JPH032250B2 - - Google Patents
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- JPH032250B2 JPH032250B2 JP57186918A JP18691882A JPH032250B2 JP H032250 B2 JPH032250 B2 JP H032250B2 JP 57186918 A JP57186918 A JP 57186918A JP 18691882 A JP18691882 A JP 18691882A JP H032250 B2 JPH032250 B2 JP H032250B2
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- circuit
- temperature
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 28
- 238000001931 thermography Methods 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N7/00—Television systems
- H04N7/18—Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射率補正機構を備えたサーモグラフ
イ装置に関し、特に温度分布像中の特定の領域に
ついて任意に放射率補正を行うことの出来るサー
モグラフイ装置に関するものである。
イ装置に関し、特に温度分布像中の特定の領域に
ついて任意に放射率補正を行うことの出来るサー
モグラフイ装置に関するものである。
一般にサーモグラフイ装置においては、視野内
各点から発生する赤外線を走査集光して赤外線検
出器に導入し、得られた温度信号を陰極線管に輝
度信号として送り、視野内の被写体の温度分布像
を得ている。かかるサーモグラフイ装置では、被
写体の放射率により誤差が発生することが避けら
れないため、放射率補正機構を設けることが必要
である。ところが、従来の放射率補正機構は1画
面全体について同一の放射率で補正してしまうた
め、被写体中にその放射率と異なる放射率を持つ
た領域が存在する場合には、その領域については
得られた温度値に誤差が生じてしまう結果となつ
ていた。
各点から発生する赤外線を走査集光して赤外線検
出器に導入し、得られた温度信号を陰極線管に輝
度信号として送り、視野内の被写体の温度分布像
を得ている。かかるサーモグラフイ装置では、被
写体の放射率により誤差が発生することが避けら
れないため、放射率補正機構を設けることが必要
である。ところが、従来の放射率補正機構は1画
面全体について同一の放射率で補正してしまうた
め、被写体中にその放射率と異なる放射率を持つ
た領域が存在する場合には、その領域については
得られた温度値に誤差が生じてしまう結果となつ
ていた。
本発明はこの点に鑑みてなされたものであり、
被写体からの赤外線を検出して得た視野を構成す
る画素の温度データを記憶する手段と、該記憶手
段に記憶された温度データを読出す読出し手段
と、読出された温度データに基づき被写体の温度
分布像を表示する表示手段と、任意の放射率及び
周囲温度を入力するための入力手段と、前記表示
手段の画面上の任意領域を指定する手段と、該指
定手段によつて指定された領域に含まれる全画素
の温度データを前記記憶手段から読出す手段と、
読出された温度データを前記入力手段によつて入
力された放射率及び周囲温度に基づき放射率補正
する手段とを備え、該補正手段により補正された
温度データを前記記憶手段へ戻して記憶させるこ
とにより、温度分布像中の任意の領域に任意の放
射率補正を行うことの出来るサーモグラフイ装置
を提供することを目的としている。以下、本発明
の一実施例を添付図面に基づき詳述する。
被写体からの赤外線を検出して得た視野を構成す
る画素の温度データを記憶する手段と、該記憶手
段に記憶された温度データを読出す読出し手段
と、読出された温度データに基づき被写体の温度
分布像を表示する表示手段と、任意の放射率及び
周囲温度を入力するための入力手段と、前記表示
手段の画面上の任意領域を指定する手段と、該指
定手段によつて指定された領域に含まれる全画素
