JPH0322379A - Uリンク - Google Patents
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- JPH0322379A JPH0322379A JP15696789A JP15696789A JPH0322379A JP H0322379 A JPH0322379 A JP H0322379A JP 15696789 A JP15696789 A JP 15696789A JP 15696789 A JP15696789 A JP 15696789A JP H0322379 A JPH0322379 A JP H0322379A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 24
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 5
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- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 6
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
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- 230000003449 preventive effect Effects 0.000 description 2
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Landscapes
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分!l’F)
本発明は、回線および端末装置を試験するために試験端
子板に設けられたジャックに嵌挿され、交換網と回線を
導通状態にしたり試験装置を接続したりする所謂Uリン
クに関する. (従来の技術) 41報社会の進展に伴い回線を介してコンピエータと端
末間またはコンピュータとコンピュータ間でさまざまな
通信が行われている. ところで、このような通信を提供する回線が障害になる
とその影響は非常に大きい.そこで、従来は第5図に示
すような構成で次のようにして回線を試験している.先
ず、プラグ61−1〜61−4が試験端子板50のジャ
ック51−1〜5l一4に嵌挿され、ジャック5l−1
とジャック51−2およびジャック51−3とジャック
51−4を導通状態にしているUリンクを抜き取る.こ
の結果、交換網90は回線70から切り離される.この
交換網90は、例えば交換設備、伝送端局等で梢戒され
ている電話網、専用回線網等がある.そしてこのジャッ
ク51−2 51−4に試験装置を接続して回線70
または端末装置80を試験している.この試験には、回
線70の直流抵抗、線間容量等の試験が含まれる.この
ような試験を行う試験装置は一般に高価なので、このよ
うに異常が発生して試験を行うときにだけその回線にこ
の試験装置を接続している.このような試験方式は例え
ば特願昭60−60195一号に開示されている。
子板に設けられたジャックに嵌挿され、交換網と回線を
導通状態にしたり試験装置を接続したりする所謂Uリン
クに関する. (従来の技術) 41報社会の進展に伴い回線を介してコンピエータと端
末間またはコンピュータとコンピュータ間でさまざまな
通信が行われている. ところで、このような通信を提供する回線が障害になる
とその影響は非常に大きい.そこで、従来は第5図に示
すような構成で次のようにして回線を試験している.先
ず、プラグ61−1〜61−4が試験端子板50のジャ
ック51−1〜5l一4に嵌挿され、ジャック5l−1
とジャック51−2およびジャック51−3とジャック
51−4を導通状態にしているUリンクを抜き取る.こ
の結果、交換網90は回線70から切り離される.この
交換網90は、例えば交換設備、伝送端局等で梢戒され
ている電話網、専用回線網等がある.そしてこのジャッ
ク51−2 51−4に試験装置を接続して回線70
または端末装置80を試験している.この試験には、回
線70の直流抵抗、線間容量等の試験が含まれる.この
ような試験を行う試験装置は一般に高価なので、このよ
うに異常が発生して試験を行うときにだけその回線にこ
の試験装置を接続している.このような試験方式は例え
ば特願昭60−60195一号に開示されている。
(発明が解決しようとする課題)
上に述べたように、従来のUリンクは、回線を単に接続
しているだけである.従って、回線に異常が発生すると
、その回線を導通状態にしているUリンクを抜き取って
回線を一旦切断し、その回線に試験装置を接続している
.この結果、■予防保守等のために定期的に回線の試験
をしようとすると、使用中の回線は試験できない、■回
線を使用していない飼えば夜間または休日にしか試験で
きないので、保守の効率が悪い.このように従来のUリ
ンクには解決すべき課題があった。
しているだけである.従って、回線に異常が発生すると
、その回線を導通状態にしているUリンクを抜き取って
回線を一旦切断し、その回線に試験装置を接続している
.この結果、■予防保守等のために定期的に回線の試験
