JPH03227012A - グロー放電型成膜装置 - Google Patents
グロー放電型成膜装置Info
- Publication number
- JPH03227012A JPH03227012A JP2339490A JP2339490A JPH03227012A JP H03227012 A JPH03227012 A JP H03227012A JP 2339490 A JP2339490 A JP 2339490A JP 2339490 A JP2339490 A JP 2339490A JP H03227012 A JPH03227012 A JP H03227012A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- high frequency
- substrate
- electrode
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 46
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 25
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 23
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 9
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 abstract description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、基板上に薄膜を形成するためのグロー放電型
成膜装置に関する。
成膜装置に関する。
基板上に薄膜を形成する装置として、従来よりスパッタ
リング装置やプラズマCVD装置等が用いられている。
リング装置やプラズマCVD装置等が用いられている。
例えばプラズマCVD装置では、高周波電極とアース電
極とを対向して配置するとともに、アース電極に基板を
装着し、これらの電極間にグロー放電を生じさせて基板
上に薄膜を形成するようにしている。また、高周波電極
を中央に配置するとともに、その両側にアース電極を設
け、この各アース電極に基板を装着して2つの基板を同
時に成膜するような装置も提供されている。
極とを対向して配置するとともに、アース電極に基板を
装着し、これらの電極間にグロー放電を生じさせて基板
上に薄膜を形成するようにしている。また、高周波電極
を中央に配置するとともに、その両側にアース電極を設
け、この各アース電極に基板を装着して2つの基板を同
時に成膜するような装置も提供されている。
前記従来のプラズマCVD装置において、高周波電極の
両側に基板を配置して成膜を行う装置では、それぞれ基
板の成膜速度を調節することができない。そこで、特開
昭61−8914号公報に示されるように、各基板への
成膜速度を調節できるようにした装置が提案されている
。
両側に基板を配置して成膜を行う装置では、それぞれ基
板の成膜速度を調節することができない。そこで、特開
昭61−8914号公報に示されるように、各基板への
成膜速度を調節できるようにした装置が提案されている
。
前記公報に示された装置を第4図に示す。この成1模装
置では、チャンバl内に所定の間隔を介して第1.第2
の高周波電極2.3が配置されている。各高周波電極2
.3は絶縁部材等を介して電気的に絶縁されている。そ
して各高周波電極2゜3のそれぞれに対向するように基
板4.5が配置され得るようになっている。また、各高
周波電極2,3の周囲にはアースシールF’6.7が設
けられている。各高周波電極2,3には、それぞれ可変
コンデンサ8.9が接続されている。これらの可変コン
デンサ8.9には、整合回路11を介して高周波電源1
0が接続されている。
置では、チャンバl内に所定の間隔を介して第1.第2
の高周波電極2.3が配置されている。各高周波電極2
.3は絶縁部材等を介して電気的に絶縁されている。そ
して各高周波電極2゜3のそれぞれに対向するように基
板4.5が配置され得るようになっている。また、各高
周波電極2,3の周囲にはアースシールF’6.7が設
けられている。各高周波電極2,3には、それぞれ可変
コンデンサ8.9が接続されている。これらの可変コン
デンサ8.9には、整合回路11を介して高周波電源1
0が接続されている。
このような装置では、可変コンデンサ8,9の容量をそ
れぞれ適宜変更することにより、各高周波電極2,3と
基板4.5との間に発生するプラズマの強度を独立して
制御することができる。
れぞれ適宜変更することにより、各高周波電極2,3と
基板4.5との間に発生するプラズマの強度を独立して
制御することができる。
前記第4図に示した装置において、第1高周波電極2と
第2高周波電極3との間には所定の隙間が設けられてい
るが、各電極2,3に印加される電圧がほぼ等しい場合
には画電極2,3の間で放電は生しない。しかし、何ら
かの理由により画電極2.3の間に相当の電位差が生じ
ると、画電極2.3の間で放電する恐れがある。このた
め、画電極2.3は約4M程度の間隔を介して配置され
ている。
第2高周波電極3との間には所定の隙間が設けられてい
るが、各電極2,3に印加される電圧がほぼ等しい場合
には画電極2,3の間で放電は生しない。しかし、何ら
かの理由により画電極2.3の間に相当の電位差が生じ
ると、画電極2.3の間で放電する恐れがある。このた