の温度データを前記記憶手段から読出す手段と、
読出された温度データを前記入力手段によつて入
力された放射率及び周囲温度に基づき放射率補正
する手段とを備え、該補正手段により補正された
温度データを前記記憶手段へ戻して記憶させるこ
とにより、温度分布像中の任意の領域に任意の放
射率補正を行うことの出来るサーモグラフイ装置
を提供することを目的としている。以下、本発明
の一実施例を添付図面に基づき詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図であ
り、同図において1は赤外線検出器、2は該検出
器の像を被写体上に結像すると共にラスタ走査す
るための光スキヤナ、3は該光スキヤナ2による
水平走査毎に基準赤外線を検出器に入射させるた
めの基準黒体である。光スキヤナ2によるラスタ
走査に基づいて検出器1には視野からの赤外線が
順次入射し、得られた検出信号は、増幅器4を介
して絶対温度再生回路、リニアライザ等を有する
処理回路5に送られ、被写体の絶対温度に対応し
た温度信号に変換される。該温度信号はA−D変
換器6によりデジタル信号に変換された後、書込
み制御回路7を介して画像メモリ8へ送られて記
憶される。
り、同図において1は赤外線検出器、2は該検出
器の像を被写体上に結像すると共にラスタ走査す
るための光スキヤナ、3は該光スキヤナ2による
水平走査毎に基準赤外線を検出器に入射させるた
めの基準黒体である。光スキヤナ2によるラスタ
走査に基づいて検出器1には視野からの赤外線が
順次入射し、得られた検出信号は、増幅器4を介
して絶対温度再生回路、リニアライザ等を有する
処理回路5に送られ、被写体の絶対温度に対応し
た温度信号に変換される。該温度信号はA−D変
換器6によりデジタル信号に変換された後、書込
み制御回路7を介して画像メモリ8へ送られて記
憶される。
9は中心温度を指定する信号aと温度幅を指定
する信号bに基づいて表示すべき温度範囲を計算
する温度範囲設定回路、10は画像メモリ8に記
憶された画素データを読出し、該設定回路9によ
つて設定された温度範囲にあるものを抜出すため
の読出し選択回路で、抜出された画素のデータは
モニタ用陰極線管表示装置11の階調内に収まる
形で像表示用画像メモリ12へ格納される。該メ
モリ12に記憶された画素データは、表示装置1
1のテレビジヨン走査に同期して高速度で読出さ
れ、D−A変換器13、レベルシフト回路14及
びテレビ信号変換回路15を介してモニタ用陰極
線管表示装置11へ送られる。又、文字表示用メ
モリ16に格納されている文字情報パターンのデ
ータ及び枠表示用メモリ17に格納されている枠
パターンのデータも同時に読出され、OR回路1
8により加算された後上記レベルシフト回路14
へ送られ、パターンが存在する期間だけ輝度を上
昇させるため、表示装置11の画面には第2図に
示すように、温度分布像Zと該像Zに関する情報
例えばCT(中心温度)、TW(温度幅)の値、そし
て矩形状の枠Aが重畳表示される。
する信号bに基づいて表示すべき温度範囲を計算
する温度範囲設定回路、10は画像メモリ8に記
憶された画素データを読出し、該設定回路9によ
つて設定された温度範囲にあるものを抜出すため
の読出し選択回路で、抜出された画素のデータは
モニタ用陰極線管表示装置11の階調内に収まる
形で像表示用画像メモリ12へ格納される。該メ
モリ12に記憶された画素データは、表示装置1
1のテレビジヨン走査に同期して高速度で読出さ
れ、D−A変換器13、レベルシフト回路14及
びテレビ信号変換回路15を介してモニタ用陰極
線管表示装置11へ送られる。又、文字表示用メ
モリ16に格納されている文字情報パターンのデ
ータ及び枠表示用メモリ17に格納されている枠
パターンのデータも同時に読出され、OR回路1
8により加算された後上記レベルシフト回路14
へ送られ、パターンが存在する期間だけ輝度を上
昇させるため、表示装置11の画面には第2図に
示すように、温度分布像Zと該像Zに関する情報
例えばCT(中心温度)、TW(温度幅)の値、そし
て矩形状の枠Aが重畳表示される。
19は上記テレビ信号変換回路15へ供給する
標準テレビジヨン同期信号H,Vを発生する同期
信号発生回路、20はその同期信号Hに基づいて
1本のラスタを256画素に分割する画素クロツク