をしようとすると、使用中の回線は試験できない、■回
線を使用していない飼えば夜間または休日にしか試験で
きないので、保守の効率が悪い.このように従来のUリ
ンクには解決すべき課題があった。
本発明は、このような$情に鑑みてなされたものであり
、その目的は、回線が使用中か否かに係わらず試験装置
を接続でき、且つ回線を試験することができるUリンク
を提供することにある.(課題を解決するための手段) 本発明のUリンクは、上記目的を達成するために、試験
端子板の第1のジャックを介して交換網に接続される第
lのプラグと、前記試@端子板の第2のジャックを介し
て回線に接続される第2のプラグと、試験装置が接続さ
れる試験端子とをイ『するUリンクにおいて、 前記第1および第2のプラグ間に接続されたコンデンサ
を設け、 前記試験端子を前記第2のプラグに接続する.(作用) 本発明のUリンクにおいては、コンデンサが、回線と交
換網とを電気的に遮断して試験信号が交換網には、供給
されないようにする.従って、回線を一旦切断すること
はなく回線の試験ができ、且つ回線が使用中か未使用中
かに係わらず回線の試験ができる. (実施例) 次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する. 第1図(b)は本発明に係わるUリンクの構造を示す斜
視図であり、第3図と同一符号は同一部分を示す.第3
図と具体的に異なる点は、プラグ61−1.61−2間
にコンデンサC1が、プラグ61−3.61−4間にコ
ンデンサC2がそれぞれ接続されている.このコンデン
サCI,C2としては、小型、軽量かつ容量の大きい積
層セラミックコンデンサ等が用いられる.そして、この
コンデンサCl,C2の容量としては、コンデンサCI
,C2を通過する信号に対しては十分に小さなインピー
ダンスとなり、後述する試験信号に対しては十分に大き
なインピーダンスとなるような容量に設定する必要があ
る.そして、ジャック62−1.62−2は、一方のプ
ラグ例えばプラグ61−2.61−4にそれぞれ接続さ
れている.試験装置40はこのジャック62−1.62
−2を介して接続される. 第1図(c)はUリンクの回路図を、第1図(a)はU
リンクの外明の斜視図をそれぞれ示す図である. 第2図は第1図の実施例のUリンクを使用した回線の構
戊例を示したものである。通常の通信ずなわち端末装置
80が交換網90を介して他の端末装置《図示せず〉と
の通信は、次のようにして行われる.端末装置80から
の信号は、回線70ジャック51−2.51−4、プラ
グ6 1−2.61−4,コンデンサC1.C2、プラ
グ611.61−3およびジャック51−1.51−3
の経路を通して交換網90に送られる.交換網90から
の信号は、上述した経路とは逆の経路を介して端末装置
80に送られる.このときコンデンサCI,C2のイン
ピーダンスは、伝送される信号に対して十分に小さくな
るように設定されているので、伝送される信号に対して
悪影響を与えることはない. 次に、予防保全または回線70に障害が発生l7たとき
に回線70を試験する際の動作について説明する.先ず
、試In!装Tt 4 0をUリンクのジャック62−
1.62−2に接続する。この試験装置40は、次のよ
うな試@信号を用いて回線70の試験を行う。即ち、■
コンデンサCI,C2に対しては十分に大きなインピー
ダンスとなり、交換網90には影響を与えない、且つ■
端末装置80にも影響を及ぼさない信号である.上述し
たD1回線では、例えば直流から2 5 H z程度の
低周波の試験信号である. 試験装置40から出力されたこのような試験信号は、U
リンクのコンデンサC1.C2により電気的に遮断され
て交換網90測にはほとんど供給されず、大部分は回線
70および端末装置80側に送られるので、回線70を
試験ずることができる.このようにして回線70を試験
するので、四線70が使用中か未使用中かに係わらず試
験することができる.また、回線を一旦切断しなくとも
回線70の試験を実行できる. また、回線70にコンデンサCI,C2が追加されたこ
とにより回線70の伝送特性を改首することができる. 第3図は別の実施例のUリンクの回路を示す図である.
第1図の実施例に対して電圧依存性抵抗素子がコンデン
サCI,C2に並列に接続されている.本実施例におい
ては、電圧依存性抵抗索予として正および負電圧に対し
てほぼ同一の特性を持つ所謂対称形バリスタを用いてい
る。このバリスタは所定の電圧以上になると抵抗値が急
激に減少するので、ブラグ61−3とプラグ61−4問
およびプラグ61−1とブラグ61−4間に所定の電圧
以上の直流電流を流すことができる.従って、本実施例
のUリンクを介して、■所定の電圧以上の直流電流、お
よび■所定の周波数の交流信号を通過させることができ
る. 第4図は第2図の別の実施例のUリンクを使用した回線
の構成例を示したものである.この回線は、回線70−
1〜70−4からなる4式の回線である.そして、回線
の両端にはそれぞれトランス10−1〜10−4が、端
末装置80側にはリレーAが設けられている.このリレ
ーAは、スイッチa1〜a4を有している. このような回線において、交換網90からの信号を端末
装置80側で折り返して回線70−1〜70−4を試験
する際の動作について説明する.先ず、保守者は回線折
り返し制御装置20のスイッチS1を導通状態にずる.
