JPH0318152B2 - - Google Patents
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- JPH0318152B2 JPH0318152B2 JP57086055A JP8605582A JPH0318152B2 JP H0318152 B2 JPH0318152 B2 JP H0318152B2 JP 57086055 A JP57086055 A JP 57086055A JP 8605582 A JP8605582 A JP 8605582A JP H0318152 B2 JPH0318152 B2 JP H0318152B2
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- Japan
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- noise
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- sampling
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Links
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 14
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はノイズ測定装置に関し、特に周期性
のある信号を扱う装置における信号のノイズを測
定する装置に関する。
のある信号を扱う装置における信号のノイズを測
定する装置に関する。
周期性のある信号を扱う装置として、ビデオテ
ープレコーダやビデオデイスクなどがある。従来
これらの装置における再生画のＳ／Ｎ比の測定
は、信号平坦部に重畳されたノイズの実効値で信
号の最大振幅を除して求められていた。ノイズの
実効値は、ビデオノイズメータ、RMS電圧計、
またはオシロスコープを用いて測定していた。し
かし、再生信号の立上がりまたは立下がり部には
平坦部と異なつたノイズが発生する。その原因
は、信号の立上がりまたは立下がり部は高域成分
が強くノイズリダクシヨン回路が良好に動作しな
いこと、プリエンフアシスにより再生FM信号の
搬送周波数が高くなつていること、トラツク間の
Ｈ合わせのずれにより隣接トラツクからの妨害が
あることなどである。このため、実際のビデオテ
ープレコーダやビデオデイスクでは、信号の平坦
部のノイズを測定するだけでは充分に画質を評価
することはできなかつた。
ープレコーダやビデオデイスクなどがある。従来
これらの装置における再生画のＳ／Ｎ比の測定
は、信号平坦部に重畳されたノイズの実効値で信
号の最大振幅を除して求められていた。ノイズの
実効値は、ビデオノイズメータ、RMS電圧計、
またはオシロスコープを用いて測定していた。し
かし、再生信号の立上がりまたは立下がり部には
平坦部と異なつたノイズが発生する。その原因
は、信号の立上がりまたは立下がり部は高域成分
が強くノイズリダクシヨン回路が良好に動作しな
いこと、プリエンフアシスにより再生FM信号の
搬送周波数が高くなつていること、トラツク間の
Ｈ合わせのずれにより隣接トラツクからの妨害が
あることなどである。このため、実際のビデオテ
ープレコーダやビデオデイスクでは、信号の平坦
部のノイズを測定するだけでは充分に画質を評価
することはできなかつた。
それゆえにこの発明の目的は、信号の立上がり
または立下がり部に生ずるノイズの大きさを測定
し、従来よりも実際の使用状態に近い条件でノイ
ズを測定することのできるノイズ測定装置を提供
することである。
または立下がり部に生ずるノイズの大きさを測定
し、従来よりも実際の使用状態に近い条件でノイ
ズを測定することのできるノイズ測定装置を提供
することである。
この発明に係るノイズ測定装置は、サンプリン
グ手段および標準偏差算出手段を備える。サンプ
リング手段は、周期性のある信号の予め定められ
たｍ周期のそれぞれの周期の中にｎ個の点を定
め、策ｊ周期第ｋ点の信号の大きさAjk（１≦ｊ
≦ｍ、１≦ｋ≦ｎ）をサンプリングする。ここ
で、ｍは２以上の整数であり、ｎは１以上の整数
である。また、ｊおよびｋは整数である。標準偏
