定される生データ（原波形）に基ついて行われる。
この場合、制御対象は殆どＴダイ（ダイボルト、チョー
クバー）に限定されている。
クバー）に限定されている。
従来より、プラスチックフィルムの幅方向の厚さむらを
調整し得るよう構成したＴグイとして、ダイの間隙調整
を可動リップにより行うよう構成したものが知られてい
る。この種の可動リップ方式によるＴダイは、固定リッ
プと可動リップとを対向させて、これらのリップによっ
て形成される間隙によって押出成形されるプラスチック
フィルムの厚さか規定され、前記可動リップには幅方向
に複数個のダイボルトが設けられ、これらのダイボルト
をそれぞれ移動させることにより、リップ間隙を調整す
るよう槽底される。
調整し得るよう構成したＴグイとして、ダイの間隙調整
を可動リップにより行うよう構成したものが知られてい
る。この種の可動リップ方式によるＴダイは、固定リッ
プと可動リップとを対向させて、これらのリップによっ
て形成される間隙によって押出成形されるプラスチック
フィルムの厚さか規定され、前記可動リップには幅方向
に複数個のダイボルトが設けられ、これらのダイボルト
をそれぞれ移動させることにより、リップ間隙を調整す
るよう槽底される。
このような構成によるプロファイル制御およびダイボル
ト調整に際し、走査式厚さ計により測定される複雑なプ
ロファイル波形は、各種空間波長く以下、単に波長と称
する）の正弦波成分か複合されたもの〈フーリエ級数で
波形解析される）と考えられる。
ト調整に際し、走査式厚さ計により測定される複雑なプ
ロファイル波形は、各種空間波長く以下、単に波長と称
する）の正弦波成分か複合されたもの〈フーリエ級数で
波形解析される）と考えられる。
このうち、ある限度以下の細かな波長成分（波形の凹凸
の波長）は、ダイボルト操作では修正不可能である０例
えば、ナイロン、ＰＰ、ＰＥＴおよびＰＶＡフィルム等
のプロファイル波形は、細かな凹凸か目立ち、このよう
な原波形に基づいてダイボルトの操作量を決めると、ノ
イズ成分を対象とした修正動作か行われ易くなり、これ
らの成分をダイボルトで調整することは不可能であるは
かりか、むしろ逆効果である場合か多い。特に、各ダイ
ホルトへ熟量をステップ状に供給して制御する熟変位式
自動ダイの場合には、温度か過剰に高くあるいは低くな
り、調整不能となる。
の波長）は、ダイボルト操作では修正不可能である０例
えば、ナイロン、ＰＰ、ＰＥＴおよびＰＶＡフィルム等
のプロファイル波形は、細かな凹凸か目立ち、このよう
な原波形に基づいてダイボルトの操作量を決めると、ノ
イズ成分を対象とした修正動作か行われ易くなり、これ
らの成分をダイボルトで調整することは不可能であるは
かりか、むしろ逆効果である場合か多い。特に、各ダイ
ホルトへ熟量をステップ状に供給して制御する熟変位式
自動ダイの場合には、温度か過剰に高くあるいは低くな
り、調整不能となる。
従って、走査式厚さ計により測定されたプロファイル波
形は、そのままではプロファイルの調整用データとして
は不適正である。
形は、そのままではプロファイルの調整用データとして
は不適正である。
また、このようなプロファイル制御では、ダイボルトの
調整以外の要因によって生じる欠陥、例えばダイライン
、しわ、ノイズ等の監視や診断が困難である。
調整以外の要因によって生じる欠陥、例えばダイライン
、しわ、ノイズ等の監視や診断が困難である。
このような観点から、Ｔダイのリップ部とダイボルトの
間隔位置およびプロファイル波形の波長成分についての
関係について検討すれば次の通りである。
間隔位置およびプロファイル波形の波長成分についての
関係について検討すれば次の通りである。
すなわち、リップ部材は剛性の高い弾性体で構成され、
ダイボルトによるその変形パターンは力学の法則によっ
て支配される連続性かあり、限度以上に細かい湾曲は不
可能である。
ダイボルトによるその変形パターンは力学の法則によっ
て支配される連続性かあり、限度以上に細かい湾曲は不
可能である。
そこで、リップの変形パターンの理論最小ピッチＰ１ａ
とダイボルト間隔ａとの関係は、第４図に示す通りであ
り、特に特殊形状を有するフレキシブルリップ（リップ
上に凹凸を有する）の場合には完全に次式が成立する。
とダイボルト間隔ａとの関係は、第４図に示す通りであ
り、特に特殊形状を有するフレキシブルリップ（リップ
上に凹凸を有する）の場合には完全に次式が成立する。
Ｐ ｍｌ＋＋ ＝ ２ ａ ・・・
（１）なお、標準的なフレキシブルリップの場合、実質
的にこの変形パターンの最小ピッチＰ ＋ｍｌ＋＋は、 Ｐｌ。＝１５０〜２００ｍｍ である。
（１）なお、標準的なフレキシブルリップの場合、実質
的にこの変形パターンの最小ピッチＰ ＋ｍｌ＋＋は、 Ｐｌ。＝１５０〜２００ｍｍ である。
式（１）のような関係であるから前記ダイホルト間隔ａ