信号を発生するクロツク発振器、21は該クロツ
ク信号をカウントして水平位置指定信号を発生す
るカウンタ、22は上記同期信号Hをカウントし
て垂直位置指定信号を発生するカウンタである。
該2つのカウンタからの水平、垂直位置指定信号
に基づき前記メモリ12,16,17からデータ
が読出され表示装置11へ送られる。
標準テレビジヨン同期信号H,Vを発生する同期
信号発生回路、20はその同期信号Hに基づいて
1本のラスタを256画素に分割する画素クロツク
信号を発生するクロツク発振器、21は該クロツ
ク信号をカウントして水平位置指定信号を発生す
るカウンタ、22は上記同期信号Hをカウントし
て垂直位置指定信号を発生するカウンタである。
該2つのカウンタからの水平、垂直位置指定信号
に基づき前記メモリ12,16,17からデータ
が読出され表示装置11へ送られる。
23は枠設定回路24からの枠位置データに基
づき前記枠表示用メモリ17に枠パターンを書込
むための枠書込回路、25は枠位置データに基づ
き枠で囲まれた領域内に含まれる画素をメモリ8
内から読出すために、メモリ8内の該当画素を指
定するアドレスを順次発生するアドレス設定回
路、26はアドレス設定回路25からのアドレス
信号に基づいてメモリ8から読出された画素の温
度データを記憶するためのレジスタ、27は該レ
ジスタ内の温度データに放射率補正を施すための
放射率補正回路、28は補正された温度データを
メモリ8内の同一アドレスに書込むための書込み
回路、29は文字パターンを前記文字表示用メモ
リ16に書込むための文字書込み回路、30は指
定領域内の全画素について補正が終了したか否か
を検出する終了検出回路である。上記放射率補正
回路27は、補正すべき放射率の値ε及び周囲温
度Taを記憶するためのレジスタ31,32、温
度→赤外線入射光量変換を行う4乗回路33,3
4、演算回路35、減算回路36、除算回路3
7、及び赤外線入射光量→→温度変換を行う1/4
乗回路38より構成されている。
づき前記枠表示用メモリ17に枠パターンを書込
むための枠書込回路、25は枠位置データに基づ
き枠で囲まれた領域内に含まれる画素をメモリ8
内から読出すために、メモリ8内の該当画素を指
定するアドレスを順次発生するアドレス設定回
路、26はアドレス設定回路25からのアドレス
信号に基づいてメモリ8から読出された画素の温
度データを記憶するためのレジスタ、27は該レ
ジスタ内の温度データに放射率補正を施すための
放射率補正回路、28は補正された温度データを
メモリ8内の同一アドレスに書込むための書込み
回路、29は文字パターンを前記文字表示用メモ
リ16に書込むための文字書込み回路、30は指
定領域内の全画素について補正が終了したか否か
を検出する終了検出回路である。上記放射率補正
回路27は、補正すべき放射率の値ε及び周囲温
度Taを記憶するためのレジスタ31,32、温
度→赤外線入射光量変換を行う4乗回路33,3
4、演算回路35、減算回路36、除算回路3
7、及び赤外線入射光量→→温度変換を行う1/4
乗回路38より構成されている。
上述の如き構成において、画像メモリ8には第
3図に示す様に水平方向に256画素、垂直方向に
240ライン、そして深さ方向に例えば12ビツトの
記憶エリアが設定されており、検出器像を光スキ
ヤナ2によつて水平及び垂直走査して得られた各
画素の温度データがA−D変換器6によりデジタ
ル信号に変換され、12ビツトのダイナミツクレン
ジで対応する位置に格納される。そして該データ
は1画面走査毎に順次新しいデータに書換えられ
る。像表示用メモリ12にも第3図と全く同様に
256×240画素分の記憶エリアが設定されている
が、深さ方向には6ビツト(白黒64階調)であ
る。更に文字表示用メモリ16及び枠表示用メモ
リ17にも、第4図及び第5図に示す様に同じく
256×240画素分の記憶エリアが設定されている
が、深さ方向には両メモリとも1ビツト(白・黒
2階調)である。
3図に示す様に水平方向に256画素、垂直方向に
240ライン、そして深さ方向に例えば12ビツトの
記憶エリアが設定されており、検出器像を光スキ
ヤナ2によつて水平及び垂直走査して得られた各
画素の温度データがA−D変換器6によりデジタ
ル信号に変換され、12ビツトのダイナミツクレン
ジで対応する位置に格納される。そして該データ
