JPH03194839A - 電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点収差補正方法 - Google Patents
電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点収差補正方法Info
- Publication number
- JPH03194839A JPH03194839A JP1332753A JP33275389A JPH03194839A JP H03194839 A JPH03194839 A JP H03194839A JP 1332753 A JP1332753 A JP 1332753A JP 33275389 A JP33275389 A JP 33275389A JP H03194839 A JPH03194839 A JP H03194839A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- astigmatism
- function
- value
- electron microscope
- amount
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 title claims abstract description 46
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 230000006870 function Effects 0.000 claims abstract description 33
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 6
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 2
- 235000021438 curry Nutrition 0.000 abstract 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/22—Optical or photographic arrangements associated with the tube
- H01J37/222—Image processing arrangements associated with the tube
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子顕微鏡における透過像や走査像の焦点調整
及び非点収差補正方法並びに該装置に関するものである
。
及び非点収差補正方法並びに該装置に関するものである
。
電子顕微鏡において、高分解能像(高倍率像)を観察・
撮影するには最適な焦点調整・非点収差補正が必要とさ
れている。しかし、これらの操作は非常に難しく熟練を
要する。近年、このような操作者への負担を軽減するた
めに自動焦点調整・自動非点収差補正装置の期待が高ま
っており、いくつかの手法が提案されている。
撮影するには最適な焦点調整・非点収差補正が必要とさ
れている。しかし、これらの操作は非常に難しく熟練を
要する。近年、このような操作者への負担を軽減するた
めに自動焦点調整・自動非点収差補正装置の期待が高ま
っており、いくつかの手法が提案されている。
その一つの手段は、電子顕微鏡によって得られる画像の
統計的分散を利用しこれが焦点ずれ量または非点収差量
の関数としてどのような特性を持っているかを検討し、
これによって自動焦点調整。
統計的分散を利用しこれが焦点ずれ量または非点収差量
の関数としてどのような特性を持っているかを検討し、
これによって自動焦点調整。
自動非点収差補正を行うものである。またもう一つの手
段は、照射ビームを傾斜させることによって生じる像の
ずれ量を利用して、同様の目的を達成させるためのもの
である。しかし、特に透過形電子顕微鏡においては検出
感度や下記のような高倍率における問題などから実用化
が難しいものであった。透過形電子顕微鏡の高倍率にお
いては、位相コントラストが問題となり観察対象となる
構造の大きさが焦点ずれ量で異なるのである。従って画
像の周波数特性を見ながらの焦点調整が不可欠である。
段は、照射ビームを傾斜させることによって生じる像の
ずれ量を利用して、同様の目的を達成させるためのもの
である。しかし、特に透過形電子顕微鏡においては検出
感度や下記のような高倍率における問題などから実用化
が難しいものであった。透過形電子顕微鏡の高倍率にお
いては、位相コントラストが問題となり観察対象となる
構造の大きさが焦点ずれ量で異なるのである。従って画
像の周波数特性を見ながらの焦点調整が不可欠である。
更にもう一つの例は、電子顕微鏡によって得られた像を
(二次元)、フーリエ変換した結果により焦点のずれ量
、非点収差量を測定する方法を提示している。他のもう
一つの例では二次元のフーリエ変換の代わりに、処理速
度向上、メモリエリアの節約等の改善のために二次元の
画像を一次元に圧縮し、これを一次元フーリエ変換し、
焦点調整や非点収差補正に有効であることを指差してい
る。
(二次元)、フーリエ変換した結果により焦点のずれ量
、非点収差量を測定する方法を提示している。他のもう
一つの例では二次元のフーリエ変換の代わりに、処理速
