JPH08182183A - 電流変成器の二次側構造 - Google Patents
電流変成器の二次側構造Info
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- JPH08182183A JPH08182183A JP32321694A JP32321694A JPH08182183A JP H08182183 A JPH08182183 A JP H08182183A JP 32321694 A JP32321694 A JP 32321694A JP 32321694 A JP32321694 A JP 32321694A JP H08182183 A JPH08182183 A JP H08182183A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電流変成器の二次側が開回路となることによ
り生じる電流変成器の焼損を防止する。 【構成】 ダイアック半導体１４が接続されたダイアッ
ク用座金１３を介して接続して電流変成器ＣＴの二次端
子Ｋ2 及びＬ2 をねじ軸１２ａ及び１２ｄ間に接続して
おき、電流計Ａを接続時には、短絡片２０をねじ軸１２
ａ及び１２ｄ間に接続し、電流変成器ＣＴの二次側に閉
回路を形成した状態で電流計Ａをねじ軸１２ａ及び１２
ｄ間に接続し、その後、短絡片２０を取り外した状態で
電流計測を行い、このとき、誤って、電流変成器ＣＴの
二次側が開回路となったときには、二次端子Ｋ2 及びＬ
2 に高電圧が発生することによりダイアック半導体１４
が通電状態となり二次端子Ｋ2 及びＬ2 間の電位差が小
さくなり、電流変成器ＣＴの焼損を防止する。
り生じる電流変成器の焼損を防止する。 【構成】 ダイアック半導体１４が接続されたダイアッ
ク用座金１３を介して接続して電流変成器ＣＴの二次端
子Ｋ2 及びＬ2 をねじ軸１２ａ及び１２ｄ間に接続して
おき、電流計Ａを接続時には、短絡片２０をねじ軸１２
ａ及び１２ｄ間に接続し、電流変成器ＣＴの二次側に閉
回路を形成した状態で電流計Ａをねじ軸１２ａ及び１２
ｄ間に接続し、その後、短絡片２０を取り外した状態で
電流計測を行い、このとき、誤って、電流変成器ＣＴの
二次側が開回路となったときには、二次端子Ｋ2 及びＬ
2 に高電圧が発生することによりダイアック半導体１４
が通電状態となり二次端子Ｋ2 及びＬ2 間の電位差が小
さくなり、電流変成器ＣＴの焼損を防止する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、高圧及び特別高圧配電
盤等の電流計測時等に使用する電流変成器の二次側回路
に関し、特に電流変成器の二次側が開放状態となったと
きの電流変成器の焼損を防止可能な電流変成器の二次側
構造に関する。
盤等の電流計測時等に使用する電流変成器の二次側回路
に関し、特に電流変成器の二次側が開放状態となったと
きの電流変成器の焼損を防止可能な電流変成器の二次側
構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、高圧及び特別高圧配電盤等で電
流の計測を行う場合等には、電流変成器ＣＴを介して計
測しており、例えば、２０００〔Ａ〕の電流を計測する
場合には、電流変成器ＣＴを介して計測器で計測可能な
５〔Ａ〕に変換した後、計測するようになされている。
流の計測を行う場合等には、電流変成器ＣＴを介して計
測しており、例えば、２０００〔Ａ〕の電流を計測する
場合には、電流変成器ＣＴを介して計測器で計測可能な
５〔Ａ〕に変換した後、計測するようになされている。
【０００３】実際には、図５（ａ）に示すように、例え
ば、電流変成器ＣＴの二次側にテストターミナルＴＴを
接続し、また、テストターミナルＴＴに電流計Ａを接続
し、電流変成器ＣＴで変流された電流をテストターミナ
ルＴＴを介して電流計Ａで測定するようになされてい
る。このテストターミナルＴＴは、例えば、電流変成器
ＣＴの二次端子と接続される変成器接続端子ＴC1及びＴ
C2と、計測器等の機器接続用端子ＴS1及びＴS2とを有し
て形成されている。そして、変成器接続端子ＴC1と機器
接続用端子ＴS1、変成器接続端子ＴC2と機器接続用端子
ＴS2がそれぞれ短絡され、機器接続用端子Ｔ S1及びＴS2