差算出手段は、サンプリング手段の出力に応答し
て、Aj1（１≦ｊ≦ｍ）の標準偏差、Aj2（１≦ｊ
≦ｍ）の標準偏差、…、Ajn（１≦ｊ≦ｍ）の標
準偏差を、それぞれ求める。
グ手段および標準偏差算出手段を備える。サンプ
リング手段は、周期性のある信号の予め定められ
たｍ周期のそれぞれの周期の中にｎ個の点を定
め、策ｊ周期第ｋ点の信号の大きさAjk（１≦ｊ
≦ｍ、１≦ｋ≦ｎ）をサンプリングする。ここ
で、ｍは２以上の整数であり、ｎは１以上の整数
である。また、ｊおよびｋは整数である。標準偏
差算出手段は、サンプリング手段の出力に応答し
て、Aj1（１≦ｊ≦ｍ）の標準偏差、Aj2（１≦ｊ
≦ｍ）の標準偏差、…、Ajn（１≦ｊ≦ｍ）の標
準偏差を、それぞれ求める。
この発明の上述の目的およびその他の目的と効
果は、図面を参照して行なう以下の詳細な説明に
より一層明らかとなろう。
果は、図面を参照して行なう以下の詳細な説明に
より一層明らかとなろう。
第１図は、この発明の一実施例であるノイズ測
定装置を示す概略ブロツク図である。構成におい
て、被測定用ビデオテープレコーダ１は、入力端
子２と接続される。入力端子２は、水平同期分離
回路３の入力側とサンプリング回路８の入力側と
にそれぞれ接続される。水平同期分離回路３の出
力側は、遅延回路４を介して、フリツプフロツプ
回路５のセツト入力側とカウンタ７のセツト入力
側とに接続される。フリツプフロツプ回路５の出
力側は、ゲート発振器６の入力側と接続され、ゲ
ート発振器６の出力側は、カウンタ７のカウント
入力側とサンプリング回路８の同期入力側とに接
続される。カウンタ７の出力側は、フリツプフロ
ツプ回路５のリセツト入力側と接続される。サン
プリング回路８の出力側は、コンピユータ
（CPU）９と接続される。
定装置を示す概略ブロツク図である。構成におい
て、被測定用ビデオテープレコーダ１は、入力端
子２と接続される。入力端子２は、水平同期分離
回路３の入力側とサンプリング回路８の入力側と
にそれぞれ接続される。水平同期分離回路３の出
力側は、遅延回路４を介して、フリツプフロツプ
回路５のセツト入力側とカウンタ７のセツト入力
側とに接続される。フリツプフロツプ回路５の出
力側は、ゲート発振器６の入力側と接続され、ゲ
ート発振器６の出力側は、カウンタ７のカウント
入力側とサンプリング回路８の同期入力側とに接
続される。カウンタ７の出力側は、フリツプフロ
ツプ回路５のリセツト入力側と接続される。サン
プリング回路８の出力側は、コンピユータ
（CPU）９と接続される。
第２図は、第１図に示す装置における各部の信
号波形を示す概略図である。第２図を利用して、
第１図に示す装置の動作を説明する。
号波形を示す概略図である。第２図を利用して、
第１図に示す装置の動作を説明する。
被測定用ビデオテープレコーダ１に記録された
試験信号は、再生されて入力端子２に与えられ
る。信号ｃは再生された試験信号を示し、これに
はノイズが含まれている。信号ｃは、水平同期分
離回路３とサンプリング回路８とに与えられる。
試験信号は、再生されて入力端子２に与えられ
る。信号ｃは再生された試験信号を示し、これに
はノイズが含まれている。信号ｃは、水平同期分
離回路３とサンプリング回路８とに与えられる。
信号ｃは水平同期分離回路３で水平同期信号が
分離されて信号ｄとなり、さらに遅延回路４で予
め定められる一定時間ｔだけ遅延されて信号ｅと
なる。信号ｅは、フリツプフロツプ回路５のセツ
ト入力側とカウンタ７のセツト入力側とに与えら
れる。フリツプフロツプ回路５は信号ｅでセツト
され、パルス信号ｆを出力する。パルス信号ｆに
応答して、ゲート発振器６は予め定められる一定
周波数ｆHzで発振し、信号ｇを出力する。カウン
タ７は信号ｅに応答して信号ｇのカウントを開始
し、予め定められるｎ個になつた時点でパルス信
号ｈを出力してフリツプフロツプ回路５をリセツ
トする。これによつて、ゲート発振器６は出力を
停止する。
分離されて信号ｄとなり、さらに遅延回路４で予
め定められる一定時間ｔだけ遅延されて信号ｅと
なる。信号ｅは、フリツプフロツプ回路５のセツ
ト入力側とカウンタ７のセツト入力側とに与えら
れる。フリツプフロツプ回路５は信号ｅでセツト
され、パルス信号ｆを出力する。パルス信号ｆに
応答して、ゲート発振器６は予め定められる一定