が小さい程、プロファイル波形の細かい凹凸成分の改善
が可能である。このため、ダイボルト間隔を狭めること
は、プロファイル波形中に振幅の大きな小波長の凹凸成
分が含まれている場合、その効果は極めて大きい。
が小さい程、プロファイル波形の細かい凹凸成分の改善
が可能である。このため、ダイボルト間隔を狭めること
は、プロファイル波形中に振幅の大きな小波長の凹凸成
分が含まれている場合、その効果は極めて大きい。
しかるに、一般に、プロファイル波形に含まれる凹凸成
分のうち、修正したい最小波長をλ１３とした時、所要
ダイボルト間隔ａは、一般にほぼＰ＝λと見なせるため
、前記式（１）より次式の関係が成立する。
分のうち、修正したい最小波長をλ１３とした時、所要
ダイボルト間隔ａは、一般にほぼＰ＝λと見なせるため
、前記式（１）より次式の関係が成立する。
ａ≦λ１ヵ／２ ・・・（２）この関係
式は、正にディジタル計測におけるサンプリング定理と
対応している。
式は、正にディジタル計測におけるサンプリング定理と
対応している。
さて、前述したように走査式厚さ計により測定されたプ
ロファイル波形そのままでは、ノイズ的成分である凹凸
成分のためにプロファイルの調整用データとして用いる
には不適正である。このため、β線などで古くから用い
られてきたアナログ式ローパスフィルタ法によって細か
な凹凸成分、すなわち高周波成分を取除いて平滑化する
方法や、或いは非常に変化の激しいデータを大局的に観
察するときによく行われるデジタル式単純移動平均法を
用いて平滑化する方法等か採られている。
ロファイル波形そのままでは、ノイズ的成分である凹凸
成分のためにプロファイルの調整用データとして用いる
には不適正である。このため、β線などで古くから用い
られてきたアナログ式ローパスフィルタ法によって細か
な凹凸成分、すなわち高周波成分を取除いて平滑化する
方法や、或いは非常に変化の激しいデータを大局的に観
察するときによく行われるデジタル式単純移動平均法を
用いて平滑化する方法等か採られている。
しかしなから、前述したアナログ式ローパスフィルタ法
による平滑化方法は、−次信号を抵抗とコンデンサによ
って構成するＲＣ−次遅れフィルタ等を通して平滑化す
るものであるため、位相ずれが生じてプラスチックフィ
ルム（以下、単にフィルムという）のプロファイルの実
態を掴めないという難点を有している。
による平滑化方法は、−次信号を抵抗とコンデンサによ
って構成するＲＣ−次遅れフィルタ等を通して平滑化す
るものであるため、位相ずれが生じてプラスチックフィ
ルム（以下、単にフィルムという）のプロファイルの実
態を掴めないという難点を有している。
また、デジタル式単純移動平均法（非対称型と対称型と
があるが、ここでは対称型を扱う）によれば、単純移動
平均演算を行うフィルタのバンド巾をＢとするとき、フ
ィルムプロファイルに含まれる波長成分のうち、波長λ
＝（０，５〜１）Ｂ の成分の凹凸が逆転するという実状にそぐわない点があ
り、制御上大変都合か悪い、さらに、単純移動平均演算
を行うためのフィルタのバンド巾に対し、最適バンド巾
を選択するための拠り所がないという問題点がある。
があるが、ここでは対称型を扱う）によれば、単純移動
平均演算を行うフィルタのバンド巾をＢとするとき、フ
ィルムプロファイルに含まれる波長成分のうち、波長λ
＝（０，５〜１）Ｂ の成分の凹凸が逆転するという実状にそぐわない点があ
り、制御上大変都合か悪い、さらに、単純移動平均演算
を行うためのフィルタのバンド巾に対し、最適バンド巾
を選択するための拠り所がないという問題点がある。
そこで、本発明の目的は、押出成形機によって連続成形
されるプラスチックフィルム等のプロファイル制御方法
において、走査式厚さ計により測定されたプロファイル
データに対し最適バンド巾を選択して、プロファイル制
御が不可能な短波長成分は凹凸の逆転を伴わす減衰・消
滅すると共に、制御可能な中・長波長成分の減衰は最小
となる最適なデータ加工をする平滑化処理を行い、これ
により決定された自動ダイの操作量に基づくプラスチッ
クフィルムのプロファイル制御方法を提供するにある。
されるプラスチックフィルム等のプロファイル制御方法
において、走査式厚さ計により測定されたプロファイル
データに対し最適バンド巾を選択して、プロファイル制
御が不可能な短波長成分は凹凸の逆転を伴わす減衰・消
滅すると共に、制御可能な中・長波長成分の減衰は最小
となる最適なデータ加工をする平滑化処理を行い、これ
により決定された自動ダイの操作量に基づくプラスチッ
クフィルムのプロファイル制御方法を提供するにある。
本発明に係るプラスチックフィルムのプロファイル制御
方法は、押出成形されるプラスチックフィルム等に対し
走査式厚さ計によりプロファイルの計測を行い、得られ
たプロファイルデータに基づいて自動ダイを操作し所要
