JPH03214975A - 手ぶれ補正装置 - Google Patents
手ぶれ補正装置Info
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- JPH03214975A JPH03214975A JP2011295A JP1129590A JPH03214975A JP H03214975 A JPH03214975 A JP H03214975A JP 2011295 A JP2011295 A JP 2011295A JP 1129590 A JP1129590 A JP 1129590A JP H03214975 A JPH03214975 A JP H03214975A
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- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 claims description 23
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 claims description 23
- 230000004044 response Effects 0.000 abstract 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
のである。
告VOL.1 1,NO.3(MAY.1987)の4
3〜48ページ、あるいは特開平1−138446号公
報に開示のものがある。
のであり、同図において、801は代表点メモリ回路、
802は代表点メモリ制御回路、803は演算回路、8
04は演算メモリ回路、805は演算メモリ制御回路、
806は最小値演算回路である。
は、入力信号Vinは代表点メモリ回路801及び演算
回路803に入力される。代表点メモリ回路801では
代表点メモリ制御回路802によって代表点位置の信号
を記憶するとともに、記憶している前フィールドの代表
点位置信号を出力する。演算回路803ではVinと代
表点メモリ回路801の出力信号との差信号の絶対値信
号を得る。演算メモリ回路804では演算メモリ制御回
路805によって演算回路803の出力信号を各代表点
に対して同じ位置関係にある比較領域で加算していく。
な最小値データを最小値演算回路806で得る。
す。第9図は1画面の代表点配置図であり、ここでは画
面全体を4領域に分割し、各領域には横6個,縦4個の
計24個の代表点を配置した場合を示している。第10
図は代表点と比較領域との関係を示しており、代表点間
隔と比較領域水平方向範囲が等しい場合を示している。
の信頼性を向上させるために、できるだけ多数の代表点
を配置する必要があるとともに、比較領域の範囲は手ぶ
れの検出可能な範囲に相当するので、できるだけ広くす
る必要がある、そのうえ各代表点に対する比較領域は重
なることなく独立していることがメモリ制御回路の回路
構成を簡単にするため必要である。上記の条件を満足す
るためには第9図及び第10図に示すように代表点間隔
と比較領域水平方向範囲とを等し<シ、代表点を水平及
び垂直方向に規則的に配置することが必要となる。
710画素の撮像素子を使用しているときは、演算メモ
リのREAD−WRIGHT動作に2画素相当の時間が
必要なので実質演算ポイント数は355、水平方向を2
領域に分割するので1領域は177ポイント、1領域の
水平代表点数を8とすると各代表点の比較領域ポイント
数は最高で29となる。
像素子の画素数が変化すると上記の条件を満足すること
ができず、効果的な手ぶれ検出ができない。または、上
記の条件を満足するように代表点配置及び比較領域設定
を変更しなければ成らない。例えば上記従来例に示した
代表点設定の場合で、水平方向510画素の撮像素子を
使用するときは、演算メモリのREAD@WRIGHT
動作に2画素相当の時間が必要なので、実質演算ポイン
ト数は255、水平方向を2領域に分割するので1領域
は127ポイント、1領域の水平代表点数を6とすると
各代表点の比較領域ポイント数は最高で21となる。こ
のように、撮像素子の変更に対する対応が非常に困難に
なるという問題点を有していた。
記の条件を溝足する代表点配置及び比較領域設定が可能
な手ぶれ補正装置を提供することを目的とする。
点メモリ回路と、代表点メモリ回路を制御する代表点メ
モリ制御回路と、代表点の位置を設定する代表点設定回
路と、前記代表点メモリ回路の出力信号と他の映像信号
とを相対比較する演算回路と、演算回路の出力信号を記
憶する演算メモリ回路と、演算メモリ回路の出力信号か
ら最小値などのデータを得る最小値演算回路とを備えた
ものである。
表点メモリ回路及び演算メモリ回路を制御することによ
って、撮像素子の画素数に応じた最適の代表点設定及び
比較領域設定を行う。
置のブロック図である。
代表点メモリ制御回路、1o3は代表点設定回路、10
4は演算回路、1o5は演算メモリ回路、106−は演
算メモリ制御回路、1o7は最小値演算回路である。
いて、以下その動作を説明する。入方信号Vfnは代表
点メモリ回路101及び演算回路104に入力される。
03の設定データに従って代表点メモリ制御回路102
の制御で代表点位置の信号を記憶するとともに、記憶し
ている前フィールドの代表点位置信号を出方する。次に
、演算回路104ではVinと代表点メモリ回路10工
の出力信号との差信号の絶対値信号を得る。
の設定データに従って演算メモリ制御回路108の制御
で演算回路104の出方信号を各代表点に対して同じ位
置関係にある比較領域で加算していく。そして、この演
算メモリ回路105の出力信号から必要な最小値データ
を最小値演算回路107で得る。
を設け、撮像素子の画素数に応じた最適な代表点数、代
表点間隔、比較領域水平方向範囲を設定することにより
、どのような撮像素子画素数の場合においても正確な動
きベクトルを検出することができ、有効な手ぶれ補正を
行うことができる。
装置のブロック図である。
