JPH03230391A - Semiconductor storage device - Google Patents

Semiconductor storage device

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Publication number
JPH03230391A
JPH03230391A JP2023710A JP2371090A JPH03230391A JP H03230391 A JPH03230391 A JP H03230391A JP 2023710 A JP2023710 A JP 2023710A JP 2371090 A JP2371090 A JP 2371090A JP H03230391 A JPH03230391 A JP H03230391A
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JP
Japan
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address
generation counter
control
address generation
circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP2023710A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Mitsumoto
敏雄 三本
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
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Publication of JPH03230391A publication Critical patent/JPH03230391A/en
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Abstract

PURPOSE:To attain rapid writing/reading of image data by means of a control circuit with simple constitution by including an address control part for image processing in the semiconductor storage device. CONSTITUTION:An initial address setting instruction outputted from a CPU is set up in an instruction/data control circuit 26 through an address bus 27 and an address I/O circuit 25 at first. Then, initial addresses are respectively set up in row/column address generating counters 23, 24. When an access mode is set up in the circuit 26 from the CPU, the circuit 26 controls the counters 23, 24 so that the counters 23, 24 count up external control clocks outputted from the CPU at the counting interval and in the counting direction corresponding to the specified access mode. Consequently, the rapid writing/reading of image data can be attained only by applying a control instruction for specifying the access mode from the outside.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、高速処理可能な半導体記憶装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a semiconductor memory device capable of high-speed processing.

[従来の技術] 近年、デジタル化された画像データを記憶する半導体記
憶装置においては、高速処理の必要性が非常に高まって
いる。
[Prior Art] In recent years, the need for high-speed processing in semiconductor storage devices that store digitized image data has increased significantly.

しかしながら、画像データ記憶用として一般的に用いら
れる半導体記憶装置は、通常の汎用DRAM(ダイナミ
ックランダムアクセスメモリ)又はビデオRAM (デ
ュアルボー)RAM)であり、高速の画像処理を行うに
はDRAM制御用に大規模な制御回路が必要となる。
However, semiconductor storage devices commonly used for storing image data are general-purpose DRAM (dynamic random access memory) or video RAM (dual baud RAM), and for high-speed image processing, DRAM control requires a large-scale control circuit.

第5図は、従来の画像処理システムにおける画像データ
記憶装置及びその制御回路を概略的に示している。
FIG. 5 schematically shows an image data storage device and its control circuit in a conventional image processing system.

デジタル化された画像データは、汎用DRAM又はビデ
オRAM等の画像データ記憶装置10に印加されて記憶
される。画像処理に必要なデータの書き込み/読み出し
は、制御回路11によって制御される。即ち、バ刈2を
介してアドレス指定信号が、バ刈3を介して制御信号が
それぞれ制御回路1.1から印加されることにより、書
き込みデータ及び読み出しデータが外部データバス14
を介してこの画像データ記憶装置10に入出力される。
The digitized image data is applied to and stored in an image data storage device 10 such as a general-purpose DRAM or video RAM. Writing/reading of data necessary for image processing is controlled by a control circuit 11. That is, by applying an address designation signal via the bar mower 2 and a control signal via the bar mower 3 from the control circuit 1.1, write data and read data are transferred to the external data bus 14.
The image data is input to and output from the image data storage device 10 via the image data storage device 10.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら従来の画像処理システムによると、画像デ
ータ記憶装置の制御回路IIが多数の半導体素子部品で
構成されるため、この記憶装置以外の部分での信号遅延
が無視できない程大きくなり、画像処理システム全体の
高速化の大きな障害となっている。
[Problems to be Solved by the Invention] However, according to the conventional image processing system, since the control circuit II of the image data storage device is composed of a large number of semiconductor element parts, signal delays in parts other than the storage device are ignored. This has become an impediment to speeding up the entire image processing system.

また、部品の実装密度を向上させてシステムを小型化さ
せることも困難となっている。
Furthermore, it is difficult to reduce the size of the system by increasing the mounting density of components.

従って本発明の目的は、簡単な構成の制御回路でデータ
の高速読み出し及び書き込みができる半導体記憶装置を
提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a semiconductor memory device that can read and write data at high speed with a control circuit having a simple configuration.