は1画面走査毎に順次新しいデータに書換えられ
る。像表示用メモリ12にも第3図と全く同様に
256×240画素分の記憶エリアが設定されている
が、深さ方向には6ビツト(白黒64階調)であ
る。更に文字表示用メモリ16及び枠表示用メモ
リ17にも、第4図及び第5図に示す様に同じく
256×240画素分の記憶エリアが設定されている
が、深さ方向には両メモリとも1ビツト(白・黒
2階調)である。
今、信号aによつて中心温度(CT)が35.0℃、
信号bによつて温度幅(TW)が3.00℃と指定さ
れているとすれば、温度範囲設定回路9はCT±
TW/2を計算し、読出し選択回路10へ下限温
度(33.5℃)と上限温度(36.5℃)を指定する。
該読出し選択回路10は画像メモリ8に格納され
ている全画素から指定された33.5℃以上36.5℃未
満のものを抜き出し、その3℃の温度幅の間で1
〜62の62段階に分類して、その数値を像表示用メ
モリ12の対応する位置へ書込む。尚、33.5℃未
満の画素に“0”(黒レベル)が付与され、36.5
℃以上の画素に“63”(白レベル)が付与され、
合計64階調となつている。
信号bによつて温度幅(TW)が3.00℃と指定さ
れているとすれば、温度範囲設定回路9はCT±
TW/2を計算し、読出し選択回路10へ下限温
度(33.5℃)と上限温度(36.5℃)を指定する。
該読出し選択回路10は画像メモリ8に格納され
ている全画素から指定された33.5℃以上36.5℃未
満のものを抜き出し、その3℃の温度幅の間で1
〜62の62段階に分類して、その数値を像表示用メ
モリ12の対応する位置へ書込む。尚、33.5℃未
満の画素に“0”(黒レベル)が付与され、36.5
℃以上の画素に“63”(白レベル)が付与され、
合計64階調となつている。
又、文字書込回路29は中心温度を指定する信
号aと温度幅を指定する信号bに基づきキヤラク
タジエネレータを制御し、文字表示用メモリ16
の256×240の記憶エリアの上部に「CT35.0
TW3.00」という文字及び数字のパターンを例え
ば5×7個のドツトマトリクスの形で第4図に示
す様に書込む。この場合、パターンの有無を与え
れば良いので、メモリ16は深さ方向に1ビツト
あれば良い。
号aと温度幅を指定する信号bに基づきキヤラク
タジエネレータを制御し、文字表示用メモリ16
の256×240の記憶エリアの上部に「CT35.0
TW3.00」という文字及び数字のパターンを例え
ば5×7個のドツトマトリクスの形で第4図に示
す様に書込む。この場合、パターンの有無を与え
れば良いので、メモリ16は深さ方向に1ビツト
あれば良い。
更に、枠書込回路23は枠設定回路24からの
枠を決定する4点P1,P2,P3,P4の位置
データ(x1,y1),(x2,y1),(x2,y2),(x1,
y2)に従い、メモリ17に第5図にAで示す様に
上記4点を直線で結んだ枠パターンを書込む。こ
の場合もパターンの有無を与えれば良いので、メ
モリ17は深さ方向に1ビツトあれば良い。
枠を決定する4点P1,P2,P3,P4の位置
データ(x1,y1),(x2,y1),(x2,y2),(x1,
y2)に従い、メモリ17に第5図にAで示す様に
上記4点を直線で結んだ枠パターンを書込む。こ
の場合もパターンの有無を与えれば良いので、メ
モリ17は深さ方向に1ビツトあれば良い。
この様にしてメモリ12,16,17に別々に
書込まれた画像データ、文字パターンデータ、枠
パターンデータは、カウンタ21,22からの水
平、垂直位置指定信号により表示装置11の画面
走査に同期して同時に読出され、その内の画像デ
ータはD−A変換器13、変換回路15を介して
表示装置11に送られるため、その画面には第2
図に示される様な温度分布像Zが表示される。
又、文字パターンデータと枠パターンデータは
OR回路18にて加算されたのち、レベルシフト
回路14へ送られ、該レベルシフト回路14は枠
パターン或いは文字パターンが存在する時だけテ
レビ信号変換回路15へ送られる映像信号のレベ
ルを強制的に白レベルヘレベルシフトするため、
表示装置11の画面には、「CT 35/0
TW3.00」の文字と枠Aが温度分布像Zに重畳さ
れて第2図の如く表示される。
書込まれた画像データ、文字パターンデータ、枠
パターンデータは、カウンタ21,22からの水
