JPH03228366A - 集積回路 - Google Patents

集積回路

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JPH03228366A
JPH03228366A JP2417590A JP2417590A JPH03228366A JP H03228366 A JPH03228366 A JP H03228366A JP 2417590 A JP2417590 A JP 2417590A JP 2417590 A JP2417590 A JP 2417590A JP H03228366 A JPH03228366 A JP H03228366A
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voltage
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は半導体集積回路の電子回路形成手法に関する。
[従来の技術] 従来より半導体集檀回路の電源供給を少しでも容易にす
べ(、半導体集積回路に電源用の電子回路を組み込むこ
とは考えられていた。例えば直流電源系の電圧が著しく
異なる集積回路を電子機器に組み込む場合には、電子機
器の他の電子回路用電源と共存が可能となり、かつでき
る限り外付けの部品点数を減らす目的で集檀回路の電源
入口に直流安定化電源回路を組むなどの試みがその好例
である。
[発明が解決しようとする課題] 現在ではチョッパ型電源技術の普及により商用電源から
所望の直流電源を作り出すことが容易になっているが、
電子機器への組み込みスペースは極めて大きいといわざ
るをえない。このような問題は軽薄短小化が好まれる今
日においてはまずます無視できない状況にある。
本発明は、かかる技術課題を大幅に緩和するための集積
回路のあり方に目を向け、その課題の解決に有効な手法
を提供することを目的としている[課題を解決するため
の手段] 本発明では課題解決の具体的手段として、集積回路基板
、前記集積回路基板上に形成された電子回路、前記電子
回路の製造過程において形成される、前記集積回路基板
と配線層との絶縁分離薄膜、前記薄膜上に形成されるp
n接合整流手段、前記整流手段の出力を安定化する電圧
安定化手段とを有し、前記整流手段のカンードは前記電
圧安定化手段の高電位入力端子に、前記整流手段手段と
を有し、前記整流手段の低電位入力端子に接続され、前
記電子回路の電源が前記電圧安低電位入力端子により与
えられる。
ように配置したことを特徴とする。
[実施例] 以下具体的実施例をとおして本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の基本構成図である。図中1は整流手段
、2は集積回路ブロック、6.4は商用電源(交流)入
力端子、5は集積回路ブロックの高電位電源線、6は集
積回路ブロックの低電位電源線、7は電源安定化手段で
ある。
商用電源が3.4の入力端子に印加されると、商用電源
は整流手段1によって整流され、商用電源の周波数もし
くはその2倍の周波数の変動を有する準直流電圧(脈流
)に変換される。そしてその準直流電圧は電源安定化手
段7により、平滑化・適正化される。
一方集積回路ブロック2は電源安定化手段7によって平
滑化・適正化された電圧が印加され、動作する。
また電源安定化手段7については例えば集積プロセスが
バイポーラ素子工程なら、安定化回路として1tFE制
都菓子にバイポーラ素子を、定電圧発生回路としてバン
ドギャップリアアレ・ンス回路やツェナダイオード回路
、誤差電圧増幅回路として演算槽1lIli!器のよう
な等動電圧増輻回路を形成すればよく、0MO8等のプ
ロセス工程であれば、基準電上発生回路としてゲート材
料の仕事関数差発生回路、cMos差動増幅回路を形成
すればよく、きわめて容易に集積化することが可能であ
る以上のよ5に整流手段、電源安定化手段を集積化する
ことにより、集積回路全体に商用電源を印加することが
可能になる。
第2図は本発明の具体的!!4成例を示す。1′は整流
手段、2は集積回路ブロック、31,4/は所用電源入
