JPH03184080A - 液晶表示パネルのパターン回路試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、製造した液晶表示パネルのパターン回路が電
気的に適正な接続状態にあるか否かを判定する液晶表示
パネルのパターン回路試験方法に関する。

［従来の技術］ ＴＰＴアクティブマトリックス型の液晶表示パネルにお
いては、透明基板の上に第５図に示すように列方向に沿
う複数本のドレインライン１、および行方向に沿う複数
本のゲートライン２をそれぞれバターニングにより配列
形成し、これらドレインライン１およびゲートライン２
への通電によりＴＦＴ３を介して所要の画素電極４を駆
動して所要の画像を表示するようになっている。

そしてこのような液晶表示パネル用の透明基板を製遺し
た際には、各ドレインライン１および各ゲートライン２
の途中に欠陥などによる電気的なオープンが生じていな
いかどうか、或いはドレインライン１とゲートライン２
との間で電気的なショートが生じていないかどうかを判
定するためのパターン回路試験が行われている。

従来、このようなパターン回路試験は次のようにして行
われている。まず第５図に示すように、ドレインライン
１の一方の端子１ａに電源５および電流計６が直列に接
続された測定線７を、他方の端子１ｂにアース線８をそ
れぞれ接続して前記端子１ａ、ｌｂ間に電圧をかけ、ド
レインライン１に電流が流れるか否かを電流計６により
読取ってドレインライン１におけるオープンの有無を判
定し、このような操作を順次各ドレインライン１に対し
て行なう。次に同様に順次各ゲートライン２の端子２ａ
、２ｂ間に電圧をかけてゲートライン２におけるオープ
ンの有無を判定する。さらに−本のゲートライン２にア
ース線８を接続した状態で順次各ドレインライン１に測
定線７を接続してそれぞれその両者間に７１Ｓ　Ｊｆを
かけ、続いてアース線８を次に並ぶ他のゲートライン２
に接続し、この状態で再び各ドレインライン１に順次測
定線７を接続してその両者間に電圧をかけ、このような
操作を繰り返してドレインライン１とゲートライン２と
の層間で電気的なショートが生じていないかどうか判定
する。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながらこのような試験方法においては、測定線お
よびアース線を接続する回数が極めて多く、このため作
業が煩雑で能率性が低下する難点がある。

本発明はこのような点に着目してなされたもので、その
目的とするところは、測定線およびアース線を接続する
回数を大幅に減少させて作業能率を確実に向上させるこ
とができる液晶表示パネルのパターン回路試験方法を提
供することにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明はこのような目的を遠戚するために、透明基板に
配列形成された複数のドレインラインおよび複数のゲー
トラインの配線の良否を試験する方法であって、前記ド
レインラインの一方側の端子同士、および他方側の端子
同士を交互にそれぞれ外部接続線により結線し、これら
外部接続線により各ドレインラインが直列に接続する第
１のｆｌＦＩ定用直列用直列回路し、前記ゲートライン
の一方側の端子ｌ１ＦＩ±、および他方側の端子同士を
交互にそれぞれ外部接続線により結線し、これら外部接
続線により各ゲートラインが直列に接続する第２の測定
用直列回路を構成し、前記第１の測定用直列回路の両端
子間に電圧をかけて該第１の測定用直列回路に対する導
通の白“無によりドレインラインの電気的なオープンの
有無を判定し、前記第２の測定用直列回路の両端子間に
電圧をかけてゲートラインの電気的なオープンの有無を
判定し、さらに前記第１および第２の測定用直列回路間
に電圧をかけてドレインラインとゲートラインとのショ
ートの有無を判定するようにしたものである。

［作　ｍ］ このような試験方法においては、第１の測定用直列回路
の両端の端子に測定線およびアース線を接続する操作、
第２の測定用直列回路の両端の端子に測定線およびアー
ス線を接続する操作、および第１の測定用直列回路の一
方の端子と第２の測定用直列回路の一方の端子に測定線
およびアース線を接続する操作との三回の操作でドレイ
ンラインおよびゲートラインのそれぞれにおける電気的
なオープンの有無およびショートの有無を能早よく判定
することが可能となる。