には、例えば、過電流防止用の継電器Ｒを接続するよう
になされている。また、変成器接続端子ＴC1及びＴC2間
には、これら端子間を短絡する非絶縁物で形成された短
絡片２０が接続されている。
ば、電流変成器ＣＴの二次側にテストターミナルＴＴを
接続し、また、テストターミナルＴＴに電流計Ａを接続
し、電流変成器ＣＴで変流された電流をテストターミナ
ルＴＴを介して電流計Ａで測定するようになされてい
る。このテストターミナルＴＴは、例えば、電流変成器
ＣＴの二次端子と接続される変成器接続端子ＴC1及びＴ
C2と、計測器等の機器接続用端子ＴS1及びＴS2とを有し
て形成されている。そして、変成器接続端子ＴC1と機器
接続用端子ＴS1、変成器接続端子ＴC2と機器接続用端子
ＴS2がそれぞれ短絡され、機器接続用端子Ｔ S1及びＴS2
には、例えば、過電流防止用の継電器Ｒを接続するよう
になされている。また、変成器接続端子ＴC1及びＴC2間
には、これら端子間を短絡する非絶縁物で形成された短
絡片２０が接続されている。
【０００４】ここで、この短絡片２０は電流変成器ＣＴ
の焼損防止用に接続されているものであり、電流変成器
ＣＴは、その設備固有の性質として二次側の整合インピ
ーダンスが小さいために、電流変成器ＣＴの二次側を開
放状態とした場合にはその二次端子に高電圧が発生し、
電流変成器ＣＴを焼損してしまうので、これを防止する
ために短絡片２０を接続して電流変成器ＣＴの二次側に
閉回路を形成している。
の焼損防止用に接続されているものであり、電流変成器
ＣＴは、その設備固有の性質として二次側の整合インピ
ーダンスが小さいために、電流変成器ＣＴの二次側を開
放状態とした場合にはその二次端子に高電圧が発生し、
電流変成器ＣＴを焼損してしまうので、これを防止する
ために短絡片２０を接続して電流変成器ＣＴの二次側に
閉回路を形成している。
【０００５】そして、例えば、高圧配電盤等において、
３相交流のＴ相の電流を測定するものとすると、電流変
成器ＣＴの一次側をＴ相と直列に接続し、電流変成器Ｃ
Ｔの二次側をテストターミナルＴＴの変成器接続端子Ｔ
C1及びＴC2にそれぞれ接続する。このとき、変成器接続
端子ＴC1及びＴC2間には短絡片２０が接続されているの
で、電流変成器二次側には閉回路が形成されていること
になる。（図５（ａ）） そして、例えば、図５（ｂ）に示すように、変成器接続
端子ＴC1と機器接続用端子ＴS1との間の短絡に変えて電
流計Ａを接続した後、図５（ｃ）に示すように、短絡片
２０を取り外して電流計Ａ，継電器Ｒ，電流変成器ＣＴ
からなる閉回路を形成し、計測を行うようになされてい
る。
３相交流のＴ相の電流を測定するものとすると、電流変
成器ＣＴの一次側をＴ相と直列に接続し、電流変成器Ｃ
Ｔの二次側をテストターミナルＴＴの変成器接続端子Ｔ
C1及びＴC2にそれぞれ接続する。このとき、変成器接続
端子ＴC1及びＴC2間には短絡片２０が接続されているの
で、電流変成器二次側には閉回路が形成されていること
になる。（図５（ａ）） そして、例えば、図５（ｂ）に示すように、変成器接続
端子ＴC1と機器接続用端子ＴS1との間の短絡に変えて電
流計Ａを接続した後、図５（ｃ）に示すように、短絡片
２０を取り外して電流計Ａ，継電器Ｒ，電流変成器ＣＴ
からなる閉回路を形成し、計測を行うようになされてい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のように、短絡片によって電流変成器二次側とテスト
ターミナルＴＴとの間に閉回路をした後、計測機器を接
続する方法では、例えば、計測終了時等、計測機器を接
続している状態で短絡片を変成器接続端子に接続せずに
計測機器をテストターミナルＴＴから外してしまった
り、誤って、配線が切断される、或いは、計測機器の異
常等が生じた場合には、電流変成器二次側が開回路とな
ってしまい、電流変成器が焼損してしまう可能性があ
る。特に、テストターミナルを用いた計測は、非定常作
業が多く、配線ルートも整備されていない場合が多いた
めに、電流変成器二次側回路が開放状態となる確率は非
常に高く、電流変成器焼損が発生する可能性が大きいと
いう問題がある。
来のように、短絡片によって電流変成器二次側とテスト
ターミナルＴＴとの間に閉回路をした後、計測機器を接
