JPH03188832A - 断層撮影像作成方法および装置 - Google Patents

断層撮影像作成方法および装置

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JPH03188832A
JPH03188832A JP2304189A JP30418990A JPH03188832A JP H03188832 A JPH03188832 A JP H03188832A JP 2304189 A JP2304189 A JP 2304189A JP 30418990 A JP30418990 A JP 30418990A JP H03188832 A JPH03188832 A JP H03188832A
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gantry
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plane
projection
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ケビン・フランクリン・キング
Carl R Crawford
カール・ロス・クロウフォード
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    • G06T11/005Specific pre-processing for tomographic reconstruction, e.g. calibration, source positioning, rebinning, scatter correction, retrospective gating
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    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/027Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis characterised by the use of a particular data acquisition trajectory, e.g. helical or spiral
    • AHUMAN NECESSITIES
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    • A61B6/02Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03Computerised tomographs
    • A61B6/032Transmission computed tomography [CT]

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明はらせん走査を使用するコンピュータ断層撮影法
に関するものである。更に詳しく述べると、本発明はら
せん走査で断層撮影投影データを取得することによって
生じる像のアーチファクトを少なくするための像再構成
方法に関するものである。
ここで使用しているように、コンピュータ断層撮影法と
は「透過形イメージング」すなわちイメージング対象物
を透過した放射線の検出を行なうものと、「エミッショ
ン形イメージング」すなわちイメージング対象物から放
出される放射線たとえば放射性医薬品の同位体から放出
される放射線の検出を行なうものの両方を指す。
透過形イメージングのコンピュータ断層撮影システムで
は、X線源がコリメーションされて、規定された扇状ビ
ーム角の扇状ビームが形成される。
扇状ビームは「イメージング平面」と呼ばれるデカルト
座標系のx−y平面内にあるように、またイメージング
対象物を透過してイメージング平面内に配向されたX線
検出器列に達するように配向される。検出器列は多数の
検出素子で構成される。
各検出素子はX線源からその特定の検出素子に投射され
る射線に沿って透過した放射線の強度を測定する。これ
らの検出素子はそれぞれ扇状ビームの異なる射線に沿っ
たX線源からのX線を遮えぎるように円弧状に配列する
ことができる。透過する放射線の強度はイメージング対
象物による射線に沿ったX線ビームの減衰によってきま
る。
X線源および検出器列はイメージング対象物を中心とし
てイメージング平面内でガントリ上で回転させることが
できる。これにより扇状ビームは異なる角度でイメージ
ング対象物を横切る。各角度で、各検出素子からの強度
信号で構成される「投影」が取得される。次にガントリ
を新しい角度まで回転して、過程を反復することにより
