JPH03179428A - 半導体光素子及びその使用方法 - Google Patents
半導体光素子及びその使用方法Info
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- JPH03179428A JPH03179428A JP1319723A JP31972389A JPH03179428A JP H03179428 A JPH03179428 A JP H03179428A JP 1319723 A JP1319723 A JP 1319723A JP 31972389 A JP31972389 A JP 31972389A JP H03179428 A JPH03179428 A JP H03179428A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電界を印加することによって吸収スペクトル
が大きく変化する半導体光素子及びその使用法に関する
。
が大きく変化する半導体光素子及びその使用法に関する
。
3゜
[従来の技術]
従来、第9図に示す様なエネルギー準位を有する通常の
多重量子井戸(MQW)を、p領域とn型領域とで挾ん
だ半導体光素子を作成し、第10図に示す如く逆バイア
スFをかけることが行なわれている。
多重量子井戸(MQW)を、p領域とn型領域とで挾ん
だ半導体光素子を作成し、第10図に示す如く逆バイア
スFをかけることが行なわれている。
逆バイアスFをかけるときの半導体光素子の吸収スペク
トルは第11図に示す如きものとなり、F(KV/cm
)の変化により吸収スペクトルの励起子吸収ピーク、吸
収端などが相当大きく変化することが分かる。そこで、
第11図の矢印のところの光子エネルギー名ω1での吸
収係数α(ω1)の逆バイアスFに対する依存性をプロ
ットすると第12図の様になる。この吸収係数の変化は
バルク結晶ではとても得られない様な大きなものである
為、この効果を用いた光変調器や光双安定素子等への幅
広い応用が報告されている(たとえば、D、A、B、M
E 11er eta1、IEEE J、Quan
tum Electronics、 QE−21(
1985)1462参照)。
トルは第11図に示す如きものとなり、F(KV/cm
)の変化により吸収スペクトルの励起子吸収ピーク、吸
収端などが相当大きく変化することが分かる。そこで、
第11図の矢印のところの光子エネルギー名ω1での吸
収係数α(ω1)の逆バイアスFに対する依存性をプロ
ットすると第12図の様になる。この吸収係数の変化は
バルク結晶ではとても得られない様な大きなものである
為、この効果を用いた光変調器や光双安定素子等への幅
広い応用が報告されている(たとえば、D、A、B、M
E 11er eta1、IEEE J、Quan
tum Electronics、 QE−21(
1985)1462参照)。
[発明が解決しようとする課題]
以上の様な半導体光素子の特性としては、言うまでもな
く、第12図に示す様に、逆バイアスFによる吸収係数
α(ω、)の変化が出来る限り大きい方が良い、特に、
光双安定素子等への応用を考えると、第13図に模式的
に示した様に、大きな凹みを持った特性が望ましい。
く、第12図に示す様に、逆バイアスFによる吸収係数
α(ω、)の変化が出来る限り大きい方が良い、特に、
光双安定素子等への応用を考えると、第13図に模式的
に示した様に、大きな凹みを持った特性が望ましい。
しかし、従来例ではこの凹みを得るのに、重い正札(h
h)の励起子と軽い正孔(1n)の励起子の2つの励起
子吸収ピーク(第11図の吸収スペクトルにおけるピー
ク)に頼っていた。この為、次の様な欠点を有していた
。
h)の励起子と軽い正孔(1n)の励起子の2つの励起
子吸収ピーク(第11図の吸収スペクトルにおけるピー
ク)に頼っていた。この為、次の様な欠点を有していた
。
(1)第12図に示す如く、あまり大きな凹みが(与ら
れない。
れない。
(2)対象とする光子エネルギー看ω、を狭い励起子吸
収ピークに正確に合わせる必要がある。
収ピークに正確に合わせる必要がある。
(3)CuCLの様な、価電子帯の頂上付近が縮退して
いない半導体から成る量子井戸構造では上記凹みが得ら
れない。
いない半導体から成る量子井戸構造では上記凹みが得ら
れない。
(4)GaAs/A I GaAs等の量子井戸構造で
は、室温で励起子吸収ピークが存在する(室温励起子)
が、他の半導体、特に広ギャップの半導体では、電子格
子相互作用が強い為に必ずしも室温励起子は得られない
、その場合、室温では殆ど凹みはなくなってしまう。
は、室温で励起子吸収ピークが存在する(室温励起子)
が、他の半導体、特に広ギャップの半導体では、電子格
子相互作用が強い為に必ずしも室温励起子は得られない
、その場合、室温では殆ど凹みはなくなってしまう。
したがって、本発明の目的は、上記課題に迄み、上記従
来例の問題点を全て解決した半導体光素子及びその使用
方法を提供することにある。
来例の問題点を全て解決した半導体光素子及びその使用
方法を提供することにある。