[課題を解決するための手段] 上述の目的を達成する本発明の特徴は、マトリクス状に
配列した複数のメモリセルを有するメモリアレイと、複
数のメモリセルのうちの1つをアクセスするための行及
び列選択手段と、所望の間隔てカウントアツプ又はカウ
ントダウン動作可能なアドレス発生用カウンタ手段と、
外部から与えられる初期アドレスをアドレス発生用カウ
ンタ手段にセットするための手段と、外部から与えられ
る指示に応じたアクセスモードでアドレス発生用カウン
タ手段のカウント間隔及びカウント方向を制御する制御
手段とを備えたことにある。
[Means for Solving the Problems] The features of the present invention that achieve the above-mentioned object include a memory array having a plurality of memory cells arranged in a matrix, and a memory cell for accessing one of the plurality of memory cells. row and column selection means; address generation counter means capable of counting up or down at desired intervals;
It includes means for setting an initial address given from the outside into the address generation counter means, and control means for controlling the count interval and counting direction of the address generation counter means in an access mode according to an instruction given from the outside. That's true.

アドレス発生用カウンタ手段は、発生するアドレスが所
定範囲を越える場合は外部にキャリー信号と当該アドレ
スとを出力し、外部からキャリー信号が印加された場合
は外部から与えられるアドレスに初期設定するように構
成してもよい。
The address generation counter means outputs a carry signal and the address to the outside when the generated address exceeds a predetermined range, and when the carry signal is applied from the outside, the address is initialized to the address given from the outside. may be configured.

[作用] 外部からアドレス指定モードが与えられ制御クロック信
号が印加されると、与えられたアクセスモードのカウン
ト間隔及びカウント方向でカウンタ手段がカウントされ
る。これによりアドレスが発生して複数のメモリセルの
うちの1つかアクセスされ、画像データが所望の順序で
書き込み又は読み出しされる。
[Operation] When an addressing mode is externally applied and a control clock signal is applied, the counter means counts at the count interval and in the counting direction of the applied access mode. This generates an address to access one of the plurality of memory cells, and image data is written or read in the desired order.

記憶装置の容量を拡張する場合、アドレス発生用カウン
タ手段の発生するアドレスが所定範囲を越える場合は外
部にキャリー信号と当該アドレスとが出力され、また、
外部からキャリー信号が印加された場合は外部から与え
られるアドレスに初期設定するように構成されているの
で、各記憶装置をアドレスバスに接続すると共に各記憶
装置のキャリー信号入出力部を相互に接続するのみで容
易に拡張することができる。
When expanding the capacity of the storage device, if the address generated by the address generation counter means exceeds a predetermined range, a carry signal and the address are output to the outside, and
When a carry signal is applied from the outside, it is configured to initialize to the address given from the outside, so each storage device is connected to the address bus and the carry signal input/output section of each storage device is connected to each other. It can be easily expanded by simply

[実施例] 以下図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described in detail below using the drawings.

第1図は本発明の半導体記憶装置の一実施例の構成を概
略的に示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram schematically showing the configuration of an embodiment of a semiconductor memory device of the present invention.

同図において、20はメモリセルをマトリクス状に配列
したメモリアレイであり、このメモリアレイ20には行
デコーダ21及び列デコーダ22か接続されている。行
デコーダ21及び列デコーダ22は、本発明の行及び列
選択手段に対応している。
In the figure, 20 is a memory array in which memory cells are arranged in a matrix, and a row decoder 21 and a column decoder 22 are connected to this memory array 20. Row decoder 21 and column decoder 22 correspond to row and column selection means of the present invention.

行デコーダ21には行アドレス発生カウンタ23が接続
されており、列デコーダ22には列アドレス発生カウン
タ24が接続されている。これらの行アドレス発生カウ
ンタ23及び列アドレス発生カウンタ24は、本発明の
アドレス発生用カウンタ手段に対応しており、一般的な
アップダウンカウンタで構成されている。行アドレス発
生カウンタ23に対しては線23aを介して行キャリー
信号Cxが入出力され、列アドレス発生カウンタ24に
対しては線24aを介して列キャリー信号cyが入出力
される。
A row address generation counter 23 is connected to the row decoder 21, and a column address generation counter 24 is connected to the column decoder 22. These row address generation counter 23 and column address generation counter 24 correspond to the address generation counter means of the present invention, and are constituted by general up/down counters. A row carry signal Cx is input to and output from the row address generation counter 23 via a line 23a, and a column carry signal cy is input to and output from the column address generation counter 24 via a line 24a.