、様4の角度での多数の投射を収集して、1つの断層撮
影投影組を形成する。
取得された断層撮影投影組は通常、数値型式で記憶され
る。これをコンピュータで処理して、当業者には既知の
再構成アルゴリズムに従ってスライス像を「再構成」す
ることができる。再構成されたスライス像は従来の陰極
線管にデイスプレーしてもよいし、コンピュータ制御の
カメラによってフィルム記録に変換してもよい。
エミッション形または透過形のコンピュータ断層撮影法
では、検出器列は円弧状でなく直線状に配列してもよい
通常のコンピュータ断層撮影の検査ではイメージング対
象物の一連のスライスのイメージングが行なわれ、この
一連のスライスはy軸およびy軸に垂直なZ軸に沿って
増分的に位置がずれている。
これにより第3空間次元の情報が得られる。放射線区は
2軸に沿った位置の順にスライス像を見ることによって
この第3次元を可視化できる。あるいは再構成されたス
ライスの組を構成する数値データをコンピュータのプロ
グラムにより編集して、イメージング対象物の三次元の
陰影付き斜視図を作成することもできる。
コンピュータ断層撮影法の分解能が増大するにつれて、
2次元で付加的なスライスが必要となる。
断層撮影検査の時間および費用は必要なスライス数がふ
えるにつれて増大する。また、走査時間が長くなると、
断層撮影像再構成の忠実度を維持するためにほぼ不動で
なければならない患者の苦痛が増大する。したがって、
一連のスライスを得るために必要な時間を減らすことに
がなり関心が集まっている。
一連のスライスに対するデータを収集するために必要な
時間は部分的に次の4つの要素によってきまる。すなわ
ち(a)ガントリを走査速度まで加速するために必要な
時間、(b)完全な1つの断層撮影投影組を得るために
必要な時間、(c)ガントリを減速するために必要な時
間、および(d)次のスライスのために2軸方向に患者
を再位置ぎめするために必要な時間によってきまる。
全スライス列を得るために必要な時間の短縮はこの4つ
のステップのいずれかを完了するために必要な時間を短
縮することによって行なうことができる。
ガントリの加速および減速に必要な時間はガントリと通
信するケーブルではなくてスリップリングを使用する断
層撮影システムでは避けることができる。スリップリン
グによって、ガントリを連続的に回転することができる
。以下に説明するCTシステムではスリップリングまた
は同等のものをそなえることにより36o0を超えて連
続的に回転することができるものとする。
断層撮影データ組を取得するために必要な時間は短縮す
ることが難しい。現在のCTスキャナでは1つのスライ
スに対する投影組を取得するのに1秒乃至2秒必要であ
る。この走査時間はガントリをより早い速度で回転させ
ることによって短縮することができる。一般に、ガント
リ速度が早くなると、取得したデータの信号対雑音比は
回転速度上昇率の平方根だけ小さくなる。これは透過形
断層撮影装置ではX線管の放射線出力を大きくすること
によりある程度は克服することができるが、このような
装置ではパワーに限界がある。
患者の再位置ぎめ時間の短縮はガントリの回転と同期し
て2軸方向に患者を並進させることによって達成するこ
とができる。ガントリの回転中にz軸に沿って患者を一
定速度で並進させながら投射データを取得する方式は「
らせん走査」方式と呼ばれ、これはイメージング対象物
上の基準点に対するガントリ上の一点の見かけの径路を
指している。ここで使用されているように、「らせん走
査」は一般に断層撮影イメージング・データの取得中に
患者またはイメージング対象物の連続的な並進を使用す
ることを指す。また「一定2軸走査」は取得期間中に患
者またはイメージング対象物を並進させないで断層撮影
データ組を取得することを指す。
走査中にイメージング対象物を連続的に並進させると、
走査相互の合間に患者を再位置ぎめするために通常必要
とされる時間がなくなり、与えられた数のスライスの取
得に必要とされる総走査時間が短縮される。しかし、ら
せん走査では取得された断層撮影投影組のデータについ
てエラーが生じる。断層撮影再構成の数学では一定2軸
スライス平面に沿って断層撮影投影組が取得されると仮
定している。らせん走査径路は明らかにこの条件からず
れており、このずれの結果、2軸方向に対象物に著しい
変化がある場合には再構成されたスライス像にアーチフ
ァクトが生じる。像のアーチファクトのひどさは一般に
、走査データのテーブル位置と所望のスライス平面の2
軸値との差として測定された投射データの「らせんオフ
セット」によってきまる。らせん走査によって生じるエ
ラーはまとめて[スキュー(skew) Jエラーと呼
ばれる。
らせん走査のスキューエラーを減らすために幾つかの方
法が使用されてきた。米国特許箱4,630.202号