の厚さのフィルムを成形するプラスチックフィルムのプ
ロファイル制御方法において、前記プロファイルデータ
内に含まれ、かつ、自動ダイによって調整不可能な細が
な凹凸成分データをカットオフするための平滑化処理を
行うに際し、前記プロファイルデータに対して異なる平
均化帯域巾を用いて少くとも２回対称型の移動平均演算
処理を行い、その平均値によって自動ダイの操作量を決
定することを特徴とする。
方法は、押出成形されるプラスチックフィルム等に対し
走査式厚さ計によりプロファイルの計測を行い、得られ
たプロファイルデータに基づいて自動ダイを操作し所要
の厚さのフィルムを成形するプラスチックフィルムのプ
ロファイル制御方法において、前記プロファイルデータ
内に含まれ、かつ、自動ダイによって調整不可能な細が
な凹凸成分データをカットオフするための平滑化処理を
行うに際し、前記プロファイルデータに対して異なる平
均化帯域巾を用いて少くとも２回対称型の移動平均演算
処理を行い、その平均値によって自動ダイの操作量を決
定することを特徴とする。
また、前記異なる平均化帯域巾を用いる移動平均演算処
理の少なくとも２回の平均化帯域巾は、２回目の平均化
帯域巾を最初の平均化帯域巾の１／１．５〜１／２とす
れば好適である。
理の少なくとも２回の平均化帯域巾は、２回目の平均化
帯域巾を最初の平均化帯域巾の１／１．５〜１／２とす
れば好適である。
〔作 用〕
本発明に係るプラスチックフィルムのプロファイル制御
方法によれば、走査式厚さ計により測定されたプロファ
イルデータ内のプロファイル制御が不可能な短波長成分
をカットする平滑化処理を行うに際し、アナログ式ロー
パスフィルタ法を用いないため位相すれによる欠点が生
じることはなく、少くとも２回は異なる平均化帯域巾を
用いて移動平均を行う新たな多重移動平均法を採用した
ため単純移動平均法による凹凸成分の逆転を大巾に改善
することができる。さらに、凹凸の逆転を伴わず減衰・
消滅するよう最適バンド巾を選択することかできると共
に、制御可能な中・長波長成分の減衰を最小とする最適
なデータ加工により決定され７′：操作量に基づ＜ＦＦ
ｌ１７７９方法であるため、最良の品質を有する所要厚
さのフィルムを成形することかできる。
方法によれば、走査式厚さ計により測定されたプロファ
イルデータ内のプロファイル制御が不可能な短波長成分
をカットする平滑化処理を行うに際し、アナログ式ロー
パスフィルタ法を用いないため位相すれによる欠点が生
じることはなく、少くとも２回は異なる平均化帯域巾を
用いて移動平均を行う新たな多重移動平均法を採用した
ため単純移動平均法による凹凸成分の逆転を大巾に改善
することができる。さらに、凹凸の逆転を伴わず減衰・
消滅するよう最適バンド巾を選択することかできると共
に、制御可能な中・長波長成分の減衰を最小とする最適
なデータ加工により決定され７′：操作量に基づ＜ＦＦ
ｌ１７７９方法であるため、最良の品質を有する所要厚
さのフィルムを成形することかできる。
次に、本発明に係るプラスチックフィルムのプロファイ
ル制御方法の実施例につき、添付図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
ル制御方法の実施例につき、添付図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
第１図は、本発明のプラスチックフィルムのプロファイ
ル制御方法を押出成形機の成形プロセス制御システムに
適用した一実施例を示すシステム構成国である。
ル制御方法を押出成形機の成形プロセス制御システムに
適用した一実施例を示すシステム構成国である。
すなわち、第１図はプラスチックフィルムを成形するプ
ロセスであって、参照符号１０は押出機、１２はフィル
ム成形用下ダイ、１４は成形ロールユニット、１６は走
査式厚さ計、１８は巻取機をそれぞれ示す。前記走査式
厚さ計１６による測定信号は入力インタフェース２０を
介してＣＰＵ２２にプロファイル波形として入力される
。ＣＰＵ２２には、記憶手段としてのメモリ２４および
入出力手段としてのＣＲＴデイスプレィ２６、キーボー
ド２８、プリンタ３０が接続配置される。
ロセスであって、参照符号１０は押出機、１２はフィル
ム成形用下ダイ、１４は成形ロールユニット、１６は走
査式厚さ計、１８は巻取機をそれぞれ示す。前記走査式
厚さ計１６による測定信号は入力インタフェース２０を
介してＣＰＵ２２にプロファイル波形として入力される
。ＣＰＵ２２には、記憶手段としてのメモリ２４および
入出力手段としてのＣＲＴデイスプレィ２６、キーボー
ド２８、プリンタ３０が接続配置される。
そして、前記ＣＰＵ２２において前記プロファイル制御
信号は、パワーユニット３２を介してＴダイ１２に対し
ダイボルトの操作信号としてフィードバックされる。
信号は、パワーユニット３２を介してＴダイ１２に対し