続する方法では、例えば、計測終了時等、計測機器を接
続している状態で短絡片を変成器接続端子に接続せずに
計測機器をテストターミナルＴＴから外してしまった
り、誤って、配線が切断される、或いは、計測機器の異
常等が生じた場合には、電流変成器二次側が開回路とな
ってしまい、電流変成器が焼損してしまう可能性があ
る。特に、テストターミナルを用いた計測は、非定常作
業が多く、配線ルートも整備されていない場合が多いた
めに、電流変成器二次側回路が開放状態となる確率は非
常に高く、電流変成器焼損が発生する可能性が大きいと
いう問題がある。
【０００７】そこで、この発明は上記従来の未解決の課
題に着目してなされたものであり、電流変成器二次側が
誤って開回路となった場合でも、電流変成器の焼損を確
実に防止することのできる電流変成器の二次側構造を提
供することを目的としている。
題に着目してなされたものであり、電流変成器二次側が
誤って開回路となった場合でも、電流変成器の焼損を確
実に防止することのできる電流変成器の二次側構造を提
供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に関わる電流変成器の二次側構造は、電流変
成器の二次側に接続される二次側回路と並列に接続さ
れ、且つ、前記電流変成器の二次側電圧が所定電圧以上
となったとき短絡状態となる短絡回路を備えることを特
徴としている。
に、本発明に関わる電流変成器の二次側構造は、電流変
成器の二次側に接続される二次側回路と並列に接続さ
れ、且つ、前記電流変成器の二次側電圧が所定電圧以上
となったとき短絡状態となる短絡回路を備えることを特
徴としている。
【０００９】
【作用】本発明においては、電流変成器の二次側電圧が
所定電圧以上となったときに短絡状態となる短絡回路を
電流変成器の二次側回路と並列に接続することにより、
誤って二次側回路が開回路となった場合には電流変成器
の二次側に高電圧が発生するが、このとき、二次側電圧
が所定電圧以上となると短絡回路が作動して二次側が短
絡状態となるので二次側電位差が小さくなり電流変成器
が焼損することはない。
所定電圧以上となったときに短絡状態となる短絡回路を
電流変成器の二次側回路と並列に接続することにより、
誤って二次側回路が開回路となった場合には電流変成器
の二次側に高電圧が発生するが、このとき、二次側電圧
が所定電圧以上となると短絡回路が作動して二次側が短
絡状態となるので二次側電位差が小さくなり電流変成器
が焼損することはない。
【００１０】
【実施例】以下に、本発明の実施例を説明する。この実
施例は、本発明による二次側構造をテストターミナルに
適用したものである。図１は、二次側回路としてのテス
トターミナルＴＴの正面図を表したものであり、このテ
ストターミナルＴＴは、例えば、長方形状の絶縁性のパ
ネル１１に、同一に形成されたねじ軸１２ａ〜１２ｆが
同図の上段側と下段側とに別けて取り付けられ、このう
ちねじ軸１２ａ〜１２ｃは上段側に一直線状に等間隔に
配設され、ねじ軸１２ｄ〜１２ｆは上段側の各ねじ軸１
２ａ〜１２ｃと対向する位置に一直線状に等間隔に配設
されている。
施例は、本発明による二次側構造をテストターミナルに
適用したものである。図１は、二次側回路としてのテス
トターミナルＴＴの正面図を表したものであり、このテ
ストターミナルＴＴは、例えば、長方形状の絶縁性のパ
ネル１１に、同一に形成されたねじ軸１２ａ〜１２ｆが
同図の上段側と下段側とに別けて取り付けられ、このう
ちねじ軸１２ａ〜１２ｃは上段側に一直線状に等間隔に
配設され、ねじ軸１２ｄ〜１２ｆは上段側の各ねじ軸１
２ａ〜１２ｃと対向する位置に一直線状に等間隔に配設
されている。
【００１１】これらねじ軸１２ｉ（ｉ＝ａ〜ｆ）は、図
２に示すテストターミナルＴＴの側面図に示すように、
パネル１１の裏面から前面に突出して形成されている。
そして、パネル１１の裏面側のねじ軸１２ｉの一端に
は、ねじ穴（図示せず）が形成され、電流変成器の二次
端子Ｋ2 又はＬ2 が、ダイアック用座金１３を介して二
次端子取付けねじ１５により接続されるようになされて
いる。
２に示すテストターミナルＴＴの側面図に示すように、
パネル１１の裏面から前面に突出して形成されている。
そして、パネル１１の裏面側のねじ軸１２ｉの一端に