平、垂直位置指定信号により表示装置11の画面
走査に同期して同時に読出され、その内の画像デ
ータはD−A変換器13、変換回路15を介して
表示装置11に送られるため、その画面には第2
図に示される様な温度分布像Zが表示される。
又、文字パターンデータと枠パターンデータは
OR回路18にて加算されたのち、レベルシフト
回路14へ送られ、該レベルシフト回路14は枠
パターン或いは文字パターンが存在する時だけテ
レビ信号変換回路15へ送られる映像信号のレベ
ルを強制的に白レベルヘレベルシフトするため、
表示装置11の画面には、「CT 35/0
TW3.00」の文字と枠Aが温度分布像Zに重畳さ
れて第2図の如く表示される。
本発明では、この様にして温度分布像Z及び枠
Aが表示されている時、該枠によつて規定された
領域に含まれる画素についてのみ放射率補正が行
われるこことを特徴としている。
Aが表示されている時、該枠によつて規定された
領域に含まれる画素についてのみ放射率補正が行
われるこことを特徴としている。
即ち、アドレス設定回路25は、枠設定回路2
4から送られる枠位置データ(x1,y1),(x2,
y1),(x2,y2),(x1,y2)に基づき、像Z中の枠
Aに囲まれた領域に含まれる全画素をリストアツ
プし、その画素数Nを前記終了検出回路30へ送
り、保持させる。次に、該アドレス設定回路25
は、リストアツプしたN個の画素の温度データを
画像メモリ8から読出すためのアドレス信号を適
宜な順序で発生し、画像メモリ8へ送る。該アド
レス信号に基づいてメモリ8から読出された最初
の画素D1の温度データは、レジスタ26に送ら
れ記憶される。この温度データは放射率補正を行
つてない生データであり、放射率補正回路27に
送られて放射率ε、周囲温度Taにて放射率補正
が行われる。
4から送られる枠位置データ(x1,y1),(x2,
y1),(x2,y2),(x1,y2)に基づき、像Z中の枠
Aに囲まれた領域に含まれる全画素をリストアツ
プし、その画素数Nを前記終了検出回路30へ送
り、保持させる。次に、該アドレス設定回路25
は、リストアツプしたN個の画素の温度データを
画像メモリ8から読出すためのアドレス信号を適
宜な順序で発生し、画像メモリ8へ送る。該アド
レス信号に基づいてメモリ8から読出された最初
の画素D1の温度データは、レジスタ26に送ら
れ記憶される。この温度データは放射率補正を行
つてない生データであり、放射率補正回路27に
送られて放射率ε、周囲温度Taにて放射率補正
が行われる。
この補正回路27における処理については以下
に説明する。一般に真温度T、放射率εの物体か
ら放射される放射エネルギー、換言すれば検出器
1に入射する赤外線光量Wはσを定数、Taを周
囲温度として下式で表わされる。
に説明する。一般に真温度T、放射率εの物体か
ら放射される放射エネルギー、換言すれば検出器
1に入射する赤外線光量Wはσを定数、Taを周
囲温度として下式で表わされる。
W/σ=εT4+(1−ε)Ta4 ……(1)
上式中、右辺第1項は物体自体からの放射で、
第2項は周囲からの放射が物体で反射されたもの
である。上式から、εが1の時はW/σ=T4と
なつて、 T=(W/σ)1/4 ……(2) を実行することによりTを求められるが、εが1
と大幅に異なると(2)式を単純に実行したのでは誤
差が生じてしまうことがわかる。
第2項は周囲からの放射が物体で反射されたもの
である。上式から、εが1の時はW/σ=T4と
なつて、 T=(W/σ)1/4 ……(2) を実行することによりTを求められるが、εが1
と大幅に異なると(2)式を単純に実行したのでは誤
差が生じてしまうことがわかる。
そこで4乗回路34は、(2)式を単純に実行して
誤差が生じてしまつている上記温度データに(2)式
と逆の変換を行い、本来の赤外線入射光量εT4+
(1−ε)Ta4に戻し、減算回路36へ送る。
誤差が生じてしまつている上記温度データに(2)式
と逆の変換を行い、本来の赤外線入射光量εT4+
(1−ε)Ta4に戻し、減算回路36へ送る。
一方、レジスタ31,32にはオペレータによ
りキーボード等から、物体の放射率εと周囲温度
Taが夫々入力してあり、演算回路35はそのε
の値と、4乗回路33を介して送られるTa4に基
づいて(1−ε)Ta4を求め、減算回路36へ送