度向上、メモリエリアの節約等の改善のために二次元の
画像を一次元に圧縮し、これを一次元フーリエ変換し、
焦点調整や非点収差補正に有効であることを指差してい
る。
しかし上記最後の2つの例では1画像を二次元或いは一
次元フーリエ変換することにより、焦点ずれ量や非点収
差係数等の情報を導出または画像とフーリエ変換との対
比に留まっており、自動焦点調整または自動非点収差補
正を行う上で、どのように焦点調整用電子レンズの電流
や非点収差補正装置の補正電流を制御するかについて考
慮されていない。
次元フーリエ変換することにより、焦点ずれ量や非点収
差係数等の情報を導出または画像とフーリエ変換との対
比に留まっており、自動焦点調整または自動非点収差補
正を行う上で、どのように焦点調整用電子レンズの電流
や非点収差補正装置の補正電流を制御するかについて考
慮されていない。
本発明の目的は、自動的に正焦点位置にまたは自動的に
非点収差補正を行うための最適な方法及び装置を提供す
ることにある。
非点収差補正を行うための最適な方法及び装置を提供す
ることにある。
上記目的を達成するためには、次のようにして導出する
値を焦点ずれ量や非点収差量の関数として求め、該関数
が形づくる曲線のほぼ対称となる位置を正焦点または非
点収差量が最小であるという特性を利用し自動の焦点調
整や非点収差補正を可能としたものである。ここで導出
しなければならない値とは、電子顕微鏡によって得られ
た画像の成因形の範囲内だけで二次元強度分布を或一次
元方向に沿って強度を積算し、該積算した関数に一次元
フーリエ変換を施し、フーリエ変換後の関数を積算して
得る値である。またさらに、円形の範囲内の画像を回転
させ、同様に一次元への画像圧縮(積算)、フーリエ変
換、その積算値を様々な回転に対して行い、該積算値の
総和または平均値を上記の導出すべき値としても用いる
ことも有効である。
値を焦点ずれ量や非点収差量の関数として求め、該関数
が形づくる曲線のほぼ対称となる位置を正焦点または非
点収差量が最小であるという特性を利用し自動の焦点調
整や非点収差補正を可能としたものである。ここで導出
しなければならない値とは、電子顕微鏡によって得られ
た画像の成因形の範囲内だけで二次元強度分布を或一次
元方向に沿って強度を積算し、該積算した関数に一次元
フーリエ変換を施し、フーリエ変換後の関数を積算して
得る値である。またさらに、円形の範囲内の画像を回転
させ、同様に一次元への画像圧縮(積算)、フーリエ変
換、その積算値を様々な回転に対して行い、該積算値の
総和または平均値を上記の導出すべき値としても用いる
ことも有効である。
第1図に焦点ずれ量(ΔZ)と前述の積算値の総和(I
)の関係を実験によって得た結果を示す。
)の関係を実験によって得た結果を示す。
第1図において、縦軸、横軸とも正規化している。
また、像の回転は15°毎の24方向で行なっておりバ
ンドパスフィルタリングを行なっている。
ンドパスフィルタリングを行なっている。
つまり一次元フーリエ変換した関数を空間周波数に対し
て最大周波数の12%から56%までの範囲で積算した
値で或回転θ1に対しての積算値を第1図よりわかるよ
うに極小値をとっている位置は、この関数の曲線のほぼ
対称位置であり正焦点位置である。
て最大周波数の12%から56%までの範囲で積算した
値で或回転θ1に対しての積算値を第1図よりわかるよ
うに極小値をとっている位置は、この関数の曲線のほぼ
対称位置であり正焦点位置である。
第1図同様に非点収差(ΔAx)に対しての実験結果を
第2図に示します。第1図同様、第2図においても各軸
は正規化され、フィルタリングされている。第2図より
わかるように極小値をとっている位置は、この関数の曲
線のほぼ対称位置であり非点収差量が最小の位置となっ
ている。
第2図に示します。第1図同様、第2図においても各軸
は正規化され、フィルタリングされている。第2図より
わかるように極小値をとっている位置は、この関数の曲
線のほぼ対称位置であり非点収差量が最小の位置となっ
ている。
また第1図における最大値(極値)は5cherzer
フオーカスと言われる最適なdefocus量であり位
相コントラストが最もよくなる焦点位置である。
フオーカスと言われる最適なdefocus量であり位
相コントラストが最もよくなる焦点位置である。
第1図のような焦点ずれ量の関数は焦点を決める電子レ
ンズの励磁電流を或一定倍に変化させ、その都度、画像
を取込み前述のように一次元方向に画像の強度を積算し
、それをフーリエ変換し更に該関数を積算した値を画像
の回転に対してそれぞれ行い、それらの回転角に対して
の値を全て、更に積算した値を電流の変化毎に求める。
ンズの励磁電流を或一定倍に変化させ、その都度、画像
を取込み前述のように一次元方向に画像の強度を積算し
、それをフーリエ変換し更に該関数を積算した値を画像
の回転に対してそれぞれ行い、それらの回転角に対して
の値を全て、更に積算した値を電流の変化毎に求める。
以上の手順によって求められる各焦点ずれ量に対しての
積算値の関数より、該関数が形づくる曲線の対称となる
位置を求め、その位置の値に焦点電流を設定すると自動
的に焦点を調整することができる。
積算値の関数より、該関数が形づくる曲線の対称となる
位置を求め、その位置の値に焦点電流を設定すると自動
的に焦点を調整することができる。
第2図における非点収差量の関数も同様の手順で非点収