ダイボルトの操作信号としてフィードバックされる。
次に、前記構成からなる成形プロセスにおけるシステム
の本発明に係る制御方法による処理操作について、第２
図に示すフローチャートを参照しながら説明する。
の本発明に係る制御方法による処理操作について、第２
図に示すフローチャートを参照しながら説明する。
まず、走査式厚さ計１６によって、成形ロールユニット
１４より連続的に送出されるフィルムのプロファイルデ
ータを測定し、この測定信号を入力インタフェース２ｏ
を介してＣＰＵ２２に入力し、メモリ２４に記憶させる
。
１４より連続的に送出されるフィルムのプロファイルデ
ータを測定し、この測定信号を入力インタフェース２ｏ
を介してＣＰＵ２２に入力し、メモリ２４に記憶させる
。
このようにして、所要のプロファイルデータのサンプリ
ングが達成された時点で、ＣＰＵ２２における演算機能
によって次の各データ処理を行う。
ングが達成された時点で、ＣＰＵ２２における演算機能
によって次の各データ処理を行う。
（１）プロファイル波形（原波形）の作成（２）原波形
の小波長凹凸成分をカットオフして平滑化処理を行った
プロファイル波形の作成 （３）カットオフしたテ°−夕の保持 （４）平滑化処理を行ったプロファイル波形に基づくＴ
ダイのボルト調整量の算出 このようにして、ＣＰＵ２２において演算処理された各
データは、前記（１）〜（３）項につきＣＲＴデイスプ
レィ２６に表示したり、プリンタ３０に出力することが
できる。第３図は原波形データと平滑化処理を行ったプ
ロファイル波形データとの表示例を示すものである。勿
論、カットオフしたデータの表示も可能である。
の小波長凹凸成分をカットオフして平滑化処理を行った
プロファイル波形の作成 （３）カットオフしたテ°−夕の保持 （４）平滑化処理を行ったプロファイル波形に基づくＴ
ダイのボルト調整量の算出 このようにして、ＣＰＵ２２において演算処理された各
データは、前記（１）〜（３）項につきＣＲＴデイスプ
レィ２６に表示したり、プリンタ３０に出力することが
できる。第３図は原波形データと平滑化処理を行ったプ
ロファイル波形データとの表示例を示すものである。勿
論、カットオフしたデータの表示も可能である。
また、前記（４ン項に関するデータは、ダイボルト制御
信号としてパワーユニット３２へ転送し、Ｔダイ１２の
ダイボルト位置調整を行う。
信号としてパワーユニット３２へ転送し、Ｔダイ１２の
ダイボルト位置調整を行う。
以上の処理操作を所定のダイミングで反復し、本発明シ
ステムの円滑な運転を達成することができる。
ステムの円滑な運転を達成することができる。
ここで、前記（２）項の本発明に係る平滑化処理につき
、従来の単純移動平均法と比較しながら更に詳細に説明
する。第３図から明らかなように、原波形には細かな凹
凸のノイズ的成分が含まれているため、この原波形から
制御用としてｉ適なデータだけを抽出する平滑化処理を
行う必要がある。
、従来の単純移動平均法と比較しながら更に詳細に説明
する。第３図から明らかなように、原波形には細かな凹
凸のノイズ的成分が含まれているため、この原波形から
制御用としてｉ適なデータだけを抽出する平滑化処理を
行う必要がある。
以下、分かり易くするために、プロファイルのモデル成
分を正弦波として表し、連続関数ｙ （ｘ）について解
析する。
分を正弦波として表し、連続関数ｙ （ｘ）について解
析する。
ｙ （Ｘ）＝α５ｉｎ２π（×／λ） ・・・（３
）ここで、λは波長、αは波高（Ｐ−Ｐの１／２）であ
り、以下の説明ではα＝１とする。そこで、従来の単純
移動平均法によれば、位置Ｘの単純移動平均ｙ （ｘ）
は、次式で表される（対称型）。
）ここで、λは波長、αは波高（Ｐ−Ｐの１／２）であ
り、以下の説明ではα＝１とする。そこで、従来の単純
移動平均法によれば、位置Ｘの単純移動平均ｙ （ｘ）
は、次式で表される（対称型）。
ここで、Ｂはフィルタのバンド中である。
（４）式を定積分してまとめれば、
ｓｉｎπ （Ｂ／λ）
ｙ（ｘ）＝ −ｓ ｉ ｎ２ｒ（
ｘ／λ）π （Ｂ／λ） ・・・（５） となる、従って、波高の′＄４衰比Ａは、ｓｉｎπ （
Ｂ／λ） Ａ・ ・・・（
６）π （Ｂ／λ ） と表される。
ｘ／λ）π （Ｂ／λ） ・・・（５） となる、従って、波高の′＄４衰比Ａは、ｓｉｎπ （
Ｂ／λ） Ａ・ ・・・（
６）π （Ｂ／λ ） と表される。
（６）式をＢ／λに対してプロットすると、第６図に示
す通りである。すなわち、単純に移動平均をとるたけで
は、第６図のＣで示すように、１≦（Ｂ／λ）≦２の範
囲において減衰比Ａか負、つまり、位相が１８０°ずれ
て凹凸が逆転する現象が発生する。この現象は３≦（Ｂ
／λ）≦４の範囲でも同様であるが、実用上は無視でき
るため、以下では範囲Ｃについて検討している。
す通りである。すなわち、単純に移動平均をとるたけで