[課題を解決する為の手段]
上記目的を達成する本発明による半導体光素子は、上記
従来例で用いられる通常の量子井戸構造(QWS)の代
わりに、次の様なシュタルク結合する非対称2重量子井
戸構造(Asymmetric Dual Q
uantum Well 5tructure、略し
てADQWS)を用い、次の様な構成を有している。
従来例で用いられる通常の量子井戸構造(QWS)の代
わりに、次の様なシュタルク結合する非対称2重量子井
戸構造(Asymmetric Dual Q
uantum Well 5tructure、略し
てADQWS)を用い、次の様な構成を有している。
先ず、第1図に示す様にn型領域とn型領域の間に異な
る2つの量子井戸(図示例では深さと幅の両方が異なる
が、これに限らない)が近接して設けられ(これを非対
称2重量子井戸構造(ADQWS)と呼ぶことにする)
、このADQWSの、上記n型領域に近い方の井戸をa
、n型領域に近い方の井戸をす、夫々のバンドギャップ
をEa、E−”、両井戸a、b間のバリアをc、伝導帯
の基底サブバンドの量子化エネルギー(伝導帯aの底か
ら上向きに測る)をE1、その波動函数なφ5、第2サ
ブバンドの量子化エネルギーをC1n、その波動函数を
φ2、価電子帯の基底サブバンドの量子化エネルギー(
価電子帯の頂上から下向きに測る)をE1、その波動函
数をφ1.第2サブバンドの量子化エネルギーをEx、
その波動函数をφ1nとするとき、ADQWSの構造は
、その波動函数と固有エネルギーが次の如き性質を持つ
様な組成や厚さになっている(これをシュタルク結合(
Stark coupl i ng)の条件と呼ぶこ
とにする)。
る2つの量子井戸(図示例では深さと幅の両方が異なる
が、これに限らない)が近接して設けられ(これを非対
称2重量子井戸構造(ADQWS)と呼ぶことにする)
、このADQWSの、上記n型領域に近い方の井戸をa
、n型領域に近い方の井戸をす、夫々のバンドギャップ
をEa、E−”、両井戸a、b間のバリアをc、伝導帯
の基底サブバンドの量子化エネルギー(伝導帯aの底か
ら上向きに測る)をE1、その波動函数なφ5、第2サ
ブバンドの量子化エネルギーをC1n、その波動函数を
φ2、価電子帯の基底サブバンドの量子化エネルギー(
価電子帯の頂上から下向きに測る)をE1、その波動函
数をφ1.第2サブバンドの量子化エネルギーをEx、
その波動函数をφ1nとするとき、ADQWSの構造は
、その波動函数と固有エネルギーが次の如き性質を持つ
様な組成や厚さになっている(これをシュタルク結合(
Stark coupl i ng)の条件と呼ぶこ
とにする)。
(1)上記n型領域とn型領域の間に印加される逆バイ
アス電界Fが小さいときは、伝導帯の基底サブバンドの
波動函数φ、は主として井戸aの方に大きな振幅を持つ
(第2図(a))。
アス電界Fが小さいときは、伝導帯の基底サブバンドの
波動函数φ、は主として井戸aの方に大きな振幅を持つ
(第2図(a))。
(2)逆バイアス電界Fを数十ないし数百KV/cm程
度の大きさに増すときは、伝導帯の基底サブバンドの波
動函数φ1は主として井戸すの方に大きな振幅を持つ(
第2図(C))。
度の大きさに増すときは、伝導帯の基底サブバンドの波
動函数φ1は主として井戸すの方に大きな振幅を持つ(
第2図(C))。
(3)逆バイアス電界Fが上記の大きさの範囲(すなわ
ち数十ないし数百K V / c m程度以下)にある
とき、このFの大きさに係わらず、価電子帯の基底サブ
バンドの波動函数φ♂は主として井戸aの方に大きな振
幅を持つ(第2図(a)、(b)、(c))。
ち数十ないし数百K V / c m程度以下)にある
とき、このFの大きさに係わらず、価電子帯の基底サブ
バンドの波動函数φ♂は主として井戸aの方に大きな振
幅を持つ(第2図(a)、(b)、(c))。
(4)伝導帯の第2サブバンドの量子化エネルギーE、
と同じく基底サブバンドの量子化エネルギーE1の差E
m E 、の値は逆バイアス電界Fの大きさによっ
て変化するが、このFが上記の範囲にあるときのE、−
E、の値の小値は、散乱によるブロードニング(bro
adenLng)の幅「よりも大きい。
と同じく基底サブバンドの量子化エネルギーE1の差E
m E 、の値は逆バイアス電界Fの大きさによっ
て変化するが、このFが上記の範囲にあるときのE、−
E、の値の小値は、散乱によるブロードニング(bro
adenLng)の幅「よりも大きい。
(5)逆バイアス電界Fを印加するに従って、井戸Hの
方に大きな振幅を持つ状態と井戸すの方に大きな振幅を
持つ状態とが混ざり合うので(これをシュタルク結合と
結ぶ、上記差E * E +が最小になる様な逆バイ
アス電界Fを印加したときに、この混ざり合いは最大に
なり、このときのFの値Fmを最大結合電界(maxi
mal−couplig field)と呼ぶ、)、
上記差E、−E、の値の最小値はOでなく有限にある(
第2図(b))。
方に大きな振幅を持つ状態と井戸すの方に大きな振幅を
持つ状態とが混ざり合うので(これをシュタルク結合と
結ぶ、上記差E * E +が最小になる様な逆バイ
