JPH03210466A - 導電率測定装置 - Google Patents
導電率測定装置Info
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- JPH03210466A JPH03210466A JP532090A JP532090A JPH03210466A JP H03210466 A JPH03210466 A JP H03210466A JP 532090 A JP532090 A JP 532090A JP 532090 A JP532090 A JP 532090A JP H03210466 A JPH03210466 A JP H03210466A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、導電率測定装置に関する。
[従来の技術]
例えば交1jiL2極法による導電率の測定においては
、その測定セルは、電極支持ボディと、この電極支持ボ
ディに適宜の間隔をおいて設けられる一対の電極とから
主として構成される。
、その測定セルは、電極支持ボディと、この電極支持ボ
ディに適宜の間隔をおいて設けられる一対の電極とから
主として構成される。
そして、前記電極と被検液である溶液の界面との間に電
荷の分離による電気二重層が生じ、導電率が高濃度の溶
液の導電率測定においては、前記電気二重層に起因する
コンデンサ分(分極容量)が測定に大きな誤差を与える
ことがあるため、測定セルとしてはセル定数の大きなも
のを用いるようにしているが、セル定数は電極の形状に
よって定まるところから、その設定にも限度がある。
荷の分離による電気二重層が生じ、導電率が高濃度の溶
液の導電率測定においては、前記電気二重層に起因する
コンデンサ分(分極容量)が測定に大きな誤差を与える
ことがあるため、測定セルとしてはセル定数の大きなも
のを用いるようにしているが、セル定数は電極の形状に
よって定まるところから、その設定にも限度がある。
そこで、上記分極容量の影響をできるだけ抑制するため
、電極間に印加する電圧を低くしたりあるいは電極の表
面積を大きくするなどして電流密度を小さ(したり、ま
た、測定周波数を高(するなどの手段が講じられている
。
、電極間に印加する電圧を低くしたりあるいは電極の表
面積を大きくするなどして電流密度を小さ(したり、ま
た、測定周波数を高(するなどの手段が講じられている
。
しかしながら、上記手段を講じても次のような問題点が
残る。すなわち、前記電極としては、通常、白金に白金
黒メツキを施したものが用いられているが、前記メツキ
が剥離してくると前記分極容量が増大し、測定に誤差が
生ずるのである。
残る。すなわち、前記電極としては、通常、白金に白金
黒メツキを施したものが用いられているが、前記メツキ
が剥離してくると前記分極容量が増大し、測定に誤差が
生ずるのである。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、メツキの剥離を確実に検知するこ
とができると共に、高精度の測定を行うことができる信
頼性の高い導電率測定装置を提供することにある。
目的とするところは、メツキの剥離を確実に検知するこ
とができると共に、高精度の測定を行うことができる信
頼性の高い導電率測定装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
上述の目的を達成するため、本発明に係る導電率測定装
置は、溶液中に浸漬された相異なる周波数の交流電圧を
印加し、それぞれの周波数における導電率を測定し、そ
のときの導電率の偏差が所定値を超えるときは、所定の
警告を発するようにし、前記偏差が所定値以下であると
きは、所定の分極容量式によって分権容量値を求めてこ
れを記憶し、導電率測定時に得られる測定結果を前記分
極容量値と共に所定の分極補正式に入力して補正し、そ
の補正結果を出力するようにした点に特徴がある。
置は、溶液中に浸漬された相異なる周波数の交流電圧を
印加し、それぞれの周波数における導電率を測定し、そ
のときの導電率の偏差が所定値を超えるときは、所定の
警告を発するようにし、前記偏差が所定値以下であると
きは、所定の分極容量式によって分権容量値を求めてこ
れを記憶し、導電率測定時に得られる測定結果を前記分
極容量値と共に所定の分極補正式に入力して補正し、そ
の補正結果を出力するようにした点に特徴がある。
(作用〕
本発明においては、溶液中に浸漬された電極間に相異な
る周波数の交流電圧を印加し、それぞれの周波数におけ
る導電率を測定し、そのときの偏差が所定の基準値を超
えるときは所定の警告を発するようにしているので、測
定中に電極のメツキの剥離を検出することができる。ま
た、前記偏差が所定の基準値以下であれば、所定の分極
容量式によって分極容量値を求めてこれを記憶し、所定
