JPH0321176B2 - - Google Patents

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JPH0321176B2
JPH0321176B2 JP60225928A JP22592885A JPH0321176B2 JP H0321176 B2 JPH0321176 B2 JP H0321176B2 JP 60225928 A JP60225928 A JP 60225928A JP 22592885 A JP22592885 A JP 22592885A JP H0321176 B2 JPH0321176 B2 JP H0321176B2
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shielding
magnet
auxiliary
magnet device
cylindrical
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    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/42Screening
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被診察体の収容に適した内室を取囲
みこの内室内に少なくともほぼ均等な磁場を作る
多数の磁石コイルと、一つの円筒面上に規則的に
相互に間隔を隔てて配置された構造同一の少なく
とも4個の梁状遮蔽要素およびこれらの遮蔽要素
の両端部にそれぞれ1個設けられて円筒軸線上に
所定直径の中心孔を持つ端板を有しかつ前記磁石
コイルを包囲するほぼかご形の強磁性材料製遮蔽
装置とを備えた核スピン断層撮影設備の磁石装置
に関する。 このような磁石装置は本件出願人によつて特願
昭59−194525号(特開昭60−90546号)として提
案されている。 〔従来の技術〕 医学的診断のための核スピン断層撮影設備(核
磁気共鳴(NMR)設備)は一般的に知られてい
る(たとえば欧州特許第21535号または西独特許
出願公開第2921252号公報参照)。この種の設備は
正常伝導または超伝導磁場コイル装置を備えた磁
石装置を有しており、それによつて測定区域内に
できるだけ均等な強基底磁場を作る。この基底磁
場にはパルス状のグラジエント磁場が加えられ、
さらに基底磁場に対して垂直な高周波磁場が加え
られる。磁石コイルの寸法は被診察体の寸法に適
合し、それゆえその被診察体はコイルが包囲する
内室の測定区域内に容易に送り込まれ得る。 この種のコイル装置の強磁場は主として測定区
域だけに存在し、そして周囲の電気機器に悪影響
を及ぼしたりまた強磁性可動部分に望ましくない
力作用を及ぼしたりするおそれがあるので、コイ
ル装置の周辺には漏洩磁場の形で拡がらないよう
にしなければならない。そのために、核スピン断
層撮影設備用の磁石装置はコイル装置のほかに同
様に遮蔽装置を有しており、この遮蔽装置によつ
て、漏洩磁場がコイル装置の外に漏出するのを制
限する。 〔発明が解決しようとする問題点〕 上述した特開昭60−90546号にて提案された遮
蔽装置を用いることによつて、磁石装置を構成す
るコイル装置の周辺の磁束の充分な帰還が保証さ
れる。それゆえこの種の遮蔽装置を用いることに
よつて、たとえば1テスラ磁石の漏洩磁場を4〜
5倍の遮蔽率で低減させることができる。更に隣
に合せた遮蔽要素間に形成された中間室が磁石コ
イル装置に導く良好な側路となり、又側方にはみ
出した低温冷却装置部分に対して充分な空間を提
供するという大きな利点を有する。しかしながら
漏洩磁束発生源は主としてこの遮蔽装置の端板に
形成された中心孔であるが、その孔口径は均等磁
場を得るという要求によりたとえば約1.65mの所
定直径に決定され、従つて任意に小さくすること
は出来ない。 そこで本発明は、漏洩磁速をより一層低減させ
ることができるように、冒頭で述べた種類の磁石
装置を改良することを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 この目的を達成するために本発明は、遮蔽装置