は、第６図のＣで示すように、１≦（Ｂ／λ）≦２の範
囲において減衰比Ａか負、つまり、位相が１８０°ずれ
て凹凸が逆転する現象が発生する。この現象は３≦（Ｂ
／λ）≦４の範囲でも同様であるが、実用上は無視でき
るため、以下では範囲Ｃについて検討している。
このように、従来の単純移動平均法で凹凸の逆転現象が
生じるのは、フィルタ特性が理想的でないためであり、
波長λに対するバンド中Ｂの最適な選択を行うことによ
り改善を図る必要がある。従って、最適バンド中Ｂを次
のような考え方に基づいて第６図に示すフィルタ特性か
ら決定する。
生じるのは、フィルタ特性が理想的でないためであり、
波長λに対するバンド中Ｂの最適な選択を行うことによ
り改善を図る必要がある。従って、最適バンド中Ｂを次
のような考え方に基づいて第６図に示すフィルタ特性か
ら決定する。
測定データの波長成分のうち、
■ 制御したくともリップを屈曲操作できなければ余分
な成分と見なし、 ■ 可制御成分の減衰比Ａは０．５以上にする、 ということである。
な成分と見なし、 ■ 可制御成分の減衰比Ａは０．５以上にする、 ということである。
上記■に関しては、前述したように標準的なフレキシブ
ルリップの場合、実質的に変形可能なパターンの最小ピ
ッチＰ ａｌｌ。が１５０〜２００ｍｍであるから、こ
こでは仮に限界波長λ。を２００ｍｍとする。
ルリップの場合、実質的に変形可能なパターンの最小ピ
ッチＰ ａｌｌ。が１５０〜２００ｍｍであるから、こ
こでは仮に限界波長λ。を２００ｍｍとする。
また、■に関しては、第６図から減衰比Ａが０．５のと
きのＢ／λが０．６であることより、バンド中ＢはＢ＝
０．６Ｘλｃ＝１２０ｍｍが得られる。実際には、限界
波長λ。はダイの形状等によって多少異なるため、シス
テム上は可変パラメータ扱いが望ましいが、ここでは説
明の便宜上、以後基本のバンド中として１２０ｍｍを用
いる。
きのＢ／λが０．６であることより、バンド中ＢはＢ＝
０．６Ｘλｃ＝１２０ｍｍが得られる。実際には、限界
波長λ。はダイの形状等によって多少異なるため、シス
テム上は可変パラメータ扱いが望ましいが、ここでは説
明の便宜上、以後基本のバンド中として１２０ｍｍを用
いる。
前述の単純移動平均法による波高の減衰比Ａに関し、バ
ンド中Ｂを１２０ｍｍと固定して波長λに対してプロッ
トすると、第７図に（ａ）で示す特性曲線が得られる。
ンド中Ｂを１２０ｍｍと固定して波長λに対してプロッ
トすると、第７図に（ａ）で示す特性曲線が得られる。
この場合、λ＝６０〜１２０ｍｍの波長成分の凹凸が逆
転する（第６図のＣで示す範囲）、この凹凸が逆転する
範囲で、極小値が生じる波長λ１を求める。（６）式で π（Ｂ／λ）＝Ｘ と置いて、 （ろＡ／ａＸ）＝０ から、次式が導かれる。
転する（第６図のＣで示す範囲）、この凹凸が逆転する
範囲で、極小値が生じる波長λ１を求める。（６）式で π（Ｂ／λ）＝Ｘ と置いて、 （ろＡ／ａＸ）＝０ から、次式が導かれる。
Ｘ−ｔａｎＸ＝ｏ −（７）この数値解
を求めると、Ｘ＝４．４９となり、従って、 Ｂ／λ、＝１．４３ ・・・（８）か得
られる。このことから、この極小値が生じる波長λ１は
、バンド中Ｂに比例して移動することが分かる。−例と
して、第７図の（ａ）で示す曲線の場合。
を求めると、Ｘ＝４．４９となり、従って、 Ｂ／λ、＝１．４３ ・・・（８）か得
られる。このことから、この極小値が生じる波長λ１は
、バンド中Ｂに比例して移動することが分かる。−例と
して、第７図の（ａ）で示す曲線の場合。
λ１＝１２０／１．４３＝８３．９ｍｍである。
この極小値が生じる波長λ１がバンド中Ｂに比例して移
動するということから、従来の単純移動平均法だけ用い
た場合に生じる凹凸の逆転現象を相殺するような、例え
ば第７図の（ａ）で示す減衰比ＡＩの曲線で生じる極小
値を相殺する効果が最大となるような第２のバンド中８
２を選択して重ね合わせれば改善できることが理解され
る。すなわち、第２のバンド中８２に対する波長をＡ２
、その場合の減衰比をＡ２とすると、 Ａ２ （Ａ２）＝ＡＩ（Ａ１） ・・・（９）を満足
するバンド中８２を選択すればよい。
動するということから、従来の単純移動平均法だけ用い
た場合に生じる凹凸の逆転現象を相殺するような、例え
ば第７図の（ａ）で示す減衰比ＡＩの曲線で生じる極小
値を相殺する効果が最大となるような第２のバンド中８
２を選択して重ね合わせれば改善できることが理解され
る。すなわち、第２のバンド中８２に対する波長をＡ２
、その場合の減衰比をＡ２とすると、 Ａ２ （Ａ２）＝ＡＩ（Ａ１） ・・・（９）を満足
するバンド中８２を選択すればよい。
このような考え方に基つく多重移動平均法を用いること
により、特定の波長範囲でプロファイルの凹凸が逆転す
る現象が大巾に改善された最適な平滑化処理を行うこと
ができる。
により、特定の波長範囲でプロファイルの凹凸が逆転す
