JPH0321916A - 光変調器 - Google Patents
光変調器Info
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- JPH0321916A JPH0321916A JP15749389A JP15749389A JPH0321916A JP H0321916 A JPH0321916 A JP H0321916A JP 15749389 A JP15749389 A JP 15749389A JP 15749389 A JP15749389 A JP 15749389A JP H0321916 A JPH0321916 A JP H0321916A
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 7
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 6
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/21—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour by interference
- G02F1/225—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour by interference in an optical waveguide structure
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/20—Intrinsic phase difference, i.e. optical bias, of an optical modulator; Methods for the pre-set thereof
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- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Optical Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は例えば高速で変化する現象を検出することに
用いることができる光変調器に関する．「従来の技術」 例えばニオブ酸リチウムのような光学結晶体に形成した
光導波路に電界を与え、その電界を変化させることによ
って光導波路を通過する光の位相を変化させることがで
きることはよく知られている． この現象を利用することによって光変調器を構威するこ
とができ、光ＺＲ！１！器から出射させる光の量を測定
することによって、電圧、又は電流を電圧に変換してそ
の電圧を、或は各種の物理量を電圧に変換して、その物
理量を測定することができる． 光変調器の応答速度は他の電圧検出手段と比較して極め
て高速であるため、従来では測定できない高速現象を検
出できる特徴がある。
用いることができる光変調器に関する．「従来の技術」 例えばニオブ酸リチウムのような光学結晶体に形成した
光導波路に電界を与え、その電界を変化させることによ
って光導波路を通過する光の位相を変化させることがで
きることはよく知られている． この現象を利用することによって光変調器を構威するこ
とができ、光ＺＲ！１！器から出射させる光の量を測定
することによって、電圧、又は電流を電圧に変換してそ
の電圧を、或は各種の物理量を電圧に変換して、その物
理量を測定することができる． 光変調器の応答速度は他の電圧検出手段と比較して極め
て高速であるため、従来では測定できない高速現象を検
出できる特徴がある。
第３図に従来の光変調器の構造を示す。光変調器は例え
ば二オブ酸リチウムのような光学結晶基板に光導波路２
及び３が形威され、一方の光導波路２に沿って電界印加
用電極４Ａ，４Ｂを形威して構戒され、光源５から例え
ばレーザ光等を入射し、二つの光導波路２と３を通過し
た光を合波し、その合波した光を受光器６に入射させて
構戒することができる． 電界印加用電極４Ａ，４Ｂに被測定信号源７を接続し、
この被測定信号源７から被測定電圧を与えることによっ
て光導波路２に電界を与え、光導波路２を通過する光の
位相を電界に応じた量だけ変化させる。
ば二オブ酸リチウムのような光学結晶基板に光導波路２
及び３が形威され、一方の光導波路２に沿って電界印加
用電極４Ａ，４Ｂを形威して構戒され、光源５から例え
ばレーザ光等を入射し、二つの光導波路２と３を通過し
た光を合波し、その合波した光を受光器６に入射させて
構戒することができる． 電界印加用電極４Ａ，４Ｂに被測定信号源７を接続し、
この被測定信号源７から被測定電圧を与えることによっ