そうすると、トランスio−i、バリスタ■1−2およ
び回線7〇一■とバリスタ■2−2および回線70−2
とからなる並列回路、トランス10−2、リレーA、ト
ランス1 0−3、四線70−3およびバリスタ■1−
1と回線70−4およびバリスタV2−1とからなる並
列回路ならびにトランス10−4の経路に電源Eの電圧
が加えられる.この電源Eの電圧は、バリスタVl−1
,Vl−2,V2−1.V2−2の抵抗値を十分に小さ
くするような電圧値に設定されている.従って、上述し
た経路で直流T4流が流れるので、リレーAは動作して
スイッチa 1 〜a 4をメーク接点ml〜m4Il
l!lに接続する。この結果、回線70−J.,70−
2と回線70−3.70−4とはリレーAのスイッチa
1〜a4を介して端末装置80圓で電気的に接続される
ことになる。
、その目的は、回線が使用中か否かに係わらず試験装置
を接続でき、且つ回線を試験することができるUリンク
を提供することにある.(課題を解決するための手段) 本発明のUリンクは、上記目的を達成するために、試験
端子板の第1のジャックを介して交換網に接続される第
lのプラグと、前記試@端子板の第2のジャックを介し
て回線に接続される第2のプラグと、試験装置が接続さ
れる試験端子とをイ『するUリンクにおいて、 前記第1および第2のプラグ間に接続されたコンデンサ
を設け、 前記試験端子を前記第2のプラグに接続する.(作用) 本発明のUリンクにおいては、コンデンサが、回線と交
換網とを電気的に遮断して試験信号が交換網には、供給
されないようにする.従って、回線を一旦切断すること
はなく回線の試験ができ、且つ回線が使用中か未使用中
かに係わらず回線の試験ができる. (実施例) 次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する. 第1図(b)は本発明に係わるUリンクの構造を示す斜
視図であり、第3図と同一符号は同一部分を示す.第3
図と具体的に異なる点は、プラグ61−1.61−2間
にコンデンサC1が、プラグ61−3.61−4間にコ
ンデンサC2がそれぞれ接続されている.このコンデン
サCI,C2としては、小型、軽量かつ容量の大きい積
層セラミックコンデンサ等が用いられる.そして、この
コンデンサCl,C2の容量としては、コンデンサCI
,C2を通過する信号に対しては十分に小さなインピー
ダンスとなり、後述する試験信号に対しては十分に大き
なインピーダンスとなるような容量に設定する必要があ
る.そして、ジャック62−1.62−2は、一方のプ
ラグ例えばプラグ61−2.61−4にそれぞれ接続さ
れている.試験装置40はこのジャック62−1.62
−2を介して接続される. 第1図(c)はUリンクの回路図を、第1図(a)はU
リンクの外明の斜視図をそれぞれ示す図である. 第2図は第1図の実施例のUリンクを使用した回線の構
戊例を示したものである。通常の通信ずなわち端末装置
80が交換網90を介して他の端末装置《図示せず〉と
の通信は、次のようにして行われる.端末装置80から
の信号は、回線70ジャック51−2.51−4、プラ
グ6 1−2.61−4,コンデンサC1.C2、プラ
グ611.61−3およびジャック51−1.51−3
の経路を通して交換網90に送られる.交換網90から
の信号は、上述した経路とは逆の経路を介して端末装置
80に送られる.このときコンデンサCI,C2のイン
ピーダンスは、伝送される信号に対して十分に小さくな
るように設定されているので、伝送される信号に対して
悪影響を与えることはない. 次に、予防保全または回線70に障害が発生l7たとき
に回線70を試験する際の動作について説明する.先ず
、試In!装Tt 4 0をUリンクのジャック62−
1.62−2に接続する。この試験装置40は、次のよ
うな試@信号を用いて回線70の試験を行う。即ち、■
コンデンサCI,C2に対しては十分に大きなインピー
ダンスとなり、交換網90には影響を与えない、且つ■
端末装置80にも影響を及ぼさない信号である.上述し
たD1回線では、例えば直流から2 5 H z程度の
低周波の試験信号である. 試験装置40から出力されたこのような試験信号は、U
リンクのコンデンサC1.C2により電気的に遮断され
て交換網90測にはほとんど供給されず、大部分は回線
70および端末装置80側に送られるので、回線70を
試験ずることができる.このようにして回線70を試験
するので、四線70が使用中か未使用中かに係わらず試
験することができる.また、回線を一旦切断しなくとも
回線70の試験を実行できる. また、回線70にコンデンサCI,C2が追加されたこ
とにより回線70の伝送特性を改首することができる. 第3図は別の実施例のUリンクの回路を示す図である.
