JPH03196103A - 少なくとも1つの導波路カプラーを備えた装置 - Google Patents
少なくとも1つの導波路カプラーを備えた装置Info
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- JPH03196103A JPH03196103A JP2323359A JP32335990A JPH03196103A JP H03196103 A JPH03196103 A JP H03196103A JP 2323359 A JP2323359 A JP 2323359A JP 32335990 A JP32335990 A JP 32335990A JP H03196103 A JPH03196103 A JP H03196103A
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/28—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals
- G02B6/2804—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals forming multipart couplers without wavelength selective elements, e.g. "T" couplers, star couplers
- G02B6/2821—Optical coupling means having data bus means, i.e. plural waveguides interconnected and providing an inherently bidirectional system by mixing and splitting signals forming multipart couplers without wavelength selective elements, e.g. "T" couplers, star couplers using lateral coupling between contiguous fibres to split or combine optical signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
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- G01B9/02075—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration of particular errors
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- G01B9/02079—Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals
- G01B9/02081—Quadrature detection, i.e. detecting relatively phase-shifted signals simultaneous quadrature detection, e.g. by spatial phase shifting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/353—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre
- G01D5/35303—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells influencing the transmission properties of an optical fibre using a reference fibre, e.g. interferometric devices
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は少なくとも1つのの導波路カプラーを備えた装
置にして、その入力に供給される光線束が干渉させられ
そしてその出力に相互に位相のずらされた電気信号を発
生するための検出器が設けられている前記装置に関する
