JPH03191801A - ディスクの内径測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ 本発明は、アルミニウム基板からなる磁気ディスク等の
ディスクの内径を測定する装置に関するものである。

［従来の技術］ 例えば、アルミニウム基板の表面に磁気記録膜を形成し
てなる磁気ディスクは、スピンドルに装着されて、該ス
ピンドルによって回転駆動される間に記録・再生ヘット
により情報の書き込み及び読み出しか行われる。このた
めに、磁気ディスクの寸法管理を厳格に行う必要かある
か、特にスピンドルに装着される関係から、その内径寸
法は極めて精度良く形成されていなければならない。

従って、ディスクか製造されて、下加工した後で、その
表面に磁気記録膜を形成する前の段階において、このデ
ィスクの寸法測定を行って、寸法に誤差かあるものを排
除しなければならない。

このために、従来は、マイクロメータを備えた内径測定
装置を用い、作業者がディスクを手に持ってディスクの
内周に内径測定装置を当接させることによって、その内
径測定を行うようにしていた。

［発明か解決しようとする課題１ ところて、前述したように、作業者の手作業によってデ
ィスクの内径測定を行うようにした場合には、作業効率
が悪いたけでなく、ディスクが汚れることになり、さら
に内径測定装置によってディスクを損傷させるおそれが
ある等種々の問題点がある。このために、このディスク
の内径測定作業の自動化に対する要請か強くなってきて
いるのが現状である。

かかる内径測定作業の自動化の要請に対処するためには
、レーザを用いたり、また画像認識手段を用いたりする
こと等が考えられるか、これらはいずれも大損りな装置
を必要とし、しかも必ずしも厳格な測定を行うことがて
きないという難点がある。

本発明は叙上の点に鑑みてなされたものであって、その
目的とするところは、簡単な構成によって極めて正確に
ディスクの内径の測定を行うことができるディスクの内
径測定装置を提供するものである。

［課題を解決するための手段］ 前述した目的を達成するために、本発明は、磁気ディス
ク等からなるディスクの内周に当接する固定の基準ピン
と、該基準ピンの前記ディスクへの当接位置に対して所
定角度をなす位置に接離可能な一対の支持ピンと、前記
基準ピンに対して１８０’の位置において前記ディスク
の内周に当接するマイクロメータヘッドとを備える構成
としたことをその特徴とするものである。

［作用］ このように、基準ピンと一対からなる支持ピンとによっ
てディスクを位置決めした状態て、この基準ピンと　１
８０°の角度位置、即ち該基準ピンと反対方向に延出さ
せたマイクロメータヘッドによってディスクの内径の測
定が行われる。

而して、単一のマイクロメータを用いて測定装置を構成
しているので、その構造が簡単となり、安価になると共
に、コンパクトに形成することができる。また、測定装
置のコンパクト化が図られることによって、たとえ内径
の小さなディスクの測定も行うことがてきるようになる
。

［実施例］ 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。

第１図乃至第３図に本発明によるディスクの内径測定を
行うための装置の概略構成を示す。図面において、第１
図は内径測定装置の全体構成を示し、第２図はその平面
図を、また第３図は測定機構部の構成をそれぞれ示す。

図面から明らかなように、内径測定装置１０はディスク
Ｄの位置決め機構とその内径測定機構とを有する。

ディスクＤはターンテーブル１上に設置されており、該
ターンチーツルｌにおけるディスクＤの設置位置には円
形の開口１ａが設けられ、この開口１ａの左右両側の部
位は外方に延在した拡張開口ｌｂ、　ｌｂとなっている
。また、ターンテーブル１上には３木のピン１ｃが突設
されており、これらピンＩＣによってディスクＤの内縁
部分が支持されるようになっている。一方、この開口１
ａ及び拡張開口ｌｂを介して内径測定装置１０か昇降せ
しめられるようになっている。

内径測定装置ｌＯは昇降プレート１１を有し、該昇降プ
レート１１はシリンダ１２によって昇降可能となってい
る。そして、この昇降プレート１１上には基準ピン１３
と一対の支持ピン１４．１４とが装着されており、これ
ら基準ピン１３及び支持ピン１４をディスクＤの内周に
当接させることによって、該ディスクＤをターンテーブ
ル１上において３点で決めすることかできるようになっ
ており、この基準ピン１３と支持ピン１４とによってデ
ィスクＤをターンテーブル１上で水平方向に位置決めす
る位置決め機構部が構成される。

ここで、基準ピン１３は昇降プレート１１に対して固定
的に設置されており、支持ピン１４はこの基準ピン】３
とディスクＤの中心とを結ふ線Ｘ−Ｘと平行な方向に変
位可能となっている。このために、両支持ピン１４は水
平動フロック１５に設けられており、該水平動フロック
１５は線Ｘ−Ｘと平行に配設したガイド１６に沿って基
準ピン１３に対して近接・離間する方向に往復変位可能
な構成となっている。そして、水モ動フロック１５は、
常時においては、はね１７の作用によって基準ピン１３
から離間する方向に変位しており、またシリンダ１８に
よってばね１７に抗して基準ピン１３に近接する方向に
変位させることかてきるようになっている。

従って、シリンダ１８を作動させることによって、水平
動フロック１５を基準ピン１３に近接する方向に変位さ
せた状態にすると、該水平動ブロック１５に設（づた支
持ピン１４は基準ピン１３に近接することになって、デ
ィスクＤの内部にこれら各ピン１３、１４を挿通させる
ことがてきるようになり、このシリンダ１８による水平
動ブロック１５に対する押圧力を解除すると、ばね１７
によって水平動ブロック１５か基準ピン１３から離れる
方向に変位して、支持ピン１４及び基準ピン１３がディ
スクＤの内周に当接して、該ディスクＤを位置決めする
ことができるようになる。そして、基準ピン１３のディ
スクＤへの当接部は略球形となった当接ヘット１３ａと
なり、また支持ピン１４のディスクＤへの当接部は回転
可能なローラ１４ａとなっている。