なお、キャリー信号の入出力を互いに異なる線で構成す
るようにしてもよい。
Note that the input and output of the carry signal may be configured using different lines.

行アドレス発生カウンタ23及び列アドレス発生カウン
タ24には、アドレス入出力回路25と命令及びデータ
制御回路26とが接続されている。アドレス入出力回路
25は、外部のアドレスバス27に接続されており、ア
ドレスの読み込み及び読み出しを行う。命令及びデータ
制御回路26は、外部の制御信号バス28及び外部のデ
ータバス29に接続されており、制御命令の読み込み、
その制御命令の解読、及びデータの授受等、記憶装置の
内部回路の制御及び外部とのデータの受は渡しを行う。
An address input/output circuit 25 and an instruction and data control circuit 26 are connected to the row address generation counter 23 and the column address generation counter 24. The address input/output circuit 25 is connected to an external address bus 27 and reads and reads addresses. The command and data control circuit 26 is connected to an external control signal bus 28 and an external data bus 29, and is capable of reading control commands,
Control of the internal circuits of the storage device, such as decoding of control commands and transfer of data, and transfer of data to and from the outside are performed.

アドレス入出力回路25は、本発明の初期アドレスをセ
ットするための手段に対応している。また、命令及びデ
ータ制御回路26は、本発明の制御手段に対応している
The address input/output circuit 25 corresponds to means for setting the initial address of the present invention. Further, the command and data control circuit 26 corresponds to the control means of the present invention.

第1図に示すように、上述したメモリアレイ20、行デ
コーダ21、列デコーダ22、行アドレス発生カウンタ
23、列アドレス発生カウンタ24、アドレス入出力回
路25、及び命令及びデータ制御回路26が、本実施例
の半導体記憶装置30を構成している。
As shown in FIG. 1, the above-mentioned memory array 20, row decoder 21, column decoder 22, row address generation counter 23, column address generation counter 24, address input/output circuit 25, and instruction and data control circuit 26 are main components. This constitutes a semiconductor memory device 30 of the embodiment.

次に本実施例の動作を説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

第2図は第1図の半導体記憶装置の動作制御を行うプロ
グラムの一部を概略的に表すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart schematically showing a part of a program for controlling the operation of the semiconductor memory device shown in FIG.

まずステップSlにおいて、外部の図示しないCPU(
中央処理装置)から初期アドレス設定命令が命令及びデ
ータ制御回路26にセットされる。
First, in step Sl, an external CPU (not shown)
An initial address setting command is set in the command and data control circuit 26 from the CPU (central processing unit).

次いでステップS2で、行アドレス発生カウンタ23及
び列アドレス発生カウンタ24に初期アドレスがそれぞ
れセットされる。このセットは、CPUからアドレス・
〈ス27及びアドレス入出力回路25を介して行われる
Next, in step S2, initial addresses are set in the row address generation counter 23 and column address generation counter 24, respectively. This set allows the address to be sent from the CPU.
<This is done via the address input/output circuit 27 and the address input/output circuit 25.

次のステップS3では、CPUよりアクセスモトが命令
及びデータ制御回路26にセットされる。
In the next step S3, the access code is set in the command and data control circuit 26 by the CPU.

このセットは、アドレスバス27にその記憶装置を選択
する情報を乗せ、データバス29に実施すべきアクセス
モードの指定情報を乗せることによって行われる。
This setting is performed by loading address bus 27 with information for selecting the storage device, and loading data bus 29 with information specifying the access mode to be implemented.