の分極補正式に基づいて分極補正を行うので、分極容量
に起因する誤差をなくすことができ、精度の高い測定を
行うことができる。
る周波数の交流電圧を印加し、それぞれの周波数におけ
る導電率を測定し、そのときの偏差が所定の基準値を超
えるときは所定の警告を発するようにしているので、測
定中に電極のメツキの剥離を検出することができる。ま
た、前記偏差が所定の基準値以下であれば、所定の分極
容量式によって分極容量値を求めてこれを記憶し、所定
の分極補正式に基づいて分極補正を行うので、分極容量
に起因する誤差をなくすことができ、精度の高い測定を
行うことができる。
〔実施例)
以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
。
。
第1図は本発明に係る導電率測定装置の構成を概略的に
示すもので、この図において、1は交流発振器で、後述
する制御装置7からの信号に基づいて異なる周波数の交
流電圧を発生するものである。2は演算増幅器、3.4
は測定セル(図外)に設けられる電極、5は同期整流回
路、6はA/D変換器である。そして、7は制御装置で
、詳細に図示してないが、その内部にはA/D変換器6
や図外の人力装置からの信号に基づいて演算を行う演算
部と、演算結果あるいは前記入力装置からの入力に基づ
いて交流発振器lや図外の表示部などに所定の信号を発
する演算制御部と、演算結果および外部からの入力を記
憶するメモリ部などを備えている。
示すもので、この図において、1は交流発振器で、後述
する制御装置7からの信号に基づいて異なる周波数の交
流電圧を発生するものである。2は演算増幅器、3.4
は測定セル(図外)に設けられる電極、5は同期整流回
路、6はA/D変換器である。そして、7は制御装置で
、詳細に図示してないが、その内部にはA/D変換器6
や図外の人力装置からの信号に基づいて演算を行う演算
部と、演算結果あるいは前記入力装置からの入力に基づ
いて交流発振器lや図外の表示部などに所定の信号を発
する演算制御部と、演算結果および外部からの入力を記
憶するメモリ部などを備えている。
第2図は測定セルにおけるインピーダンスの等価回路を
示すもので、この図において、R1は電極ケーブルの電
線抵抗、C1は電極ケーブルの電線容量、Cオは電極の
分極容量、R%は溶液の抵抗、R%′は電極全体の抵抗
をそれぞれ示す。
示すもので、この図において、R1は電極ケーブルの電
線抵抗、C1は電極ケーブルの電線容量、Cオは電極の
分極容量、R%は溶液の抵抗、R%′は電極全体の抵抗
をそれぞれ示す。
ここで、CIのインピーダンスを21.測定周波数をω
(−2πf)とすると、 ωCI 2π fC,f (但し、R1,l−とする) 2πC1 となる。
(−2πf)とすると、 ωCI 2π fC,f (但し、R1,l−とする) 2πC1 となる。
また、
t
のインピーダンスを22
とすると、
ωCz 2πfCz f
(但し、Rt2− とする)
2πC2
となる。
そして、R1′は
Rt’−z+//(R1+R% +2 zz )Z、x
(R,+Rt+’l Z、) Z+ +(R,+R,,+22* ) ・・・・・・(3) と表され、ここで、ZlはRl+ Rc + 2 Z
zより充分に大きいと考えられるので、(3)式は、R
1′ζR+ +Rt +2L となり、これより、R1は、 R1ζR,’−R,−22. ・・・・・
・(4)となる。
(R,+Rt+’l Z、) Z+ +(R,+R,,+22* ) ・・・・・・(3) と表され、ここで、ZlはRl+ Rc + 2 Z
zより充分に大きいと考えられるので、(3)式は、R
1′ζR+ +Rt +2L となり、これより、R1は、 R1ζR,’−R,−22. ・・・・・
・(4)となる。
ここで、Rt、R,’の導電率をそれぞれLl、L−′
とすると、上記(4)式は、 Lt L。
とすると、上記(4)式は、 Lt L。
となり、
これより、
Lt
1 Lt’ Rt 2Lt’ Zzし。
1 Lt ’ Rt 2 LL ’ Rcz/
f・・・・・・(5) なる分極補正式が得られる。
f・・・・・・(5) なる分極補正式が得られる。
ところで、上記(5)式で表される分極補正式における
Rcz(=1/2πCz、つまり、分極容量の大きさ)
は、前記第2図に示す等価回路において、異なる周波数
の電圧を2回印加することにより求めることができる。
Rcz(=1/2πCz、つまり、分極容量の大きさ)
は、前記第2図に示す等価回路において、異なる周波数
の電圧を2回印加することにより求めることができる。
すなわち、第2図において、電極3.4間に相異なる周
波数f+ 、fz (fl >Exとする)の交流電圧
を印加し、上記(5)式においてRci−0として算出
されたLtの(値を、それぞれL%”(f、)、LL”
(fりとすると、Lt”は第2図におけるA部の導電率