周波数ｆHzで発振し、信号ｇを出力する。カウン
タ７は信号ｅに応答して信号ｇのカウントを開始
し、予め定められるｎ個になつた時点でパルス信
号ｈを出力してフリツプフロツプ回路５をリセツ
トする。これによつて、ゲート発振器６は出力を
停止する。
ゲート発振器６が出力する時間Ｓは、ｎ／ｆに
より与えられる。この時間Ｓ内に信号ｃの立上が
り部分が含まれるように、ｔとｆとｎとを決定す
ればよい。たとえば、ｔ＝2.5μsec、ｆ＝20MHz、
ｎ＝32とすることが考えられる。
より与えられる。この時間Ｓ内に信号ｃの立上が
り部分が含まれるように、ｔとｆとｎとを決定す
ればよい。たとえば、ｔ＝2.5μsec、ｆ＝20MHz、
ｎ＝32とすることが考えられる。
一方サンプリング回路８は前述のように再生さ
れた試験信号ｃを受けて、ゲート発振器６の出力
信号ｇに同期して信号ｃの大きさをｎ回サンプリ
ングする。以上の操作が、信号ｃのｍ周期にわた
つて行なわれる。それぞれの周期におけるｎ回の
サンプリングは等間隔で行なわれるので、ｍ周期
にわたるｎの周期上の同一点における信号ｃの大
きさがサンプリングされることになる。
れた試験信号ｃを受けて、ゲート発振器６の出力
信号ｇに同期して信号ｃの大きさをｎ回サンプリ
ングする。以上の操作が、信号ｃのｍ周期にわた
つて行なわれる。それぞれの周期におけるｎ回の
サンプリングは等間隔で行なわれるので、ｍ周期
にわたるｎの周期上の同一点における信号ｃの大
きさがサンプリングされることになる。
第３Ａ図は、上述の操作によつてサンプリング
された信号ｃの大きさのうち、第１周期目のもの
を示す概略図である。図において、Ａ１１，Ａ１
２，…，Ａ１ｎがサンプリングされた信号ｃの大
きさを表わしている。Ａ１１は第１周期の第１同
一点の信号ｃの大きさ、Ａ１２は第１周期の第２
同一点の信号ｃの大きさ、Ａ１ｎは第１周期の第
ｎ同一点の信号ｃの大きさをそれぞれ表わしてい
る。サンプリングはｍ周期にわたつて行なわれて
いるので、第３Ａ図に示すような概略図がｍ個存
在することになる。一般的に第ｊ周期の第ｋ同一
点においてサンプリングされた信号の大きさを
Ajk（１≦ｊ≦ｍ、１≦ｋ≦ｎ、ｊおよびｋは整
数）とする。
された信号ｃの大きさのうち、第１周期目のもの
を示す概略図である。図において、Ａ１１，Ａ１
２，…，Ａ１ｎがサンプリングされた信号ｃの大
きさを表わしている。Ａ１１は第１周期の第１同
一点の信号ｃの大きさ、Ａ１２は第１周期の第２
同一点の信号ｃの大きさ、Ａ１ｎは第１周期の第
ｎ同一点の信号ｃの大きさをそれぞれ表わしてい
る。サンプリングはｍ周期にわたつて行なわれて
いるので、第３Ａ図に示すような概略図がｍ個存
在することになる。一般的に第ｊ周期の第ｋ同一
点においてサンプリングされた信号の大きさを
Ajk（１≦ｊ≦ｍ、１≦ｋ≦ｎ、ｊおよびｋは整
数）とする。
コンピユータ９は、Ajkを受けて、以下に説明
する演算を行なつて信号ｃのノイズを測定する。
する演算を行なつて信号ｃのノイズを測定する。
まずAjkに
A′jk＝Ajk−Aj1
の操作を行ない、A′jkを求める。これは、各周
期のサンプル値の初期値が０になるように、各周
期ごとに全体を上下にずらすことに相当する。第
３Ａ図では、破線がこれに相当する。これによつ
て、ビデオテープレコーダ再生系の低域歪の影響
が除去される。
期のサンプル値の初期値が０になるように、各周
期ごとに全体を上下にずらすことに相当する。第
３Ａ図では、破線がこれに相当する。これによつ
て、ビデオテープレコーダ再生系の低域歪の影響
が除去される。
次に
Bk＝（n
〓j=1
A′jk）／ｍ
の操作を行ない、Bkを求める。Bkは、ｍ周期に
わたる第ｋ同一点のサンプル値の平均値を与え
る。第３Ｂ図はBkを連ねて表わされる波形を示
し、信号ｃの立上がり部分のｍ周期分の平均的波
形を表わしている。
わたる第ｋ同一点のサンプル値の平均値を与え
る。第３Ｂ図はBkを連ねて表わされる波形を示
し、信号ｃの立上がり部分のｍ周期分の平均的波
形を表わしている。
最後に
σk＝［｛n
〓j=1
（A′jk−Bk）2｝／ｍ］1/2
の操作を行ない、各同一点ごとの標準偏差σkを
求める。σkは信号ｃの立上がり部分における信
号の大きさのばらつきを表わし、つまり信号ｃの
立上がり部分のノイズの大きさを表わす。第３Ｃ