る現象が大巾に改善された最適な平滑化処理を行うこと
ができる。
第６図から、Ｂ／λ、＝ｌ、４３の場合の減衰比Ａ（Ｂ
／λ１）は、 Ａ（Ｂ／λ、）＝−０，２１７ であるから、 Ａ（Ｂ／λ）＝＋０．２１７ を満足するλかＡ２であり、第６図から求めれば、 Ｂ／λ２＝０．８１３ ・・・（１０）と
なり、従って、 λ２＝Ｂ１０．８１３ か得られる。
／λ１）は、 Ａ（Ｂ／λ、）＝−０，２１７ であるから、 Ａ（Ｂ／λ）＝＋０．２１７ を満足するλかＡ２であり、第６図から求めれば、 Ｂ／λ２＝０．８１３ ・・・（１０）と
なり、従って、 λ２＝Ｂ１０．８１３ か得られる。
第７図の最初のバンド中８１が１２０ｍｍの場合の曲線
（ａ）について考えれば、λ、＝８３．９ｍｍ であるから、（１０）式を満足するには第２のノ＜ンド
巾Ｂ２による波長λ２かＢ１によるＡ１に一致すれば良
く、 Ｂ２ ＝０ 、８１３ Ｘ８３ 、９＝６８ｍｍとなる
。従って、実際のサンプ１ノング°ピ・ソチが１０ｍｍ
の場合には、第２のノ〈ンド巾Ｂ２は７０ｍｍとなり、
これＧこよって単純移動平均を行った場合の減衰比Ａの
特性曲線Ｃよ、第７図に示す曲線（ｂ）のようＧこなる
。この異なるバンド中Ｂ１と８２を使用した単純移動平
均法によるそれぞれの結果Ａ１とＡ２との平均（（Ａ、
十Ａ２ ） ／２ ）をとる２重移動平均法による特
性は（Ｃ）に示すようになる。単純移動平均法による曲
線（ａ）および（ｂ）の場合に比べて位相逆転部の波高
が約１／３ｃこ減少すると共にピーク位置も短波長ｆｌ
ｌｌに移動し、逆転現象の悪影響が大巾Ｃ：改善されて
０ることか判る。
（ａ）について考えれば、λ、＝８３．９ｍｍ であるから、（１０）式を満足するには第２のノ＜ンド
巾Ｂ２による波長λ２かＢ１によるＡ１に一致すれば良
く、 Ｂ２ ＝０ 、８１３ Ｘ８３ 、９＝６８ｍｍとなる
。従って、実際のサンプ１ノング°ピ・ソチが１０ｍｍ
の場合には、第２のノ〈ンド巾Ｂ２は７０ｍｍとなり、
これＧこよって単純移動平均を行った場合の減衰比Ａの
特性曲線Ｃよ、第７図に示す曲線（ｂ）のようＧこなる
。この異なるバンド中Ｂ１と８２を使用した単純移動平
均法によるそれぞれの結果Ａ１とＡ２との平均（（Ａ、
十Ａ２ ） ／２ ）をとる２重移動平均法による特
性は（Ｃ）に示すようになる。単純移動平均法による曲
線（ａ）および（ｂ）の場合に比べて位相逆転部の波高
が約１／３ｃこ減少すると共にピーク位置も短波長ｆｌ
ｌｌに移動し、逆転現象の悪影響が大巾Ｃ：改善されて
０ることか判る。
前述した最初のノくンド巾Ｂ１ζよ、第５図に示す標準
型のフレキシブｌし１ノ・ンブの場合７０〜１４０ｍｍ
、第４図に示す自在屈曲性を有する特殊フレキシブルリ
・ｙプの場合Ｃ，ｔダイボルト配列ピッチの１．５〜２
倍が適当であり、２回目以降のバンド中は順次１／１．
５〜１／２として多重移動平均を行うようにすれば“良
い。
型のフレキシブｌし１ノ・ンブの場合７０〜１４０ｍｍ
、第４図に示す自在屈曲性を有する特殊フレキシブルリ
・ｙプの場合Ｃ，ｔダイボルト配列ピッチの１．５〜２
倍が適当であり、２回目以降のバンド中は順次１／１．
５〜１／２として多重移動平均を行うようにすれば“良
い。
前述した実施例から明らかなように、本発明のプラスチ
ックフィルムのプロファイル制御方法によれば、走査式
厚さ計によって測定される生データ（原波形）に対して
異なるバンド幅を用いて少くとも２回単純移動平均を行
い、その代数平均をとるという多重移動平均法を適用し
た平滑化処理により得られたデータに基いて、Ｔダイの
制御演算〈操作量演算）を行う結果、全ダイボルト操作
量が適正化され、プラスチックフィルムの厚さ分布の均
一化を目的とするプロファイル制御を確実に達成するこ
とかできる。このため、実質的に最良の品質を有するフ
ィルムが成形される。
ックフィルムのプロファイル制御方法によれば、走査式
厚さ計によって測定される生データ（原波形）に対して
異なるバンド幅を用いて少くとも２回単純移動平均を行
い、その代数平均をとるという多重移動平均法を適用し
た平滑化処理により得られたデータに基いて、Ｔダイの
制御演算〈操作量演算）を行う結果、全ダイボルト操作
量が適正化され、プラスチックフィルムの厚さ分布の均
一化を目的とするプロファイル制御を確実に達成するこ
とかできる。このため、実質的に最良の品質を有するフ
ィルムが成形される。
特に、熱変位式自動ダイを使用する場合には、過剰操作
量の出力か防止されるため安定なプロファイル制御を実
現できる。
量の出力か防止されるため安定なプロファイル制御を実
現できる。
以上、本発明の好適な実施例について説明したが、本発
明は前記実施例に限定されることなく、本発明の精神を
逸脱しない範囲内において種々の設計変更をなし得るこ
とは勿論である。
明は前記実施例に限定されることなく、本発明の精神を