め、画電極2.3は約4M程度の間隔を介して配置され
ている。
このように、第1.第2高周波電極2,3の間の隙間は
狭いため、画電極2,3は、その間に形成されるコンデ
ンサ容量によって高周波的に結合されてしまう。このこ
とを第4図の等価回路である第5図を用いて説明する。
狭いため、画電極2,3は、その間に形成されるコンデ
ンサ容量によって高周波的に結合されてしまう。このこ
とを第4図の等価回路である第5図を用いて説明する。
各電極2,3と基板4.5との間の各プラズマ領域が、
第5図のコンデンサ13及び抵抗14の並列回路に相当
しており、各電極2.(3とアースシールド6.7との
間の容量がコンデンサ15に相当している。そして、電
極2,3の間に形成される容量は、コンデンサ12に相
当しており、画電極2.3はこのコンデンサ容量によっ
て高周波的に結合している。
第5図のコンデンサ13及び抵抗14の並列回路に相当
しており、各電極2.(3とアースシールド6.7との
間の容量がコンデンサ15に相当している。そして、電
極2,3の間に形成される容量は、コンデンサ12に相
当しており、画電極2.3はこのコンデンサ容量によっ
て高周波的に結合している。
このように、第1.第2の高周波電極2,3の間が容量
結合してしまうと、可変コンデンサ8゜9の容量を変化
させても、各基板4,5における成膜速度を独立にかつ
完全に制御することができない。
結合してしまうと、可変コンデンサ8゜9の容量を変化
させても、各基板4,5における成膜速度を独立にかつ
完全に制御することができない。
この発明の目的は、2つの高周波電極間に形成される容
量を減少させ、各基板における成膜速度を確実に制御す
ることができるグロー放電型成膜装置を提供することに
ある。
量を減少させ、各基板における成膜速度を確実に制御す
ることができるグロー放電型成膜装置を提供することに
ある。
本発明に係るグロー放電型成膜装置は、第1゜第2の高
周波電極と、高周波電源と、調節手段と、少なくとも1
つの導電性部材とを備えている。
周波電極と、高周波電源と、調節手段と、少なくとも1
つの導電性部材とを備えている。
前記第1.第2の高周波電極は、所定の隙間を介して配
置されそれぞれ基板に対向している。前記高周波電源は
、各高周波電極に高周波電力を投入するためのものであ
る。前記調節手段は、各高周波電極と基板との間に設け
られ、各高周波電極と高周波電源との間のプラズマ強度
を調節する手段である。前記導電性部材は、第1.第2
の高周波電極の間に各電極と電気的に絶縁されて配置さ
れている。
置されそれぞれ基板に対向している。前記高周波電源は
、各高周波電極に高周波電力を投入するためのものであ
る。前記調節手段は、各高周波電極と基板との間に設け
られ、各高周波電極と高周波電源との間のプラズマ強度
を調節する手段である。前記導電性部材は、第1.第2
の高周波電極の間に各電極と電気的に絶縁されて配置さ
れている。
(作用〕
本発明に係るグロー放電型成膜装置では、高周波電源に
より第1.第2の高周波電極に高周波電力を投入する。
より第1.第2の高周波電極に高周波電力を投入する。
そして、各高周波電極と各基板との間でグロー放電を起
こさせ、基板上に成膜処理を行う。この時、調節手段に
より、各高周波電極と各基板との間のプラズマ強度が調
節され、これにより成膜速度の調節が行われる。
こさせ、基板上に成膜処理を行う。この時、調節手段に
より、各高周波電極と各基板との間のプラズマ強度が調
節され、これにより成膜速度の調節が行われる。
また、第1.第2の高周波電極の間には、絶縁部材等を
介して少なくとも1つの導電性部材が配置されている。
介して少なくとも1つの導電性部材が配置されている。
この導電性部材を設けることにより、第1.第2の高周
波電極の間には複数のコンデンサが直列接続された状態
となる。これにより、第1.第2の高周波電極の間の静
電容量を小さくすることができ、調節手段による成膜速
度の制御を確実に行うことが可能となる。
波電極の間には複数のコンデンサが直列接続された状態
となる。これにより、第1.第2の高周波電極の間の静
電容量を小さくすることができ、調節手段による成膜速
度の制御を確実に行うことが可能となる。
[実施例]
第1図は本発明の一実施例によるグロー放電型成膜装置
を示している。
を示している。
第1図において、成膜室20内には、例えばステンレス
製の高周波電極21及び22がそれぞれ縦姿勢で対向配
置されている。画電極21.22は絶縁部材53〜55
を介して所定の間隔に保たれている。絶縁部材53〜5
5は、第2図に示すように、厚みtを有する複数個のブ
ロンク状絶縁片からそれぞれ構成されている。そして、
各絶縁片の間には、例えばステンレス製の金属板38が
装着されている。各金属板38は、各絶縁部材53〜5
5によって直流的に浮いた状態となっている。なお、各
絶縁片の厚みLは、例えば約3mに設定される。このよ
うな構成により、高周波電極21.22の間には、4個
のコンデンサが直列接続された状態となっており、金属
板38がないものに比べ画電極21.22の間の静電容
量が減少している。
製の高周波電極21及び22がそれぞれ縦姿勢で対向配
置されている。画電極21.22は絶縁部材53〜55
を介して所定の間隔に保たれている。絶縁部材53〜5
5は、第2図に示すように、厚みtを有する複数個のブ
ロンク状絶縁片からそれぞれ構成されている。そして、
各絶縁片の間には、例えばステンレス製の金属板38が