図は、σkを連ねて表わされるグラフを示してい
る。通常σkは立上がり部分の中間で最大値をと
り、このことは信号の平坦部分よりも立上がり部
分のノイズが多いことを意味している。
求める。σkは信号ｃの立上がり部分における信
号の大きさのばらつきを表わし、つまり信号ｃの
立上がり部分のノイズの大きさを表わす。第３Ｃ
図は、σkを連ねて表わされるグラフを示してい
る。通常σkは立上がり部分の中間で最大値をと
り、このことは信号の平坦部分よりも立上がり部
分のノイズが多いことを意味している。
なお、上記実施例では、
A′jk＝Ajk−Aj1
の操作を行なつてA′jkを求めたが、
A′jk＝Ajk（Aj1＋Aj2＋Aj3）／３
としてもよい。こうすることによつてAj1にノイ
ズが加わつた場合の影響を緩和することができ
る。またサンプル値の最初の３点の平均に限るこ
となく、２点またはさらに多くの点の平均を利用
してもよい。以上の場合においても、上述の実施
例と同様の効果を奏する。
ズが加わつた場合の影響を緩和することができ
る。またサンプル値の最初の３点の平均に限るこ
となく、２点またはさらに多くの点の平均を利用
してもよい。以上の場合においても、上述の実施
例と同様の効果を奏する。
また上記実施例では信号の立上がり部分におい
てのみ説明したが、立下がり部分についても同様
に応用できる。またビデオテープレコーダに限ら
ず、他の周期性信号を利用する装置についても利
用できる。この場合においても上述の実施例と同
様の効果を奏する。
てのみ説明したが、立下がり部分についても同様
に応用できる。またビデオテープレコーダに限ら
ず、他の周期性信号を利用する装置についても利
用できる。この場合においても上述の実施例と同
様の効果を奏する。
以上のようにこの発明によれば、従来の方法の
ように信号の平坦部分のみに限らず、信号の立上
がり部および立下がりに生ずるノイズも測定する
ことができ、実際の使用状態に近い条件でノイズ
を測定することができるという効果が得られる。
また再生波形にリンギングなどの歪が生じても、
平均値からの偏差の形で求めたノイズ値の中には
含まれることがなく、その影響を受けることがな
いという効果も得られる。さらに、データの採取
計算はデイジタル的に行なわれ、測定が個人差な
く正確に行なわれるという効果も得られる。
ように信号の平坦部分のみに限らず、信号の立上
がり部および立下がりに生ずるノイズも測定する
ことができ、実際の使用状態に近い条件でノイズ
を測定することができるという効果が得られる。
また再生波形にリンギングなどの歪が生じても、
平均値からの偏差の形で求めたノイズ値の中には
含まれることがなく、その影響を受けることがな
いという効果も得られる。さらに、データの採取
計算はデイジタル的に行なわれ、測定が個人差な
く正確に行なわれるという効果も得られる。
第１図はこの発明の一実施例であるノイズ測定
装置を示す概略ブロツク図、第２図は第１図に示
す装置の各部の波形を示す概略図、第３Ａ図はサ
ンプリング回路８でサンプリングされた信号の立
上がり部を示す概略図、第３Ｂ図はコンピユータ
９で求めたｍ周期にわたる信号の立上がり部の平
均的波形図、第３Ｃ図はコンピユータ９で求めた
信号の立上がり部の標準偏差を表わす概略図であ
る。 図において、１は被測定用ビデオテープレコー
ダ、２は入力端子、３は水平同期分離回路、４は
遅延回路、５はフリツプフロツプ回路、６はゲー
ト発振器、７はカウンタ、８はサンプリング回
路、９はコンピユータ（CPU）をそれぞれ示す。
装置を示す概略ブロツク図、第２図は第１図に示
す装置の各部の波形を示す概略図、第３Ａ図はサ
ンプリング回路８でサンプリングされた信号の立
上がり部を示す概略図、第３Ｂ図はコンピユータ
９で求めたｍ周期にわたる信号の立上がり部の平
均的波形図、第３Ｃ図はコンピユータ９で求めた
信号の立上がり部の標準偏差を表わす概略図であ
る。 図において、１は被測定用ビデオテープレコー
ダ、２は入力端子、３は水平同期分離回路、４は
遅延回路、５はフリツプフロツプ回路、６はゲー
ト発振器、７はカウンタ、８はサンプリング回
路、９はコンピユータ（CPU）をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 周期性のある信号に含まれるノイズを測定す