逸脱しない範囲内において種々の設計変更をなし得るこ
とは勿論である。
第１図は本発明に係るプラスチックフィルムのプロファ
イル制御方法を適用した一実施例を示す押出成形機の成
形プロセス制御システム構成榔、第２図は第１図に示す
システム構成における制御システムを実行するためのフ
ローチャート図、第３図は第１図に示すシステムｉｔに
よって本発明の制御方法を実行した場合の動作出力波形
図、第４図はＴダイにおける自在屈曲性を有する特殊フ
レキシブルリップの変形パターンの最小ピッチとグイボ
ルト間隙との関係を示す説明図、第５図はＴダイにおけ
る標準型フレキシブルリップの変形パターンの最小ピッ
チとダイホルト間隙との関係を示す説明図、第６図は単
純移動平均法による波高の減衰特性を示す特性曲線図、
第７図は一例として本発明に係る平滑化処理で使用する
２重移動平均法の効果を示す特性曲線図である。 １０・・・押出機 １２・・・フィルム成形用Ｔダイ １４・・・成形ロールユニッ）〜 １６・・・走査式厚さ計 １８・・・巻取機２０・・
・入力インタフェース ２２・・・ＣＰ Ｕ ２４・・・メモリ２６
・・・ＣＲＴデイスプレィ ２８・・・キーボード ３０・・・プリンタ３２・
・・パワーユニット ＦＩＧ プロファイルデータ （原波訃） ００ ＋０００ ＰＯ５ＩＴＩＯＮ １ｍｍ１ ５００ ス冗ね ＦＩＧ。 （・人、。） （２入ｍｉｎ ） ＦＩＧ ６ ＦＩＧ。
イル制御方法を適用した一実施例を示す押出成形機の成
形プロセス制御システム構成榔、第２図は第１図に示す
システム構成における制御システムを実行するためのフ
ローチャート図、第３図は第１図に示すシステムｉｔに
よって本発明の制御方法を実行した場合の動作出力波形
図、第４図はＴダイにおける自在屈曲性を有する特殊フ
レキシブルリップの変形パターンの最小ピッチとグイボ
ルト間隙との関係を示す説明図、第５図はＴダイにおけ
る標準型フレキシブルリップの変形パターンの最小ピッ
チとダイホルト間隙との関係を示す説明図、第６図は単
純移動平均法による波高の減衰特性を示す特性曲線図、
第７図は一例として本発明に係る平滑化処理で使用する
２重移動平均法の効果を示す特性曲線図である。 １０・・・押出機 １２・・・フィルム成形用Ｔダイ １４・・・成形ロールユニッ）〜 １６・・・走査式厚さ計 １８・・・巻取機２０・・
・入力インタフェース ２２・・・ＣＰ Ｕ ２４・・・メモリ２６
・・・ＣＲＴデイスプレィ ２８・・・キーボード ３０・・・プリンタ３２・
・・パワーユニット ＦＩＧ プロファイルデータ （原波訃） ００ ＋０００ ＰＯ５ＩＴＩＯＮ １ｍｍ１ ５００ ス冗ね ＦＩＧ。 （・人、。） （２入ｍｉｎ ） ＦＩＧ ６ ＦＩＧ。
Claims (2)
- （１）押出成形されるプラスチックフィルム等に対し走
査式厚さ計によりプロファイルの計測を行い、得られた
プロファイルデータに基づいて自動ダイを操作し所要の
厚さのフィルムを成形するプラスチックフィルムのプロ
ファイル制御方法において、 前記プロファイルデータ内に含まれ、かつ、自動ダイに
よって調整不可能な細かな凹凸成分データをカットオフ
するための平滑化処理を行うに際し、前記プロファイル
データに対して異なる平均化帯域巾を用いて少くとも２
回対称型の移動平均演算処理を行い、その平均値によっ
て自動ダイの操作量を決定することを特徴とするプラス
チックフィルムのプロファイル制御方法。 - （２）前記異なる平均化帯域巾を用いる移動平均演算処
理の少なくとも２回の平均化帯域巾は、２回目の平均化
帯域巾を最初の平均化帯域巾の１／１．５〜１／２とす
ることを特徴とするプラスチックフィルムのプロファイ
ル制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2038364A JP2853881B2 (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | プラスチックフィルムのプロファイル制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2038364A JP2853881B2 (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | プラスチックフィルムのプロファイル制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03243324A true JPH03243324A (ja) | 1991-10-30 |