。
置にして、その入力に供給される光線束が干渉させられ
そしてその出力に相互に位相のずらされた電気信号を発
生するための検出器が設けられている前記装置に関する
。
この種の導波路カプラーは少なくとも2つの入力と少な
くとも2つの出力を有しかつそれによって2×2−カプ
ラー、2×3−カプラー、2×4カプラー、3×3カプ
ラー等と称される。
くとも2つの出力を有しかつそれによって2×2−カプ
ラー、2×3−カプラー、2×4カプラー、3×3カプ
ラー等と称される。
(従来の技術)
しかし2つの入力と2つの出力とを備えたそのような2
×2カプラー(西独国特許公開後方第3609507号
)は、測定方向の弁別のための相互に180’には等し
くない角度だけ位相のずれた、例えば90″位相のずれ
た2つの電気信号が得られるべき場合には、2つの対象
物の相対位置の測定のための光電的位置測定装置では使
用できない、そのわけは2×2カプラーの再出力には第
2の検出器によって原理的に1800の相互の位相のず
れた2の電気信号のみしか発生されることができないか
らである。
×2カプラー(西独国特許公開後方第3609507号
)は、測定方向の弁別のための相互に180’には等し
くない角度だけ位相のずれた、例えば90″位相のずれ
た2つの電気信号が得られるべき場合には、2つの対象
物の相対位置の測定のための光電的位置測定装置では使
用できない、そのわけは2×2カプラーの再出力には第
2の検出器によって原理的に1800の相互の位相のず
れた2の電気信号のみしか発生されることができないか
らである。
従って測定方向の弁別のために光電位置測定装置では、
その出力が相互に1000位相のずれた3つの電気的信
号が得られることができる、西独国特許明細書3625
327号による2×2カプラー又はその4つの出力が相
互に90°位相のずれた90’位相のずれた4つの電気
的信号が得られる2×4カプラーが使用される。しかし
2つ以上の出力を備えたこれらの導波路カプラーは2つ
の決定的な欠点を有する。第1の欠点はカップラー特性
の変更(例えば製造量変動による)の際変調度及び出力
信号の間の位相関係が影響されることそして第2の欠点
は導波路カプラーの再入力での両信号の振幅の相対的変
化、変調度の変化及び出力信号の間の位相関係の変化を
作用する。
その出力が相互に1000位相のずれた3つの電気的信
号が得られることができる、西独国特許明細書3625
327号による2×2カプラー又はその4つの出力が相
互に90°位相のずれた90’位相のずれた4つの電気
的信号が得られる2×4カプラーが使用される。しかし
2つ以上の出力を備えたこれらの導波路カプラーは2つ
の決定的な欠点を有する。第1の欠点はカップラー特性
の変更(例えば製造量変動による)の際変調度及び出力
信号の間の位相関係が影響されることそして第2の欠点
は導波路カプラーの再入力での両信号の振幅の相対的変
化、変調度の変化及び出力信号の間の位相関係の変化を
作用する。
(発明の課題)
本発明は冒頭に記載した種類の少なくとも1つの導波路
カプラーを備えた装置において簡単な手段で出力に18
0”でない相互の位相のずれを備えた少なくとも2つの
電気的信号を発生させることを課題とする。
カプラーを備えた装置において簡単な手段で出力に18
0”でない相互の位相のずれを備えた少なくとも2つの
電気的信号を発生させることを課題とする。
(課題の解決のための手段)
本発明の課題は導波路カプラー°の出力に180に等し
くない角度相互に位相がずれた少なくとも2つの電気信
号の発生のために減衰要素が設けられていることによっ
て解決される。
くない角度相互に位相がずれた少なくとも2つの電気信
号の発生のために減衰要素が設けられていることによっ
て解決される。
(発明の効果)
本発明によって得られた利点は特に、少なくとも1つの
の減衰要素又は少なくとも1つの位相をずらせる要素の
存在によって少なくとも1つの2×2カプラーにおいて
簡単な方法でその再出力に180@ではない位相のずれ
た2つの電気的信号が検出器によって発生されることが
でき、その結果この2×2カプラーは測定方向の弁別が
必要である位置測定装置に使用されることができる。
の減衰要素又は少なくとも1つの位相をずらせる要素の
存在によって少なくとも1つの2×2カプラーにおいて
簡単な方法でその再出力に180@ではない位相のずれ
