JPH03198159A - Logical inspecting device - Google Patents

Logical inspecting device

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Publication number
JPH03198159A
JPH03198159A JP1339366A JP33936689A JPH03198159A JP H03198159 A JPH03198159 A JP H03198159A JP 1339366 A JP1339366 A JP 1339366A JP 33936689 A JP33936689 A JP 33936689A JP H03198159 A JPH03198159 A JP H03198159A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
simulation
output
value
result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1339366A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuji Kagaya
加賀谷 達次
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH03198159A publication Critical patent/JPH03198159A/en
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Abstract

PURPOSE:To perform a logical inspection in a short time and with high accuracy by extracting an input pattern and the expected value of a function block to perform a logical inspection out of the result of the overall function simulation of a circuit held in a storage. CONSTITUTION:The result of the overall function simulation of a circuit containing a function block is stored in a function inspecting result storage 31, and the designation is inputted via an input device 1 to a function block which performs the inspection of the entire circuit. An input/output signal line selection means 21 selects the input and output signal lines of the function block inputted via the device 1. Based on the selecting result of the means 21, an input/output value extracting means 22 extracts the input and output values of the function block out of the storage 31. A logical simulation means 23 performs the logical simulation with the extracted input value and the connection information on the function block used as inputs. Then a comparison means 24 compares the result of simulation with the output value. Thus a logical inspection is carried out in a short time and with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体集積回路を全体回路の機能ブロック
ごとに論理検証する論理検証装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a logic verification device that performs logic verification of a semiconductor integrated circuit for each functional block of the entire circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図は従来の論理検証装置を示すブロック接続図であ
り、図において、1はキーボードやマウス等の入力装置
であり、第4図に示すような機能ブロックの入力信号線
の入力値としての入カバターン及び出力信号線66の出
力値と−しての期待値を制御部2へ入力するものである
。25は入力された上記機能ブロックの入カバターン及
び期待値を入カバターン記憶装置33及び期待値記憶装
置34に書き込むパターン編集手段、23は接続情報記
憶装置32から回路接続情報を、入カバターン記憶装置
33から入カバターンをそれぞれ読み出し、論理シミュ
レーションを行う論理シミュレーション手段、24は期
待値記憶装置34から期待値を読み出し、これを上記論
理シミュレーションの結果と比較する比較手段、4は比
較結果を表示するCRT等の表示部である。
FIG. 3 is a block connection diagram showing a conventional logic verification device. In the diagram, 1 is an input device such as a keyboard or a mouse, which is used as an input value for the input signal line of a functional block as shown in FIG. The input cover turn and the expected value as the output value of the output signal line 66 are input to the control section 2. 25 is a pattern editing means for writing the input pattern and expected value of the functional block into the input pattern storage device 33 and the expected value storage device 34; 23 is a pattern editing device for writing circuit connection information from the connection information storage device 32; Logic simulation means 24 reads the input cover patterns and performs a logic simulation; 24 a comparison means 24 reads the expected value from the expected value storage device 34 and compares it with the result of the logic simulation; 4 a CRT or the like for displaying the comparison results. This is the display section.

また、第4図は半導体集積回路の全体回路を模式化した
模式回路図であり、6はこの全体回路、61〜64はそ
の全体回路6を構成する機能ブロック、65および66
は1つの機能ブロック61についての入力信号線および
出力信号線である。
Further, FIG. 4 is a schematic circuit diagram illustrating the entire circuit of the semiconductor integrated circuit, where 6 is the entire circuit, 61 to 64 are functional blocks constituting the entire circuit 6, and 65 and 66 are shown in FIG.
are an input signal line and an output signal line for one functional block 61.

次に動作を第5図のフローチャートに従って説明する。Next, the operation will be explained according to the flowchart shown in FIG.

まず、論理検証を行おうとする機能ブロックの入カバタ
ーン及び期待値が入力装置1から入力される。パターン
編集手段25ではこれらの入カバターン及び期待値を編
集した後、入カバターン記憶装置33及び期待値記憶装
置34にそれぞれ書き込む(ステップ5TI)。次に、
接続情報記憶装置32から回路接続情報を取り出し、入
カバターン記憶装置33から入カバターンを読み出して
、これらの回路接続情報及び入カバターンにもとづいて
論理シミュレーション手段23が論理シミュレーション
を行う(ステップ5T2)、そこで、比較手段はこの論
理シミュレーション結果と期待値記憶装置34から読み
出した期待値とを比較して、その結果を表示部4に表示
する(ステップ5T3)。
First, input patterns and expected values of a functional block whose logic is to be verified are inputted from the input device 1. The pattern editing means 25 edits these input pattern patterns and expected values, and then writes them into the input pattern storage device 33 and the expected value storage device 34, respectively (step 5TI). next,
The circuit connection information is taken out from the connection information storage device 32, the input cover pattern is read out from the input cover pattern storage device 33, and the logic simulation means 23 performs a logic simulation based on the circuit connection information and the input cover pattern (step 5T2). The comparing means compares this logical simulation result with the expected value read from the expected value storage device 34, and displays the result on the display section 4 (step 5T3).