アス電界Fを印加したときに、この混ざり合いは最大に
なり、このときのFの値Fmを最大結合電界(maxi
mal−couplig field)と呼ぶ、)、
上記差E、−E、の値の最小値はOでなく有限にある(
第2図(b))。
本発明による半導体光素子は、上記構成の記載において
符号の定義以外の部分の「伝導帯」と「価電子帯」を全
て入れ換え、且つ「p型」と「n型」を全て入れ換えた
構成のものでも良い、また、上記構成のADQWSを複
数個設けた構成でも良い、更に上記構成の半導体光素子
に、前記p空領域とn型領域の間に逆バイアス電界Fを
印加する手段を加えた構成にしても良い。
符号の定義以外の部分の「伝導帯」と「価電子帯」を全
て入れ換え、且つ「p型」と「n型」を全て入れ換えた
構成のものでも良い、また、上記構成のADQWSを複
数個設けた構成でも良い、更に上記構成の半導体光素子
に、前記p空領域とn型領域の間に逆バイアス電界Fを
印加する手段を加えた構成にしても良い。
上記構成を有することにより、従来よりも高効率の光変
調や光双安定動作が得られる特性を有する半導体光素子
に、上記最大結合電界Fヨと同程度の大きさの逆バイア
ス電界を印加して、上記ADQWSの吸収スペクトルの
吸収端近傍の光子エネルギーを持つ光をこの半導体光素
子に入射させる半導体光素子の使い方も本発明の対称で
ある(第1O図のMQWを本発明のADQWSに置き換
えた使い方は一例である)。
調や光双安定動作が得られる特性を有する半導体光素子
に、上記最大結合電界Fヨと同程度の大きさの逆バイア
ス電界を印加して、上記ADQWSの吸収スペクトルの
吸収端近傍の光子エネルギーを持つ光をこの半導体光素
子に入射させる半導体光素子の使い方も本発明の対称で
ある(第1O図のMQWを本発明のADQWSに置き換
えた使い方は一例である)。
[作用j
以上の条件を満たすADQWSの波動函数を第2図(a
)、(b)、(c)に、その量子準位ないし量子化エネ
ルギーを第3図に模式的に示す、第3図で、点線は、仮
に、ADQWSの2つの井戸a、bの間のバリアーCの
高さが無限大であるとしたときの電子の量子準位Eas
Ellと正孔の量子準位E、1n、E1nを模式的に示
す。
)、(b)、(c)に、その量子準位ないし量子化エネ
ルギーを第3図に模式的に示す、第3図で、点線は、仮
に、ADQWSの2つの井戸a、bの間のバリアーCの
高さが無限大であるとしたときの電子の量子準位Eas
Ellと正孔の量子準位E、1n、E1nを模式的に示
す。
第2図、第3図の振舞は次の様な考察から理解できる。
仮に、ADQWSの2つの井戸a%bの間のバリアーC
の高さが無限大であるとしたときの電子の量子準位E−
1Ebに対応する波動函数をφ、、φゎ、正札の量子準
位E、″、Eb″′に対応する波動函数をφ1.φtと
する先ず、電子の量子状態を考えると、逆バイアス電界
F=Oのときは、φ、〜φ1.φ2〜φ5であり(第2
図(a))、E、−E。
の高さが無限大であるとしたときの電子の量子準位E−
1Ebに対応する波動函数をφ、、φゎ、正札の量子準
位E、″、Eb″′に対応する波動函数をφ1.φtと
する先ず、電子の量子状態を考えると、逆バイアス電界
F=Oのときは、φ、〜φ1.φ2〜φ5であり(第2
図(a))、E、−E。
、E2〜E、である(第3図)。
逆バイアス電界Fを増してゆくと、井戸すの方が井戸a
よりも電子に対する静電ポテンシャルが低くなるので、
E、はE、に近付いていく(第3図)0個々の井戸a、
b内での量子閉じ込めシュタルク効果によるレッドシフ
ト(red sh i f1、量子準位が低エネルギ
ー側にシフトすること)は、これより小さいのであまり
重要でない。このとき、実際の波動函数は、バリアーC
が有限である為にφ1にはφゎの成分が混じってくるし
く1’!2図(b))、逆にφ、にはφ、の成分が混じ
ってくる(第2図(b))、この混合により、EtはE
、より小さくなり、E2はEゎより大きくなる(第3図
)、そして、E、〜E、となる位の電界(F=Fm)を
かけると、基底サブバンドの波動函数φ1〜(φ、+φ
、)/J2、第2サブバンドの波動函数φ2〜(φ、−
φよ)/J2の様に、φ、とφ。とをほぼ等型温ぜたも
のになる(第2図(b))、このとき、E、−E、は最
小になる(第3図)。
よりも電子に対する静電ポテンシャルが低くなるので、
E、はE、に近付いていく(第3図)0個々の井戸a、
b内での量子閉じ込めシュタルク効果によるレッドシフ
ト(red sh i f1、量子準位が低エネルギ
ー側にシフトすること)は、これより小さいのであまり
重要でない。このとき、実際の波動函数は、バリアーC
が有限である為にφ1にはφゎの成分が混じってくるし
く1’!2図(b))、逆にφ、にはφ、の成分が混じ
ってくる(第2図(b))、この混合により、EtはE
、より小さくなり、E2はEゎより大きくなる(第3図
)、そして、E、〜E、となる位の電界(F=Fm)を
かけると、基底サブバンドの波動函数φ1〜(φ、+φ
、)/J2、第2サブバンドの波動函数φ2〜(φ、−