ける101,102及び104から107と同様であり
、異なるのは代表点位置信号発生回路207と、演算メ
モリ制御基準信号発生回路208である。
いて、以下その動作を第1の実施例と異なる点を中心に
説明する。第3図及び第4図は代表点の位置及び演算メ
モリ回路の制御に必要な信号を示している。第3図及び
第4図において、口印は代表点の基準位置を示す位置信
号であり、Q印は代表点メモリに記憶する代表点の位置
を示す位置信号である。又、第4図では代表点と比較領
域との関係を示している。
,垂直方向5の代表点を配置する場合を示しているが、
代表点の配置の条件としては、求めるデータの信頼性を
向上させるために、できるだけ多数の代表点を配置する
必要があるとともに、比較領域の範囲は手ぶれの検出可
能な範囲に相当するので、できるだけ広くする必要があ
る。そのうえ各代表点に対する比較領域は重なることな
く独立していることがメモリ制御回路の回路構成を簡単
にするため必要である。これら上記の条件を満足するた
めには第3図に示すように代表点間隔と比較領域水平方
向範囲とを等し<シ、代表点を水平及び垂直方向に規則
的に配置することが必要となる。このことから代表点メ
モリ回路201を制御する代表点メモリ制御回路202
に対して、代表点位置信号発生回路207は、代表点間
隔及び1画面を複数領域に分割した各領域の水平及び垂
直の基準位置を設定すれば、その領域内の他の代表点の
位置を決定することができる。
回路205に対して、演算メモリ制御基準信号発生回路
20gは、第4図に示すように代表点間隔及び代表点と
比較領域との位置関係(h XIhy)を設定すれば、
各代表点に対する比較領域内の比較ポイントとの相対関
係が全ての代表点に対して一定になるように必要な信号
を決定することができる。
路207及び演算メモリ制御基準信号発生回路208を
設けることにより、代表点間隔,代表点基準位置及び代
表点と比較領域との位置関係のデータを設定すれば、そ
の他の必要゛な信号を決定することができるので、代表
点間隔などの変更に対しても効果的に対応することが可
能で、正確な動きベクトルを検出することができる。
の代表点位置信号発生回路及び演算メモリ制御基準信号
発生回路の構成例である。
表点位置信号発生回路及び演算メモリ制御基準信号発生
回路について、以下その動作を説明する。第2の実施例
内の第3図及び第4図に示したように、代表点は規則的
に配置され、比較領域も代表点に対して同じ位置関係に
ある。そこで、第5図に示すように代表点位置信号及び
演算メモリ制御基準信号はカウンタ回路を利用して効果
的に発生させることができる。具体的には代表点間隔デ
ータをカウンタの周期とするためにカウンタ出力を代表
点間隔データ値でデコードして、その出力信号を代表点
位置信号(HP)として使用すると共に、その信号でカ
ウンタ出力をクリア状態(ALL rL」)にすること
により、カウンタ出力は演算メモリのアドレス信号の基
準信号として使用することができる。この様子を第6図
に示す。
表点間隔16ポイントの場合を示している。
路及び演算メモリ制御基準信号発生回路をカウンタ回路
で構成し、代表点間隔データをその周期とすることによ
り、非常に簡単な回路構成で必要な代表点位置信号及び
演算メモリ制御基準信号を発生することができ、効果的
に正確な動きベクトルを検出することができる。
の代表点位置信号発生回路及び演算メモリ制御基準信号
発生回路の構成例である。
表点位置信号発生回路及び演算メモリ制御基準信号発生
回路について、以下その動作を第3の実施例と異なる点
を中心に説明する。第7図(a)は2つのデコード回路
を有しており、それぞれが撮像素子の水平画素数に対す
る最適な代表点間隔データに対応していて、コントロー
ル信号(CELCNT)によって選択される。この選択
された信号(HP)及びカウンタ回路の出力信号は、対
応する画素数の撮像素子における最適な代表点位置信号
及び演算メモリ制御基準信号となる。
に対応するデータ(CELDATA)とカウンタ出力信
号とを比較して代表点位置信号及び演算メモリ制御基準
信号を作成しているので、任意の画素数の撮像素子に対
して最適な代表点位置信号及び演算メモリ制御基準信号
を得ることが可能である。
路及び演算メモリ制御基準信号発生回路をカウンタ回路
で構成し、代表点間隔データをその周期とするとともに
、撮像素子画素数の変更による代表点間隔の変更に対応
するコントロール信号(CELCNT)または代表点間
隔データに対応するコントロール信号(CELDATA
)を用いることによって、非常に簡単な回路構成でしか
も撮像素子の変更に対しても最適な代表点位置信号及び
演算メモリ制御基準信号を発生することができ、効果的
に正確な動きベクトルを検出することができる。
補正の方法については説明してないが、フレームメモリ
のアドレス制御あるいは撮像素子の駆動制御と補間回路
とから構成される方式等が考えられるが、それらに限る
ものでもない。
代表点マッチング法による信号処理方式と、角速度セン
サによる方式とを併用する場合においても同じ効果を得
ることができる。
場合を説明したが、これは入力される映像信号の解像度
が変化することと同じであるので、入力映像信号の解像
度の変化に対しても同じ効果を得ることができる。
明してないが必要とするデータ及びそのデータを得るた
めの回路構成は、特に限定されるものでもなく、本発明
とは直接関係しないので説明を除いた。
比較領域の一例を示したが、それらに限るものでないこ
とも当然である。
たが、カウンタのbit数,デコード構成,カウンタ回
路のクリアタイミングなどは、他の方法でも良いことは
当然である。
び演算メモリ制御基準信号から、メモリ回路制御に必要
な信号への処理方法に関しては説明してないが、どのよ
うな方法でもよく特に限定されるものでない。
に応じた代表点および比較領域を設定することができ、
撮像素子の変更に対しても最適な状態で動きベクトルを
検出することができるので、有効な手ぶれ補正を行うこ
とができ、その効果は大きい。
のブロック図、第2図は本発明における第2の実施例の