第1図の実施例に対して電圧依存性抵抗素子がコンデン
サCI,C2に並列に接続されている.本実施例におい
ては、電圧依存性抵抗索予として正および負電圧に対し
てほぼ同一の特性を持つ所謂対称形バリスタを用いてい
る。このバリスタは所定の電圧以上になると抵抗値が急
激に減少するので、ブラグ61−3とプラグ61−4問
およびプラグ61−1とブラグ61−4間に所定の電圧
以上の直流電流を流すことができる.従って、本実施例
のUリンクを介して、■所定の電圧以上の直流電流、お
よび■所定の周波数の交流信号を通過させることができ
る. 第4図は第2図の別の実施例のUリンクを使用した回線
の構成例を示したものである.この回線は、回線70−
1〜70−4からなる4式の回線である.そして、回線
の両端にはそれぞれトランス10−1〜10−4が、端
末装置80側にはリレーAが設けられている.このリレ
ーAは、スイッチa1〜a4を有している. このような回線において、交換網90からの信号を端末
装置80側で折り返して回線70−1〜70−4を試験
する際の動作について説明する.先ず、保守者は回線折
り返し制御装置20のスイッチS1を導通状態にずる.
そうすると、トランスio−i、バリスタ■1−2およ
び回線7〇一■とバリスタ■2−2および回線70−2
とからなる並列回路、トランス10−2、リレーA、ト
ランス1 0−3、四線70−3およびバリスタ■1−
1と回線70−4およびバリスタV2−1とからなる並
列回路ならびにトランス10−4の経路に電源Eの電圧
が加えられる.この電源Eの電圧は、バリスタVl−1
,Vl−2,V2−1.V2−2の抵抗値を十分に小さ
くするような電圧値に設定されている.従って、上述し
た経路で直流T4流が流れるので、リレーAは動作して
スイッチa 1 〜a 4をメーク接点ml〜m4Il
l!lに接続する。この結果、回線70−J.,70−
2と回線70−3.70−4とはリレーAのスイッチa
1〜a4を介して端末装置80圓で電気的に接続される
ことになる。
このような状態において、交換網90から例えば回線7
0−1.70−2に出力された信号は、トランス10−
1、回線70−1.70−2、トランス10−2、スイ
ッチa1〜a4、トランス10−3、回線70−1.7
0−2およびトランス10−4を介して交PA網90に
再び戻る.従って、交換網90から回線70−1〜70
−4の試験を行うことができる.このような試験が終了
すると、保守者は回線折り返し制御装置20のスイッチ
S1を切断する.そうすると、電源Eからの電流がリレ
ーAに供給されなくなるので、リレーAは復旧する.従
って、スイッチa1〜a4はブレーク接点b1〜b4側
を選択する.従って、回線70−1 〜70−4はスイ
ッチa 1 〜a 4を介して端末装置80に接続され
るので、交換網90と端末装置80とは通常の通信を行
うことができる。なお、試験装置30での回線70−1
〜70−4の試験は上述したと同様に行うことができる
。このとき試験装置40から出力される試験信号の電圧
は、バリスタVi−1,Vl−2,V2−1,V2−2
の抵抗値が十分に大きな値になるような電圧に設定され
ていることは勿論のことである.なお、電圧依存性抵抗
素子としてダイオード等を使用してもよいことは勿論の
ことである。このようにコンデンサに並列に接続された
バリスタは、回線に混入した異常高電圧(例えば雷によ
る異常電圧)の吸収作用がある.従って、コンデンサの
耐圧を低くでき、小型のコンデンサを使用することがで
きる。
0−1.70−2に出力された信号は、トランス10−
1、回線70−1.70−2、トランス10−2、スイ
ッチa1〜a4、トランス10−3、回線70−1.7
0−2およびトランス10−4を介して交PA網90に
再び戻る.従って、交換網90から回線70−1〜70
−4の試験を行うことができる.このような試験が終了
すると、保守者は回線折り返し制御装置20のスイッチ
S1を切断する.そうすると、電源Eからの電流がリレ
ーAに供給されなくなるので、リレーAは復旧する.従
って、スイッチa1〜a4はブレーク接点b1〜b4側
を選択する.従って、回線70−1 〜70−4はスイ
ッチa 1 〜a 4を介して端末装置80に接続され
るので、交換網90と端末装置80とは通常の通信を行
うことができる。なお、試験装置30での回線70−1
〜70−4の試験は上述したと同様に行うことができる
。このとき試験装置40から出力される試験信号の電圧
は、バリスタVi−1,Vl−2,V2−1,V2−2
の抵抗値が十分に大きな値になるような電圧に設定され
ていることは勿論のことである.なお、電圧依存性抵抗
素子としてダイオード等を使用してもよいことは勿論の
ことである。このようにコンデンサに並列に接続された
バリスタは、回線に混入した異常高電圧(例えば雷によ
る異常電圧)の吸収作用がある.従って、コンデンサの
耐圧を低くでき、小型のコンデンサを使用することがで
きる。
(発明の効果)
以上に説明したように、本発明のUリンクは、コンデン
サにより回線と交換網とを電気的に遮断して試験信号が
交換網には供給されないようにしている.従って、回線
を一旦切断することなく回線の試験ができ、且つ回線が
使用中か未使用中かに係わらず回線の試験ができる.ま
た、任意のときに回線の試験ができるので、回線の保守
の効率をあげることができる. 更に、コンデンサと並列に電圧依存性抵抗素子を設けた
ことにより所定の電圧以上の直流電流も本発明のUリン
クを介して供給できる.従って、回線折り返し試験用リ
レーを本発明のUリンクを介して駆動することができる
.