は、ねじ穴（図示せず）が形成され、電流変成器の二次
端子Ｋ2 又はＬ2 が、ダイアック用座金１３を介して二
次端子取付けねじ１５により接続されるようになされて
いる。
【００１２】このダイアック用座金１３は、例えば、円
環状の座金に凸部１３ａが形成されてなり、この凸部１
３ａに短絡回路としてのダイアック半導体１４の一端が
ハンダ付けされている。このダイアック半導体１４の他
端は、上段側と下段側とで対向するねじ軸の凸部１３ａ
に接続され、それぞれ上下に対向するねじ軸１２ａとね
じ軸１２ｄ間にダイアック半導体１４ａが接続され、ね
じ軸１２ｂとねじ軸１２ｅ間にダイアック半導体１４ｂ
が、また、ねじ軸１２ｃとねじ軸１２ｆ間にダイアック
半導体１４ｃが接続されている。
環状の座金に凸部１３ａが形成されてなり、この凸部１
３ａに短絡回路としてのダイアック半導体１４の一端が
ハンダ付けされている。このダイアック半導体１４の他
端は、上段側と下段側とで対向するねじ軸の凸部１３ａ
に接続され、それぞれ上下に対向するねじ軸１２ａとね
じ軸１２ｄ間にダイアック半導体１４ａが接続され、ね
じ軸１２ｂとねじ軸１２ｅ間にダイアック半導体１４ｂ
が、また、ねじ軸１２ｃとねじ軸１２ｆ間にダイアック
半導体１４ｃが接続されている。
【００１３】ここで、このダイアック半導体１４は、印
加された交流電圧がダイオードの降伏電圧を越えるとイ
ンパルスを生じて通電状態となるものであり、その電流
−電圧特性を図３に示す。この場合、降伏電圧は電流変
成器ＣＴの二次端子間電圧が高電圧となることにより焼
損しない電圧であるものとする。そして、ねじ軸１２ｉ
は、パネル１１の裏面側の二次端子取付けねじ１５と前
面側の軸締付けねじ１６によりパネル１１に固定される
ようになされている。そしてねじ軸１２ｉには、両面に
座金が固定された同一形状の、短絡片締付けねじ１７と
計測端子締付けねじ１８及び１９とが取り付けられ、軸
締付けねじ１６と短絡片締め付けねじ１７との間に非絶
縁物で形成された短絡片２０を接続し、計測端子締付け
ねじ１８及び１９の間に電流計Ａの計測端子を接続する
ようになされている。
加された交流電圧がダイオードの降伏電圧を越えるとイ
ンパルスを生じて通電状態となるものであり、その電流
−電圧特性を図３に示す。この場合、降伏電圧は電流変
成器ＣＴの二次端子間電圧が高電圧となることにより焼
損しない電圧であるものとする。そして、ねじ軸１２ｉ
は、パネル１１の裏面側の二次端子取付けねじ１５と前
面側の軸締付けねじ１６によりパネル１１に固定される
ようになされている。そしてねじ軸１２ｉには、両面に
座金が固定された同一形状の、短絡片締付けねじ１７と
計測端子締付けねじ１８及び１９とが取り付けられ、軸
締付けねじ１６と短絡片締め付けねじ１７との間に非絶
縁物で形成された短絡片２０を接続し、計測端子締付け
ねじ１８及び１９の間に電流計Ａの計測端子を接続する
ようになされている。
【００１４】そして、このパネル１１は、例えば、配電
盤本体３１にパネル１１の四隅をパネル取付けねじ３２
で取り付けることにより固定されている。次に、本実施
例の動作を説明する。今、例えば、このテストターミナ
ルＴＴによって高圧配電盤等の３相交流の電流計測を行
うものとする。このとき、テストターミナルＴＴは、図
４の回路図に示すように、電流変成器ＣＴの二次端子Ｋ
2 及びＬ2 が、例えば、テストターミナルＴＴのねじ軸
１２ａ及び１２ｄに、二次端子取付けねじ１５により接
続され、ねじ軸１２ａ及び１２ｄのダイアック用座金１
３の凸部１３ａには、ダイアック半導体１４ａの両端が
それぞれ接続され、さらに、ねじ軸１２ａとねじ軸１２
ｄの軸締付けねじ１６と短絡片締付けねじ１７との間
に、非絶縁物で形成された短絡片２０の一端がそれぞれ
接続されている。
盤本体３１にパネル１１の四隅をパネル取付けねじ３２
で取り付けることにより固定されている。次に、本実施
例の動作を説明する。今、例えば、このテストターミナ
ルＴＴによって高圧配電盤等の３相交流の電流計測を行
うものとする。このとき、テストターミナルＴＴは、図
４の回路図に示すように、電流変成器ＣＴの二次端子Ｋ
2 及びＬ2 が、例えば、テストターミナルＴＴのねじ軸
１２ａ及び１２ｄに、二次端子取付けねじ１５により接
続され、ねじ軸１２ａ及び１２ｄのダイアック用座金１