差補正装置の補正電流を変化させて行えば自動的に非点
収差補正することができる。
差補正装置の補正電流を変化させて行えば自動的に非点
収差補正することができる。
第3図は本発明の一実施例を示したものである。
まず画像の処理の流れからこの図を用いて以下、説明す
る。
る。
画像は透過形電子顕微鏡1の場合と走査路電子顕微鏡2
の場合があり、4により選択可能である。
の場合があり、4により選択可能である。
前者の画像の場合には最終像を透過形の螢光板上に結像
させ、これをTVカメラ1を用い撮影し電気信号に変換
し、画像信号としている。後者は直接TVモードでの画
像信号またはスロースキャンによる画像信号としてA/
D変換器2を介して、フレームメモリ(RAM)5に取
込まれる。入力された画像はノイズ除去の為、必要に応
じてアキュームレータ6によって積算され静止画像とし
てフレームメモリ5に格納される。
させ、これをTVカメラ1を用い撮影し電気信号に変換
し、画像信号としている。後者は直接TVモードでの画
像信号またはスロースキャンによる画像信号としてA/
D変換器2を介して、フレームメモリ(RAM)5に取
込まれる。入力された画像はノイズ除去の為、必要に応
じてアキュームレータ6によって積算され静止画像とし
てフレームメモリ5に格納される。
フレームメモリ7はCRT上に表示するためのバッファ
(VIDEORAM) であり、取込マれたまたは、処
理された画像データが格納され、このデータを表示する
。フレームメモリ5中の画像は、サンプリング回路10
によって指定されたベクトルの方向、指定された拡大・
縮小率や中心位置をもって円形の像としてサンプリング
される。
(VIDEORAM) であり、取込マれたまたは、処
理された画像データが格納され、このデータを表示する
。フレームメモリ5中の画像は、サンプリング回路10
によって指定されたベクトルの方向、指定された拡大・
縮小率や中心位置をもって円形の像としてサンプリング
される。
上記指定はコンピュータ9cによって行われる。
このサンプリングされた画像はそのエツジ部分によるア
ートファクトを防ぐため、ロジック回路11によってウ
ィンドーがかけられる0次に一次元方向へ一次元プロジ
エクタ12によって画像が圧縮(プロジェクト)される
、すなわち一次元プロジェクタでは二次元配列である画
像データを行または列によって積算し、一次元のデータ
として圧縮する。この一次元に圧縮されたデータは一次
元FFT13にかけられ、計算されたスペクトルは14
に格納されて入力画像と同様にCRT上に表示すること
もできる。また上記のスペクトルはコンピュータ9Cに
よっていつでも読出しが可能である。
ートファクトを防ぐため、ロジック回路11によってウ
ィンドーがかけられる0次に一次元方向へ一次元プロジ
エクタ12によって画像が圧縮(プロジェクト)される
、すなわち一次元プロジェクタでは二次元配列である画
像データを行または列によって積算し、一次元のデータ
として圧縮する。この一次元に圧縮されたデータは一次
元FFT13にかけられ、計算されたスペクトルは14
に格納されて入力画像と同様にCRT上に表示すること
もできる。また上記のスペクトルはコンピュータ9Cに
よっていつでも読出しが可能である。
ここで、透過形電子顕微鏡1や、走査路電子顕微鏡2は
それぞれの制御コンピュータ9a、9bによって取込み
画像の焦点を可変すなわち焦点調整用電子レンズの電流
がコントロールされており、コンピュータ9cと通信に
よって接続されている。
それぞれの制御コンピュータ9a、9bによって取込み
画像の焦点を可変すなわち焦点調整用電子レンズの電流
がコントロールされており、コンピュータ9cと通信に
よって接続されている。
また各々コンピュータ9a、9bは、非点収差補正装置
の励磁電流をもコントロールしている。従ってコンピュ
ータ9Cの指示によって1,2の焦点、非点収差補正を
制御できる構成となっている。
の励磁電流をもコントロールしている。従ってコンピュ
ータ9Cの指示によって1,2の焦点、非点収差補正を
制御できる構成となっている。
以上の様な構成において、自動的に正焦点または非点収
差補正を行うことについて以下に説明する。焦点または
非点収差補正装置の励磁電流をΔZまたはAAxずつ変
化させ、その都度、前述のようにして得られる一次元フ
ーリエ変換後の関数を積算した値Iを求め、第1図また
は第2図で示すような曲線を求める。この曲線より次式
で示すような相互相関数W(y)が最大となるZまたは
Axを求めその位置を正焦点または非点収差補正が最小
として各電流を設定する。
差補正を行うことについて以下に説明する。焦点または
非点収差補正装置の励磁電流をΔZまたはAAxずつ変
化させ、その都度、前述のようにして得られる一次元フ
ーリエ変換後の関数を積算した値Iを求め、第1図また
は第2図で示すような曲線を求める。この曲線より次式
で示すような相互相関数W(y)が最大となるZまたは
Axを求めその位置を正焦点または非点収差補正が最小
として各電流を設定する。
ここで工は工の平均値であり、対称中心がZ′(または
Ax’ )であるとするとu=22’ (または2A
x’ )のときW(y)が最大となる。
Ax’ )であるとするとu=22’ (または2A
x’ )のときW(y)が最大となる。
以上のような手順でZ、Axを求め、コンピュータ9C