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来の論理検証装置は以上のように構成されているので
、入カバターン及び期待値の作成は、検証を行う機能ブ
ロックの入出力タイミングを考慮して設計者によって行
うことが必要で、このため設計に時間を要するほか誤り
が混入しやすいなどの課題があった。
Since conventional logic verification devices are configured as described above, it is necessary for the designer to create input patterns and expected values by considering the input/output timing of the functional block to be verified. There were problems such as it was time-consuming and prone to errors.

この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、記憶装置に保持させである回路全体の機能シミ
ュレーションの結果から、論理検証を行う機能ブロック
の入カバターン及び期待値を抽出することにより、短期
間で、精度のよい論理検証を行うことができる論理検証
装置を提供することを目的とする。
This invention was made to solve the above problems, and it is a method for extracting input patterns and expected values of functional blocks for logic verification from the results of functional simulation of the entire circuit stored in a storage device. It is an object of the present invention to provide a logic verification device that can perform highly accurate logic verification in a short period of time.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

この発明に係る論理検証装置は、機能ブロックを有する
全体回路の機能シミュレーションの結果を機能検証結果
記憶装置にて保持し、上記全体回路の検証を行うべき機
能ブロックの入力値及び出力値を入力装置から入力し、
この入力装置から入力した入力値及び出力値に対応する
入力信号線及び出力信号線を入出力信号線選択手段によ
り選択し、この入出力信号線選択手段の選択結果に従っ
て、上記機能検証結果記憶装置から上記機能ブロックの
入力値及び出力値を入出力値抽出手段により抽出し、こ
の入出力値抽出手段により抽出した上記入力値と上記接
続情報とを入力として論理シミュレーション手段により
論理シミュレーションを行い、この論理シミュレーショ
ン手段のシミュレーション結果と上記出力値とを比較手
段にて比較するようにしたものである。
The logic verification device according to the present invention stores the results of functional simulation of an entire circuit having functional blocks in a functional verification result storage device, and inputs the input values and output values of the functional blocks to be verified for the entire circuit into an input device. Enter from
The input signal line and output signal line corresponding to the input value and output value inputted from this input device are selected by the input/output signal line selection means, and according to the selection result of the input/output signal line selection means, the function verification result storage device The input value and the output value of the functional block are extracted by the input/output value extraction means, and the logic simulation means performs a logic simulation using the input value extracted by the input/output value extraction means and the connection information as input. The simulation result of the logic simulation means and the output value are compared by a comparison means.

〔作用〕[Effect]