装着されている。各金属板38は、各絶縁部材53〜5
5によって直流的に浮いた状態となっている。なお、各
絶縁片の厚みLは、例えば約3mに設定される。このよ
うな構成により、高周波電極21.22の間には、4個
のコンデンサが直列接続された状態となっており、金属
板38がないものに比べ画電極21.22の間の静電容
量が減少している。
例えば、第3図に示すように、高周波電極41゜42の
間に絶縁部材43のみを設けたものにおい(゛、各電極
41.42の1辺の長さをD=500市、絶縁部材43
の厚みをt=3mmとした場合には、各電極41.42
の間に形成されるコンデンサ容量は となる。一方、第2図に示すものでは、等価的に第3図
のコンデンサと同容量のコンデンサが4個直列接続され
た状態となり、電極21.22の間の容量は、C=C,
・1/4となる。
間に絶縁部材43のみを設けたものにおい(゛、各電極
41.42の1辺の長さをD=500市、絶縁部材43
の厚みをt=3mmとした場合には、各電極41.42
の間に形成されるコンデンサ容量は となる。一方、第2図に示すものでは、等価的に第3図
のコンデンサと同容量のコンデンサが4個直列接続され
た状態となり、電極21.22の間の容量は、C=C,
・1/4となる。
各高周波電極21.22の周囲にはアースシールド26
.27が配置され”ζいる。成膜室2oの左右両側壁に
は、ヒータ24,25が配置されている。また、各高周
波電極21.22のそれぞれには、調節手段としての可
変コンデンサ28,29が接続されている。可変コンデ
ンサ28.29は、ともに整合回路30を介して高周波
電源31に接続されている。
.27が配置され”ζいる。成膜室2oの左右両側壁に
は、ヒータ24,25が配置されている。また、各高周
波電極21.22のそれぞれには、調節手段としての可
変コンデンサ28,29が接続されている。可変コンデ
ンサ28.29は、ともに整合回路30を介して高周波
電源31に接続されている。
また、成膜装置620内には、基板カート35が第1図
の紙面垂直方向に搬入可能となっている。
の紙面垂直方向に搬入可能となっている。
基板カート35はアース電極として機能するものであり
、各高周波電極21.22のそれぞれに対向するように
基板36.37が縦姿勢で装着されている。
、各高周波電極21.22のそれぞれに対向するように
基板36.37が縦姿勢で装着されている。
次に、本成膜装置の作動について説明する。
まず、成膜すべき基板36.37が装着された基板カー
ト35を成膜室20内に搬入する。次に、基板36.3
7をヒータ24,25で加熱した状態で、高周波電源3
1から高周波電極2122に高周波電圧を印加する。こ
れにより、各高周波電極21.22と各基板36.37
との間にグロー放電が発生し、基板36.37上に薄膜
が形成される。
ト35を成膜室20内に搬入する。次に、基板36.3
7をヒータ24,25で加熱した状態で、高周波電源3
1から高周波電極2122に高周波電圧を印加する。こ
れにより、各高周波電極21.22と各基板36.37
との間にグロー放電が発生し、基板36.37上に薄膜
が形成される。
成膜時には、可変コンデンサ28.29により、各基板
36.37について成膜速度のコントロールが行われる
。また、高周波電極21.22の間に金属板38を設け
たことにより、前述のように、各電極21.22の間の
二lンデンサ容量による電気的な結合が減少している。
36.37について成膜速度のコントロールが行われる
。また、高周波電極21.22の間に金属板38を設け
たことにより、前述のように、各電極21.22の間の
二lンデンサ容量による電気的な結合が減少している。
従って、可変コンデンサ28.29をそれぞれ制御する
ごとにより、電極21と基板36との間のプラズマ強度
及び電Jm22と基板37との間のプラズマ強度をそれ
ぞれ独立して制御することができる。
ごとにより、電極21と基板36との間のプラズマ強度
及び電Jm22と基板37との間のプラズマ強度をそれ
ぞれ独立して制御することができる。
(21)前記実施例では、本発明をプラズマCVD装置
に適用した場合について説明したが、本発明は、ターゲ
ットと基板との間でグロー放電を起こして成膜を行うス
パッタリング装置においても同様に適用することができ
る。
に適用した場合について説明したが、本発明は、ターゲ
ットと基板との間でグロー放電を起こして成膜を行うス
パッタリング装置においても同様に適用することができ
る。
(E))金属板3 Bの枚数とし′(は、少なくとも1
枚設けられていればよい。
枚設けられていればよい。
((〕)各全金属板8同士の隙間り及び両外側の金属板
38と各電極21.22との隙間りは全て均等でなくて
もよい。例えば、第2図において、左(電極21側)か
ら順に2mm、 3mm、 2mm、 3mm。
38と各電極21.22との隙間りは全て均等でなくて
もよい。例えば、第2図において、左(電極21側)か
ら順に2mm、 3mm、 2mm、 3mm。
等であってもよい。
〔発明の効果]
本発明に係るグロー放電型成膜装置では、第1゜第2の
高周波電極の間に各電極と絶縁された少なくとも1つの
導電性部材が設けられるので、2つの高周波電極間のコ
ンデンサ容量による電気的結合を減少さ一ロることがで
きる。これにより、各電極と基板との間のプラズマ強度
の制御性を向上でき、各基板の成膜速度を確実に制御す
るごとが可能となる。
高周波電極の間に各電極と絶縁された少なくとも1つの