３の凸部１３ａには、ダイアック半導体１４ａの両端が
それぞれ接続され、さらに、ねじ軸１２ａとねじ軸１２
ｄの軸締付けねじ１６と短絡片締付けねじ１７との間
に、非絶縁物で形成された短絡片２０の一端がそれぞれ
接続されている。
【００１５】そして、例えば、Ｔ相の電流計測を行うも
のとすると、Ｔ相と直列に電流変成器ＣＴの一次端子Ｋ
1 及びＬ1 を接続する。このとき、電流変成器ＣＴの二
次側は、ねじ軸１２ａ及び１２ｄ間に短絡片２０が接続
されているので、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２ａ，短絡
片２０，ねじ軸１２ｄ，電流変成器ＣＴからなる閉回路
が形成されており、電流変成器ＣＴの二次端子Ｋ2 及び
Ｌ2 に高電圧が発生することはなく、よって、ダイアッ
ク半導体１４ａは非通電状態のままである。
のとすると、Ｔ相と直列に電流変成器ＣＴの一次端子Ｋ
1 及びＬ1 を接続する。このとき、電流変成器ＣＴの二
次側は、ねじ軸１２ａ及び１２ｄ間に短絡片２０が接続
されているので、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２ａ，短絡
片２０，ねじ軸１２ｄ，電流変成器ＣＴからなる閉回路
が形成されており、電流変成器ＣＴの二次端子Ｋ2 及び
Ｌ2 に高電圧が発生することはなく、よって、ダイアッ
ク半導体１４ａは非通電状態のままである。
【００１６】そして、従来と同様に、例えばねじ軸１２
ａ及び１２ｄ間に電流計Ａの計測端子を接続し、電流変
成器ＣＴの二次側に、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２ａ，
電流計Ａ，ねじ軸１２ｄ，電流変成器ＣＴからなる閉回
路を形成した後、短絡片２０を取り外し、電流計測を行
う。このとき、電流変成器ＣＴの二次側に閉回路が形成
されていれば、電流変成器ＣＴの二次端子に高電圧が発
生することはなく、ダイアック半導体１４ａも非通電状
態のままである。
ａ及び１２ｄ間に電流計Ａの計測端子を接続し、電流変
成器ＣＴの二次側に、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２ａ，
電流計Ａ，ねじ軸１２ｄ，電流変成器ＣＴからなる閉回
路を形成した後、短絡片２０を取り外し、電流計測を行
う。このとき、電流変成器ＣＴの二次側に閉回路が形成
されていれば、電流変成器ＣＴの二次端子に高電圧が発
生することはなく、ダイアック半導体１４ａも非通電状
態のままである。
【００１７】そして、電流計測終了時には、電流計Ａ接
続時の手順と同様にして、短絡片２０をねじ軸１２ａ及
び１２ｄ間に接続して、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２
ａ，短絡片２０，ねじ軸１２ｄ，電流変成器ＣＴからな
る閉回路を形成した後、電流計Ａを各ねじ軸１２ａ及び
１２ｄから取り外す。これに電流変成器ＣＴの二次側に
は常に閉回路が形成されていることになる。
続時の手順と同様にして、短絡片２０をねじ軸１２ａ及
び１２ｄ間に接続して、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２
ａ，短絡片２０，ねじ軸１２ｄ，電流変成器ＣＴからな
る閉回路を形成した後、電流計Ａを各ねじ軸１２ａ及び
１２ｄから取り外す。これに電流変成器ＣＴの二次側に
は常に閉回路が形成されていることになる。
【００１８】このとき、例えば、短絡片２０をねじ軸１
２ａ及び１２ｄ間に接続する以前に、電流計Ａを各ねじ
軸１２ａ，１２ｄから取り外してしまったものとする。
これによって、電流変成器ＣＴの二次側は開路となり、
よって、電流変成器ＣＴ二次端子Ｋ2 及びＬ2 に高電圧
が発生するが、このとき、高電圧が発生することによ
り、ダイアック半導体１４ａが通電状態となり、電流変
成器ＣＴの二次側に、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２ａ，
ダイアック半導体１４ａ，ねじ軸１２ｄ，電流変成器Ｃ
Ｔからなる閉回路が形成されるので、二次端子Ｋ2 及び
Ｌ2 間の電位差が小さくなり、よって、電流変成器ＣＴ
が焼損することはない。