［実施例］ 以下、本発明の一実施例について第１図および第２図を
参照して説明する。

ドレインライン１が配列形成された透明基板に予めその
隣り合うドレインライン１の一方側の端子１ａ同士、お
よび他方側の端子１ｂ同士を交互にそれぞれ外部接続線
１０により結線し、これら外部接続線１０により各ドレ
インライン１が直列状態に接続する第１の測定用直列回
路Ａを構成しておく。また同様に、ゲートライン２にお
いても、予めその隣り合うゲートライン２の一方側の端
子２ａ同士、および他方側の端子２ｂ同士を交互にそれ
ぞれ外部接続線１１により結線し、これら外部接続線１
１により各ゲートライン２が直列状態に接続する第２の
＃ｊ定用直列四路Ｂを構成しておく。

このような状態において、第１の測定用直列回路Ａの一
端の端子Ａ、に、電源５および電流計６を備える測定線
７を、他端の端子Ａ２にアース線８をそれぞれ接続して
前記端子Ａ１Ａ２間に電圧をかける。そしてこのとき、
電流計６の針が振れ、第１のハ１定用直列回路Ａに電流
が流れたとすれば、各ドレインライン１にオープンが生
じていないと判定でき、逆に電流：１６の針が振れず、
第１の測定用直列回路Ａに電流が流れなかった場合には
、少なくともいずれか一本のドレインライン１にオープ
ンが土じていると判定することができる。

この場合、多数配列するドレインライン１のうちのどの
ドレインライン１にオープンが生じているかは分からな
いが、一般に透明基板の製造に当っては、多数配列する
ドレインライン１のうちのいずれか一本にでもオープン
が生じていればその透明基板の全体を不良品として取り
扱うのが普通であるから特に問題はない。ただ、どの列
のドレインライン１にオープンが生じたかを特に知りた
い場合には、第１の測定用直列回路Ａの他方の端子Ａ２
にアース線８を接触させた状態で、第１の測定用直列回
路Ａの一方の端子Ａ、側から各ドレインライン１の端子
１ａ。

１ｂに順次Ｍｊ定線７を接続していくようにすれば知る
ことができる。

次に、ゲートライン２のオープンを判定する試験につい
て述べる。まず第２の測定用直列回路Ｂの一端の端子Ｂ
１に測定線７を、他端の端子Ｂ２にアース線８をそれぞ
れ接続して前記端子Ｂ、　　Ｂ、間に電圧をかける。そ
してこのとき、電流計６の針が振れ、第２の測定用直列
回路Ｂに電流が流れたとすれば、各ゲートライン２にオ
ープンが生じていないと判定でき、逆に電流：１：６の
針が振れず、第２の測定用直列回路Ｂに電流が流れなか
った場合には、少なくともいずれか一本のゲートライン
２にオープンが生じていると判定することができる。そ
してこの場合にも、どの列のゲートライン２にオープン
が生したかを特に知りたい場合には、簗２の測定用直列
回路Ｂの他方の端子Ｂ２にアース線８を接続した状態で
、第２の測定用直列回路Ｂの一方の端子Ｂ、側から各ゲ
ートライン２の端子２ａ、２ｂに順次測定線７を接続し
ていくようにすればよい。

さらに、ドレインライン１とゲートライン２との層間で
のショートの有無を試験する場合には、ドレインライン
１で構成される第１の測定用直列回路Ａとゲートライン
２て構成される第２の測定用直列回路Ｂとの間に電圧を
かける。

すなわち例えば第２図に示すように、第１の測定用直列
回路Ａの一方の端子Ａ１に測定線７を接続し、第２の測
定用直列回路Ｂの他方の端子Ｂ２にアース線７を接続す
る。このような状態て測定線７の電流：１６の針が振れ
、第１のｉＰＪ定用直列回路Ａから第２の測定用直列回
路Ｂに電流が流れれば、ドレインライン１とゲートライ
ン２との層間のいずれかの部分でショートが発生してい
ると判定することができる。