導電性部材が設けられるので、2つの高周波電極間のコ
ンデンサ容量による電気的結合を減少さ一ロることがで
きる。これにより、各電極と基板との間のプラズマ強度
の制御性を向上でき、各基板の成膜速度を確実に制御す
るごとが可能となる。
第1図は本発明の一実施例によるグロー放電型成膜装置
の断面概略構成図、第2図は前記実施例装置の電極部分
の拡大図、第3図は従来装置の第2図に相当する図、第
4図は従来装置の第1図に相当する図、第5図はその等
価回路図である。 20・・・成膜室、21.22・・・高周波電極、28
゜29・・・可変コンデ刈す(調節手段)、31・・・
高周波電源、36.37・・・基板、38・・・金属板
、53・〜55・・・絶縁部材。
の断面概略構成図、第2図は前記実施例装置の電極部分
の拡大図、第3図は従来装置の第2図に相当する図、第
4図は従来装置の第1図に相当する図、第5図はその等
価回路図である。 20・・・成膜室、21.22・・・高周波電極、28
゜29・・・可変コンデ刈す(調節手段)、31・・・
高周波電源、36.37・・・基板、38・・・金属板
、53・〜55・・・絶縁部材。
Claims (1)
- (1)所定の隙間を介して配置されそれぞれ基板に対向
する第1、第2の高周波電極と、前記各高周波電極に高
周波電力を投入するための高周波電源と、前記各高周波
電極と高周波電源との間に設けられ各高周波電極と基板
との間のプラズマ強度を調節する調節手段と、前記第1
、第2の高周波電極の間に各電極と電気的に絶縁されて
配置された少なくとも1つの導電性部材とを備えたグロ
ー放電型成膜装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2339490A JPH03227012A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | グロー放電型成膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2339490A JPH03227012A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | グロー放電型成膜装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03227012A true JPH03227012A (ja) | 1991-10-08 |
Family
ID=12109294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2339490A Pending JPH03227012A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | グロー放電型成膜装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03227012A (ja) |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2339490A patent/JPH03227012A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO1998032154A1 (en) | Capacitively coupled rf-plasma reactor | |
JPH01198472A (ja) | スパツタリング装置 | |
JPH05304103A (ja) | 低圧プラズマでサブストレートを処理する方法および装置 | |
JPH0661185A (ja) | プラズマ処理装置 | |
KR20190029492A (ko) | 표면 탄성파 장치 및 제조 방법 | |
JPH03227012A (ja) | グロー放電型成膜装置 | |
US5330615A (en) | Symmetric double water plasma etching system | |
JP3294166B2 (ja) | スパッタリング装置 | |
JP3006029B2 (ja) | 真空成膜装置 | |
JP2506617Y2 (ja) | グロ―放電型成膜装置 | |
JPH0649936B2 (ja) | バイアススパツタリング装置 | |
JP2761875B2 (ja) | バイアススパッタリング法による堆積膜形成装置 | |
JP2809041B2 (ja) | プラズマcvd装置およびプラズマcvd方法 | |
JP2811845B2 (ja) | 移動式成膜装置 | |
JP2679273B2 (ja) | 薄膜製造方法 | |
KR100708831B1 (ko) | 균일한 플라즈마를 이용한 스퍼터링 장치 | |
JPH05230651A (ja) | スパッタ成膜基板ホルダ− | |
US10991591B2 (en) | Reactive ion etching apparatus | |
JPS641958Y2 (ja) | ||
JP2001040482A (ja) | Pcvd製膜装置 | |
JPS6115321A (ja) | 成膜方法 | |
JPH09270300A (ja) | 平行平板型プラズマ成膜装置 | |
JPH0531294B2 (ja) | ||
JPH02303029A (ja) | プラズマ電極 | |
JPS61292312A (ja) | 配向性強誘電体薄膜の製造方法および装置 |