るため、該減算回路36の出力としてεT4が得ら
れる。該出力をεで除した除算回路37の出力と
してはT4が得られ、それを1/4乗回路37を介し
て取出すことにより真温度Tが得られる。
りキーボード等から、物体の放射率εと周囲温度
Taが夫々入力してあり、演算回路35はそのε
の値と、4乗回路33を介して送られるTa4に基
づいて(1−ε)Ta4を求め、減算回路36へ送
るため、該減算回路36の出力としてεT4が得ら
れる。該出力をεで除した除算回路37の出力と
してはT4が得られ、それを1/4乗回路37を介し
て取出すことにより真温度Tが得られる。
この時、前記アドレス設定回路25は依然とし
て読出した画素D1を指持するアドレス信号を発
しているので、書込回路28は該真温度Tを該画
素D1の新データとして新たに格納する。この様
にして最初の画素D1の補正及び再書込が終了し
たら、該書込回路28は終了パルスを検出回路3
0へ送る。検出回路30は該パルスをカウント
し、そのカウント値“1”を先に格納したNと比
較し、等しくない場合継続信号cを発し、アドレ
ス設定回路25へ送る。該アドレス設定回路25
は継続信号に基づき、リストアツプされている2
番目の画素D2を指定するアドレス信号を発生し、
画像メモリ8へ送つて該画素の温度データをレジ
スタ26へ格納する。この2番目の温度データは
前述した1番目の温度データと全く同様の補正処
理を受け、読出された位置に戻される。以下全く
同様に、リストアツプされた枠内の全画素N個の
補正処理が終了し、終了検出回路30のカウント
値がNとなり、停止信号sが発生するまでN回の
補正処理が繰返される。
て読出した画素D1を指持するアドレス信号を発
しているので、書込回路28は該真温度Tを該画
素D1の新データとして新たに格納する。この様
にして最初の画素D1の補正及び再書込が終了し
たら、該書込回路28は終了パルスを検出回路3
0へ送る。検出回路30は該パルスをカウント
し、そのカウント値“1”を先に格納したNと比
較し、等しくない場合継続信号cを発し、アドレ
ス設定回路25へ送る。該アドレス設定回路25
は継続信号に基づき、リストアツプされている2
番目の画素D2を指定するアドレス信号を発生し、
画像メモリ8へ送つて該画素の温度データをレジ
スタ26へ格納する。この2番目の温度データは
前述した1番目の温度データと全く同様の補正処
理を受け、読出された位置に戻される。以下全く
同様に、リストアツプされた枠内の全画素N個の
補正処理が終了し、終了検出回路30のカウント
値がNとなり、停止信号sが発生するまでN回の
補正処理が繰返される。
この一連の補正処理により、枠内の温度データ
が変化したため、設定された温度範囲(33.5℃〜
36.5℃)から外れるもの、或いは新たにその温度
範囲に入るものが出てくる。そこで停止信号sが
発生すると、読出し選択回路10は画像メモリ8
中の全画素から上記33.5℃〜36.5℃の温度範囲に
含まれるものを抜出し、その3℃の温度幅の間で
1〜62の62段階に分類してその数値を像表示用メ
モリ12の対応する位置へ書込むという作業を再
度行う。従つて、その作業後表示装置11の画面
に表示される温度分布像Zは、枠A内の部分が正
しい放射率で補正された正しい温度分布を示すも
のとなる。そして、枠の外の放射率が“1”の部
分には補正が施されないため、この部分も正しい
温度分布を示している。
が変化したため、設定された温度範囲(33.5℃〜
36.5℃)から外れるもの、或いは新たにその温度
範囲に入るものが出てくる。そこで停止信号sが
発生すると、読出し選択回路10は画像メモリ8
中の全画素から上記33.5℃〜36.5℃の温度範囲に
含まれるものを抜出し、その3℃の温度幅の間で
1〜62の62段階に分類してその数値を像表示用メ
モリ12の対応する位置へ書込むという作業を再
度行う。従つて、その作業後表示装置11の画面
に表示される温度分布像Zは、枠A内の部分が正
しい放射率で補正された正しい温度分布を示すも
のとなる。そして、枠の外の放射率が“1”の部
分には補正が施されないため、この部分も正しい
温度分布を示している。
以上詳述した如く、本発明では枠で規定した領
域のみを任意の放射率で補正することが出来るた
め、被写体各部の放射率が夫々異なるような場合