力端子、5は集積回路ブロック2の高電位電源線、6は
集積回路ブロック2の低電位電源線、7は電源安定化手
段、8,9,10,11は集積回路ブロックと同一基板
上に形成されたpn接合ダイオードである。ここで整流
手段1′はpn接合ダイオード8〜11によって構成さ
れ、両波整流、即ち3′  4′の入力端子に印加され
た商用′電源の電圧痙性が時間と共に正電圧、負電工に
入れ替わる周期に同期して整流動作を行う。
ます開用電源が6′に正電圧、4′に負電圧という状態
で印加された場合を考えると、3′から入った正11L
FEはダイオード8のアノードに加わる。
そしてダイオード8のカンードから流出した電流は電源
安定化手段7の高電位−電源線5−〉電源安定化手段の
内部−〉電源安定化手段7の低電位側電源線6の経路を
経てダイオード10のアノードに入る。ダイオード10
はこのとき順方向(即ち電流を流す方向)に電圧印加さ
れるため、導通し、ダイオード10の涛ノードから4′
の商用電源(負電圧)へと流れ込む。
次に逆の動作を考える。即ち商用電源が4′に正電圧、
3′に負電圧とい5状態で印加された場合を考えると、
4′から入った正電圧はダイオード9のアノードに加わ
る。そしてダイオード90カンードから流出した電流は
集積回路ブロック2の高電位側電源線5−〉集積回路ブ
ロック内部−〉集積回路ブロック2の低電位側電源6の
経路を経てダイオード11のアノードに入る。ダイオー
ド11はこのとき順方向(即ち゛或流を流す方向)に電
圧印塀されるため、導通し、ダイオード11のカンード
から6′の商用電源(負゛這圧)へと流れ込む。以上の
説明から明らかなように商用電源の電圧極性の交番動作
に合わせ、ダイオード8〜11で構成される整流手段が
集積回路ブロック2にかかる電源の極性を一方向に揃え
るため、集積回路ブロック2は正常に動作することが可
能になる。
第6図は第2図に示した整流手段の集攬平面図である。
図中3“ 4″は商用電源入力用金属配線、5′は集積
回路ブロックの高電位供給用金属配線、6′は集積回路
ブロックの低電位供給用金属配線、31 ’* 52は
絶縁層上に形成された半導体領域、55,34,35.
36は31.52の半導体領域に形成されたpn接合境
界、37,38.39,40.41 42は電源用金属
配線(3“ 4// 、5/ 、6/ )と半導体領域
61,32とを電気的に接続するためのコンタクトホー
Iしく絶縁層の穴)である。
第4図は整流手段集積部の断面図である。図中4″は画
用電源入力用金属層、5′は集積回路フロックの高電位
供給用金属配線、6′は集積回路ブロックの低電位供給
用金属配線、51は集積回路形成用半導体基板、52は
シリコン酸化絶縁膜43.44は絶縁膜52の上に形成
された半導体領域、45,46,47.48は金属配線
層との電気的接続のためのコンタクトホール、49は半
導体領域45.44と金属配線層を電気的に分離するた
めの絶縁膜、50は半導体集積回路の最終工程で形成さ
れる不活性化膜(パシベーション膜)である。
このように絶縁層の上に整流手段を形成するのは、整流
用の半導体素子を基板41から完全に絶縁分離し、寄生
ダイオードを排除するためである。従って例えばS O
S (5ilicon on 5aphire )so
工(5ilicon on 1nsulator )、
S工POX (5ilicon implanted 
oxiaation )などと呼ばれる絶縁分離技術に
おいてはさらに簡便な構造で実現することができる。な
ぜならそれらはpn接合の逆方向バイアスによる素子分
離ではなく、電気的に完全独立した素子群を絶縁性の基
板上に形成できるからである。
第5図は本発明における電圧安定化手段の一構成例であ
る。図中51は整流手段からの高電位電圧入力端子、5
2は整流手段からの低電位電圧入力端子、53は演算増
幅器、54は基準電圧源、55はMO3電界効果トラン
ジスタ、56 、57は抵抗器、58は安定化された高
電位電源出力端子、59は低電位電源出力端子である。
ここでは入力端子51から加えられた不安定な電源電圧
がMOS電界効果トランジスタ55を介して出力端子5