２ａ及び１２ｄ間に接続する以前に、電流計Ａを各ねじ
軸１２ａ，１２ｄから取り外してしまったものとする。
これによって、電流変成器ＣＴの二次側は開路となり、
よって、電流変成器ＣＴ二次端子Ｋ2 及びＬ2 に高電圧
が発生するが、このとき、高電圧が発生することによ
り、ダイアック半導体１４ａが通電状態となり、電流変
成器ＣＴの二次側に、電流変成器ＣＴ，ねじ軸１２ａ，
ダイアック半導体１４ａ，ねじ軸１２ｄ，電流変成器Ｃ
Ｔからなる閉回路が形成されるので、二次端子Ｋ2 及び
Ｌ2 間の電位差が小さくなり、よって、電流変成器ＣＴ
が焼損することはない。
【００１９】また、例えば、誤って、電流計Ａの配線が
切断されてしまった場合、或いは、電流計Ａの故障等に
より、二次側回路が開回路となった場合でも、上記と同
様に、二次端子Ｋ2 及びＬ2 に高電圧が発生することに
よってダイアック半導体１４ａが通電状態となって閉回
路を形成するので電流変成器ＣＴが焼損することはな
い。
切断されてしまった場合、或いは、電流計Ａの故障等に
より、二次側回路が開回路となった場合でも、上記と同
様に、二次端子Ｋ2 及びＬ2 に高電圧が発生することに
よってダイアック半導体１４ａが通電状態となって閉回
路を形成するので電流変成器ＣＴが焼損することはな
い。
【００２０】また、例えば締付けねじ等により接続する
場合には、誤ってねじを外してしまうこと等によりダイ
アック半導体１４が取り外されてしまう可能性がある
が、上記実施例では、ダイアック半導体１４はダイアッ
ク用座金１３の凸部１３ａにハンダ付けにより接続され
るので、誤って取り外されるようなことはなく、また、
ダイアック半導体１４は電流変成器ＣＴの二次端子Ｋ2
又はＬ2 を接続時に使用するダイアック用座金１３に取
り付けるようになされているので、ダイアック半導体１
４が接続されていない状態でテストターミナルＴＴが使
用されることを防止することができる。
場合には、誤ってねじを外してしまうこと等によりダイ
アック半導体１４が取り外されてしまう可能性がある
が、上記実施例では、ダイアック半導体１４はダイアッ
ク用座金１３の凸部１３ａにハンダ付けにより接続され
るので、誤って取り外されるようなことはなく、また、
ダイアック半導体１４は電流変成器ＣＴの二次端子Ｋ2
又はＬ2 を接続時に使用するダイアック用座金１３に取
り付けるようになされているので、ダイアック半導体１
４が接続されていない状態でテストターミナルＴＴが使
用されることを防止することができる。
【００２１】また、ダイアック半導体１４はパネル１１
の裏面に接続され、短絡片２０、或いは、電流計Ａ等は
パネル１１の前面側に接続されるようになされているの
で、例えば、短絡片２０を取り外す場合等に、誤ってダ
イアック半導体１４が取り外されることを防止すること
ができる。また、例えば、高圧配電盤等にテストターミ
ナルＴＴが組み込まれているような場合でも、主回路を
改造する必要はなく、テストターミナルＴＴを変更する
だけで容易に確実に電流変成器の焼損を防止することが
できる。
の裏面に接続され、短絡片２０、或いは、電流計Ａ等は
パネル１１の前面側に接続されるようになされているの
で、例えば、短絡片２０を取り外す場合等に、誤ってダ
イアック半導体１４が取り外されることを防止すること
ができる。また、例えば、高圧配電盤等にテストターミ
ナルＴＴが組み込まれているような場合でも、主回路を
改造する必要はなく、テストターミナルＴＴを変更する
だけで容易に確実に電流変成器の焼損を防止することが
できる。
【００２２】なお、上記実施例においては、ダイアック
半導体をテストターミナルＴＴに取り付けた場合につい
て説明したが、これに限らず、電流変成器ＣＴの二次側
に接続することも可能である。また、上記実施例におい
ては、本発明による二次側構造をテストターミナルに適
用した場合について説明したが、これに限らず、閉回路
であれば任意の回路に適用することができる。
半導体をテストターミナルＴＴに取り付けた場合につい
て説明したが、これに限らず、電流変成器ＣＴの二次側
に接続することも可能である。また、上記実施例におい
ては、本発明による二次側構造をテストターミナルに適
用した場合について説明したが、これに限らず、閉回路
であれば任意の回路に適用することができる。