た2つの電気的信号が検出器によって発生されることが
でき、その結果この2×2カプラーは測定方向の弁別が
必要である位置測定装置に使用されることができる。
本発明の有利な構成は他の請求項から得られる。
(実施例)
第1図に2つの入力E、いElmと2つの出力A。
m % Alm とを有する組み込まれた2×2光学的
カプラーに、の形の導波路カプラーを備えた第1の装置
が記載されている。第1の入力E1mには第1の連結格
子Gl+aを介して第1の光線束B1mの形の第1の光
線束がそして第2の入力Elkには第2の連結格子Gl
bを介して第2の光線束B1mの形の第2の第2の光線
束が供給される。両回掛売B+−、B+、は例えば西独
間特許明細書3625327号に記載された2つの対象
物の相対位置の測定のための図示しない位置測定装置に
供給される。連結は光学繊維によっても可能である。カ
プラーはIOC例えばマツハツエンダ干渉計の構成部分
であり得る。
カプラーに、の形の導波路カプラーを備えた第1の装置
が記載されている。第1の入力E1mには第1の連結格
子Gl+aを介して第1の光線束B1mの形の第1の光
線束がそして第2の入力Elkには第2の連結格子Gl
bを介して第2の光線束B1mの形の第2の第2の光線
束が供給される。両回掛売B+−、B+、は例えば西独
間特許明細書3625327号に記載された2つの対象
物の相対位置の測定のための図示しない位置測定装置に
供給される。連結は光学繊維によっても可能である。カ
プラーはIOC例えばマツハツエンダ干渉計の構成部分
であり得る。
カプラーに1の連結範囲2aに入力Ela 、 F、l
b、に供給される光学的信号が干渉させられる。この吸
収しないカプラーの再出力A、a 、 A、bに原理的
に雨検出器ova 、Dlkにより相互に180 ”位
相のずれた2つの電気信号S1m 、Slbが発生され
る。
b、に供給される光学的信号が干渉させられる。この吸
収しないカプラーの再出力A、a 、 A、bに原理的
に雨検出器ova 、Dlkにより相互に180 ”位
相のずれた2つの電気信号S1m 、Slbが発生され
る。
両電気信号S、、、S14の間に180@に等しくない
位相のずれ、好ましくは測定方向の弁別のための90°
の相互に位相ずれの発生のために、本発明によれば連結
範囲×1に減衰要素Tが設けられている、この減衰要素
は両電気信号S1m 、Slkの間の180 °に等し
くない所望の反対方向の位相のずれを損失誘導によって
作用する減衰要素Tが設けられている。この減衰要素T
は例えば腐食された表面、吸収する層、光電要素又は放
出格子の形の放出する要素から成ることができる。
位相のずれ、好ましくは測定方向の弁別のための90°
の相互に位相ずれの発生のために、本発明によれば連結
範囲×1に減衰要素Tが設けられている、この減衰要素
は両電気信号S1m 、Slkの間の180 °に等し
くない所望の反対方向の位相のずれを損失誘導によって
作用する減衰要素Tが設けられている。この減衰要素T
は例えば腐食された表面、吸収する層、光電要素又は放
出格子の形の放出する要素から成ることができる。
この減衰原理は2つ以上の出力を備えた導波路カプラー
にも適用されることができる。
にも適用されることができる。
第2図には2つの入力Eza 、 E、bと2つの出力
Ata% Azbとを有する組み込まれた形の2×2の
光学的カプラーに2を備えた第2の装置が記載されてい
る。第1の入力Etには第1bの連結格子G1を介して
第1の光線束B、の形の第1の光線束が2つの対角線の
偏光状態、即ちTEモードと7Mモードで供給され、そ
して第2の入力Etbには第2の入力り、を介して第2
0の回折光13zbの形の第2の光線束が同様に2つの
対角線の偏光状態、即ちTI!モードと7Mモードで供
給される。
Ata% Azbとを有する組み込まれた形の2×2の
光学的カプラーに2を備えた第2の装置が記載されてい
る。第1の入力Etには第1bの連結格子G1を介して
第1の光線束B、の形の第1の光線束が2つの対角線の
偏光状態、即ちTEモードと7Mモードで供給され、そ
して第2の入力Etbには第2の入力り、を介して第2
0の回折光13zbの形の第2の光線束が同様に2つの
対角線の偏光状態、即ちTI!モードと7Mモードで供
給される。
第1の入力E、aとカプラーに2の連結範囲×2との間
には位相を変える要素Pが設けられており、位相を変え