の両端部にはそれぞれ、2枚の補助遮蔽板が互い
に平行に、梁状遮蔽要素のそれぞれ2個を長手方
向に端板を越えて所定長さだけ延長させたような
形態にて、配置されることを特徴とする。 このように軸方向に向けられた強磁性材料製の
遮蔽板を用いることによつて、漏洩磁速を端板の
中心孔の出口部に出来る限り接近して捕捉し、そ
してそれぞれその反対側へ遮蔽装置の円筒状遮蔽
要素を介して帰還させることができる。同時に強
磁性材料の量、従つて補助遮蔽板の重量も適当に
制限することができる。 上述した目的を達成するために、本発明は同様
に、2つの平行な平面内に置かれて長く延ばされ
た少なくとも2枚の補助遮蔽板が設けられ、補助
遮蔽板は遮蔽装置の梁状遮蔽要素に対して平行に
かつ離隔して配置され、しかも補助遮蔽板は所定
長さだけそれぞれの端部(端板)を越えて突出し
ていることを特徴とする。 この場合には2つの平行な平面の各々には少な
くとも2枚の遮蔽板が置かれ、その遮蔽板相互間
隔を円筒状遮蔽装置の幅に適合させることができ
る。さらに、各平面内に1枚の遮蔽板が置かれ、
その遮蔽板の幅を最も狭い場合でも円筒状遮蔽装
置の幅にほぼ一致させるようにすることもでき
る。 〔実施例〕 次に本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説
明する。 本発明による図示した磁石装置は公知の核スピ
ン断層撮影設備(NMR設備)を基本としてい
る。この磁石装置は多数の磁石コイルが配設され
ていると共に、遮蔽および磁束帰還のための特別
な措置がそれぞれ講ぜられている。 かかる遮蔽の一実施例が第1図に示されてい
る。この実施例においては、上述した特開昭60−
90546号公報にて提案されているのと同じような
円筒形遮蔽装置が基本となつている。全体が
して示されたこの遮蔽装置はクライオスタツト
(低温保持装置)3を包囲しており、そのクライ
オスタツト3内にはたとえば1テスラまたはそれ
以上の磁束密度を持つ均等磁場を発生するための
超伝導磁石コイルが置かれている。クライオスタ
ツト3の端面にはそれぞれ円形状中心孔7を有す
る大質量の端板5,6が設けられている。ほぼ正
四角形に形成されている端板5,6の中心孔7の
直径は、磁石装置内部への出入が容易であると共
に、コイル中心部の有効容積内の磁場の乱れが最
小になるように選定されている。その直径はその
ようにして決定されるが、しかしながら漏出する
漏洩磁束を減少させたいからと云つて単純に小さ
くすることができない。というのは、さもなけれ
ば、基底磁場にかなりの磁場乱れが発生するから
である。 遮蔽装置の端板5,6は4個の長手方向に延
びる、すなわち中心磁場の軸線Aに対して平行に
延びる梁状の遮蔽要素を介して磁気的に相互に結
合されている。第1図には3個の遮蔽要素9,1
0,11だけが示されている。これらの遮蔽要素
は軸線Aの周りに同心的に形成された仮想円筒面
上に規則的に分割配置されている。これらの遮蔽
要素は総て同形であり、任意の断面形状たとえば
矩形断面を有することができる。しかしながら、
これらの遮蔽要素は特に少なくともほぼ直角三角
形の断面形状を有する。図示された実施例におい
ては、この三角形の外側頂点は切断されており、
それゆえ台形断面を呈している。 ほぼ正方形の端板5,6と共に、梁状の遮蔽要
素は剛性の自己支持形骨組を構成し、その横寸法
は1テスラ磁石コイル装置の場合にはこの磁石コ
イルすなわちクライオスタツト3の外形とほとん
ど同じである。この骨組によつて構成された円筒
状遮蔽装置を用いることにより、端面に漏出し
た磁束が帰還し、それゆえ漏洩磁束は著しく減少
する。本発明によれば、端面に漏出したこの漏洩
磁束は、漏洩磁束の端面側出口部に出来る限り接
近して配置されて磁束をその反対側へ案内するこ
とのできる補助遮蔽板によつて捕捉される。 第1図に示された実施例においては、4枚の捕
助遮蔽板13〜16が設けられている。それぞれ
2枚の互いに平行に配置されたこの遮蔽板13,
14あるいは15,16は両端板5,6の一方
に、円筒状遮蔽装置2の2個の梁状遮蔽要素が軸