φよ)/J2の様に、φ、とφ。とをほぼ等型温ぜたも
のになる(第2図(b))、このとき、E、−E、は最
小になる(第3図)。
更にFを増してゆくと、φ、はφゎの成分の方が多くな
り、φ2はφ、の成分の方が多くなる(第2図(C))
。その結果、ElはE、に近付き、E、はE、に近付い
て行く(第3図)。
り、φ2はφ、の成分の方が多くなる(第2図(C))
。その結果、ElはE、に近付き、E、はE、に近付い
て行く(第3図)。
これに対して、正孔の量子状態は、E 1nとE bh
がFを増すほど離れて行くので、基底サブバンドについ
ては電子の場合の様な混合は殆ど起こらない(第2図、
第3図)、即ち、Fの大きさに依らずにφ1h〜φ、″
であり、Eh、H,t″である。正札の第2サブバンド
の方は、Fm0ではφ8″〜φm5E1n〜EIl″′
であるが、Fを増すに従って、井戸aの第2$位φ、″
に移っていく。
がFを増すほど離れて行くので、基底サブバンドについ
ては電子の場合の様な混合は殆ど起こらない(第2図、
第3図)、即ち、Fの大きさに依らずにφ1h〜φ、″
であり、Eh、H,t″である。正札の第2サブバンド
の方は、Fm0ではφ8″〜φm5E1n〜EIl″′
であるが、Fを増すに従って、井戸aの第2$位φ、″
に移っていく。
以上の第2図、第3図の説明から、吸収端での吸収スペ
クトルのF依存性が次の様にして分かる。
クトルのF依存性が次の様にして分かる。
先ず、電子についてE、<Eb 、正孔についてEM″
′<E1、+1であるので、吸収端はtω〜Ea’+E
a +Ea’辺りにあり、φ1nからφ。
′<E1、+1であるので、吸収端はtω〜Ea’+E
a +Ea’辺りにあり、φ1nからφ。
への遷移が効(。φI″〜φ1nなので、価電子帯は基
底サブバンドのφ−だけを考えれば良く、他方、伝導帯
は基底サブバンドのφ1n、第2サブバンドのφ、の両
方にφ、の成分が入っているので、両方の状態を考える
必要がある(第2図)。
底サブバンドのφ−だけを考えれば良く、他方、伝導帯
は基底サブバンドのφ1n、第2サブバンドのφ、の両
方にφ、の成分が入っているので、両方の状態を考える
必要がある(第2図)。
価電子帯の第2サブバンドφ、″のかかわる遷移はエネ
ルギー的にこれより高いか、若しくは、振動子強度が小
さいので、効いてこない。これは、今まで述べた様な条
件を満たすADQWSであれば大抵その様になるが、応
、ADQWSの構造を設計する時には、それを確認して
おくと良い。
ルギー的にこれより高いか、若しくは、振動子強度が小
さいので、効いてこない。これは、今まで述べた様な条
件を満たすADQWSであれば大抵その様になるが、応
、ADQWSの構造を設計する時には、それを確認して
おくと良い。
第2図に沿って説明したφ1n、φ、の振舞及びφ−0
とφ墨、φ2の重なりの程度から、価電子帯の基底サブ
バンドのφ1hから伝導帯の基底サブバンドのφ1n、
第2サブバンドのφ2への遷移の振動子強度は、第4図
の様になることが判る(波動函数の重なりの程度が大き
い程、遷移強度は大きくなる)、これと第3図を合わせ
ると、Fを変化させたときの吸収スペクトルは第5図の
様になることが判る。
とφ墨、φ2の重なりの程度から、価電子帯の基底サブ
バンドのφ1hから伝導帯の基底サブバンドのφ1n、
第2サブバンドのφ2への遷移の振動子強度は、第4図
の様になることが判る(波動函数の重なりの程度が大き
い程、遷移強度は大きくなる)、これと第3図を合わせ
ると、Fを変化させたときの吸収スペクトルは第5図の
様になることが判る。
即ち、第5図において、FmOのとき(実線で示す)、
φI”(E1n)からφ1 (El)への遷移が大きく
効いて吸収スペクトルは大きく立ち上がり、これより高
い光子エネルギーftωのところでφ1n(E、″)か
らφオ (E、)への遷移が更に少し効いて小さな段状
の吸収の増加がある。F=Fmのとき(実線に黒点を付
した線)%初めφ1n(E1n)からφ(E、)への遷
移が中位に効いて吸収スペクトルは中位に立ち上がり、
これより高い光子エネルギーのところでφ1n(E1n
)からφ(E2)への遷移が更に中位に効いて同じく中
位の段状の吸収の増加がある。F>Fmのとき(実線に
×印を付したものと実線に三角印を付したもの)、初め
φ1n(E、″)からφ、(E、)への遷移が少し効い
て吸収スペクトルは小さく立ち上がり、これより高い光
子エネルギーのところでφ1n(E1n)からφ(E2
)への遷移が更に大きく効いて大きな段状の吸収の増加
がある。吸収端及び段状部の光子エネルギーの変化は、
第3図におけるE、″とEl 、Exとのエネルギー差
に対応している。
φI”(E1n)からφ1 (El)への遷移が大きく
効いて吸収スペクトルは大きく立ち上がり、これより高
い光子エネルギーftωのところでφ1n(E、″)か
らφオ (E、)への遷移が更に少し効いて小さな段状
の吸収の増加がある。F=Fmのとき(実線に黒点を付
した線)%初めφ1n(E1n)からφ(E、)への遷
移が中位に効いて吸収スペクトルは中位に立ち上がり、
これより高い光子エネルギーのところでφ1n(E1n