を示すから、 LL”(f、)− RL +2/ω+CZ ζ R,+2Rcz/f+ ・・・・・・(6) L、”(fり= R,+2/ωよC8 ・・・・・・(7) Rt + 2 Raw/ f t が得られる。
波数f+ 、fz (fl >Exとする)の交流電圧
を印加し、上記(5)式においてRci−0として算出
されたLtの(値を、それぞれL%”(f、)、LL”
(fりとすると、Lt”は第2図におけるA部の導電率
を示すから、 LL”(f、)− RL +2/ω+CZ ζ R,+2Rcz/f+ ・・・・・・(6) L、”(fり= R,+2/ωよC8 ・・・・・・(7) Rt + 2 Raw/ f t が得られる。
そして、(6)式から、
RL + 2 Rcz/ t l −1/LL ”(f
1)Rt −x/Lt“(f +) 2 Rci/
f +が得られ、また、(7)式から、 Rt −1/L−’ (f り 2 RCI/ f
tが得られるから、 これら両式より、 1/L、”(fl)−2RC!/f。
1)Rt −x/Lt“(f +) 2 Rci/
f +が得られ、また、(7)式から、 Rt −1/L−’ (f り 2 RCI/ f
tが得られるから、 これら両式より、 1/L、”(fl)−2RC!/f。
= L/ Lc ”(f z) 2 Rcz/ f
!が得られ、さらに、 1/LL”(f、)−1/L、”(fり−2Rcx(1
/(+ 1/fz )が得られる。
!が得られ、さらに、 1/LL”(f、)−1/L、”(fり−2Rcx(1
/(+ 1/fz )が得られる。
よって、Rciは、
f、Xf。
×
2(fg−fl)
Lt’(fり−L、”(f、)
Lt ”(f +)x Lt“(f2)2(fg−fl
) となる。
) となる。
つまり、導電率測定装置の測定セルにおける分極容量R
C!の大きさは、相異なる周波数f l+ f zの交
流電圧を電極3.4間に印加し、周波数ft。
C!の大きさは、相異なる周波数f l+ f zの交
流電圧を電極3.4間に印加し、周波数ft。
f、における導電率Lt ”(f +)、Lt ”(f
x)を測定することによって求めることができる。
x)を測定することによって求めることができる。
次に、上記構成の導電率測定装置における分極補正の手
順について、第3図に示すフローチャートをも参照しな
がら説明する。
順について、第3図に示すフローチャートをも参照しな
がら説明する。
先ず、電極3.4を溶液に浸漬した状態で、交流発振器
1から例えば実際の導電率測定において印加する周波数
f、の交流電圧を電極3,4に例えば約3秒間印加する
。この電圧印加により、演算制御部7では所定の演算が
行われ、周波数f1における導電率り、(f、)が求め
られ、この導電率り、(f、)がメモリ部に記憶される
(ステップS1)。
1から例えば実際の導電率測定において印加する周波数
f、の交流電圧を電極3,4に例えば約3秒間印加する
。この電圧印加により、演算制御部7では所定の演算が
行われ、周波数f1における導電率り、(f、)が求め
られ、この導電率り、(f、)がメモリ部に記憶される
(ステップS1)。
次に、交流発振器1から前記周波数ftより低い周波数
f8の交流電圧が出力されるように切換え操作しくステ
ップ32)、周波数f2の交流電圧を電極3.4に約3
秒間印加する。この電圧印加により、演算制御部7では
所定の演算が行われ、周波数f8における導電率LL(
ft)が求められ、この導電率LL(ft)がメモリ部
に記憶される(ステップS3)。
f8の交流電圧が出力されるように切換え操作しくステ
ップ32)、周波数f2の交流電圧を電極3.4に約3
秒間印加する。この電圧印加により、演算制御部7では
所定の演算が行われ、周波数f8における導電率LL(
ft)が求められ、この導電率LL(ft)がメモリ部
に記憶される(ステップS3)。
そして、上記両溝電率L%(fl)、 LL(ft)
の偏差、この実施例では両者の比Lt(fり/Lt(f
l)が0.9よりも小さいか大きいかを、演算制御部7
において判別する(ステップS4)ようにし、前記比が
0.9よりも小さいとき(ステップS5)には、補正可
能範囲にあるものと判定し、前記両溝電率り、(f、)
、L、(f2)、周波数f、、ftなどを、前記(9)
弐に示す分極容量式に代入して、当該導電率測定装置の
分極容量値を求め、分極容量の補正が行なえるようにす
る(ステップS6)。
の偏差、この実施例では両者の比Lt(fり/Lt(f
l)が0.9よりも小さいか大きいかを、演算制御部7
において判別する(ステップS4)ようにし、前記比が
0.9よりも小さいとき(ステップS5)には、補正可
能範囲にあるものと判定し、前記両溝電率り、(f、)
、L、(f2)、周波数f、、ftなどを、前記(9)
弐に示す分極容量式に代入して、当該導電率測定装置の
分極容量値を求め、分極容量の補正が行なえるようにす
る(ステップS6)。