る要素はTEモードと7Mモードの位相を相互に位相角
度φ(特に90°)ずらせる。連結範囲X2には入力E
xa % Etbに供給される光学的信号がその両部光
状態において干渉させられる。カプラーに!の第1の出
力へ2には第1の偏光を感じる検出器D0によってTE
モードから成る第1の電気信号SZaがそして第3の偏
光を感じる検出器Decによって7Mモードから成る第
3の電気信号hCが発生される。第1の電気信号SZa
と第3の電気信号S20との間相互に位相ずれφが存在
する。同様なことが第2の出力A、aに第2の偏光を感
じる検出器ozbによってTEモードから成る第2の電
気信号がそして第4の偏光に感じる検出器D□によって
7Mモードから成る第4の電気信号が発生する。第2の
電気信号S。と第4の電気信号St4との間に同様に相
互に位相ずれφが生じる。第1の電気信号szmと第2
の電気信号S!bとの間及び第3の電気信号と第4の電
気信号との間にそれによって相互に位相のずれφ・90
″が生じる。φ=90 ”の位相ずれでは4つの電気信
号S!、〜S□がそして位相位’lsz、 = O、S
tc・90 ” 、Szb =180°及びSt、・2
70 °を有し、その結果測定方向の弁別が可能にされ
る。
には位相を変える要素Pが設けられており、位相を変え
る要素はTEモードと7Mモードの位相を相互に位相角
度φ(特に90°)ずらせる。連結範囲X2には入力E
xa % Etbに供給される光学的信号がその両部光
状態において干渉させられる。カプラーに!の第1の出
力へ2には第1の偏光を感じる検出器D0によってTE
モードから成る第1の電気信号SZaがそして第3の偏
光を感じる検出器Decによって7Mモードから成る第
3の電気信号hCが発生される。第1の電気信号SZa
と第3の電気信号S20との間相互に位相ずれφが存在
する。同様なことが第2の出力A、aに第2の偏光を感
じる検出器ozbによってTEモードから成る第2の電
気信号がそして第4の偏光に感じる検出器D□によって
7Mモードから成る第4の電気信号が発生する。第2の
電気信号S。と第4の電気信号St4との間に同様に相
互に位相ずれφが生じる。第1の電気信号szmと第2
の電気信号S!bとの間及び第3の電気信号と第4の電
気信号との間にそれによって相互に位相のずれφ・90
″が生じる。φ=90 ”の位相ずれでは4つの電気信
号S!、〜S□がそして位相位’lsz、 = O、S
tc・90 ” 、Szb =180°及びSt、・2
70 °を有し、その結果測定方向の弁別が可能にされ
る。
これらの第2の装置はカプラーに2の連結特性の偏光又
は入力信号の振幅変化が変調度のみを変えるが、再出力
^、a 、 A、bにおける4つの電気信号S、〜S、
の間の相互の位相位置を変えない。
は入力信号の振幅変化が変調度のみを変えるが、再出力
^、a 、 A、bにおける4つの電気信号S、〜S、
の間の相互の位相位置を変えない。
第3図はそれぞれ2つの入力E、a % ElいEtc
、E14並びにそれぞれ2つの出力Q1.、Alb、八
。
、E14並びにそれぞれ2つの出力Q1.、Alb、八
。
C% 1114を有する2つの2×2のカプラーKo1
Klbの形の相互に直列に接続された2つの導嵐路カプ
ラーを備えた第3の装置を示す。第1のカプラーに3m
の第1の入力E3mには第1の連結格子G。
Klbの形の相互に直列に接続された2つの導嵐路カプ
ラーを備えた第3の装置を示す。第1のカプラーに3m
の第1の入力E3mには第1の連結格子G。
、を介して第1の回折光B。の形の第1の光線束がそし
て第2の出力Bibには第2の連結格子G。
て第2の出力Bibには第2の連結格子G。
を介して第2の回折光83bの形の第2の光線束が供給
される。
される。
第1のカプラーKpmの連結範囲X3mには入力Ea
、E:lbに供給される光学的信号が干渉させられる。
、E:lbに供給される光学的信号が干渉させられる。
第1のカプラーに3mの再出力^+a 、Albには光
の一部分が放出されかつ第1の電気信号53aのは発生
のための第1の検出n o !−にそして第2の電気信
号53bの発生のための第1の検出器03bに供給され
、これらの電気的信号相互には180 °の相互に位
相のずれがある。この部分的な放出のために両検出器り
。% D:lbは直接第1のカプラーK。