)からφ(E2)への遷移が更に中位に効いて同じく中
位の段状の吸収の増加がある。F>Fmのとき(実線に
×印を付したものと実線に三角印を付したもの)、初め
φ1n(E、″)からφ、(E、)への遷移が少し効い
て吸収スペクトルは小さく立ち上がり、これより高い光
子エネルギーのところでφ1n(E1n)からφ(E2
)への遷移が更に大きく効いて大きな段状の吸収の増加
がある。吸収端及び段状部の光子エネルギーの変化は、
第3図におけるE、″とEl 、Exとのエネルギー差
に対応している。
そこで、第5図の矢印のところの光子エネルギー(5ω
1)を持つ光に対する吸収係数α(ω1)のF依存性を
プロットすると(破線が各吸収スペクトルと交わるとこ
ろのαを見る)、第6図の様になり、従来例である第1
2図に比べて極め大きな変化が得られることが判る。
1)を持つ光に対する吸収係数α(ω1)のF依存性を
プロットすると(破線が各吸収スペクトルと交わるとこ
ろのαを見る)、第6図の様になり、従来例である第1
2図に比べて極め大きな変化が得られることが判る。
[実施例]
GaAs/AlGaAsを用いたADQWSを有する半
導体光素子の例を述べる。数値計算の結果、第7図に示
す構造のADQWSがよい特性を示す構造の1つである
ことが判った。ここにおいてXはAIgGa+−xAs
におけるXの値を示す。
導体光素子の例を述べる。数値計算の結果、第7図に示
す構造のADQWSがよい特性を示す構造の1つである
ことが判った。ここにおいてXはAIgGa+−xAs
におけるXの値を示す。
上記数値計算により、所望の波動函数やエネルギー準位
を持つADQWSの構造を決定するのであるが、この計
算には、例えば中村他、IEEE J、Quantu
m Electronics、QE−29(1989
)889に述べられている方法を用いれば良い、その様
にして数値的に得られた特性と、実際に作成したものの
特性が良く一致することは、様々な量子井戸での検証に
よって裏付けられている。このIIII造のADQWを
結晶成長させるには、MBE法(分子線エピタキシャル
l去)やMOCVD法(有機金g熱分解法)を用いて容
易にできる。逆バイアス電界印加用の電極を作成するの
は従来例と全く同様の仕方で行なえば良い、これらにつ
いては最近15年分程のApplied Physi
cs LettersやIEEE Journal
of Quantum Electronfc
sを参照すれば容易に判るので、詳しい説明は省略する
。
を持つADQWSの構造を決定するのであるが、この計
算には、例えば中村他、IEEE J、Quantu
m Electronics、QE−29(1989
)889に述べられている方法を用いれば良い、その様
にして数値的に得られた特性と、実際に作成したものの
特性が良く一致することは、様々な量子井戸での検証に
よって裏付けられている。このIIII造のADQWを
結晶成長させるには、MBE法(分子線エピタキシャル
l去)やMOCVD法(有機金g熱分解法)を用いて容
易にできる。逆バイアス電界印加用の電極を作成するの
は従来例と全く同様の仕方で行なえば良い、これらにつ
いては最近15年分程のApplied Physi
cs LettersやIEEE Journal
of Quantum Electronfc
sを参照すれば容易に判るので、詳しい説明は省略する
。
以上の構造のADQWSに、ガω1=E0+160me
Vなる光子エネルギーを持つ光を入射したときの吸収係
F[a(ω、)のF依存性を第8図に示す。従来例の第
12図と比べて、この実施例の吸収係数が極めて大きく
変化することが分かる。
Vなる光子エネルギーを持つ光を入射したときの吸収係
F[a(ω、)のF依存性を第8図に示す。従来例の第
12図と比べて、この実施例の吸収係数が極めて大きく
変化することが分かる。
尚、半導体はA I G a A s iL:限られる
訳ではなく、InGaAsPとか、ZnS、ZnTeと
か、CdS、Cuc、等でも良い。
訳ではなく、InGaAsPとか、ZnS、ZnTeと
か、CdS、Cuc、等でも良い。
また、ADQWSの形状も、第1図や第7図に示した様
な矩形である必要はなく、組成が連続的に変化する構造
でも良い、特に、バリアーCの形状は、例えば三角にな
っても良いし、極端な例としては、全く無くしてしまっ
ても、井戸a、bが異なれば所望の特性が得られる場合
もある。
な矩形である必要はなく、組成が連続的に変化する構造
でも良い、特に、バリアーCの形状は、例えば三角にな
っても良いし、極端な例としては、全く無くしてしまっ
ても、井戸a、bが異なれば所望の特性が得られる場合
もある。
ところで1以上の説明では、他の価電子帯や伝場帯にか
かわる吸収は、注目している光子エネルギー付近には現
われないと仮定しているが、それは次の様にして実現で
きる。
かわる吸収は、注目している光子エネルギー付近には現
われないと仮定しているが、それは次の様にして実現で
きる。
GaAsを例に取ると、バルク結晶では2つの価電子帯
が1点で縮退して存在するが、量子井戸ではこの縮退が