るノイズ測定装置であつて、 前記信号の予め定められるｍ周期（ｍは２以上
の整数で第１周期〜第ｍ周期とする）のそれぞれ
の周期の中にさらにｎ個（ｎは１以上の整数とす
る）の点を定め、第ｊ周期第ｋ点の信号の大きさ
Ajk（１≦ｊ≦ｍ、１≦ｋ≦ｎ、ｊおよびｋは整
数とする）をサンプリングするサンプリング手段
と、 前記サンプリング手段の出力に応答して、Aj1
（１≦ｊ≦ｍ）の標準偏差、Aj2（１≦ｊ≦ｍ）の
標準偏差、…、Ajn（１≦ｊ≦ｍ）の標準偏差を
それぞれ求める標準偏差算出手段とを備える、ノ
イズ測定装置。 ２ 前記標準偏差算出手段は、A′1k＝A1k−Z1、
A′2k＝A2k−Z2、…、A′mk＝AmK−Zm（１≦
ｋ≦ｎでZ1、Z2、…、Zmはそれぞれ予め定めら
れる一定の数）を求めて、A′j1（１≦ｊ≦ｍ）の
標準偏差、A′j2（１≦ｊ≦ｍ）の標準偏差、…、
A′jn（１≦ｊ≦ｍ）の標準偏差をそれぞれ求める
手段である、特許請求の範囲第１項記載のノイズ
測定装置。 ３ 前記Zj（１≦ｊ≦ｍ）はAj1（１≦ｊ≦ｍ）で
ある、特許請求の範囲第２項記載のノイズ測定装
置。 ４ 前記Zjは（Aj1＋Aj2＋…＋Ajp）／ｐ（２≦
ｐ≦ｎでｐは整数）である、特許請求の範囲第２
項記載のノイズ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8605582A JPS58201073A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | ノイズ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8605582A JPS58201073A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | ノイズ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58201073A JPS58201073A (ja) | 1983-11-22 |
| JPH0318152B2 true JPH0318152B2 (ja) | 1991-03-11 |
Family
ID=13875998
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8605582A Granted JPS58201073A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | ノイズ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58201073A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0782055B2 (ja) * | 1987-10-20 | 1995-09-06 | 三洋電機株式会社 | ノイズ検出装置 |
| JPH0782056B2 (ja) * | 1987-10-20 | 1995-09-06 | 三洋電機株式会社 | ノイズ検出装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53143275A (en) * | 1977-05-18 | 1978-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | Noise measuring apparatus |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP8605582A patent/JPS58201073A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53143275A (en) * | 1977-05-18 | 1978-12-13 | Mitsubishi Electric Corp | Noise measuring apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58201073A (ja) | 1983-11-22 |
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