であつても、夫々の部分にそれぞれの放射率で補
正が出来、正しい温度分布像を得ることが可能と
なる。
域のみを任意の放射率で補正することが出来るた
め、被写体各部の放射率が夫々異なるような場合
であつても、夫々の部分にそれぞれの放射率で補
正が出来、正しい温度分布像を得ることが可能と
なる。
尚、上述した実施例では理解を容易にするため
に個別のブロツクで構成した装置を例示したが、
実際には枠書込回路23、枠設定回路24、アド
レス設定回路25、放射率補正回路27、温度範
囲設定回路9等の働きをコンピユータに置き換え
て行わせることが可能であるし、メモリ16とメ
モリ17は1つのメモリで兼用する方が実用的で
ある。
に個別のブロツクで構成した装置を例示したが、
実際には枠書込回路23、枠設定回路24、アド
レス設定回路25、放射率補正回路27、温度範
囲設定回路9等の働きをコンピユータに置き換え
て行わせることが可能であるし、メモリ16とメ
モリ17は1つのメモリで兼用する方が実用的で
ある。
又、Ta,εをオペレータがキーボードで入力
したが温度計からの自動入力等その他の方法でも
良い。
したが温度計からの自動入力等その他の方法でも
良い。
又、上述した実施例では、四角形の枠で領域を
指定したが、枠は任意の形に選べば良く、例えば
ライトペン等でオペレータが対象領域を囲んで指
定するようにしても良い。補正処理も、枠で囲ま
れた領域について行うのではなく、枠の外の領域
について行うようにしても良いことは言うまでも
ない。
指定したが、枠は任意の形に選べば良く、例えば
ライトペン等でオペレータが対象領域を囲んで指
定するようにしても良い。補正処理も、枠で囲ま
れた領域について行うのではなく、枠の外の領域
について行うようにしても良いことは言うまでも
ない。
更には、枠を同時に複数指定すると共に夫々の
枠に対して放射率を指定出来るようにし、複数の
枠の補正を続けて行うようにすれば、一度に複数
の領域の補正を行うことが出来る。
枠に対して放射率を指定出来るようにし、複数の
枠の補正を続けて行うようにすれば、一度に複数
の領域の補正を行うことが出来る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示す図、第
2図は画面の表示状態を示す図、第3図は画像メ
モリ8における画素の配列を示す図、第4図及び
第5図はメモリ16,17における記憶エリアを
説明するための図である。 8:画像メモリ、9:温度範囲設定回路、1
0:読出し選択回路、11:モニタ用陰極線管表
示装置、12:像表示用メモリ、13:D−A変
換器、14:レベルシフト回路、15:テレビ信
号変換回路、16:文字表示用メモリ、17:枠
表示用メモリ、18:OR回路、19:同期信号
発生回路、20:画素クロツク発振器、21,2
2:カウンタ、23:枠書込回路、24:枠設定
回路、25:アドレス設定回路、26:レジス
タ、27:放射率補正回路、28:書込回路、3
0:終了検出回路。
2図は画面の表示状態を示す図、第3図は画像メ
モリ8における画素の配列を示す図、第4図及び
第5図はメモリ16,17における記憶エリアを
説明するための図である。 8:画像メモリ、9:温度範囲設定回路、1
0:読出し選択回路、11:モニタ用陰極線管表
示装置、12:像表示用メモリ、13:D−A変
換器、14:レベルシフト回路、15:テレビ信
号変換回路、16:文字表示用メモリ、17:枠
表示用メモリ、18:OR回路、19:同期信号
発生回路、20:画素クロツク発振器、21,2
2:カウンタ、23:枠書込回路、24:枠設定
回路、25:アドレス設定回路、26:レジス
タ、27:放射率補正回路、28:書込回路、3
0:終了検出回路。
Claims (1)
- 1 被写体からの赤外線を検出して得た視野を構
成する画素の温度データを記憶する手段と、該記
憶手段に記憶された温度データを読出す読出し手
段と、読出された温度データに基づき被写体の温
度分布像を表示する表示手段と、任意の放射率及
び周囲温度を入力するための入力手段と、前記表
示手段の画面上の任意領域を指定する手段と、該
指定手段によつて指定された領域に含まれる全画
素の温度データを前記記憶手段から読出す手段
と、読出された温度データを前記入力手段によつ
て入力された放射率及び周囲温度に基づき放射率