線方向にそれぞれの端板を越えて延長されたよう
な形態にて設けられている。従つて、たとえば、
一つの平面内に置かれて端板5,6の外縁に固定
された2枚の補助遮蔽板14,16の間では、2
つの梁状遮蔽要素10,11が長手方向に延在し
ている。同様に、遮蔽板13,15も端板5,6
に、従つて対応する梁状遮蔽要素に結合されてい
る。その場合に、補助遮蔽板13〜16の長さl
を最も短い場合でも円筒状遮蔽要素の長さLの
半分の大きさにすることは有利である。一般的
に、その長さlは漏洩磁束を効果的に低減させる
ために長さLの3/4以上に長くする必要がない。
たとえば長さlを2/3Lに選定することは好まし
いことである。遮蔽板の幅bはその場合に最も狭
い場合でも端板5,6の対応する幅Bにほぼ一致
する。一方その厚さは数cmであり、たとえば1〜
2cmである。 具体的な例によれば、遮蔽装置は軸方向長さ
Lが2.6m、幅Bが2.2mである。同じ幅bを有す
る2cmの厚さの遮蔽板13〜16はそれぞれ軸方
向長さlが1.7mであり、各端板の対応する外縁
に直接当接している。この種の補助遮蔽板を用い
ることによつて、漏洩磁場は、遮蔽板が設けられ
ていない場合の漏洩磁場に比べて0.7倍減少する。 第1図に示された補助遮蔽板に対して、漏洩磁
場を低減させる他の方法は第2図に図示された遮
蔽手段によつて達成される。この装置は、4個の
梁状遮蔽要素9〜11と端板5,6とを備えた第
1図のほぼ円筒状の遮蔽装置のほかに、4個の
補助遮蔽板20〜23を有している。延長部とし
て形成された補助遮蔽板13〜16(第1図)に
対して、この実施例においては、延長部は長手方
向に分割されて水平に配置されかつ軸方向に延在
させられている。さらに、捕捉された漏洩磁束は
もはや円筒状遮蔽装置自体を通らない。それゆ
え、4枚の軸平行な板の形状に構成されたこのよ
うな構造体は円筒状遮蔽装置のほかに第2の磁束
帰環還部を構成する。従つて、4枚の長く延びた
遮蔽板は平行にかつ梁状遮蔽要素に対して出来る
限り接近して、しかしながらこれらと磁気的に結
合されることなく配置される。その場合に、2つ
の平行な平面内にそれぞれ2枚の遮蔽板、つまり
一方の平面内に遮蔽板20,21が、その平面に
対して平行な他方の平面内に遮蔽板22,23が
それぞれ間隔aをもつて配置されている。一つの
平面内に存在する遮蔽板間のこの間隔aは円筒状
遮蔽装置の寸法に応じて決定され、たとえばそ
の幅Bよりも若干大きい。同様にして、それぞれ
2枚の遮蔽板が存在する平行な平面間の間隔eが
決定される。遮蔽板20〜23の全長l′は最短の
場合でも円筒状遮蔽装置の軸方向長さLの7/3
倍であり、最長の場合にはその長さLの約3倍で
ある。l′の値が約2.7Lであることは有利である。
遮蔽板の幅b′は好ましくは0.5〜1.5mに選定され
る。 第1図の実施例について述べた具体的な例に対
応させて、第2図に示したほぼ円筒状の遮蔽装置
2の具体的な例について述べると、遮蔽板20〜
23はそれぞれ長さl′が7m、幅b′が1mである。
これらの遮蔽板はその端部に設けられた長さ1.5
mの端片25まで約2cmの厚さをしており、そし
てこの端片25の領域の厚さは主として重量上の
理由から1cmに薄くされている。それぞれ一つの
平面内に置かれている遮蔽板は2.4mの間隔aに
て互いに離隔されており、一方それぞれ2枚の遮
蔽板を有する平面間の間隔eは約、2.35mであ
る。このような遮蔽手段を用いることによつて、
端面にかご形遮蔽装置から漏出した漏洩磁束の約
半分を捕捉することができる。 第3図においてはダイヤグラムの一象限内に、
第1図または第2図の実施例によるほぼ円筒状の
遮蔽装置を備えた1テスラ核スピン断層撮影設
備の磁石周辺の漏洩磁場が示されている。縦軸z
には磁場軸線Aの方向に見た磁石中心からの距離
がm単位で示され、横軸Rには半径方向に見た磁
石中心からの距離が同様にm単位で示されてい
る。さらに、ダイヤグラムには遮蔽装置2の状態
が描かれている。このダイヤグラムには7本の等
高線1〜7が描かれており、これらの等高線はこ
の図の下に示されているテーブルにより規定さ