より、通信で正焦点電流または非点収差補正電流を設定
することによって、自動的に正焦点または非点収差補正
を行うことができる。
より、通信で正焦点電流または非点収差補正電流を設定
することによって、自動的に正焦点または非点収差補正
を行うことができる。
本発明によれば、電子顕微鏡における焦点調整。
非点収差補正が精度よく自動的に行うことができ、且つ
短時間で行うことができるので電子顕微鏡における操作
者の熟練、労力を必要とせず、その操作性の向上に大い
なる効果がある。
短時間で行うことができるので電子顕微鏡における操作
者の熟練、労力を必要とせず、その操作性の向上に大い
なる効果がある。
第1図は、本発明における自動焦点調整の手順を説明す
るための実験結果である。 第2図は、本発明における自動非点収差補正の手順を説
明するための実験結果である。 第3図は、本発明の一実施例を示す構成図である。 1・・・透過形電子顕微鏡(テレビカメラ含む)、2・
・・走査形電子顕微鏡、3a、3b・・・AD変換器。 4・・・シグナルセレクター 5・・・フレームメモリ
、6・・・アキュームレータ、7・・・フレームメモリ
(VIDEORAM) 、8・CRT、9a。 9b、9c・・・コンピュータ、10・・・サンプリン
グ回路、11・・・ウィンドウ回路、12・・・一次元
プロジェクタ、 13・・・一次元高速フーリエ変換器、第 図 第 図 (Ax−Ax・)/Δ^I
るための実験結果である。 第2図は、本発明における自動非点収差補正の手順を説
明するための実験結果である。 第3図は、本発明の一実施例を示す構成図である。 1・・・透過形電子顕微鏡(テレビカメラ含む)、2・
・・走査形電子顕微鏡、3a、3b・・・AD変換器。 4・・・シグナルセレクター 5・・・フレームメモリ
、6・・・アキュームレータ、7・・・フレームメモリ
(VIDEORAM) 、8・CRT、9a。 9b、9c・・・コンピュータ、10・・・サンプリン
グ回路、11・・・ウィンドウ回路、12・・・一次元
プロジェクタ、 13・・・一次元高速フーリエ変換器、第 図 第 図 (Ax−Ax・)/Δ^I
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電子顕微鏡によって得られた画像の二次元強度分布
を或る一次元方向に沿って強度を積算し、該積算した関
数に一次元フーリエ変換を施して、該変換後の関数を積
算することによって得られる値が、焦点ずれ量の関数或
るいは非点収差量の関数として、該関数が形づくる曲線
の極値またはほぼ対称となる位置を正焦点または非点収
差量が最小としたことを特徴とする電子顕微鏡における
焦点調整方法及び非点収差補正方法。 2、電子顕微鏡によって得られた画像の或円形の範囲内
だけの画像を該円の中心を中心として任意の角度で回転
し、一次元のフーリエ変換後の積算関数を少なくとも相
異なる2種以上の回転角で行い、各回転に対して得られ
る該積算関数の更に積算した値或いは平均値が焦点ずれ
量或いは非点収差量の関数として、該関数が形づくる曲
線のほぼ対称となる位置または極値をとる位置を正焦点
または非点収差量が最小としたことを特徴とする請求項
1に記載された電子顕微鏡における焦点調整方法及び非
点収差補正方法。 3、フーリエ変換後の関数の低次または高次の空間周波
数に相当する値を除いた即ちバンドパスフィルタリング
を行った後、積算することを特徴とする請求項1又は2
に記載された電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点
収差補正方法である。 4、各回転に対して得られる一次元フーリエ変換後の関
数の各回転に対する該関数の積算値の最大値Imax、
最小値Iminと各回転の積算値の平均値Imeanに
より非点収差係数ξ=(Imax−Imin)/Ime
anを求め、該係数を最小とするようにしたことを特徴
とする電子顕微鏡における非点収差補正方法。 5、各回転に対する積算値を導出する際にバンドパスフ
ィルタリングを行うことを特徴とする請求項4に記載さ
れた電子顕微鏡における非点収差補正方法。 6、各回転に対して得られる一次元フーリエ変換後の関
数の空間周波数に対する各関数の値が或一定値以上とな
る空間周波数の範囲lの最大値lmax、最小値lmi
nと各回転に対しての該範囲lの平均値lmeanによ
り非点収差係数ξ=(lmax−lmin)/lmea
nを求め該係数を最小となるようにしたことを特徴とす
る電子顕微鏡における非点収差補正方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1332753A JPH03194839A (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点収差補正方法 |
US07/630,843 US5144129A (en) | 1989-12-25 | 1990-12-20 | Electron microscope |
EP19900125100 EP0435195A3 (en) | 1989-12-25 | 1990-12-21 | Electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1332753A JPH03194839A (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点収差補正方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03194839A true JPH03194839A (ja) | 1991-08-26 |