て光導波路２に電界を与え、光導波路２を通過する光の
位相を電界に応じた量だけ変化させる。
この位相変化によって他方の光導波路３を通じて合波さ
れる光との間に位相差が生じ、この位相差に応じて二つ
の光が干渉し、受光器６に入射される光の量が位相差に
応じて変化し、光変調動作が行なわれる．つまり二つの
光が同位相の状態で合波されると受光器６に入射される
光の量■，は第２図にＡ，点に示すように最大となり、
位相差が１８０゜のとき光の量Ｉ２は第２図Ａ．点に示
すように０となる。
れる光との間に位相差が生じ、この位相差に応じて二つ
の光が干渉し、受光器６に入射される光の量が位相差に
応じて変化し、光変調動作が行なわれる．つまり二つの
光が同位相の状態で合波されると受光器６に入射される
光の量■，は第２図にＡ，点に示すように最大となり、
位相差が１８０゜のとき光の量Ｉ２は第２図Ａ．点に示
すように０となる。
従って受光器６で検出する光の量によって被測定信号源
７の電圧を測定することができる．「発明が解決しよう
とする！ｉ題」 この種の光変調器において、第２図の曲線Ａから明らか
なように二つの光の位相差がπ／２の位置が最も変調感
度が高いことが解る。
７の電圧を測定することができる．「発明が解決しよう
とする！ｉ題」 この種の光変調器において、第２図の曲線Ａから明らか
なように二つの光の位相差がπ／２の位置が最も変調感
度が高いことが解る。
光変調動作をπ／２の位置を中心に行なわせるためには
光導波路２及び３を通過した光の位相がπ／２の位相差
を持たなくてはならない。
光導波路２及び３を通過した光の位相がπ／２の位相差
を持たなくてはならない。
この位相差を与える手段として従来は第４図に示すよう
に光導波路２と３に光路長Δｌの差を与え、この光路長
Δｌの差によって光に位相差を与える方法と、 一方の光導波路に沿って例えば第５図に示すように誘電
体８等を被着させ、誘電体８の被着によってこの部分の
屈折率を変化させ、この屈折率の変化によってこの部分
を通過する光の位相を変化させ、二つの光導波路２と３
を通過する光に位相差を与える方法とが考えられている
． 前者の方法による場合光の波長λが極めて短かいため、
位相差π／２を与える光路長の差は極めて小さい値とな
る． 例えば波長λ−０．８μｍの光にπ／２の位相差を与え
るための光路長の差は０． ８ Ｘ １ ／ ４ −
０． ２μｍとなる。光路長に０．２μｍの差を与える
ための加工技術は未だ確立されてなく、実現困難である
。
に光導波路２と３に光路長Δｌの差を与え、この光路長
Δｌの差によって光に位相差を与える方法と、 一方の光導波路に沿って例えば第５図に示すように誘電
体８等を被着させ、誘電体８の被着によってこの部分の
屈折率を変化させ、この屈折率の変化によってこの部分
を通過する光の位相を変化させ、二つの光導波路２と３
を通過する光に位相差を与える方法とが考えられている
． 前者の方法による場合光の波長λが極めて短かいため、
位相差π／２を与える光路長の差は極めて小さい値とな
る． 例えば波長λ−０．８μｍの光にπ／２の位相差を与え
るための光路長の差は０． ８ Ｘ １ ／ ４ −
０． ２μｍとなる。光路長に０．２μｍの差を与える
ための加工技術は未だ確立されてなく、実現困難である
。
また後者の方法においても二つの光導波路２と３の何れ
か一方を通る光の位相をπ／２ずらすためには誘電体８
を被着する長さを精密に規定しなくてはならない．この
方法も加工技術がむずかしく実現が困難である． 「課題を解決するための手段」 この発明では二つの光導波路に加工が可能な長さの光路
長差を与えると共にこの二つの光導波路に光を与える光
源に波長を変化させることができる光源を用い、光源か
ら出される光の波長を変えることによって二つの光導波
路を通った光がπ／２の位相差を持つように調整できる
ように構威したものである． 従ってこの発明によれば二つの光導波路の光路長差は加
工が可能な適当な長さに選定すればよく、二つの光導波
路を容易に作ることができる．然も二つの光導波路を通
った光の位相がπ／２の位相差を持つようにするには光
源から出される光の波長を変えればよいため、その調整
は容易である． よってこの発明によれば製造が容易で然も使い勝手のよ
い光変調器を提供することができる。
か一方を通る光の位相をπ／２ずらすためには誘電体８
を被着する長さを精密に規定しなくてはならない．この
方法も加工技術がむずかしく実現が困難である． 「課題を解決するための手段」 この発明では二つの光導波路に加工が可能な長さの光路
長差を与えると共にこの二つの光導波路に光を与える光
源に波長を変化させることができる光源を用い、光源か
ら出される光の波長を変えることによって二つの光導波
路を通った光がπ／２の位相差を持つように調整できる