手ぶれ補正装置のブロック図、第3図は同実施例の代表
点配置図、第4図は同実施例の比較領域配置図、第5図
は本発明における第路図、第8図は従来例の手ぶれ補正
装置のブロック図、第9図及び第10図は同従来例の代
表点及び比較領域説明図である。 101・・・代表点メモリ回路、 102・・・代表
点メモリ制御回路、 103・・・代表点設定回路、
104・・・演算回路、 105・・・演算メモリ回
路、106・・・演算メモリ制御回路、 107・・
・最小値演算回路。
Claims (5)
- (1)映像信号内の代表点映像信号を記憶する代表点メ
モリ回路と、前記代表点メモリ回路を制御する代表点メ
モリ制御回路と、代表点の位置を設定する代表点設定回
路と、前記代表点メモリ回路の出力信号と他の映像信号
とを相対比較する演算回路と、前記演算回路の出力信号
を記憶する演算メモリ回路と、前記演算メモリ回路の出
力信号から最小値などのデータを得る最小値演算回路と
を備えた手ぶれ補正装置。 - (2)代表点設定回路が、代表点配置データに応じて代
表点位置信号及び演算メモリ制御基準信号を発生する回
路により構成されている請求項1記載の手ぶれ補正装置
。 - (3)代表点位置信号及び演算メモリ制御基準信号を発
生する回路が、代表点間隔に対応するデータをカウント
数とするカウンタ回路から構成されている請求項2記載
の手ぶれ補正装置。 - (4)カウンタ回路が、代表点間隔データを用いて発生
したクリア信号により、クリア動作制御されるように構
成されている請求項3記載の手ぶれ補正装置。 - (5)クリア信号が、複数の代表点間隔データを用いて
発生した複数の信号からコントロール信号により選択さ
れた信号である請求項4記載の手ぶれ補正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011295A JP2586670B2 (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 手ぶれ補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011295A JP2586670B2 (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 手ぶれ補正装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03214975A true JPH03214975A (ja) | 1991-09-20 |
JP2586670B2 JP2586670B2 (ja) | 1997-03-05 |
Family
ID=11774009
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011295A Expired - Lifetime JP2586670B2 (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | 手ぶれ補正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2586670B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6002431A (en) * | 1993-03-03 | 1999-12-14 | Goldstar Co., Ltd. | Video correction apparatus for camcorder |
US8034737B2 (en) | 2008-03-03 | 2011-10-11 | Dia-Nitrix Co., Ltd. | Catalyst for producing acrylonitrile and process for producing acrylonitrile |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6225590A (ja) * | 1985-07-26 | 1987-02-03 | Sony Corp | 動きベクトル検出方法 |
JPS63166370A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-09 | Toshiba Corp | 画像動き補正装置 |
-
1990
- 1990-01-19 JP JP2011295A patent/JP2586670B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6225590A (ja) * | 1985-07-26 | 1987-02-03 | Sony Corp | 動きベクトル検出方法 |
JPS63166370A (ja) * | 1986-12-27 | 1988-07-09 | Toshiba Corp | 画像動き補正装置 |
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---|---|---|---|---|
US6002431A (en) * | 1993-03-03 | 1999-12-14 | Goldstar Co., Ltd. | Video correction apparatus for camcorder |
US8034737B2 (en) | 2008-03-03 | 2011-10-11 | Dia-Nitrix Co., Ltd. | Catalyst for producing acrylonitrile and process for producing acrylonitrile |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2586670B2 (ja) | 1997-03-05 |
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