【００２３】さらに、上記実施例においては、短絡回路
としてダイアック半導体を適用した場合について説明し
たが、これに限らず、所定電圧以上となったときに通電
状態となる回路であれば、適用することができる。
としてダイアック半導体を適用した場合について説明し
たが、これに限らず、所定電圧以上となったときに通電
状態となる回路であれば、適用することができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に関わる電
流変成器の二次側構造によれば、電流変成器の二次側電
圧が所定電圧以上となったとき短絡回路が作動して電流
変成器二次側が閉回路となるので、電流変成器の二次側
が開回路となることに伴う電流変成器ＣＴの焼損を確実
に防止することができる。
流変成器の二次側構造によれば、電流変成器の二次側電
圧が所定電圧以上となったとき短絡回路が作動して電流
変成器二次側が閉回路となるので、電流変成器の二次側
が開回路となることに伴う電流変成器ＣＴの焼損を確実
に防止することができる。
【図１】本発明による電流変成器の二次側構造を適用し
たテストターミナルの外観図である。
たテストターミナルの外観図である。
【図２】テストターミナルの側面図である。
【図３】ダイアック半導体の電流−電圧特性を表す特性
図である。
図である。
【図４】本発明の動作説明に供する回路図である。
【図５】従来の電流変成器の二次側構造の説明図であ
る。
る。
１１ パネル １２ ねじ軸 １３ ダイアック用座金 １３ａ 凸部 １４ ダイアック半導体 １５ 二次端子取付けねじ １６ 軸締付けねじ １７ 短絡片締付けねじ １８，１９ 計測端子締付けねじ ２０ 短絡片 Ａ 電流計 ＴＴ テストターミナル
Claims (1)
- 【請求項１】 電流変成器の二次側に接続される二次側
回路と並列に接続され、且つ、前記電流変成器の二次側
電圧が所定電圧以上となったとき短絡状態となる短絡回
路を備えることを特徴とする電流変成器の二次側構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32321694A JPH08182183A (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 電流変成器の二次側構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32321694A JPH08182183A (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 電流変成器の二次側構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08182183A true JPH08182183A (ja) | 1996-07-12 |
Family
ID=18152335
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32321694A Pending JPH08182183A (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 電流変成器の二次側構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08182183A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012050182A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ |
-
1994
- 1994-12-26 JP JP32321694A patent/JPH08182183A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012050182A (ja) * | 2010-08-24 | 2012-03-08 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 変流器二次側開放保護回路、電気盤及びテストプラグ |
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