取れる。即ち、基底量子準位E1n1が、重い正孔帯と
軽い正孔帯とで異なる。それを、夫々、E 、1111
、 ): 、 1nと書くと、E + ” (E l
’ ”であるので上記光子エネルギー負ωを五ω<E(
1”+E、 +E11hになる様に設定すれば、軽い正
孔帯の寄与は第4図の特性に影響を及ぼさない、従って
。
が1点で縮退して存在するが、量子井戸ではこの縮退が
取れる。即ち、基底量子準位E1n1が、重い正孔帯と
軽い正孔帯とで異なる。それを、夫々、E 、1111
、 ): 、 1nと書くと、E + ” (E l
’ ”であるので上記光子エネルギー負ωを五ω<E(
1”+E、 +E11hになる様に設定すれば、軽い正
孔帯の寄与は第4図の特性に影響を及ぼさない、従って
。
その場合、上述の説明は、価電子帯は重い正孔帯である
とすれば全て成立することになる、また、入射させる光
の偏光の向きを量子井戸の層に垂直にすると1重い正孔
帯による吸収はなくなるので(波動函数の形による)。
とすれば全て成立することになる、また、入射させる光
の偏光の向きを量子井戸の層に垂直にすると1重い正孔
帯による吸収はなくなるので(波動函数の形による)。
その場合、上の議論は、価電子帯は軽い正孔帯であると
すれば全て成立する。
すれば全て成立する。
また、以上の説明では、数社により吸収スペクトルがな
らされるブロードニングの効果を入れていないが、ブロ
ードニングの幅をFとしたときに、上記差E、−E、が
Fより大きくなる様に設定すれば第6図や第8図の特性
は左程劣化、しない。
らされるブロードニングの効果を入れていないが、ブロ
ードニングの幅をFとしたときに、上記差E、−E、が
Fより大きくなる様に設定すれば第6図や第8図の特性
は左程劣化、しない。
更に1以上の説明では、励起子の効果を入れていないが
、これは階段状の吸収スペクトルの端にピークを作るの
で、特性をより向上させることになる。その場合、上の
説明の全てのEo”+E+ +EJ”(1、j=1.2
)は励起子の束縛エネルギーを差し引いたものに置き換
える。
、これは階段状の吸収スペクトルの端にピークを作るの
で、特性をより向上させることになる。その場合、上の
説明の全てのEo”+E+ +EJ”(1、j=1.2
)は励起子の束縛エネルギーを差し引いたものに置き換
える。
[発明の効果]
以上説明した様に、本発明の半導体光素子では、逆バイ
アス電界の印加によってα(ω、)が従来例より大きく
変化する。しかも、従来例の様に2つの励起子吸収のピ
ークに頼らなくてもそうした特性が得られることから(
1)光双安定素子等への応用上望ましい、大きな凹みを
持った特性が得られる。
アス電界の印加によってα(ω、)が従来例より大きく
変化する。しかも、従来例の様に2つの励起子吸収のピ
ークに頼らなくてもそうした特性が得られることから(
1)光双安定素子等への応用上望ましい、大きな凹みを
持った特性が得られる。
(2)注目する光子エネルギー五ω1を狭い励起子吸収
ピークに性格に合わせる必要がない。
ピークに性格に合わせる必要がない。
(31CIICIのような価電子帯の頂上付近が縮退し
ていない半導体の量子井戸でも凹みが得られる。
ていない半導体の量子井戸でも凹みが得られる。
(4)温室励起子が得られない半導体で6、良好な特性
が得られる。
が得られる。
こうして、従来よりも高効率の光変調や光双安定動作が
得られる特性を有する半導体光素子が得られる。
得られる特性を有する半導体光素子が得られる。
上記の説明で「伝専帯」と「価電子帯」を入れ換え、且
つ「p型」と「n型」を入れ換えた構造のものも、同様
な特性が得られ、同様な効果を奏する。
つ「p型」と「n型」を入れ換えた構造のものも、同様
な特性が得られ、同様な効果を奏する。
また、上記ADQWSを複数個設けたm造のものでは、
入射光が全てのADQWSからの吸収を受けるので特性
がより向上する。
入射光が全てのADQWSからの吸収を受けるので特性
がより向上する。
第1図は本発明のADQWSのバンドの模式図、第2図
は本発明のADQWSの中の波動函数の模式図であり(
a)はFm0、(b)はF = F m、(c)はF>
Fmの場合を示し、第3図は本発明のADQWSの中の
量子化エネルギーのF依存性を示す模式図、第4図は本
発明のADQWSの中の遷移の振動子強度の模式図、第
5図は本発明のADQWSの吸収スペクトルの模式図、
第6図は第5図の矢印の光子エネルギーを持つ光に対す
る吸収係数のF依存性を示す模式図、第7図は本発明の
実施例に用いたADQWSの構造を示すバンド図、第8
図は第7図のADQWSを用いた半導体光素子で得られ
る、吸収係数のF依存性を示す図、第9図は従来の半導
体光素子に用いられている通常のMQW構造を示す図、
第10図は従来の半導体光素子の使い方の例を示す図、
第11図はFをパラメータとした従来例の吸収係数の光
子エネルギー依存性を示す図、第12図は第11図の矢
印の光子エネルギーを持つ光の吸収係数のF依存性を示
す図、第13図は吸収係数のF依存性として、 理想的である特性の模式図である a・・・・・p型領域に近い方の井戸、・・・・n型領