サにより回線と交換網とを電気的に遮断して試験信号が
交換網には供給されないようにしている.従って、回線
を一旦切断することなく回線の試験ができ、且つ回線が
使用中か未使用中かに係わらず回線の試験ができる.ま
た、任意のときに回線の試験ができるので、回線の保守
の効率をあげることができる. 更に、コンデンサと並列に電圧依存性抵抗素子を設けた
ことにより所定の電圧以上の直流電流も本発明のUリン
クを介して供給できる.従って、回線折り返し試験用リ
レーを本発明のUリンクを介して駆動することができる
.
第1図<a)は本発明の実施例のUリンクの外観を示す
斜視図、 第1図(b)はその実施例の内部構造を示ず♀゛1視図
、 第1図(c)はその実施例の回路図、 第2図は第1図の実施例の使用例を示す図、第3図は別
の実施例のUリンクの回路図、第4図は第3図の実施例
の使用例を示す図、第5図は従来のUリンクを概念的に
示す図である. 50・・・試験端子板、51−l〜51−4.62−1
.62−2・・・ジャック、61−1〜61−4・・・
プラグ、70・・・回線、80・・・端末装置、90・
・・交換網、CI,C2,CI−1,CI−2,C2−
1,C2−2・・・コンデンサ、Vl,V2,Vl−1
,Vl−2,V2−1,V2−2・・・バリスタ、10
−1〜10−4・・・トランス、A・・・リレー
斜視図、 第1図(b)はその実施例の内部構造を示ず♀゛1視図
、 第1図(c)はその実施例の回路図、 第2図は第1図の実施例の使用例を示す図、第3図は別
の実施例のUリンクの回路図、第4図は第3図の実施例
の使用例を示す図、第5図は従来のUリンクを概念的に
示す図である. 50・・・試験端子板、51−l〜51−4.62−1
.62−2・・・ジャック、61−1〜61−4・・・
プラグ、70・・・回線、80・・・端末装置、90・
・・交換網、CI,C2,CI−1,CI−2,C2−
1,C2−2・・・コンデンサ、Vl,V2,Vl−1
,Vl−2,V2−1,V2−2・・・バリスタ、10
−1〜10−4・・・トランス、A・・・リレー
Claims (2)
- (1)試験端子板の第1のジャックを介して交換網に接
続される第1のプラグと、前記試験端子板の第2のジャ
ックを介して回線に接続される第2のプラグと、試験装
置が接続される試験端子とを有するUリンクにおいて、 前記第1および第2のプラグ間に接続されたコンデンサ
を設け、 前記試験端子を前記第2のプラグに接続したことを特徴
とするUリンク。 - (2)請求項1に記載の前記コンデンサに並列に電圧依
存性抵抗素子を接続したことを特徴とするUリンク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15696789A JPH0322379A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Uリンク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15696789A JPH0322379A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Uリンク |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0322379A true JPH0322379A (ja) | 1991-01-30 |
Family
ID=15639238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15696789A Pending JPH0322379A (ja) | 1989-06-20 | 1989-06-20 | Uリンク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0322379A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008204716A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Denso Corp | 端子接続構造 |
-
1989
- 1989-06-20 JP JP15696789A patent/JPH0322379A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008204716A (ja) * | 2007-02-19 | 2008-09-04 | Denso Corp | 端子接続構造 |
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