の一部分が放出されかつ第1の電気信号53aのは発生
のための第1の検出n o !−にそして第2の電気信
号53bの発生のための第1の検出器03bに供給され
、これらの電気的信号相互には180 °の相互に位
相のずれがある。この部分的な放出のために両検出器り
。% D:lbは直接第1のカプラーK。
、の出力A3s 、1llbで光導波路に供給される。
しかしこの部分的連結は図示しない放出格子によっても
行われることができる。
行われることができる。
第2のカプラーに3bZの第1の入力E3cとその連結
範囲X。との間に位相をずらす要素Uが設けられており
、この要素は第2のカプラーに31の両入力E3e %
E14に入力される両残りの光学的信号の間に相互に
位相のずれを作用する。両残りの光学的信号は連結範囲
xhにおいて改めて干渉させられ、その結果第2のカプ
ラーに3にの第1の出力^。
範囲X。との間に位相をずらす要素Uが設けられており
、この要素は第2のカプラーに31の両入力E3e %
E14に入力される両残りの光学的信号の間に相互に
位相のずれを作用する。両残りの光学的信号は連結範囲
xhにおいて改めて干渉させられ、その結果第2のカプ
ラーに3にの第1の出力^。
、に第3の検出器1113cによって第3の電気信号S
。
。
。がそして第2の出力A3dには相互に180 ”位相
のずれた第4の電気信号S、が発生される。位相をずら
す要素Uは第1の電気信号S’mと第3の電気信号5f
fcとの間及び第2の電気信号’8bと第4の電気信号
S3dとの間に相互に位相のずれφを作用する。位相の
ずれφ=900では4つの信号S。
のずれた第4の電気信号S、が発生される。位相をずら
す要素Uは第1の電気信号S’mと第3の電気信号5f
fcとの間及び第2の電気信号’8bと第4の電気信号
S3dとの間に相互に位相のずれφを作用する。位相の
ずれφ=900では4つの信号S。
〜SSdは位相位置S3− J 、53c・90
、Szb・180°、’84 = 270 ”であり
、その結果測定方向の弁別が可能にされる。位相のずれ
φは第2のカプラーに1.の両入力E3c % E3d
における両扉波路カプラーの相異なる長さ又は相異なる
幾何学的な形によってつくられることができる。
、Szb・180°、’84 = 270 ”であり
、その結果測定方向の弁別が可能にされる。位相のずれ
φは第2のカプラーに1.の両入力E3c % E3d
における両扉波路カプラーの相異なる長さ又は相異なる
幾何学的な形によってつくられることができる。
第4図は同一の符号を備えた第3図による第3の装置の
変形である。再回折光B3m 、B2’>の第1のカプ
ラーに1.の再出力^2b 、A31&への部分的連結
は、画筆1の検出器D3a、D3bと接続している他の
カプラーに2c % K3dによって行われる。
変形である。再回折光B3m 、B2’>の第1のカプ
ラーに1.の再出力^2b 、A31&への部分的連結
は、画筆1の検出器D3a、D3bと接続している他の
カプラーに2c % K3dによって行われる。
位相のずれた他の電気信号の発生のために他のカプラー
が直列に接続されることができる。
が直列に接続されることができる。
第1図は2つの検出器と1つの減衰要素とを備えた2×
2カプラーを備えた第1の装置、第2図は4つの検出器
と1つの位相をずらす要素とを備えた2×2カプラーを
備えた第2の装置、第3図は4つの検出器と1つの位相
をずらす要素とを備えた直列に配設されている2つの2
×2カプラーを備えた第3の装置、そして第4図は第3
図による第3の装置の変形を示す図である。 図中符号 八1m % A14 ・・・・出力 Az@ s、 A tb・・・・出力 Bzm 、Btb ・・・・光線束 Dta 、Dtc ; Dtb −、Ova検出器o:
Ia s D3b ・・・・・検出器Eta 、Ez
b ・・・・入力 に1・・・・・・・・導波路カプラ ーffa、K3b・・・・導波路カプラー5lit、S
o ・・・・電気信号 S gイSzc :5tbs Sta電気信号S3@
、5311 ・・・・電気信号T・・・・・・・・減
衰要素
2カプラーを備えた第1の装置、第2図は4つの検出器
と1つの位相をずらす要素とを備えた2×2カプラーを
備えた第2の装置、第3図は4つの検出器と1つの位相
をずらす要素とを備えた直列に配設されている2つの2
×2カプラーを備えた第3の装置、そして第4図は第3