ように構威したものである． 従ってこの発明によれば二つの光導波路の光路長差は加
工が可能な適当な長さに選定すればよく、二つの光導波
路を容易に作ることができる．然も二つの光導波路を通
った光の位相がπ／２の位相差を持つようにするには光
源から出される光の波長を変えればよいため、その調整
は容易である． よってこの発明によれば製造が容易で然も使い勝手のよ
い光変調器を提供することができる。
「実施例」
第１図にこの発明の一実施例を示す．図中１は例えばニ
オブ酸リチウム結晶から或る結晶基板２及び３はこの結
晶基板１に形威した光導波路を示す。
オブ酸リチウム結晶から或る結晶基板２及び３はこの結
晶基板１に形威した光導波路を示す。
この発明においてはこれら二つの光導波路２と３の何れ
か一方に加工可能な長さを持つ光路差を与えるための延
長部３Ａを形威する．つまりこの例では被測定電圧を与
えるための電極４Ａと４Ｂを形或しない側の光１波路３
に延長部３Ａを形戒した場合を示す。
か一方に加工可能な長さを持つ光路差を与えるための延
長部３Ａを形威する．つまりこの例では被測定電圧を与
えるための電極４Ａと４Ｂを形或しない側の光１波路３
に延長部３Ａを形戒した場合を示す。
延長部３Ａの長さΔｌは光ｆｉ５から出射される光が延
長部３Ａを通過するとき、他方の光の位相に対し数ｌＯ
波長〜数１００波長分の遅延！（位相差）が与えられる
長さを持てばよい。
長部３Ａを通過するとき、他方の光の位相に対し数ｌＯ
波長〜数１００波長分の遅延！（位相差）が与えられる
長さを持てばよい。
ここでこの発明では光源５に光の波長を変化させること
ができる光源を用いる．レーザ光源は発光部の温度を変
えたり、発光部に与える電流を変化させると光の波長が
変わることが知られており、波長を可変できるレーザ光
源も市販されている．この発明ではこのように波長を調
整することができる光源５を用い、二つの光導波路２と
３に与える光の波長を変化させる． 二つの光導波路２と３には先に説明したように光の波長
λと比較して大きな光路長差が与えられている。光源５
の波長λをλ（１＋δ）に変えた場合、光導波路２と３
の間で生じる位相差Δφはλ λ（ｌ＋δ） Δ１−ｎ ！＝＋３６０ ・ δ ・・・・
・・ （１）λ となる．但しｎは光導波路２と３内の屈折率である．具
体的な数値としてλ−０．８３μｍ， ｎ ＝ ２．
２５，Δ１＝１５μｍを選び、波長をλ’ − ０．８
３１ ６ ｍ（δ＝１．２Ｘ１０−”）にシフトさせた
とすると、Δφ＃９０＠となる． 位相差δφがπ／２となるように調整するには次の如く
して行なわれる． 光源５から適当な波長λを持つ光を二つの光導波路２と
３に与え、その合波した光を受光器６に与える．受光器
６で合波した光を受光した状態で光源５の光の波長λを
変化させる。
ができる光源を用いる．レーザ光源は発光部の温度を変
えたり、発光部に与える電流を変化させると光の波長が
変わることが知られており、波長を可変できるレーザ光
源も市販されている．この発明ではこのように波長を調
整することができる光源５を用い、二つの光導波路２と
３に与える光の波長を変化させる． 二つの光導波路２と３には先に説明したように光の波長
λと比較して大きな光路長差が与えられている。光源５
の波長λをλ（１＋δ）に変えた場合、光導波路２と３
の間で生じる位相差Δφはλ λ（ｌ＋δ） Δ１−ｎ ！＝＋３６０ ・ δ ・・・・
・・ （１）λ となる．但しｎは光導波路２と３内の屈折率である．具
体的な数値としてλ−０．８３μｍ， ｎ ＝ ２．
２５，Δ１＝１５μｍを選び、波長をλ’ − ０．８
３１ ６ ｍ（δ＝１．２Ｘ１０−”）にシフトさせた
とすると、Δφ＃９０＠となる． 位相差δφがπ／２となるように調整するには次の如く
して行なわれる． 光源５から適当な波長λを持つ光を二つの光導波路２と
３に与え、その合波した光を受光器６に与える．受光器
６で合波した光を受光した状態で光源５の光の波長λを
変化させる。
波長λが変化することによって二つの光導波路２と３を
通過する光の位相差は第１式に従って変化する． 従って受光器６の電気出力は第２図に示した曲線Ａに従
って変化し、電気出力のピーク点Ａ７と最小点Ａ．を検
出する。つまりピーク点Ａ７は同相状態を示し、最小点
Ａ．は位相差がπの状態を示す。
通過する光の位相差は第１式に従って変化する． 従って受光器６の電気出力は第２図に示した曲線Ａに従
って変化し、電気出力のピーク点Ａ７と最小点Ａ．を検
出する。つまりピーク点Ａ７は同相状態を示し、最小点
Ａ．は位相差がπの状態を示す。
従って受光器６の電気出力がピーク点Ａ，と最小点Ａ．
の中間、つまりピーク点ＡＰにおける電気出力Ｉ，の値
の１／２の値となる波長に設定することによって二つの
光導波路２と３を通る光の位相差Δφをπ／２の状態に
設定したことになる．位相差Δφがπ／２の位置で電極
