JPH03172822A - 液晶素子 - Google Patents
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- JPH03172822A JPH03172822A JP31073089A JP31073089A JPH03172822A JP H03172822 A JPH03172822 A JP H03172822A JP 31073089 A JP31073089 A JP 31073089A JP 31073089 A JP31073089 A JP 31073089A JP H03172822 A JPH03172822 A JP H03172822A
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- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の分野]
本発明は、強N電性スメクチック液晶を用いた液晶表示
素子に関し、特にマルチプレクシフグ駆動時のちらつき
および残像の発生とコントラスト比を改善したスメクチ
ック液晶表示素子に関するものである。
素子に関し、特にマルチプレクシフグ駆動時のちらつき
および残像の発生とコントラスト比を改善したスメクチ
ック液晶表示素子に関するものである。
[従来の技術]
液晶分子の屈折率異方性を利用して偏光素子との組み合
わせにより透過光線を制御する型の表示素子がクラーク
(C1ark)およびラガーウオル(Lagerwal
l)により提案されている(米国特許第4367924
号明細書、米国特許第4639089号公報等)、この
液晶は一般に特定の温度域において、カイラルスメクチ
ックC相(SmC” )またはH相(SmH” )を有
し、この状態において、加えられる電界に応答して第1
の光学的安定状態と第2の光学的安定状態のいずれかを
取り、且つ電界の印加のないときはその状態を維持する
性質、すなわち双安定性を有し、また電界の変化に対す
る応答も速やかであり、高速ならびに記憶型の表示素子
としての広い利用が期待されている。
わせにより透過光線を制御する型の表示素子がクラーク
(C1ark)およびラガーウオル(Lagerwal
l)により提案されている(米国特許第4367924
号明細書、米国特許第4639089号公報等)、この
液晶は一般に特定の温度域において、カイラルスメクチ
ックC相(SmC” )またはH相(SmH” )を有
し、この状態において、加えられる電界に応答して第1
の光学的安定状態と第2の光学的安定状態のいずれかを
取り、且つ電界の印加のないときはその状態を維持する
性質、すなわち双安定性を有し、また電界の変化に対す
る応答も速やかであり、高速ならびに記憶型の表示素子
としての広い利用が期待されている。
前述したスメクチック液晶素子には、走査電極と信号電
極とで構成したマトリクス電極が組み込まれ、走査電極
には順次走査信号が印加され、該走査信号と同期して信
号電極には情報信号が印加される。このマルチブレクシ
ング駆動をスメクチック液晶素子に適用する際、走査電
極に走査信号を繰り返し、周期的に印加するリフレッシ
ュ駆動とした時、表示画面でちらつき(画面全体の輝度
が周期的に変化するために生じるちらつき)を発生する
問題点があった。
極とで構成したマトリクス電極が組み込まれ、走査電極
には順次走査信号が印加され、該走査信号と同期して信
号電極には情報信号が印加される。このマルチブレクシ
ング駆動をスメクチック液晶素子に適用する際、走査電
極に走査信号を繰り返し、周期的に印加するリフレッシ
ュ駆動とした時、表示画面でちらつき(画面全体の輝度
が周期的に変化するために生じるちらつき)を発生する
問題点があった。
[発明が解決しようとする課題]
本発明の目的は、前述したような従来の液晶表示素子に
おける問題点を解決した新規な液晶素子を提供すること
にある。
おける問題点を解決した新規な液晶素子を提供すること
にある。
本発明の別の目的は、高速応答性を有する液晶表示素子
を提供することにある。
を提供することにある。
[課題を解決するための手段および作用]本発明のかか
る目的は、強誘電性を有するスメクチック液晶と該スメ
クチック液晶を挟持し且つ互いに対向する透明電極とを
有する液晶表示素子において、少なくとも一方の透明電
極の、少なくとも一方の側面の画素外に、透明電極面に
対して所定の勾配を持つ層を形成することにより達成さ
れ、これによりちらつき、残像およびコントラストなど
の表示品質が改善された液晶表示素子が提供される。
る目的は、強誘電性を有するスメクチック液晶と該スメ
クチック液晶を挟持し且つ互いに対向する透明電極とを
有する液晶表示素子において、少なくとも一方の透明電
極の、少なくとも一方の側面の画素外に、透明電極面に
対して所定の勾配を持つ層を形成することにより達成さ
れ、これによりちらつき、残像およびコントラストなど
の表示品質が改善された液晶表示素子が提供される。
本発明の液晶素子で用いられる強誘電性を有するスメク
チック液晶としては、カイラルスメクチックC相(S
m C” ) % H相(SmH″)、F相(SmF”
)、I相(Sml” )、J相(SmJ”)、G相(