この発明における論理検証装置は、論理検証を行う回路
内部の機能ブロックを指定すると、全体回路の機能シミ
ュレーションの結果から、上記機能ブロックの入力値及
び出力値を抽出し1機能ブロックの回路接続情報と抽出
した入力値を用いて論理シミュレーションを行い、その
結果と抽出した機能ブロックの出力値をと比較すること
により、半導体集積回路などの回路の論理検証を実施す
る。
The logic verification device of the present invention, when specifying a functional block inside a circuit to perform logic verification, extracts the input value and output value of the functional block from the result of functional simulation of the entire circuit, and extracts the input value and output value of the functional block, and calculates the circuit connection information of one functional block. Logic verification of circuits such as semiconductor integrated circuits is performed by performing logic simulation using the extracted input values and comparing the results with the output values of the extracted functional blocks.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1はキーボードやマウス等の入力装置であ
り、論理検証を行う第4図に示すような機能ブロック6
1を指定する情報を制御部2へ入力する。21は接続情
報記憶装置32から回路接続情報を読み出し、機能プロ
、ツク61の入力信号線65及び出力信号線66を選択
し、各信号を入出力値抽出手段22に与える入出力信号
線選択手段、22は機能検証結果記憶装置31から与え
られた入出力信号線65.66の値を抽出し、入力信号
線65の値(入カバターン)は入カバターン記憶装置3
3に、出力信号線66の値(期待値)は期待値記憶装置
34にそれぞれ書き込む入出力値抽出手段、23は接続
情報記憶袋!!32から回路接続情報を、入カバターン
記憶装置33から入カバターンをそれぞれ読み出し、論
理シミュレーションを行う論理シミュレーション手段、
24は期待値記憶装置34から期待値を読み出し、論理
シミュレーションの結果と比較し、CRT等の表示部4
に比較結果を表示する比較手段である。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
In the figure, 1 is an input device such as a keyboard or mouse, and a functional block 6 as shown in FIG. 4 performs logic verification.
1 is input to the control unit 2. 21 is input/output signal line selection means that reads circuit connection information from the connection information storage device 32, selects the input signal line 65 and output signal line 66 of the function processor 61, and supplies each signal to the input/output value extraction means 22. , 22 extract the values of the input/output signal lines 65 and 66 given from the function verification result storage device 31, and the value of the input signal line 65 (input cover pattern) is stored in the input cover pattern storage device 3.
3, input/output value extraction means for writing the values (expected values) of the output signal line 66 into the expected value storage device 34, and 23 a connection information storage bag! ! Logic simulation means for reading circuit connection information from 32 and input cover patterns from input cover pattern storage device 33 and performing logic simulation;
24 reads the expected value from the expected value storage device 34, compares it with the result of the logic simulation, and displays it on the display unit 4 such as a CRT.
This is a comparison means that displays the comparison results.

次に動作を第2図のフローチャートに従って説明する。Next, the operation will be explained according to the flowchart shown in FIG.

まず、論理検証を行う機能ブロック61が入力装置1に
より指定されると(ステップ5T4)、入出力信号線選
択手段21は機能ブロック61の入力信号線65及び出
力信号線66を選択する(ステップ5T5)。また、こ
の選択結果に従って入出力値抽出手段22は機能検証結
果記憶装置31から入力信号線65の値(入カバターン
)を抽出して入カバターン記憶装置33に書き込み、か
つ出力信号線66の値(期待値)を抽出して期待値記憶
装置i34に書き込む(ステップ5T6)。
First, when the functional block 61 that performs logic verification is designated by the input device 1 (step 5T4), the input/output signal line selection means 21 selects the input signal line 65 and the output signal line 66 of the functional block 61 (step 5T5). ). Further, according to this selection result, the input/output value extraction means 22 extracts the value of the input signal line 65 (input cover pattern) from the function verification result storage device 31 and writes it into the input cover pattern storage device 33, and also extracts the value of the output signal line 66 ( Expected value) is extracted and written into the expected value storage device i34 (step 5T6).

次に、接続情報記憶装置32から機能ブロック61の回
路接続情報を読み出し、同時に入カバターン記憶装置3
3から入カバターンを読み出して論理シミュレーション
を行う(ステップ5T7)。
Next, the circuit connection information of the functional block 61 is read from the connection information storage device 32, and at the same time
The input cover pattern is read from 3 and a logic simulation is performed (step 5T7).

次に、このシミュレーション結果と期待値記憶装置34
から読み出した期待値とを比較手段24で比較して(ス
テップ5T8)、その結果を表示部4に表示する。
Next, this simulation result and the expected value storage device 34
The comparing means 24 compares the expected value read out from the target value (step 5T8), and displays the result on the display section 4.