４Ａと４Ｂに被測定電圧信号Ｂ（第２図曲線Ｂ）を与え
ることによって、被測定電圧信号Ｂは光導波路２を通る
光の位相を変化させる．その位相の変化によって位相差
Δφが変化し、受光器６に入射する光の量が曲ｖＡＡの
傾斜に従って変化し、第２図に曲ｖＡＣで示す電気出力
信号が得られる。
の中間、つまりピーク点ＡＰにおける電気出力Ｉ，の値
の１／２の値となる波長に設定することによって二つの
光導波路２と３を通る光の位相差Δφをπ／２の状態に
設定したことになる．位相差Δφがπ／２の位置で電極
４Ａと４Ｂに被測定電圧信号Ｂ（第２図曲線Ｂ）を与え
ることによって、被測定電圧信号Ｂは光導波路２を通る
光の位相を変化させる．その位相の変化によって位相差
Δφが変化し、受光器６に入射する光の量が曲ｖＡＡの
傾斜に従って変化し、第２図に曲ｖＡＣで示す電気出力
信号が得られる。
「発明の効果」
上述したようにこの発明によれば、二つの光導波路２と
３にこれに透過させる光の波長λに比較して充分長い例
えば波長λの数１０〜数１００倍程度の光路長差を持た
せると共に、この二つの光導波路２と３に光を与える光
源５の光の波長を変化させる構或にし、光源５から出射
される光の波長を調整することによって二つの光導波路
２と３を透過した光の位相差Δφを自由に調整すること
ができる構或としたから、光変調動作の中心を最も変調
感度が高いπ／２の位相差の位置に容易に設定すること
ができる。
３にこれに透過させる光の波長λに比較して充分長い例
えば波長λの数１０〜数１００倍程度の光路長差を持た
せると共に、この二つの光導波路２と３に光を与える光
源５の光の波長を変化させる構或にし、光源５から出射
される光の波長を調整することによって二つの光導波路
２と３を透過した光の位相差Δφを自由に調整すること
ができる構或としたから、光変調動作の中心を最も変調
感度が高いπ／２の位相差の位置に容易に設定すること
ができる。
従ってこの発明によれば二つの光導波路２と３に与える
光路長の差を光の波長λの数ｌＯ〜数１００倍程度に選
定できることから、光導波路２と３の製造を容易に行な
うことができる。
光路長の差を光の波長λの数ｌＯ〜数１００倍程度に選
定できることから、光導波路２と３の製造を容易に行な
うことができる。
然も位相差Δφは二つの光導波路２と３の光路差によっ
て一義的に決まるものでないから、光路差の精度は高精
度を要求しない．よってこの点でも製造が容易である． また光変調の動作点を常にπ／２の位置で動作させるこ
とができるから、常に変調感度の高い位置で動作させる
ことができ、被測定電圧を感度よく検出することができ
る． 更に位相差π／２の位置で変調動作を行なわせることが
できるから変調出力信号は被測定信号の波形と一致し、
直線性のよい光変調器を得ることがでる。
て一義的に決まるものでないから、光路差の精度は高精
度を要求しない．よってこの点でも製造が容易である． また光変調の動作点を常にπ／２の位置で動作させるこ
とができるから、常に変調感度の高い位置で動作させる
ことができ、被測定電圧を感度よく検出することができ
る． 更に位相差π／２の位置で変調動作を行なわせることが
できるから変調出力信号は被測定信号の波形と一致し、
直線性のよい光変調器を得ることがでる。
第１図はこの発明の一実施例を説明するためのブロック
図、第２図はこの発明の動作を説明するためのグラフ、
第３図は従来の技術を説明するためのブロック図、第４
図及び第５図は従来の技術を説明するための平面図であ
る。 １：光学結晶基板、２．３：光導波路、４Ａ，４Ｂ＝電
極、５：光源、６：受光器、７：被測定信号源。
図、第２図はこの発明の動作を説明するためのグラフ、
第３図は従来の技術を説明するためのブロック図、第４
図及び第５図は従来の技術を説明するための平面図であ
る。 １：光学結晶基板、２．３：光導波路、４Ａ，４Ｂ＝電
極、５：光源、６：受光器、７：被測定信号源。
Claims (1)
- （１）Ａ、光源から発せられた光を二分岐し、この二分
岐した光を再び合波して受光器に受け る二つの光導波路を具備し、何れか一方の 光導波路に沿って電極が設けられ、この電 極に変調信号を与え、この変調信号によっ て一方の光導波路を透過する光の位相を変 化させ、その位相の変化によって合波され た光の光量を変化させるようにした光変調 器において、 Ｂ、上記二つの光導波路にこれを透過する光の波長より