つまり、相異なる周波数の交流電圧を印加したときの導
電率り、(f、)、L、(fz)の偏差が所定の基準値
(許容値)以下であるときは、電極3.4におけるメツ
キの剥離が生じてないかあるいは生じていても極めて僅
かであり、測定値における分極容量の影響を補正するこ
とにより、真の導電率に極めて近い測定が行なえるもの
とするのである。
電率り、(f、)、L、(fz)の偏差が所定の基準値
(許容値)以下であるときは、電極3.4におけるメツ
キの剥離が生じてないかあるいは生じていても極めて僅
かであり、測定値における分極容量の影響を補正するこ
とにより、真の導電率に極めて近い測定が行なえるもの
とするのである。
一方、前記比が0.9よりも大きいとき(ステップS7
)には、補正可能範囲外であって、例えば電極3,4に
おけるメツキがかなり剥離して、実用に供することがで
きないものと判定し、表示部(図外)などに警告メツセ
ージを表示したり、警告ランプが点滅したり、ブザー音
を発するようにする。これによって、電極3,4の点検
あるいは取替えをなどの目安にすることができ、導電率
測定装置のメンテナンスが確実に行われる。
)には、補正可能範囲外であって、例えば電極3,4に
おけるメツキがかなり剥離して、実用に供することがで
きないものと判定し、表示部(図外)などに警告メツセ
ージを表示したり、警告ランプが点滅したり、ブザー音
を発するようにする。これによって、電極3,4の点検
あるいは取替えをなどの目安にすることができ、導電率
測定装置のメンテナンスが確実に行われる。
本発明者らの試験によれば、分極容量Rczを予め求め
ておき、導電率測定時における測定結果について、分極
補正によってどの程度誤差を解消できるものか調べたと
ころ、次のような結果が得られたゆすなわち、補正前の
導電率が真の値に対して5.4%の誤差を含むものであ
ったのに対し、補正後の導電率は真の値に対して僅かに
0.6%の誤差となり、分極容量に起因する誤差、特に
、電極3.4におけるメツキの剥離に基づく誤差を大幅
に低減できることが判った。
ておき、導電率測定時における測定結果について、分極
補正によってどの程度誤差を解消できるものか調べたと
ころ、次のような結果が得られたゆすなわち、補正前の
導電率が真の値に対して5.4%の誤差を含むものであ
ったのに対し、補正後の導電率は真の値に対して僅かに
0.6%の誤差となり、分極容量に起因する誤差、特に
、電極3.4におけるメツキの剥離に基づく誤差を大幅
に低減できることが判った。
本発明は上記実施例に限られるものではなく、例えば導
電率Lt(f、)、Lt(fz)の偏差の比較対象とな
る基準値は任意に設定することができる。
電率Lt(f、)、Lt(fz)の偏差の比較対象とな
る基準値は任意に設定することができる。
また、分極容量RC2は定期点検時に測定するようにし
ておけばよいが、実際の測定の際にその都度測定するよ
うにしてもよい。
ておけばよいが、実際の測定の際にその都度測定するよ
うにしてもよい。
(発明の効果〕
以上説明したように、本発明においては、溶液中に浸漬
された相異なる周波数の交流電圧を印加し、それぞれの
周波数における導電率を測定し、そのときの導電率の偏
差が所定値を超えるときは、所定の警告を発するように
し、前記偏差が所定値以下であるときは、所定の分極容
量式によって分権容量値を求めてこれを記憶し、導電率
測定時に得られる測定結果を前記分極容量値と共に所定
の分極補正式に入力して補正し、その補正結果を出力す
るようにしているので、分極容量に起因する誤差、特に
、電極におけるメツキの剥離に基づく誤差を大幅に低減
でき、しかも、メツキの剥離を確実に検知することがで
きるので、高精度の測定を行うことができ信頼性の高い
導電率測定装置を得ることができる。
された相異なる周波数の交流電圧を印加し、それぞれの
周波数における導電率を測定し、そのときの導電率の偏
差が所定値を超えるときは、所定の警告を発するように
し、前記偏差が所定値以下であるときは、所定の分極容
量式によって分権容量値を求めてこれを記憶し、導電率
測定時に得られる測定結果を前記分極容量値と共に所定
の分極補正式に入力して補正し、その補正結果を出力す
るようにしているので、分極容量に起因する誤差、特に
、電極におけるメツキの剥離に基づく誤差を大幅に低減
でき、しかも、メツキの剥離を確実に検知することがで
きるので、高精度の測定を行うことができ信頼性の高い
導電率測定装置を得ることができる。
第1図〜第3図は本発明の一実施例を示し、第1図は本
発明に係る導電率測定装置の構成を概略的に示す図、第
2図は測定セルにおける等価回路図、第3図は分極補正
の手順を示すフローチャートである。 3゜ 4・・・電極。 出 願 人 株式会社 堀場製作所 代 理 人
発明に係る導電率測定装置の構成を概略的に示す図、第
2図は測定セルにおける等価回路図、第3図は分極補正