このように、論理検証を行う機能ブロックの入カバター
ン及び期待値を、入出力値抽出手段22によって自動抽
出することにより、誤りなく短時間で論理検証を行うこ
とができる。
In this way, by automatically extracting the input pattern and expected value of the functional block for which logic verification is to be performed by the input/output value extracting means 22, logic verification can be performed in a short time without errors.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上にように、この発明によれば、機能ブロックを有す
る全体回路の機能シミュレー ジョンの結果を機能検証
結果記憶装置にて保持し、上記全体回路の検証を行うべ
き機能ブロックの入力値及び出力値を入力装置から入力
し、この入力装置から入力した入力値及び出力値に対応
する入力信号線及び出力信号線を入出力信号線選択手段
により選択し、この入出力信号線選択手段の選択結果に
従って、上記機能検証結果記憶装置から上記機能ブロッ
クの入力値及び出力値を入出力値抽出手段により抽出し
、この入出力値抽出手段により抽出した上記入力値と上
記接続情報とを入力として論理シミュレーション手段に
より論理シミュレーションを行い、この論理シミュレー
ション手段のシミュレーション結果と上記出力値とを比
較手段にて比較するように構成したので、設計者が機能
ブロックのタイミングを考慮してパターンや期待値を作
成する必要がなくなるとともに、精度のよい論理検証を
短期間に実施できるものが得られる効果がある。
As described above, according to the present invention, the results of functional simulation of the entire circuit having functional blocks are held in the functional verification result storage device, and the input values and output values of the functional blocks to be verified for the entire circuit are stored. is input from an input device, the input signal line and output signal line corresponding to the input value and output value input from this input device are selected by the input/output signal line selection means, and according to the selection result of the input/output signal line selection means. , the input value and the output value of the functional block are extracted from the functional verification result storage device by the input/output value extraction means, and the input value and the connection information extracted by the input/output value extraction means are input to the logic simulation means. Since the configuration is configured such that a logic simulation is performed using the logic simulation method and the simulation results of this logic simulation method are compared with the above output value using a comparison means, it is necessary for the designer to create patterns and expected values in consideration of the timing of the functional blocks. This has the effect of eliminating the problem and being able to perform highly accurate logic verification in a short period of time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明の一実施例による論理検証装置を示す
ブロック接続図、第2図はその論理検証装置による論理
検証の動作を説明するフローチャート、第3図は従来の
論理検証装置を示すブロック接続図、第4図は論理検証
の対象となる全体回路を示す模式回路図、第5図は従来
の論理検証の動作を説明するフローチャートである。 1は入力装置、21は入出力信号線選択手段、22は入
出力値抽出手段、23は論理シミュレーション手段、2
4は比較手段、6は全体回路、61〜64は内部機能ブ
ロック、65は入力信号線、66は出力信号線。 なお、 図中、 同一符号は同一、 または相当部分 を示す。 第 1 図 第 図 第 図 第 図 66:記n侶号探 手 続 補 正 書(自 発)
FIG. 1 is a block connection diagram showing a logic verification device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart explaining the operation of logic verification by the logic verification device, and FIG. 3 is a block diagram showing a conventional logic verification device. FIG. 4 is a schematic circuit diagram showing the entire circuit to be subjected to logic verification, and FIG. 5 is a flowchart illustrating the operation of conventional logic verification. 1 is an input device, 21 is an input/output signal line selection means, 22 is an input/output value extraction means, 23 is a logic simulation means, 2
4 is a comparison means, 6 is an entire circuit, 61 to 64 are internal functional blocks, 65 is an input signal line, and 66 is an output signal line. In addition, in the figures, the same symbols indicate the same or equivalent parts. Figure 1 Figure 66: Amendment to registration number search procedure (voluntary)

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 機能ブロックを有する全体回路の機能シミュレーション
結果を保持する機能検証結果記憶装置と、上記全体回路
の検証を行うべき機能ブロックの入力値および出力値を
入力する入力装置と、この入力装置から入力した入力値
および出力値に対応する入力信号線及び出力信号線を選
択する入出力信号線選択手段と、この入出力信号線選択
手段の選択結果に従って、上記機能検証結果記憶装置か
ら上記機能ブロックの入力値及び出力値を抽出する入出
力値抽出手段と、この入出力値抽出手段により抽出した
上記入力値と上記接続情報とを入力として論理シミュレ
ーションを行う論理シミュレーション手段と、この論理
シミュレーション手段のシミュレーション結果と上記出
力値とを比較する比較手段とを備えた論理検証装置。
A functional verification result storage device that holds functional simulation results of an overall circuit having functional blocks, an input device that inputs input values and output values of the functional blocks to be verified for the overall circuit, and inputs input from this input device. input/output signal line selection means for selecting input signal lines and output signal lines corresponding to values and output values; and input values of the functional block from the function verification result storage device according to the selection results of the input/output signal line selection means. and an input/output value extraction means for extracting an output value; a logic simulation means for performing a logic simulation using the input value extracted by the input/output value extraction means and the connection information as input; and a simulation result of the logic simulation means. and a comparison means for comparing the output value with the output value.
JP1339366A 1989-12-27 1989-12-27 Logical inspecting device Pending JPH03198159A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701443A (en) * 1993-07-29 1997-12-23 Hitachi, Ltd. System for evaluating the results of logic simulation

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701443A (en) * 1993-07-29 1997-12-23 Hitachi, Ltd. System for evaluating the results of logic simulation

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