補正する手段とを備え、該補正手段により補正さ
れた温度データを前記記憶手段へ戻して記憶させ
るようにしたことを特徴とするサーモグラフイ装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57186918A JPS5975786A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | サ−モグラフイ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57186918A JPS5975786A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | サ−モグラフイ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5975786A JPS5975786A (ja) | 1984-04-28 |
JPH032250B2 true JPH032250B2 (ja) | 1991-01-14 |
Family
ID=16196968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57186918A Granted JPS5975786A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | サ−モグラフイ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5975786A (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63167229A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-11 | Jeol Ltd | 時系列画像デ−タのグラフ表示装置 |
JPS6488126A (en) * | 1987-09-29 | 1989-04-03 | Fujitsu Ltd | Infrared-ray image pickup device |
JPH02298830A (ja) * | 1989-05-15 | 1990-12-11 | Nippon Avionics Co Ltd | 表面温度分布測定装置 |
JPH036430A (ja) * | 1989-06-05 | 1991-01-11 | Chino Corp | サーモグラフィ装置 |
US5294198A (en) * | 1991-10-01 | 1994-03-15 | Cincinnati Electronics Corporation | Infrared inspection system and method employing emissivity indications |
MY113681A (en) * | 1994-03-22 | 2002-04-30 | Casio Computer Co Ltd | Thermometer |
WO2024029231A1 (ja) * | 2022-08-05 | 2024-02-08 | 日本製鉄株式会社 | 温度測定装置及び温度測定方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57137825A (en) * | 1981-02-19 | 1982-08-25 | Toshiba Corp | Infrared radiation thermometer |
-
1982
- 1982-10-25 JP JP57186918A patent/JPS5975786A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57137825A (en) * | 1981-02-19 | 1982-08-25 | Toshiba Corp | Infrared radiation thermometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5975786A (ja) | 1984-04-28 |
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