次に、１９は電子マイクロメータヘッドを示し、該電子
マイクロメータへラド１９は、昇降プレート１１上に設
置したブラケット２０に取り付けられており、その接触
子１９ａは基準ピン１３に対して　１８０’の位置、即
ちｘ−Ｘ線上において基準ピン１３とは反対側の位置に
おいて、ディスクＤに接離可能となっている。そして、
内径測定装置１０をディスクＤ内に挿嵌させる際におい
て、該接触子１９ａかその内周エツジと干渉しないよう
にするために、シリンダ１８の作動に追従変位する戻し
バー２１か設けられている。従って、この電子マイクロ
メータヘッド１９と基準ピン１３とによって内径測定機
構か構成される。

さらに、このディスクＤはＸ−Ｘ線方向の内径−ｊ−法
を測定するたけてなく、このＸ−Ｘ線と直交するＹ−Ｙ
線方向における内径寸法も測定するために、ディスクＤ
をチャックして９０″回転させるためのチャック手段２
２が設けられている。

本実施例は前述のように構成されるものて、次に内径測
定装置１０を用いてディスクＤの内径寸法の測定を行う
方法について説明する。

まず、ターンテーブル１の開口ｌａ上にディスクＤを設
置して、該ターンチーフル１を回転させて、内径測定装
置１０の上部位置に移行させる。そこで、シリンダ１２
を作動させて、昇降プレート１１を一卜昇させる。なお
、このときにおいては、シリンダ１８によって水平動フ
ロック１５を押動して、支持ピン１４を基準ピン１３に
近接する方向に変位させると共に、電子マイクロメータ
ヘッド１９の接触子１９ａも同方向に変位させておく。

これによって、基準ピン１３．支持ピン１４及び接触子
１９ａがディスクＤの内周と対面する位置にまて昇降プ
レート１１を上昇させることができる。

そこて、シリンダ］８を縮小させる。これによって、基
準ピン１３及び支持ピン１４かディスクＤの内周に当接
して、該ディスクＤが３点で位置決めされることになる
。これと共に電子マイクロメータヘッド１９の接触子１
９ａか基準ピン１３の位置とは反対側に当接することに
なるので、該基準ピン１３と接触子１９ａとの間の間隔
、即ちＸ−Ｘ線上におけるディスクＤの内周の直径の測
定か行われる。

そこで、シリンダ１８を作動させることによフて、支持
ピン１４及び接触子１９ａをディスクＤの内周から離間
させて、チャック手段２２によってディスクＤをチャッ
クしてそれを９０°回転させてターンテーフル１上に戻
す。そして、前述したと同様の手法によって接触子１９
ａをディスクＤの内周に当接させることによって、該デ
ィスクＤのＹ−Ｙ線方向の内径寸法の測定を行う。

このように、ディスクＤのＸ−Ｘ線上の内径寸法及びこ
れと９０°位相を変えたＹ−Ｙ線上の内径寸法を測定す
ることによって、該ディスクＤの内径全体をほぼ正確に
測定することかできるようになる。

而して、固定の基準ピン１３及び一対からなる可動の支
持ピン１４とを用いてディスクＤを位置決めし、また電
子マイクロメータヘッド１９と基準ピン１３とによって
その内径寸法を測定するようにしているのて、内径測定
装置１０の構成か著しく簡略化すると共に、小型化、コ
ンパクト化を図ることかでき、比較的小径のディスクで
あっても、その内径寸法を円滑に測定することかできる
。しかも、電子マイクロメータを用いて内径測定を行う
ようにしているから、その内径の測定精度が著しく良好
となり、ル以下というように極めて微細な寸法誤差をも
正確に測定することかてきる。

さらに、支持ピン１４をばね１７の付勢力によってディ
スクＤの内周に対する圧接力を与えるようにしているか
ら、該ディスクＤの位置決め時に、その内周部に傷か発
生する等の不都合か生しることはない。また、基準ピン
１３の当接ヘッドＩ３ａは略球形となっているから、タ
ーンチーフル１上において、ディスクＤが傾いた状態と
なっていたとしても、その位置決め時にほぼ水平な状態
に矯正することかてきるようになり、また傾きを正確に
矯正することかてきない場合ても、この傾きによる誤差
の発生か殆ど出ないように保持することもてきる。

［発明の効果〕 以上説明したように、本発明は、基準ピンと一対の支持
ピンとによってディスクの位置決めを行った状態て、該
基準ピンとマイクロメータヘッドとによって該ディスク
の内径の測定を行うように構成したので、極めて簡単て
、コンパクトな構成によって、ディスクの内径を著しく
精度良く測定することができるようになる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の一実施例を示すものて、第１図は内径測
定装置の構成説明図、第２図は内径測定装置の平面図、
第３図は電子マイクロメータヘッドの構成説明図である
。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 磁気ディスク等からなるディスクの内周に当接する固定
   の基準ピンと、該基準ピンの前記ディスクへの当接位置
   に対して所定角度をなす位置に接離可能な一対の支持ピ
   ンと、前記基準ピンに対して１８０゜の位置において前
   記ディスクの内周に当接するマイクロメータヘッドとを
   備えたディスクの内径測定装置。