図による第3の装置の変形を示す図である。 図中符号 八1m % A14 ・・・・出力 Az@ s、 A tb・・・・出力 Bzm 、Btb ・・・・光線束 Dta 、Dtc ; Dtb −、Ova検出器o:
Ia s D3b ・・・・・検出器Eta 、Ez
b ・・・・入力 に1・・・・・・・・導波路カプラ ーffa、K3b・・・・導波路カプラー5lit、S
o ・・・・電気信号 S gイSzc :5tbs Sta電気信号S3@
、5311 ・・・・電気信号T・・・・・・・・減
衰要素
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、少なくとも1つのの導波路カプラーを備えた装置に
して、その入力に供給される光線束が干渉させられそし
てその出力に相互に位相のずらされた電気信号を発生す
るための検出器が設けられている前記装置において、導
波路カプラー(K_1)の出力(A_1_a、A_1_
b)に180゜に等しくない角度相互に位相がずれた少
なくとも2つの電気信号(S_1_a、S_1_b)の
発生のために光の強度を減少させる少なくとも1つの減
衰要素(T)が設けられていることを特徴とする前記装
置。 2、少なくとも1つの導波路カプラーを備えた装置にし
て、その入力に供給される光線束が干渉させられそして
その出力に相互に位相のずらされた電気信号を発生する
ための検出器が設けられている前記装置において、 180゜に等しくない角度相互に位相がずれた少なくと
も2つの電気信号(S_2_a、S_2_c;S_2_
b、S_2_d)の発生のために入力(E_2_a、B
_2_b)に供給される光線束(B_2_a、B_2_
b)が2つの対角線に極性化されたTE−/TM−モー
ドで供給され、少なくとも1つの入力(E_2_a)に
光線束(B_2_a、B_2_b)のTE−/TM−モ
ードの位相を相異なる位相にずらせる要素(P)が設け
られており、そして出力(A_2_a、A_2_b)に
各モードのためのそれぞれ1つの検出器(D_2_a、
D_2_c;D_2_b、D_2_d)設けられている
ことを特徴とする前記装置。 3、少なくとも1つの導波路カプラーを備えた装置にし
て、その入力に供給される光線束が干渉させられそして
その出力に相互に位相のず らされた電気信号を発生するための検出器が設けられて
いる前記装置において、 180゜に等しくない角度相互に位相がずれた少なくと
も2つの電気信号(S_2_a、S_2_c、S_2_
b、S_2_d)の発生のために少なくとも2つの直列
に相互に接続された導波路カプラー(K_3_aK_3
_b)が設けられており、第1の導波路カプラー(K_
3_a)の出力(A_3_a、A_3_b)に第1の電
気信号(S_3_a、S_3_b)の発生のための第1
の検出器(D_3_aD_3_b)が設けられており、
第2の導波路カプラー(K_3_b)の少なくとも1つ
の入力(E_3_c)に位相をずらす要素(U)が設け
られておりそして第2の導波路カプラー(K_3_b)
の出力(A_3_c、A_3_d)に電気信号(S_3
_c、S_3_d)の発生のための第2の検出器(D_
3_c、D_3_d)が配設されていることを特徴とす
る前記装置。 4、少なくとも1つの導波路カプラー(K)が2つの入
力(E_a、E_b)と2つの出力(A_a、A_b;
A_c、A_d)とを備えた2×2カプラーから成る、
請求項1から3までのうちのいずれか一記載の装置。 5、減衰要素(T)が導波路カプラー(K_1)の連結
範囲(X_1)に配設される請求項1記載の装置。 6、減衰要素(T)が吸収層、光電要素又は放出要素か
ら成る、請求項1記載の装置。 7、導波路カプラー(K)の入力(E_a、E_b)に
光線束(B_a、B_b)のための連結格子(G_a、
G_b)が設けられている、請求項1から3までのうち
のいずれか一記載の装置。 8、第1導波路カプラー(K_3_a)の出力(A_3
_a、A_3_b)に第1の検出器(D_3_a、D_
3_b)と結合しているたの導波路カプラー(K_3_
c、K_3_d)が配設されている、請求項3記載の装
置。 9、光電位置測定装置に請求項1記載の装置を使用する
方法。
Applications Claiming Priority (2)
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