8に伝えられるが、出力端子58に現われる電圧が分割
抵抗56.57により定められた電圧値に比べて高い値
である時、分割抵抗57に発生する電圧降下量が設定値
、すなわち基準電圧源54の値より大きくなる。そのた
め基準電圧源54の出力電圧と分割抵抗57に発生する
電圧との差分が、演算増幅器53により増幅され、MO
S電界効果トランジスタ55のゲート電圧として印加さ
れる。今の説明の場合、分割抵抗57に発生する電圧量
が基準電圧源54の出力より大きいため演算増幅器の反
転入力電圧く非反転入力電工となり、演算増幅器の出力
電圧は高電位電源を出力するように動作する。従ってM
OS電界効果トランジスタ55のゲート電位は高電位、
つまり不安定な整流手段高電位電圧付近まで近付くため
、ソース電位とゲート電位との落差が小さ(なり、電界
効果トランジスタ55は導通抵抗が増加するようになる
。その結果58の出力端子の電圧を低(抑えるように作
用する。仮に入力電圧が設定電圧より低(なると、今ま
での説明と正反対に動作し、電界効果トランジスタ55
の導通抵抗が低くなるように作用する。このような動作
の繰り返しにより、整流手段からの出力電圧は安定化さ
れ出力端子58には集積回路の動作にふされしい安定し
た電圧が得られる。
[発明の効果] 以上説明してきたように本発明を実施すれば直流電源を
電子機器に組み込む必要性が憧めて低(なり、電子機器
の高密度組立が容易になる。
また本発明によれば従来の集積回路のように、電源の電
圧印加方法を誤って集積回路を破壊させることを防止す
ることができる。
本発明は広範囲に応用できる。例えば自動車に搭載する
電子機器ではエンジンの動力で発電された交流電圧を直
接利用することが可能になる。またその低電気釜、電気
掃除機、電気洗濯機等など日常の家庭電化製品について
はそのほとんどに応用かき(。また太陽電池駆動式電子
機器に利用すれば太陽電池パネルの出力電圧の安定化作
用と同時に、組み込む場合の太陽電池パネルの電性接続
ミスによる集積回路の破壊を防止でき、かつ逆接続によ
っても支障な(電子機器が動作できるようになる。これ
はメンテナンス性能を著しく向上させる一例である。ま
た一部の電子時計にみられる自動巻機構による交流発電
、電子回路駆動のメカニズムをより広くその他の携帯機
器に応用できるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の基本構成図、第2図は本発明の具体的
構成例の図、第3図は本発明の集積回路平面図、第4図
は本発明の集積回路断面図、第5図は本発明の電源安定
化手段の一構成図である。 図中 1 。 2゜ 3゜ 4゜ 5゜ 6 。 1 6 3 4 5 1′・・・・・・・・・・・・・・・整流手段2/、2
//・・・集積回路ブロック 3/ 、3“・・・商用電源入力端子 4′ 、4“・・・商用電源入力端子 5′、5“・・・集積回路ブロック高電位線6′ 6“
・−・集積回路ブロック低電位線・・・・・・・・・電
源安定化手段 、62・・・・・・・・・絶縁膜上の半導体領域、44
・・・・・・・・・絶縁膜上の半導体領域・・・・・・
・・・演算増幅器 ・・・・・・・・・基準電圧源 ・・・・・・・・・MO3電界効果トランジスタ7・・
・・・・・・・抵抗器 以 上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 集積回路基板、前記集積回路基板上に形成された電子回
    路、前記電子回路の製造過程において形成される、前記
    集積回路基板と配線層との絶縁分離薄膜、前記薄膜上に
    形成されるpn接合整流手段、前記整流手段の出力を安
    定化する電圧安定化手段とを有し、前記整流手段のカソ
    ードは前記電圧安定化手段の高電位入力端子に、前記整
    流手段のアノードは前記電圧安定化手段の低電位入力端
    子に接続され、前記電子回路の電源が前記電圧安定化手
    段の出力により与えられることを特徴とする集積回路。
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