れ、ミリテスラ〔mT〕で示されている磁場平均
値に相当している。 同じようにして、第4図にも、ほぼ円筒状の遮
蔽装置を備えた1テスラ核スピン断層撮影設備
の磁石周辺の漏洩磁場が個々の磁場等高線によつ
て示されている。しかしながら第3図に対してこ
の第4図では、遮蔽装置のほかにさらに第2図
の具体的な例にて示した長く延びた遮蔽板を有す
る遮蔽手段を設けられている。第3図と第4図と
を比較すると判るように、遮蔽板による補助遮蔽
手段を用いることにより漏洩磁石が著しく低減さ
れる。 本発明による遮蔽手段の第2図に示された実施
例は、2つの平行な平面内にそれぞれ2枚の補助
遮蔽板20,21および22,23が設けられ、
これらの補助遮蔽板はほぼ円筒状の遮蔽装置
関係する梁状遮蔽要素9〜11からは離されて配
置されしかも互いに所定間隔aだけ離されて配置
されることを基本としている。しかしながらこれ
らの4枚の遮蔽板の代わりに、軸平行な2つの平
面内でかつ遮蔽装置の上方および下方にそれぞ
れ1枚の幅広の遮蔽板を設置するようにしてもよ
い。その場合、それらのそれぞれの幅は遮蔽装置
の幅にほぼ一致する。 図面に示された実施例は、4個の梁状遮蔽要素
がほぼ三角形状または台形状断面を有するような
ほぼ円筒状の遮蔽装置または磁束帰還装置が基本
となつている。第1図および第2図に示された補
助遮蔽手段は、梁状遮蔽要素が他の断面形状を有
するような磁束帰還装置にも同じように良好に適
する。 〔発明の効果〕 以上に説明したように、本発明によれば補助遮
蔽板を用いることによつて、円筒状遮蔽装置の端
面に漏出した漏洩磁束を効果的に低減させること
が出来るという利点が奏される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略図、第2
図は本発明の他の実施例を示す概略図である。第
3図および第4図は本発明による効果を説明する
ためのダイヤグラムで、第3図は本発明による補
助遮蔽板を備えていない磁石装置周辺の漏洩磁場
を示し、第4図は第2図に示した本発明による補
助遮蔽板を備えている磁石装置周辺の漏洩磁場を
示す。 ……遮蔽装置、3……クライオスタツト、
5,6……端板、9,10,11……梁状遮蔽要
素、13,14,15,16……補助遮蔽板、2
0,21,22,23……補助遮蔽板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被診察体の収容に適した内室を取囲みこの内
    室内に少なくともほぼ均等な磁場を作る多数の磁
    石コイルと、一つの円筒面上に規則的に相互に間
    隔を隔てて配置された構造同一の少なくとも4個
    の梁状遮蔽要素およびこれらの遮蔽要素の両端部
    にそれぞれ1個設けられて円筒軸線上に所定直径
    の中心孔を持つ端板を有しかつ前記磁石コイルを
    包囲するほぼかご形の強磁性材料製遮蔽装置とを
    備えた核スピン断層撮影設備の磁石装置におい
    て、 遮蔽装置の両端部5,6にはそれぞれ2枚の
    補助遮蔽板13,14または15,16が互いに
    平行に、梁状遮蔽要素9〜11のそれぞれ2個を
    長手方向にその対応する端板5または6を越えて
    所定の長さlだけ延長させたような形態にて配置
    されていることを特徴とする核スピン断層撮影設
    備の磁石装置。 2 補助遮蔽板13〜16はそれぞれの端板5ま
    たは6の外側領域にてこの端板に取付けられてい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    磁石装置。 3 補助遮蔽板13〜16の軸方向長さlは最も
    短い場合でも円筒状遮蔽装置の軸方向長さLの
    半分の大きさであることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項または第2項記載の磁石装置。 4 補助遮蔽板13〜16の軸方向長さlは最も
    長い場合でも円筒状遮蔽装置の軸方向長さLの
    2/3の大きさであることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項ないし第3項のいずれか1項に記載の