に開示されている第1の手法はらせん走査のピッチを小
さくシ、相次ぐ360°断層撮影投射組の投射データを
平均する。その効果は2軸に沿った幅が一層大きい検出
器列を使用して、この検出器列をガントリの回転中に2
方向に少ししか動かないようにすること、すなわち走査
ピッチをより小さくしたことと等価である。この方法を
使えばスキューエラーは小さくなるが、走査ピッチが小
さいので走査時間が余計にかかる。
したがって、この方法ではらせん走査で得られる筈の利
点がある程度減殺される。
この手法に関連して「平均」過程で相次ぐ360°断層
撮影投影組の最後および最初の投影についての重みを変
えてスライス平面に最も近い投影により大きな重みを与
えることにより断層撮影投影組の端のスキューエラーを
減らすことができる。
米国特許第4,789,929号に開示されている第2
の手法でも組み合わされた相次ぐ360°断層撮影投影
組の投影に重みを加えるが、この重みは与えられたガン
トリ角度に於ける各投影のらせんオフセットの関数であ
る。720°にわたって補間するこの手法を用いると、
一般に部分的な容積アーチファクトが増大する。部分的
な容積アーチファクトはイメージング対象物のある容積
要素が投影組のいくつかの投影にだけ寄与するときに生
ずる像のアーチファクトである。
1989年11月2日出願の米国特許出願第430.3
72号「らせん走査用のコンピュータ断層撮影像再構成
法」に述べられている第3の手法は半走査技術を使うこ
とにより各スライスの取得中のテーブルの動きを少なく
している。投影データは360°に扇状ビーム角の2倍
を加えた角度にわたるガントリの回転中に取得されて、
スライス平面に補間される。ガントリの動きを小さくす
ることはテーブルの動きを小さくすることに対応する。
したがって、あるらせん走査のアーチファクトは少なく
なる。
発明の要約 当業者には理解されるように、180°に扇状ビーム角
を加えた角度にわたるガントリの回転中に取得された投
影データから断層撮影像を作成できる。一般に、この結
果は180°離れたガントリ角度で取得された投影では
射線の減衰が等しいということによって生じる。断層撮
影像を再構成するこの方法は「半走査」と呼ばれ、通常
、各半走査内のある冗長データを弱めるように像再構成
の前に取得データを「半走査重み関数」で重み付けする
ことが必要である。
本発明は2つの半走査のデータから像を再構成1 することによりスキューアーチファクトを低減する。し
かし、冗長データを半走査重で分配することによって、
2つの半走査を収集するために本来必要とされるガント
リの360°に扇状ビーム角の2倍を加えた角度にわた
る回転ではなくて360°のみのガントリの回転でそれ
らを取得することができる。この圧縮データ取得を可能
とする冗長データの分配には、スライス平面に対して半
走査投影組を補作および補間することが必要となる。
本発明によれば、180°のガントリ回転で取得された
、スライス平面の各々の側に1つづつの、2つの部分的
な投影組のデータが収集される。このデータは2つの半
走査投影組に分割され、各走査はスライス平面の両側か
らのデータで構成される。スライス平面に対して補間お
よび補作が行なえるように半走査の重み付けが行なわれ
、これらの組み合わされた半走査を再構成して像を形成
する。
本発明の1つの目的はより短い2軸距離で単一2 のスライス像に対する投影データを取得できるようにす
ることである。与えられた走査ピッチに対して、360
°に扇状ビーム角の2倍を加えたものではなくて360
°で取得される2つの半走査を使うために必要とされる
らせん走査の2軸行程は小さくなる。これにより、スラ
イス平面により近い点で取得される投影が集中するので
、補間および補作の正確さが向上し、部分的な容積アー
チファクトが少なくなる。
本発明のもう1つの目的はより短い時間で単一スライス
像の投影データを取得できるようにすることである。断
層撮影投影組の投影データの取得中での患者の動きによ
って像のアーチファクトが生じ得る。与えられたガント
リ速度に対して、360°のみのガントリ回転で取得さ
れる半走査を使用することによって、モーション・アー
チファクトの生じにくい像の再構成が可能になる。
本発明のもう1つの目的は半走査過程の効率を向上する
ことである。冗長データを半走査重で分配することによ
って、患者のX線総被曝を減らすことができる。
本発明の上記および他の目的および利点は以下の説明か
ら明らかとなろう。説明で参照する付図は本発明の一部
を形成するものであり、本発明の実施例を図示している
。しかし、このような実施例は必ずしも本発明の全範囲
を表わすものではないので、発明の範囲の解釈にあたっ
ては請求範囲を参照しなければならない。
実施例の説明 第1図に示すように、「第三世代」のCTスキャナを表