| JP2853881B2 JP2853881B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=12523228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2038364A Expired - Lifetime JP2853881B2 (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | プラスチックフィルムのプロファイル制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2853881B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5460884A (en) * | 1994-08-25 | 1995-10-24 | Kimberly-Clark Corporation | Soft and strong thermoplastic polymer fibers and nonwoven fabric made therefrom |
| US5876840A (en) * | 1997-09-30 | 1999-03-02 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Crimp enhancement additive for multicomponent filaments |
| US6410138B2 (en) | 1997-09-30 | 2002-06-25 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Crimped multicomponent filaments and spunbond webs made therefrom |
| KR100382881B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2003-05-09 | 카사테크 주식회사 | 필름 또는 쉬트의 두께 조절장치 및 그에 의한 두께조절방법 |
| US6856855B2 (en) | 2000-09-21 | 2005-02-15 | Toray Industries, Inc. | Method of manufacturing sheet, device and program for controlling sheet thickness, and sheet |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4834946B2 (ja) * | 2000-09-21 | 2011-12-14 | 東レ株式会社 | シートの製造方法およびシート厚み制御装置 |
-
1990
- 1990-02-21 JP JP2038364A patent/JP2853881B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5460884A (en) * | 1994-08-25 | 1995-10-24 | Kimberly-Clark Corporation | Soft and strong thermoplastic polymer fibers and nonwoven fabric made therefrom |
| US5876840A (en) * | 1997-09-30 | 1999-03-02 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Crimp enhancement additive for multicomponent filaments |
| US6410138B2 (en) | 1997-09-30 | 2002-06-25 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Crimped multicomponent filaments and spunbond webs made therefrom |
| US6856855B2 (en) | 2000-09-21 | 2005-02-15 | Toray Industries, Inc. | Method of manufacturing sheet, device and program for controlling sheet thickness, and sheet |
| KR100382881B1 (ko) * | 2000-12-29 | 2003-05-09 | 카사테크 주식회사 | 필름 또는 쉬트의 두께 조절장치 및 그에 의한 두께조절방법 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2853881B2 (ja) | 1999-02-03 |
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