Family
ID=18258467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1332753A Pending JPH03194839A (ja) | 1989-12-25 | 1989-12-25 | 電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点収差補正方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5144129A (ja) |
EP (1) | EP0435195A3 (ja) |
JP (1) | JPH03194839A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5350921A (en) * | 1992-07-29 | 1994-09-27 | Hitachi, Ltd. | Analytical electron microscope and a method of operating such an electron microscope |
JPH0982257A (ja) * | 1995-09-14 | 1997-03-28 | Toshiba Corp | 荷電粒子光学鏡筒における非点収差の補正及び焦点合わせ方法 |
US7271396B2 (en) | 2001-10-10 | 2007-09-18 | Applied Materials, Israel Limited | Method and device for aligning a charged particle beam column |
JP2011002247A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
JP2014110163A (ja) * | 2012-12-03 | 2014-06-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子装置 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL9100076A (nl) * | 1991-01-17 | 1992-08-17 | Philips Nv | Methode voor automatische uitlijning van een elektronenmicroscoop en een elektronenmicroscoop geschikt voor uitvoering van een dergelijke methode. |
JPH05299048A (ja) * | 1992-04-24 | 1993-11-12 | Hitachi Ltd | 電子線装置および走査電子顕微鏡 |
JP2877624B2 (ja) * | 1992-07-16 | 1999-03-31 | 株式会社東芝 | 走査電子顕微鏡の対物レンズアライメント制御装置及び制御方法 |
US5300776A (en) * | 1992-09-16 | 1994-04-05 | Gatan, Inc. | Autoadjusting electron microscope |
US5432349A (en) * | 1993-03-15 | 1995-07-11 | The United State Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Fourier transform microscope for x-ray and/or gamma-ray imaging |
JP3323021B2 (ja) * | 1994-12-28 | 2002-09-09 | 株式会社日立製作所 | 走査形電子顕微鏡及びそれを用いた試料像観察方法 |
US6025600A (en) * | 1998-05-29 | 2000-02-15 | International Business Machines Corporation | Method for astigmatism correction in charged particle beam systems |
JP4069545B2 (ja) * | 1999-05-19 | 2008-04-02 | 株式会社日立製作所 | 電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 |
US6825480B1 (en) * | 1999-06-23 | 2004-11-30 | Hitachi, Ltd. | Charged particle beam apparatus and automatic astigmatism adjustment method |
JP3951590B2 (ja) * | 2000-10-27 | 2007-08-01 | 株式会社日立製作所 | 荷電粒子線装置 |