わすCTガントリ16には、イメージング対象物12を
通して検出器列18に扇状ビームのX線24を投影する
ように配向されたX線源10が含まれている。扇状ビー
ム24はデカルト座標系のx−y平面すなわち「イメー
ジング平面」に沿った方向を向いており、イメージング
平面に沿って測ったとき2φ  の「扇状角度」を形成
ax する。検出器列18は多数の検出素子26で構成される
。多数の検出素子26はイメージング対象物を通るX線
の透過によって生じる透過像の太きさ、またエミッショ
ン形断層撮影法の場合にはイメージング対象物12の中
の放射性医薬品の同位体から放射される放射線によって
生じる投影像の大きさに比例した値を検出する。扇状ビ
ーム24の真ん中の射線20から測った角度φは、扇状
ビム24の各射線21およびそれに対応する検出素子2
6を表わし、扇状ビーム角と呼ばれる。
イメージング対象物12に対するガントリ16の角度位
置θは扇状ビームの真ん中の射線20が垂直で下向きに
なっているとき任意に零とみなされる。ガントリ16は
後で述べるようにスリップリング50を介して第3図に
示される制御モジュル48に結合されているので、投影
データの取得のために360°より大きい角度にわたっ
て自由に連続的に回転し得る。
イメージング対象物12はテーブル22の上にのってい
る。イメージング過程に対する妨害を最小限にするよう
にテーブル22は放射線に対して半透明になっている。
扇状ビーム24によって掃引されるイメージング平面を
横切るようにイメー5 ジング対象物12を動かすことによって、テーブル22
の上表面がx−y平面すなわちイメージング平面に垂直
なZ軸に沿って並進するようにテブル22を制御するこ
とができる。簡単のため以後、テーブル22は一定速度
で動き、したがってテーブル22の2軸位置はガントリ
16の角度位置θに比例するものと仮定する。したがっ
て、取得される断層撮影投影は2またはθによって規定
することができる。
第2a図および第2b図に示すように、ガントリの角度
位置合よびイメージング対象物に対するイメージング平
面の2軸位置はそれぞれ一定2軸走査およびらせん走査
の場合について投影の射線20で示される。第2a図に
示される一定2軸走査では、各断層撮影投影組は一部2
軸位置で取得され、イメージング対象物はこのような取
得の間に2軸に沿って次のスライス平面に動かされる。
これは第2b図のらせん走査とは異なっている。
第2b図の場合には、イメージング平面に対するイメー
ジング対象物の2軸位置は各断層撮影投影6 組の取得中に絶えず変化する。したがって矢印20はz
軸に沿ってイメージング対象物の中でらせんを描く。ら
せんのピッチを走査ピッチと呼ぶ。
第3図に示すように、本発明に使うのに適したCTイメ
ージングφシステムの制御システムはガントリに結合さ
れた制御モジュール48をそなえている。制御モジュー
ル48には電力信号およびタイミング信号をX線源10
に供給するX線制御器54、ガントリ16の回転速度お
よび位置を制御し、情報をコンピュータ60に供給する
ガントリ電動機制御器56、ガントリ位置に関するデー
タ取得システム62、およびデータ取得システム62を
介して検出器列18からサンプルおよびディジタル化さ
れた信号を受けて当業者には知られている方法に従って
高速像再構成を行なう像再構成器68が含まれている。
上記の各々はスリップリング50を介してガントリ16
上のそれに関連する素子に接続することができ、コンピ
ュータ60の種々のガントリ機能に対するインタフェー
スの役目を果す。
2軸に沿ったテーブル22の速度および位置はテーブル
電動機制御器52を介してコンピュータ60に伝えられ
、コンピュータ60によって制御される。コンピュータ
60は操作卓64を介して指令および走査パラメータを
受ける。操作卓は一般にCRTデイスプレーおよびキー
ボードを有し、これにより操作者は走査用のパラメータ
を入力したり、コンピュータ60からの再構成された像
等の情報をデイスプレーすることができる。大容量記憶
装置66はCTイメージング・システムのためのオペレ
ーティング・プログラムおよび操作者が将来参照するた
めの像データを記憶する手段を提供する。
従来のCTイメージングでは360°の投影データ、す
なわち1つの全断層撮影投影組が取得されて、1つのス
ライス像に再構成される。代案として、少なくとも18
0°と扇状ビーム角の和の角度にわたる最小ガントリ回
転が得られれば、ガントリ16の360°より小さい角
度にわたる回転で取得された投影データから再構成され
た断層撮影像を得ることもできる。360°より小さい
角度にわたる投影データを使うイメージ再構成は、36
0°の角度にわたる投影データを必要とする「全走査」
イメージ再構成と区別するために「半走査」と呼ばれる