このように、ドレインライン１およびゲートライン２で
のオープンの有無、ならびにドレインライン１とゲート
ライン２との層間でのショートの有無の試験を行なった
のちには、各ドレインライン１および各ゲートライン２
とを結線した外部接続線ｘｏ、１ｉを破断して各ドレイ
ンライン１および各ゲートライン２をそれぞれ電気的に
独立させる。外部接続線１０．１１を破断する際には、
予め各外部接続線１０．１１が第１図に示すように透明
基板のスクライブラインＳを跨ぐように配線形成してお
き、透明基板を前記スクライプラインＳに沿って切断す
る遷にその工程で同時に各外部接続線１０．１１を破断
するようにしてもよく、このような手段を採用すればよ
り一層、作業効率が向上する。

ドレインラインおよびゲートラインのオープンの有無を
判定する他の例として第３図に示すような配線構造をと
ることも可能である。この配線構造の場合のドレインラ
インの測定用回路を第４図に拡大して示し、この測定用
回路において、端子Ｉにアース線を接続し、この状態で
端子ａｌ＋　　２＋　　ａ３・・・に順次測定線７を接
続することによりドレインライン１　ａ　１ｒ　　１　
ａ２１１ａ３・・・のオープンの有無を判定でき、端子
Ｈにアース線を接続し、この状態で端子す。

ｂ２・・・に順次７１１１１定線を接続することにより
ドレインライン１ｂ＋、ｌｂ２・・・のオープンの有無
を判定でき、さらに端子■にアース線を接続し、端子■
に測定線を接続することによりドレインラインＩ　Ｃ＋
　＋　　Ｉ　Ｃ２１１Ｃ］　ｌ　　Ｉ　Ｃ４＋ｌｃｓ・
・・のオープンのｈ°無を判定することができる。

［発明の効果］ 以上説明したように本発明によれば、ドレインラインや
ゲートラインの各端子に対する測定線やアース線の接続
回数を大幅に減少させてドレインラインやゲートライン
の配線の良否判定を容易に能率よく行なうことができる
という効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

′２Ｓ１図はドレインラインおよびゲートラインの電気
的なオープンの有無を判定する本発明の試験方法の概念
図、第２図はドレインラインとインラインおよびゲート
ラインの電気的なオープンの有無を判定する場合の配線
構造の他の例を示す配線図、第４図はその配線図中のド
レインラインの配線状態を拡大して示す配線図、第５図
はドレインラインおよびゲートラインの電気的なオープ
ンの有無およびショートの有無を判定する従来の試験方
法の概念図である。 １・・・ドレインライン、２・・・ゲートライン、１１
．１２・・・外部接続線、Ａ・・・第１の測定用直列回
路、Ｂ・・・第２の測定用直列回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 透明基板に配列形成された複数のドレインラインおよび
   複数のゲートラインの配線の良否を試験する方法であっ
   て、前記ドレインラインの一方側の端子同士、および他
   方側の端子同士を交互にそれぞれ外部接続線により結線
   し、これら外部接続線により各ドレインラインが直列に
   接続する第１の測定用直列回路を構成し、前記ゲートラ
   インの一方側の端子同士、および他方側の端子同士を交
   互にそれぞれ外部接続線により結線し、これら外部接続
   線により各ゲートラインが直列に接続する第２の測定用
   直列回路を構成し、前記第１の測定用直列回路の両端子
   間に電圧をかけて該第１の測定用直列回路に対する導通
   の有無によりドレインラインの電気的なオープンの有無
   を判定し、前記第２の測定用直列回路の両端子間に電圧
   をかけてゲートラインの電気的なオープンの有無を判定
   し、さらに前記第１および第２の測定用直列回路間に電
   圧をかけてドレインラインとゲートラインとのショート
   の有無を判定することを特徴とする液晶表示パネルのパ
   ターン回路試験方法。