JP3970656B2 (ja) * | 2002-03-27 | 2007-09-05 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 透過電子顕微鏡による試料観察方法 |
JP2005063678A (ja) * | 2003-08-11 | 2005-03-10 | Jeol Ltd | 荷電粒子ビーム装置における自動焦点補正方法および自動非点補正方法 |
NL1024192C2 (nl) | 2003-08-29 | 2005-03-01 | Fei Co | Werkwijze voor het focusseren in een deeltjes-optisch toestel met behulp van astigmatisme in de deeltjesbundel. |
US7358493B2 (en) * | 2005-06-08 | 2008-04-15 | Infineon Technologies Richmond, Lp | Method and apparatus for automated beam optimization in a scanning electron microscope |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2123582B (en) * | 1982-06-18 | 1986-01-29 | Nat Res Dev | Correction of astigmatism in electron beam instruments |
JPH0616389B2 (ja) * | 1985-04-12 | 1994-03-02 | 富士写真フイルム株式会社 | 電子顕微鏡の非点収差補正方法 |
EP0184810B1 (en) * | 1984-12-10 | 1994-06-29 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method of detecting a focus defect of an electron microscope image |
JP2760786B2 (ja) * | 1987-03-18 | 1998-06-04 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡およびその試料台移動方法 |
US4818873A (en) * | 1987-10-30 | 1989-04-04 | Vickers Instruments (Canada) Inc. | Apparatus for automatically controlling the magnification factor of a scanning electron microscope |
JPH0756786B2 (ja) * | 1988-03-09 | 1995-06-14 | 株式会社日立製作所 | 電子顕微鏡の焦点合わせ装置 |
-
1989
- 1989-12-25 JP JP1332753A patent/JPH03194839A/ja active Pending
-
1990
- 1990-12-20 US US07/630,843 patent/US5144129A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-12-21 EP EP19900125100 patent/EP0435195A3/en not_active Withdrawn
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5350921A (en) * | 1992-07-29 | 1994-09-27 | Hitachi, Ltd. | Analytical electron microscope and a method of operating such an electron microscope |
JPH0982257A (ja) * | 1995-09-14 | 1997-03-28 | Toshiba Corp | 荷電粒子光学鏡筒における非点収差の補正及び焦点合わせ方法 |
US5793041A (en) * | 1995-09-14 | 1998-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for correcting astigmatism and focusing in charged particle optical lens-barrel |
US7271396B2 (en) | 2001-10-10 | 2007-09-18 | Applied Materials, Israel Limited | Method and device for aligning a charged particle beam column |
JP2011002247A (ja) * | 2009-06-16 | 2011-01-06 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
JP2014110163A (ja) * | 2012-12-03 | 2014-06-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0435195A3 (en) | 1991-12-04 |