。半走査像を再構成するために使用されるデータを「半
走査投影組組」と呼ぶことにする。
後で更に詳しく説明するX線源10および検出器列18
の扇状ビーム形式の幾何学的配置の結果、半走査にはあ
る二重のデータが含まれる。この二重データでは通常、
半走査投影組組を「半走査重み関数」で重み付けするこ
とにより、非冗長データと組み合せたときに二重データ
が最終像に対して不釣り合いな寄与をしないようにしな
ければならない。半走査投影組組からのイメージの重み
付けと事構成については、デニス・エル・パーカーの論
文[扇状ビームCT用の最適短走査コンボリューション
再構成法] (メディカル・フィジックス誌9 (2)
 、1982年3月14日号)に詳細に論じられている
9 扇状ビーム形式のもので取得される半走査内。
二重データの発生源はグラフ的に表示することができる
。第4図に示すように、第1のガントリ位置θ=0に於
ける扇状ビーム24には角度−φ  に於ける射線Aが
含まれている。射線Aax は検出素子26(図示しない)によって受けられ、その
検出素子26はイメージング対象物12による射線Aに
沿ったX線の吸収の線積分に比例した信号P(θ1−φ
  )(但しθ1−0)を発生ax する。第2のガントリ位置θ2=(2φ  でax の第2の扇状ビーム24では、第1のガントリ位置での
射線Aに沿って測定したのと同じ線積分吸収が第2のガ
ントリ位置での射線A′に沿っても測定されることがわ
かる。ここで射線A′は扇状ビーム24の中の角度子φ
  の所にある。射線ax A′に沿ったX線を受けた検出素子26(図示しない)
は信号P(θ2.φ  )を発生する。射IIl+lX 線AおよびA′に沿った測定値の識別は次式で一般化す
ることができる。
P(θ、φ)=P(θ+π+2φ、−φ)(1)0 但し、θおよびφはそれぞれ任意のガントリ角度および
任意の扇状ビーム角である。らせん走査では、その射線
が式(1)では等しくなるようなデータも、ガントリの
回転中にテーブルが動くことによって異なる値となるこ
とがある。本明細書で「冗長データ」という用語はらせ
ん走査の結果、データ値が異なることがあっても射線が
式(1)の関係にある各半走査内のこのデータを指すた
めに用いられる。
本発明では、2πラジアン(360°)にわたるガント
リ16の回転で断層撮影データの2つの相次ぐ部分投影
組が取得される。これらの投影組の取得中、テーブル2
2したがってイメージング対象物12は2軸に沿って前
進される。第5a図にはこの第1および第2の部分投影
組のデータに対する引数θおよびφが図式的に示されて
いる。
ABに平行な線はガントリ位置θで得られた投影を表わ
しており、−φ  くφく+φl11.xであるlx 角度φからの検出器信号を含んでいる。線ABに沿った
投影のガントリ角度θは任意に0に割り当てられ、第1
の部分投影組の第1の投影である。
上記のらせん走査技術によってテーブル22を2軸に沿
って進めている間にθ=πラジアンまで増大していく各
ガントリ角度θで相次いで投影が取得される。
ガントリ角度が第5a図の線70で示されるθπラジア
ンに達したとき、第1の部分投影組80が完了し、イメ
ージング対象物12のスライス平面Z がイメージング
平面とそろう。次に第2p の部分投影組78がガントリ角度θ−πで始まり、ガン
トリ角度θ=2πまで続く。
第5b図に示すように、この第1および第2の部分投影
組80および78から第1の半走査82を形成すること
ができる。イメージ再構成のため、半走査は少なくとも
π+2φ  ラジアンの投影ax を含んでいなければならない。したがって、半走査82
はθ=0からθ=π+2φ  までのデax 夕を含み、第5b図に線ABとCDとの間の斜線を施し
た領域で表わされている。ここで線CDはθ=π+2φ
  と規定されている。
ax 第1の半走査82は三角形領域84で示される上記の式
(1)による冗長データを含んでおり、線CDと線CE
との間のデータを含む。ここでCEはθ=(2φと定め
られている。
通常、半走査の冗長データは半走査重み関数によって半
走査の他のデータと組み合わされる。しかし、本発明で
は、半走査82′が領域ABCEから冗長データなしで
形成される。詳しく述べると、三角領域84の冗長デー
タは第1の半走査82′の中に含まれない。やはり冗長
データのない第2の半走査86が領域ECGFで形成さ
れ、第5c図の斜線領域として示されている。ここで線
GFはθ=2πと定められる。要するに、2つの半走査
投影組82′および86はどの半走査も冗長データを含
まないように合計2πの投影データから形成することが
できる。しかし注意しなければならないのは、各半走査
はθ=πの線70で示されるスライス平面の両側からの
データを含んでいるということである。