次いでステップS4において、命令及びデータ制御回路
26は、指定されたアクセスモードに応したカウント間
隔及びカウント方向で行アドレス発生カウンタ23及び
列アドレス発生カウンタ24かCPUからの外部制御ク
ロックをカウントするように制御する。
Next, in step S4, the instruction and data control circuit 26 causes the row address generation counter 23 and column address generation counter 24 to count the external control clock from the CPU at a count interval and in a count direction corresponding to the specified access mode. Control.

アクセスモードとして画像処理特有の種々のモードかあ
り、第3図はメモリアレイ上におけるそれらのアクセス
シーケンスの例を示している。これらのアクセスモード
の他に種々な組み合わせか可能であることはもちろんで
ある。
There are various access modes specific to image processing, and FIG. 3 shows examples of their access sequences on the memory array. Of course, various combinations in addition to these access modes are possible.

同図において、0は初期アドレスを示しており、1.2
.3・・・は順方向でアクセスされるアドレス、1、−
2、−3・・・は逆方向でアクセスされるアドレスをそ
れぞれ示している。
In the figure, 0 indicates the initial address, 1.2
.. 3... are addresses accessed in the forward direction, 1, -
2, -3, . . . respectively indicate addresses accessed in the opposite direction.

(A)は順次行方向ステップモード(順方向/逆方向)
、(B)は順次列方向ステップモード(順方向/′逆方
向)、(C)は順次行列方向ステップモード(順方向/
逆方向)、(D)、(E)、(F)は飛び越し行列方向
ステップモード(順方向/′逆方向)、(G)は順次ロ
ーテーションモード、(H)は飛び越しローテーション
モードをそれぞれ示している。
(A) is sequential step mode (forward/reverse direction)
, (B) is the sequential column direction step mode (forward direction/'reverse direction), and (C) is the sequential column direction step mode (forward direction/'reverse direction).
(backward direction), (D), (E), and (F) show the interlaced matrix direction step mode (forward direction/'backward direction), (G) shows the sequential rotation mode, and (H) shows the interlaced rotation mode, respectively. .

これらの各アクセスモードを実施するための行アドレス
発生カウンタ23及び列アドレス発生カウンタ24の制
御モードが第1表に示されている。
Table 1 shows the control modes of the row address generation counter 23 and column address generation counter 24 for implementing each of these access modes.

第 表 同表において、INC/DECはカウントアツプ又はカ
ウントダウン動作を示している。また、INC/D、E
C(1)は外部制御クロック1つについて1回のカウン
トアツプ又はカウントダウン動作を行うことを意味して
おり、INC/DEC(2)は外部制御クロック2つに
ついて1回のカウントアツプ又はカウントダウン動作を
行うことを意味している。さらに、RORは周回動作を
行うことを意味しており、ROR(3/1)は外部制御
クロック1つについて1回連続3回実行することを意味
している。
In the same table, INC/DEC indicates count up or count down operation. Also, INC/D, E
C(1) means that one count-up or count-down operation is performed for one external control clock, and INC/DEC (2) means that one count-up or count-down operation is performed for two external control clocks. means to do. Further, ROR means to perform a circular operation, and ROR (3/1) means to perform one time and three consecutive times for one external control clock.

例えば、(A )モードである順次行方向ステップモー
ト(順方向)を実行するには、行アドレス発生力ランタ
コ3を外部制御クロック1つについて1回ずつカウント
アツプし、列アドレス発生カウンタ24を外部制御クロ
ックに応答させず一定とすればよいっ このように本実施例によれば、画像処理特有のアドレス
制御部を半導体記憶装置に内蔵している。
For example, to execute the sequential row direction step mode (forward direction) which is mode (A), the row address generation output trancoder 3 is counted up once per external control clock, and the column address generation counter 24 is According to this embodiment, an address control unit specific to image processing is built into the semiconductor memory device, so that the control clock may be kept constant without responding to the control clock.

このため、外部からアクセスモードの指定の制御命令を
与えるのみで制御クロックにより画像データの書き込み
及び読み出しを実行することができる。
Therefore, writing and reading of image data can be executed using the control clock simply by externally supplying a control command specifying the access mode.