    磁石装置。 5 補助遮蔽板13〜16の幅bは最も狭い場合
    でも円筒状遮蔽装置の幅Bとほぼ等しいことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第4項の
    いずれか1項に記載の磁石装置。 6 被診察体の収容に適した内室を取囲みこの内
    室内に少なくともほぼ均等な磁場を作る多数の磁
    石コイルと、一つの円筒面上に規則的に相互に間
    隔を隔てて配置された構造同一の少なくとも4個
    の梁状遮蔽要素およびこれらの遮蔽要素の両端部
    にそれぞれ1個設けられて円筒軸線上に所定直径
    の中心孔を持つ端板を有しかつ前記磁石コイルを
    包囲するほぼかご形の強磁性材料製遮蔽装置とを
    備えた核スピン断層撮影設備の磁石装置におい
    て、 2つの平行な平面内に置かれて長く延ばされた
    少なくとも2枚の補助遮蔽板20〜23が設けら
    れ、補助遮蔽板は遮蔽装置の梁状遮蔽要素9〜
    11に対して平行にかつ離隔して配置され、しか
    も補助遮蔽板は所定長さだけそれぞれの端部5,
    6を越えて突出していることを特徴とする核スピ
    ン断層撮影設備の磁石装置。 7 2つの平行な平面の各々には少なくとも2枚
    の遮蔽板20,21または22,23が置かれ、
    その遮蔽板の相互間隔aは円筒状遮蔽装置の幅
    Bに適合することを特徴とする特許請求の範囲第
    6項記載の磁石装置。 8 2つの平行な平面の各々には1枚の遮蔽板が
    置かれ、その遮蔽板の幅は最も狭い場合でも円筒
    状遮蔽装置の幅Bにほぼ一致することを特徴と
    する特許請求の範囲第6項記載の磁石装置。 9 補助遮蔽板20〜23の軸方向長さl′は最も
    短い場合でも円筒状遮蔽装置の軸方向長さLの
    7/3の大きさであることを特徴とする特許請求の
    範囲第6項ないし第8項のいずれか1項に記載の
    磁石装置。 10 補助遮蔽板20〜23の軸方向長さl′は最
    も長い場合でも円筒状遮蔽装置の軸方向長さL
    の3倍の大きさであることを特徴とする特許請求
    の範囲第6項ないし第9項のいずれか1項に記載
    の磁石装置。 11 補助遮蔽板20〜23の幅b′は0.5〜1.5m
    の間にあることを特徴とする特許請求の範囲第6
    項、第7項、第9項、第10項のいずれか1項に
    記載の磁石装置。 12 補助遮蔽板20〜23の厚さは1〜3cmの
    間にあることを特徴とする特許請求の範囲第6項
    ないし第11項のいずれか1項に記載の磁石装
    置。 13 補助遮蔽板20〜23はその端部25の領
    域における厚さが円筒状遮蔽装置2の領域におけ
    る厚さよりも薄くなつていることを特徴とする特
    許請求の範囲第6項ないし第12項のいずれか1
    項に記載の磁石装置。
JP60225928A 1984-10-12 1985-10-09 核スピン断層撮影設備の磁石装置 Granted JPS6195236A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3437529 1984-10-12
DE3437529.5 1984-10-12

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JPS6195236A JPS6195236A (ja) 1986-05-14
JPH0321176B2 true JPH0321176B2 (ja) 1991-03-22

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US (1) US4635017A (ja)
EP (1) EP0177869B1 (ja)
JP (1) JPS6195236A (ja)
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