US5144129A (en) | 1992-09-01 |
EP0435195A2 (en) | 1991-07-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH03194839A (ja) | 電子顕微鏡における焦点調整方法及び非点収差補正方法 | |
EP0814605B1 (en) | Digital imaging system | |
DE102018210315B4 (de) | Verfahren zur Erfassung einer Struktur einer Lithografiemaske sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
JP2877624B2 (ja) | 走査電子顕微鏡の対物レンズアライメント制御装置及び制御方法 | |
US7714286B2 (en) | Charged particle beam apparatus, aberration correction value calculation unit therefor, and aberration correction program therefor | |
US9652847B2 (en) | Method for calibrating a digital optical imaging system having a zoom system, method for correcting aberrations in a digital optical imaging system having a zoom system, and digital optical imaging system | |
JP2006196236A (ja) | 電子顕微鏡及び観察方法 | |
DE60201849T2 (de) | Abbildungssystem, Programm zur Kontrolle der Bilddaten dieses Systems, Verfahren zur Korrektur von Verzerrungen von aufgenommenen Bildern dieses Systems und Aufzeichnungsmedium zur Speicherung von diesem Verfahren | |
DE69633589T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Verarbeitung von visuellen Informationen | |
JP2016004713A (ja) | 収差計測角度範囲計算装置、収差計測角度範囲計算方法、および電子顕微鏡 | |
DE102016225775A1 (de) | Verfahren zur Aberrationskorrektur und System für Strahlen geladener Teilchen | |
JPH05313068A (ja) | 画像入力装置 | |
US7705305B2 (en) | Sample observation method and transmission electron microscope | |
DE112006001641T5 (de) | Signalverarbeitungseinrichtung | |
DE10313593A1 (de) | Verfahren zum Betrachten einer Probe mittels eines Transmissionselektronenmikroskops | |
JPH04341741A (ja) | 荷電ビームを用いた画面処理方法及び荷電ビーム顕微鏡装置 | |
JP4397730B2 (ja) | 電子顕微鏡の絞り補正方法及び装置 | |
DE102019103976A1 (de) | Bildaufnahmevorrichtung, die eine Bildstabilisierung durchführt, Steuerverfahrendafür und Speichermedium | |
JP3118559B2 (ja) | 電子顕微鏡装置及び電子顕微鏡による試料像再生方法 | |
JP2015198380A (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理プログラム、および画像処理方法 | |
JP7382367B2 (ja) | 電子顕微鏡及び収差補正方法 | |
US11545337B2 (en) | Scanning transmission electron microscope and adjustment method of optical system | |
JP5373463B2 (ja) | 透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整装置 | |
JP7114417B2 (ja) | 電子顕微鏡および電子顕微鏡の調整方法 | |
US20190066968A1 (en) | Aberration measurement method and electron microscope |