行アドレス発生カウンタ23において、アドレスがオー
バーフローした場合は、線23aを介して行キャリー信
号Cxが外部に出力され、それと同時にその時点の行ア
ドレスがアドレス入出力回路25によってアドレスバス
27上に読み出されて外部に出力される。また、列アド
レス発生カウンタ24において、アドレスかオーバーフ
ローした場合は、線242を介して列キャリー信号cy
が外部に出力され、それと同時にその時点の列アドレス
がアドレス入出力回路25によってアドレスバス27上
に読み出されて外部に出力される。
When the address overflows in the row address generation counter 23, the row carry signal Cx is outputted to the outside via the line 23a, and at the same time, the row address at that time is read out onto the address bus 27 by the address input/output circuit 25. and output to the outside. In addition, if the address overflows in the column address generation counter 24, a column carry signal cy is sent via the line 242.
is outputted to the outside, and at the same time, the column address at that time is read onto the address bus 27 by the address input/output circuit 25 and outputted to the outside.

逆に、外部から線23aを介して行キャリー信号Cxか
印加5れた場合、又は外部から線212を介して列キャ
リー信号Cyが印加された場合は、その記憶装置がイネ
ーブルとなり、アドレスバス27上のアドレス情報かア
ドレス入出力回路25を介して行アドレス発生カウンタ
23又は列アドレス発生カウンタ24にセットされる。
Conversely, if a row carry signal Cx is externally applied via line 23a, or if a column carry signal Cy is externally applied via line 212, the storage device is enabled and address bus 27 is applied. The above address information is set in the row address generation counter 23 or the column address generation counter 24 via the address input/output circuit 25.

このように構成することにより、複数の半導体記憶装置
を複雑な周辺制御回路なしに簡易な構成で結合すること
ができる。
With this configuration, a plurality of semiconductor memory devices can be combined with a simple configuration without a complicated peripheral control circuit.

第4図は、それぞれが第1図に示した半導体記憶装置3
0と同様な構成の複数の半導体記憶装置M−〇、   
O)  、 ’v1  (0,1)  、 M  (1
,0) 、 M(1,1)をマトリクス状に接続した実
施例を示している。
FIG. 4 shows the semiconductor memory device 3 shown in FIG.
A plurality of semiconductor memory devices M-〇 having the same configuration as 0,
O), 'v1 (0,1), M (1
, 0) and M(1, 1) are connected in a matrix.

各半導体記憶装置M(0,0) 、M (0,1)、M
 (1,0) 、M(i、1)と、外部のアドレスバス
27、外部の制御信号バス28、及び外部のデータパス
コ9との接続は、第1図の実施例の場合と全く同じであ
る。各半導体記憶装置間の接続は、行キセリー信号Cx
月の線4.ツ及び41と列キャリー信号Cy用の線こ2
及び」3とをマトリクス状に接続するのみてよく、特別
な制御回路を付加的に設ける二となく簡単なシステム構
成でデータの連続性(データ空間の連続性)か保証され
る。
Each semiconductor memory device M(0,0), M(0,1), M
The connections between (1,0), M(i,1) and the external address bus 27, external control signal bus 28, and external data pathcoder 9 are exactly the same as in the embodiment shown in FIG. be. The connection between each semiconductor memory device is a row xery signal Cx.
Moon line 4. and 41 and the line 2 for the column carry signal Cy.
and "3" in a matrix, and the continuity of data (continuity of data space) can be guaranteed with an extremely simple system configuration in which a special control circuit is additionally provided.

二発明の効果: 以上詳細に説明したように本発明によれば、所望の間隔
でカウントアツプ又はカウントダウン動作可能なアドレ
ス発生用カウンタ手段と、外部から与えられる初期アド
レスをアドレス発生用カウンタ手段にセットするための
手段と、外部から与えられる指示に応じたアクセスモー
ドでアドレス発生用カウンタ手段のカウント間隔及びカ
ウント方向を制御する制御手段とを備えているため、外
部からアクセスモードの指定の制御命令を与えるのみで
制御クロックにより画像データの書き込み及び読み出し
を実行することができる。その結果、制御回路を非常に
簡単な構成とすることができるのでデータの高速読み出
し及び書き込みが可能となる。
2. Effects of the Invention: As described in detail above, according to the present invention, there is provided an address generation counter means capable of counting up or counting down at desired intervals, and an initial address given from the outside set in the address generation counter means. and control means for controlling the count interval and count direction of the address generation counter means in an access mode according to an instruction given from the outside, so that it is possible to receive a control command specifying the access mode from the outside. Writing and reading of image data can be executed by simply supplying the control clock. As a result, the control circuit can have a very simple configuration, making it possible to read and write data at high speed.