3 式(1)により、第1の半走査82′のデータは第2の
半走査86の相補データに適合させ得る。
相補データは、イメージング対象物が2軸に沿って並進
しなかった場合にイメージング対象物を通る同じ射線を
測定する異なる半走査の投影データである。2つの半走
査82′および86の相補データを数学的に組み合わせ
ることにより、スライス平面70で求めた有効な第3の
半走査投影組(図示しない)の値を推定することができ
る。しかし、部分投影組78および80を半走査82′
および86に分割した結果、半走査82′および86の
相補データは必らずしもスライス平面70の両側にない
ので、スライス平面70に対するデータを得るためには
補作法と補間法を用いなければならない。
たとえば第5C図に示すように、第1の部分的な投影組
80内で第2の半走査の中にある点αはスライス平面7
0の同じ側にあるα′と相補である。逆に、線φ=0に
沿って位置した点βはスライス平面70の反対側のβ′
と相補である。した4 かって前肩の場合には、スライス平面のデータは相補点
αおよびα′から補作により求めなければならない。後
者の場合には、スライス平面値を相補点βおよびβ′か
ら補間により求めなければならない。
補作過程はそのちととなるデータ要素の値の外側にある
値を作成するので、補間過程よりも推測し難い。このた
め、補外自体によりアーチファクトが生じると思われた
。しかし、補作の不利な効果は何ら検出されなかった。
計算効率のため、最初にスライス平面半走査を第1およ
び第2の半走査82′および86から求めることはして
いないで、第1および第2の半走査82′および86に
重み関数を適用し、組み合わされた第1および第2の半
走査82′および86を全走査として再構成し、補作お
よび補間は再構成過程に含まれている。
位置z1で取得されたP(θ1.φ1)と位置z2で取
得されたP(θ2.φ2)の2つの相補データ要素に対
して、2 で取得されたスライスsp 平面データ要素P(θ3.φ3)についての線形補間ま
たは補作は次のように重み関数w、、W2で相補点を重
み付けすることによって行なうことができる。
Z 2  Z S。
Wl = (2) 22″″′z1 z 、、−z 1 w2=               (3)Z 2 
 Z l ここで、 P (θ3.φ3)=WIP(θ1.φ1)+w2  
p  (θ2.φ2) テーブルとガントリの速度が一定のらせん走査では、テ
ーブル位置2はガントリ角度θに比例するので、重み関
数は次のように書き換えることができる。
θ2−θ呻 1− (4) θ2−θ1 θ6.−θ1 W2=          (5) 02  e 1 スライス平面に於けるガントリ角度を任意にπと定め、
また相補データ点に対する上記式(1)の等価式、すな
わちθ2=θ1+π+2φ1を参照することにより、次
の単純化が行なえる。
θ1−π W+ =1+            (6)π+2φ
1 (θ2 W2=1+ (7) (2φ1 したがって、第1の半走査投影組82′のブタに次の重
みを乗算する。
7 θ−π Wl (θ、φ)=1+          (8)π
+2φ 第2の半走査投影組86のデータには次の重みを乗算す
る。
(θ W2(θ、φ)=1+         (9)(2φ 次に、当業者には知られている従来の全走査再構成技術
に従って、投影組全体が再構成される。
第5c図を参照して説明を続けると、上記の重みは半走
査投影組相互を隔てている線CEで異なる値を持つ。こ
れにより、相次いで取得された投影データ間に不連続が
生じ、その結果、最終イメージに縞状のアーチファクト
が生じる。この不連続性は、線CEに平行な線72およ
び74の間の範囲内の線CEの両側の2つの半走査の界
面の近くでW、およびW2をフェザリング(leath
ering)することによって除くことができる。
詳しく述べると、W2にf(φ)を乗算して、8 その積を両方の半走査82′および86のデータに印加
し、またWlに[1−f(φ)]を乗算して、その積を
両方の半走査82′および86のデータに印加する。但
し、 (10) φ−φC X (φ)= +0.5 (11) ω (θ φc=               (12)ωは2
つの重み関数を結合するフェザリング幅であり、線72
および74の水平離隔距離である。
10個の検出素子26が張る角度に等しいωの値が充分
であることがわかった。関数3X2 (φ)2X3 (
φ)がフェザリング速度を制御している。これは0と1
の間でなめらかに変るので選ばれている。
本発明の趣旨と範囲の中にある実施例の多数の変形およ
び変更が当業者には考え付くことができよう。たとえば
、他の補間または補作方法を使うことができる。第1お
よび第2の半走査の前後の付加的な半走査からのデータ
を使う方法や高次の補間方法等である。ここで注意しな