長い光路差を与えると共に、上 記光源に波長を変化させることができる光 源を用い、光の波長を調整して上記二つの 光導波路を透過した光の位相差を調整し、 光変調器の動作点を設定できるようにした ことを特徴とする光変調器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15749389A JPH0321916A (ja) | 1989-06-19 | 1989-06-19 | 光変調器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15749389A JPH0321916A (ja) | 1989-06-19 | 1989-06-19 | 光変調器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0321916A true JPH0321916A (ja) | 1991-01-30 |
| JPH059772B2 JPH059772B2 (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=15650894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15749389A Granted JPH0321916A (ja) | 1989-06-19 | 1989-06-19 | 光変調器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0321916A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03184015A (ja) * | 1989-12-14 | 1991-08-12 | Fujitsu Ltd | 光変調器 |
| US5227237A (en) * | 1989-09-05 | 1993-07-13 | Toray Industries, Inc. | Noncircular cross-section carbon fiber, process for producing the same and composite of the carbon fiber with resin |
| JPH05241116A (ja) * | 1991-11-01 | 1993-09-21 | Koninkl Ptt Nederland Nv | 集積光学コンポーネント |
| JP2012112886A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Ntt Electornics Corp | 電界センサおよびｒｆ信号の測定方法 |
| WO2017145998A1 (ja) * | 2016-02-25 | 2017-08-31 | 国立大学法人大阪大学 | 光ｓｓｂ変調器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53135662A (en) * | 1977-04-30 | 1978-11-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Non-reversible light circuit element |
-
1989
- 1989-06-19 JP JP15749389A patent/JPH0321916A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53135662A (en) * | 1977-04-30 | 1978-11-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Non-reversible light circuit element |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5227237A (en) * | 1989-09-05 | 1993-07-13 | Toray Industries, Inc. | Noncircular cross-section carbon fiber, process for producing the same and composite of the carbon fiber with resin |
| JPH03184015A (ja) * | 1989-12-14 | 1991-08-12 | Fujitsu Ltd | 光変調器 |
| JPH05241116A (ja) * | 1991-11-01 | 1993-09-21 | Koninkl Ptt Nederland Nv | 集積光学コンポーネント |
| JP2012112886A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Ntt Electornics Corp | 電界センサおよびｒｆ信号の測定方法 |
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