の手順を示すフローチャートである。 3゜ 4・・・電極。 出 願 人 株式会社 堀場製作所 代 理 人
Claims (1)
- 一対の電極を被検液に浸漬した状態で電極間に所定の測
定周波数の交流電圧を印加して被検液の導電率を測定す
る装置において、前記電極間に相異なる周波数の交流電
圧を印加し、それぞれの周波数における導電率を測定し
、そのときの導電率の偏差が所定の基準値を超えるとき
は、所定の警告を発するようにし、前記偏差が所定の基
準値以下であるときは、所定の分極容量式によって分極
容量値を求めてこれを記憶し、導電率測定時に得られる
測定結果を前記分極容量値と共に所定の分極補正式に入
力して補正し、その補正結果を出力するようにしたこと
を特徴とする導電率測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP532090A JPH079410B2 (ja) | 1990-01-14 | 1990-01-14 | 導電率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP532090A JPH079410B2 (ja) | 1990-01-14 | 1990-01-14 | 導電率測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03210466A true JPH03210466A (ja) | 1991-09-13 |
JPH079410B2 JPH079410B2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=11607964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP532090A Expired - Fee Related JPH079410B2 (ja) | 1990-01-14 | 1990-01-14 | 導電率測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH079410B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2766271A1 (fr) * | 1997-07-16 | 1999-01-22 | Zellweger Analytics | Procede et dispositif de mesure de la conductivite d'une solution assurant le controle de la polarisation des electrodes |
GB2444509A (en) * | 2006-12-06 | 2008-06-11 | Abb Ltd | Fluid flow conductivity sensor |
JP2010501872A (ja) * | 2006-08-30 | 2010-01-21 | メトラー−トレド アクチェンゲゼルシャフト | 溶液の電気伝導率を測定する方法 |
GB2467061A (en) * | 2006-12-06 | 2010-07-21 | Abb Ltd | Conductivity sensor wherein a correction is applied to conductivity measurements to correct for polarization effects of electrodes |
-
1990
- 1990-01-14 JP JP532090A patent/JPH079410B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2766271A1 (fr) * | 1997-07-16 | 1999-01-22 | Zellweger Analytics | Procede et dispositif de mesure de la conductivite d'une solution assurant le controle de la polarisation des electrodes |
JP2010501872A (ja) * | 2006-08-30 | 2010-01-21 | メトラー−トレド アクチェンゲゼルシャフト | 溶液の電気伝導率を測定する方法 |
US8521442B2 (en) | 2006-08-30 | 2013-08-27 | Mettler-Toledo Ag | Method and device for measuring the electrical conductivity and/or resistivity of a solution |
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