さらに本発明によれば、アドレス発生用カウンタ手段は
、発生するアドレスが所定範囲を越える場合は外部にキ
ャリー信号と当該アドレスとを出力し、外部からキャリ
ー信号か印加された場合は外部から与えられるアドレス
に初期設定するように構成されているため、キャリー信
号用の線を記検装置相互間で接続するのみで画像処理用
の記憶装置の容量の拡張が図れる。即ち、簡単な構成の
制御回路で容量の拡張が容易に行える。
Further, according to the present invention, the address generation counter means outputs a carry signal and the address to the outside when the generated address exceeds a predetermined range, and when a carry signal is applied from the outside, the address generation counter means outputs the carry signal and the address to the outside. Since the address is configured to be initialized, the capacity of the storage device for image processing can be expanded simply by connecting the carry signal line between the recording/inspection devices. That is, the capacity can be easily expanded with a control circuit having a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の半導体記憶装置の一実施例の構成を示
すブロック図、第2図は第1図の実施例における動作制
御を行うプログラムの一部を概略的に表すフローチャー
ト、第3図はメモリアレイ上における画像処理特有の種
々のアクセスシーケンスモードの例を表す図、第4図は
本発明の他の実施例の概略的構成を示すブロック図、第
5図は従来の半導体記憶装置の構成を示すブロック図で
ある。 20・・・・・・メモリアレイ、21・・・・・・行デ
コーダ、22・・・・・・列デコーダ、23・・・・・
・行アドレス発生カウンタ、23a 、 24a 、 
40.41.42.43・・・・・・線、24・・・・
・・列アドレス発生カウンタ、25・・・・・・アドレ
ス入出力回路、26・・・・・・命令及びデータ制御回
路、′、7・・・・・・アドレスバス、28・・・・・
・制御信号バス、29・・・・・・データバス、30・
・・・・・半導体記憶装置。 x 第 図 (A) (B) (D) (E) 第3図 (C) (F)
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the semiconductor memory device of the present invention, FIG. 2 is a flowchart schematically showing a part of a program for controlling operations in the embodiment of FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a block diagram showing a schematic configuration of another embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a diagram showing examples of various access sequence modes specific to image processing on a memory array. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration. 20...Memory array, 21...Row decoder, 22...Column decoder, 23...
・Row address generation counter, 23a, 24a,
40.41.42.43... line, 24...
...Column address generation counter, 25...Address input/output circuit, 26...Command and data control circuit,', 7...Address bus, 28...
・Control signal bus, 29... Data bus, 30.
...Semiconductor storage device. x Figure (A) (B) (D) (E) Figure 3 (C) (F)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] マトリクス状に配列した複数のメモリセルを有するメモ
リアレイと、該複数のメモリセルのうちの1つをアクセ
スするための行及び列選択手段と、所望の間隔でカウン
トアップ又はカウントダウン動作可能なアドレス発生用
カウンタ手段と、外部から与えられる初期アドレスを前
記アドレス発生用カウンタ手段にセットするための手段
と、外部から与えられる指示に応じたアクセスモードで
前記アドレス発生用カウンタ手段のカウント間隔及びカ
ウント方向を制御する制御手段とを備えたことを特徴と
する半導体記憶装置。
A memory array having a plurality of memory cells arranged in a matrix, row and column selection means for accessing one of the plurality of memory cells, and an address generator capable of counting up or down at desired intervals. means for setting an initial address given from the outside into the address generation counter means; and means for setting the count interval and counting direction of the address generation counter means in an access mode according to an instruction given from the outside. 1. A semiconductor memory device comprising: a control means for controlling the semiconductor memory device.
JP2023710A 1990-02-02 1990-02-02 Semiconductor storage device Pending JPH03230391A (en)

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