域に近い方の井戸、C・・・バリアー b ・
は本発明のADQWSの中の波動函数の模式図であり(
a)はFm0、(b)はF = F m、(c)はF>
Fmの場合を示し、第3図は本発明のADQWSの中の
量子化エネルギーのF依存性を示す模式図、第4図は本
発明のADQWSの中の遷移の振動子強度の模式図、第
5図は本発明のADQWSの吸収スペクトルの模式図、
第6図は第5図の矢印の光子エネルギーを持つ光に対す
る吸収係数のF依存性を示す模式図、第7図は本発明の
実施例に用いたADQWSの構造を示すバンド図、第8
図は第7図のADQWSを用いた半導体光素子で得られ
る、吸収係数のF依存性を示す図、第9図は従来の半導
体光素子に用いられている通常のMQW構造を示す図、
第10図は従来の半導体光素子の使い方の例を示す図、
第11図はFをパラメータとした従来例の吸収係数の光
子エネルギー依存性を示す図、第12図は第11図の矢
印の光子エネルギーを持つ光の吸収係数のF依存性を示
す図、第13図は吸収係数のF依存性として、 理想的である特性の模式図である a・・・・・p型領域に近い方の井戸、・・・・n型領
域に近い方の井戸、C・・・バリアー b ・
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、p型領域とn型領域の間に異なる2つの量子井戸(
ADQWS)が近接して設けられ、このADQWSの上
記p型領域に近い方の井戸をa、n型領域に近い方の井
戸をb、夫々のバンドギャップをE_G^a、E_G^
b、両井戸a、b間のバリアーをc、伝導帯の基底サブ
バンドの量子化エネルギー(伝導帯aの底から上向きに
測る)をE_1、その波動函数をφ_1、第2サブバン
ドの量子化エネルギーをE_2、その波動函数をφ_2
、価電子帯の基底サブバンドの量子化エネルギー(価電
子帯の頂上から下向きに測る)をE_1^n、その波動
函数をφ_1^n、第2サブバンドの量子化エネルギー
をE_2^n、その波動函数をφ_2^nとするとき、
ADQWSの構造は、その波動函数と固有エネルギーが
次の如き性質を持つ様な組成や厚さになっていることを
特徴とする半導体光素子。 上記p型領域とn型領域の間に印加される 逆バイアス電界Fが小さいときは、伝導帯の基底サブバ
ンドの波動函数φ_1は主として井戸aの方に大きな振
幅を持つ。 逆バイアス電界Fを数十ないし数百KV/ cm程度の大きさに増すときは、伝導帯の基底サブバン
ドの波動函数φ_1は主として井戸bの方に大きな振幅
を持つ。 逆バイアス電界Fが上記の大きさの範囲( すなわち数十ないし数百KV/cm程度以下)にあると
き、このFの大きさに係わらず、価電子帯の基底サブバ
ンドの波動函数φ_1^nは主として井戸aの方に大き
な振幅を持つ。 伝導帯の第2サブバンドの量子化エネルギ ーE_2と同じく基底サブバンドの量子化エネルギーE
_1の差E_2−E_1の値は逆バイアス電界Fの大き
さによって変化するが、このFが上記の範囲にあるとき
のE_2−E_1の値の最小値は、散乱によるブロード
ニングの幅Γよりも大きい。 逆バイアス電界Fを印加するに従って、井 戸aの方に大きな振幅を持つ状態と井戸bの方に大きな
振幅を持つ状態とが混じり合って上記差E_2−E_1
の値の最小値は0ではない有限値になる。 2、p型領域とn型領域の間に異なる2つの量子井戸(
ADQWS)が近接して設けられ、このADQWSの上
記n型領域に近い方の井戸をa、p型領域に近い方の井
戸をb、夫々のバンドギャップをE_G^a、E_G^
b、両井戸a、b間のバリアーをc、伝導帯の基底サブ
バンドの量子化エネルギー(伝導帯aの底から上向きに
測る)をE_1、その波動函数をφ_1、第2サブバン
ドの量子化エネルギーをE_2、その波動函数をφ_2
、価電子帯の基底サブバンドの量子化エネルギー(価電
子帯の頂上から下向きに測る)をE_1^n、その波動
函数をφ_1^n、第2サブバンドの量子化エネルギー
をE_2^n、その波動函数をφ_2^nとするとき、
ADQWSの構造は、その波動函数と固有エネルギーが
次の如き性質を持つ様な組成や厚さになっていることを
特徴とする半導体光素子。 上記p型領域とn型領域の間に印加される 逆バイアス電界Fが小さいときは、価電子帯の基底サブ
バンドの波動函数φ_1^nは主として井戸のaの方に
大きな振幅を持つ。 逆バイアス電界Fを数十ないし数百KV/ cm程度の大きさに増すときは、価電子帯の基底サブバ
ンドの波動函数φ_1^nは主として井戸bの方に大き
な振幅を持つ。 逆バイアス電界Fが上記の大きさの範囲( すなわち数十ないし数百KV/cm程度以下)にあると
き、このFの大きさに係わらず、伝導帯の基底サブバン
ドの波動函数φ_1は主として井戸aの方に大きな振幅
を持つ。 価電導帯の第2サブバンドの量子化エネル ギーE_2^nと同じく基底サブバンドの量子化エネル
ギーE_1^nの差E_2^n−E_1^nの値は逆バ
イアス電界Fの大きさによって変化するが、このFが上
記の範囲にあるときのE_2^n−E_1^nの値の最