ければならないのは、重み付けと再構成の順序は重要で
ないこと、また代案として半走査からイメージを再構成
し、その結果得られたイメージを再構成後に重み付けし
て組み合わせてもよいということである。
更に、各データ要素に関連する2軸位置が決められれば
、テーブルに対してガントリが一定速度で動かない場合
にもこの方法を使うことができる。
最後に、説明を簡単にするため、スライス平面を横切る
ときガントリはπラジアンの所に位置するものと仮定し
てきた。しかし、部分投影組がスライス平面のガントリ
位置を正しく基準としていれば、任意の開始ガントリ角
を用い得ることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図はガントリ、テーブルおよびイメージング対象物
を含むCT装置の概略斜視図であり、相対角度とそれら
と関連した軸を示す。第2a図および第2b図は第1図
のイメージング対象物を図式的に表わしたものであり、
それぞれ一定2軸走査およびらせん走査の場合のイメー
ジング対象物に対するガントリとイメージング平面の相
対配向を示す斜視図であり、らせん走査のピッチはわか
りやすくするため誇張して示しである。第3図は第1図
のCT装置に使用し得る本発明の実施に有用なCT制御
システムのブロック図である。第4図はZ軸に沿って見
て2つのガントリ角θにガントリを配置した場合におけ
る第1図のCT装置からのX線扇状ビームの幾何学的配
置形状を示す線図である。第5a図は第1図のCT装置
に於いてらせん走査で取得される2つの部分的な投影組
の投影データに関連する引数θおよびφを示すグラ1 フである。第5b図は第5a図の部分的な投影組から形
成される第1の半走査を表わすグラフである。第5C図
は第5a図の部分的な投影組から形成される第1および
第2の半走査を表わすグラフである。 [主な符号の説明] 12・・・イメージング対象物、 16・・・ガントリ、 θ・・・ガントリ角度、 φ・・・扇状ビーム角。 2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、らせん走査で取得したデータからイメージング対象
    物の断層撮影像を作成する方法であって、上記データが
    イメージング平面内でz軸を中心とした複数のガントリ
    角度θに於ける一連の扇状ビームの投影で収集され、こ
    れらの扇状ビームの投影が扇状ビーム角φで複数のデー
    タを含んでいるような断層撮影像作成方法に於いて、 a)イメージング対象物に対して、イメー ジング平面と平行なスライス平面z_s_pを識別する
    ステップ、 b)イメージング平面がガントリ角度πで スライス平面を横切るようにz軸に沿ってイメージング
    対象物を動かすと共にガントリを回転させるステップ、 c)イメージング平面がスライス平面を横 切る前のπラジアンのガントリの回転の間に第1の部分
    的投影組のデータを取得するステップ、d)イメージン
    グ平面がスライス平面を横 切った後のπラジアンのガントリの回転の間に第2の部
    分的投影組のデータを取得するステップ、e)第1およ
    び第2の部分的な投影組のデ ータを第1および第2の半走査投影組に分割するステッ
    プ、 f)第1および第2の半走査データを補外 および補間してスライス平面でのデータを求めるステッ
    プ、および g)該スライス平面のデータから断層撮影 像を再構成するステップ を含むことを特徴とする断層撮影像作成方法。 2、上記第1の半走査のデータに第1の重み関数を印加
    し、上記第2の半走査のデータに第2の重み関数を印加
    し、この組み合わされた第1および第2の半走査を全走
    査として再構成することにより、上記のデータの補外お
    よび補間が行なわれる請求項1記載の断層撮影像作成方
    法。 3、上記半走査のデータが対応するガントリ角度θおよ
    び扇状ビーム角φに関連し、第1の重み関数W_1およ
    び第2の重み関数W_2が W_1(θ、φ)=1+(θ−π/π+2φ)W_2(
    θ、φ)=1+(π−θ/π−2φ)で表わされる請求
    項2記載の断層撮影像作成方法。 4、第1の重み関数と第1のフェザリング関数との積を
    上記第1および第2の半走査のデータに印加し、第2の
    重み関数と第2のフェザリング関数との積を上記第1お
    よび第2の半走査のデータに印加し、この組み合わされ
    た第1および第2の半走査を全走査として再構成するこ
    とにより上記のデータの補外および補間が行なわれる請
    求項1記載の断層撮影像作成方法。
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