小値は、散乱によるブロードニングの幅Γよりも大きい
。 逆バイアス電解Fを印加するに従って、井 戸aの方に大きな振幅を持つ状態と井戸bの方に大きな
振幅を持つ状態とが混じり合って、上記E_2^n−E
_1^nの値の最小値は0ではない有限値になる。 3、上記構造のADQWSを複数個設けた請求項1又は
2記載の半導体光素子。 4、請求項1、2又は3記載の半導体光素子に、最大結
合電界と同程度の大きさの電界を印化して、ADQWS
の吸収端近傍の光子エネルギーを持つ光を半導体光素子
に入射させることを特徴とする半導体光素子の使用方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1319723A JP2864462B2 (ja) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | 半導体光素子及びその使用方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03179428A true JPH03179428A (ja) | 1991-08-05 |
JP2864462B2 JP2864462B2 (ja) | 1999-03-03 |
Family
ID=18113453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1319723A Expired - Fee Related JP2864462B2 (ja) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | 半導体光素子及びその使用方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2864462B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0483687A2 (en) * | 1990-10-27 | 1992-05-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical device with an asymmetric dual quantum well structure |
EP0647001A1 (en) * | 1993-10-04 | 1995-04-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Semiconductor optical amplifier having reduced polarization dependence |
US5521398A (en) * | 1993-12-09 | 1996-05-28 | France Telecom | Quantum well heterostructure optical operator |
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---|---|---|---|---|
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JPH0195323A (ja) * | 1987-10-08 | 1989-04-13 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 音声入力装置 |
JPH01187733A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-27 | Hitachi Ltd | 受像管のマグネット駆動装置 |
JPH01232212A (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 変位測定装置 |
WO1989009425A2 (en) * | 1988-03-24 | 1989-10-05 | Martin Marietta Corporation | Electro-optic quantum well device |
-
1989
- 1989-12-08 JP JP1319723A patent/JP2864462B2/ja not_active Expired - Fee Related
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US5521398A (en) * | 1993-12-09 | 1996-05-28 | France Telecom | Quantum well heterostructure optical operator |
Also Published As
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---|---|
JP2864462B2 (ja) | 1999-03-03 |
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