SmG”)、またはに相(SmK”)の液晶が適してい
る。この強訴電性液晶にツイテは、a″LE JOUR
NAL DE PHYSIQUE LETTER5”3
6 (L −69) 1975. rFerroel
ectricLiquid Crystals J
; “Applied PhysicsLetter
s 36 (11) 1980 rsubmi
cr。
チック液晶としては、カイラルスメクチックC相(S
m C” ) % H相(SmH″)、F相(SmF”
)、I相(Sml” )、J相(SmJ”)、G相(
SmG”)、またはに相(SmK”)の液晶が適してい
る。この強訴電性液晶にツイテは、a″LE JOUR
NAL DE PHYSIQUE LETTER5”3
6 (L −69) 1975. rFerroel
ectricLiquid Crystals J
; “Applied PhysicsLetter
s 36 (11) 1980 rsubmi
cr。
5econd BIstable Electroop
tic 5w1tchin8inLiquid Cry
stals J ; ”固体物理”16(141)1
981r液晶」等に記載されており、本発明ではこれら
に開示された強訪電性液晶を用いることができる。
tic 5w1tchin8inLiquid Cry
stals J ; ”固体物理”16(141)1
981r液晶」等に記載されており、本発明ではこれら
に開示された強訪電性液晶を用いることができる。
第1図は、強誘電性液晶セルの例を模式的に描イタもノ
テある。21と21′は、I n20..5n02ある
いはITO(Indium−TinOxide)等の薄
膜からなる透明電極で被覆された基板(ガラス板)であ
り、その間に液晶分子層22がガラス面に垂直になるよ
うに配向したSmC” SmH” SmF” S
mI” Sm01等のカイラルスメクチック相の液晶
が封入されている。太線で示した線23が液晶分子を表
わしており、この液晶分子23はその分子に直交した方
向に双極子モーメント(P±)24を有している。基板
21と21′上の電極間に一定の閾値以上の電圧を印加
すると、液晶分子23のらせん構造がほどけ、双極子モ
ーメント(P工)24がすべて電界方向に向くよう、液
晶分子23は配向方向を変えることができる。液晶分子
23は細長い形状を有しており、その長軸方向と短軸方
向で屈折率異方性を示し、したがって、例えばガラス面
の上下に互いにクロスニコルの偏光子を置けば、電圧印
加極性によって光学特性が変わる液晶光学変調素子とな
ることは、容易に理解される。
テある。21と21′は、I n20..5n02ある
いはITO(Indium−TinOxide)等の薄
膜からなる透明電極で被覆された基板(ガラス板)であ
り、その間に液晶分子層22がガラス面に垂直になるよ
うに配向したSmC” SmH” SmF” S
mI” Sm01等のカイラルスメクチック相の液晶
が封入されている。太線で示した線23が液晶分子を表
わしており、この液晶分子23はその分子に直交した方
向に双極子モーメント(P±)24を有している。基板
21と21′上の電極間に一定の閾値以上の電圧を印加
すると、液晶分子23のらせん構造がほどけ、双極子モ
ーメント(P工)24がすべて電界方向に向くよう、液
晶分子23は配向方向を変えることができる。液晶分子
23は細長い形状を有しており、その長軸方向と短軸方
向で屈折率異方性を示し、したがって、例えばガラス面
の上下に互いにクロスニコルの偏光子を置けば、電圧印
加極性によって光学特性が変わる液晶光学変調素子とな
ることは、容易に理解される。
本発明で好ましく用いられる液晶セルは、その厚さを充
分に薄く(例えば10μm以下)することができる、こ
のように液晶層が薄くなることにしたがい、第2図に示
すように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせ
ん構造がほどけ、非らせん構造となり、その双極子モー
メントPまたはP′は上向き(矢印34)または下向き
(矢印34′)のどちらかの状態をとる。このようなセ
ルに、第2図に示す如く一定の閾値以上の極性の異なる
電界EまたはE′を不図示の電圧印加手段により付与す
ると、双極子モーメントは、電界EまたはE′の電界ベ
クトルに対応して上向き34または下向き34′ と向
きを変え、それに応じて液晶分子は、第1の安定状態3
3かあるいは第2の安定状態33′の何れか一方に配向
する。
分に薄く(例えば10μm以下)することができる、こ
のように液晶層が薄くなることにしたがい、第2図に示
すように電界を印加していない状態でも液晶分子のらせ
ん構造がほどけ、非らせん構造となり、その双極子モー
メントPまたはP′は上向き(矢印34)または下向き
(矢印34′)のどちらかの状態をとる。このようなセ
ルに、第2図に示す如く一定の閾値以上の極性の異なる
電界EまたはE′を不図示の電圧印加手段により付与す
ると、双極子モーメントは、電界EまたはE′の電界ベ
クトルに対応して上向き34または下向き34′ と向
きを変え、それに応じて液晶分子は、第1の安定状態3
3かあるいは第2の安定状態33′の何れか一方に配向
する。
このような強誘電性液晶セルを用いることの利点は、先
にも述べたが2つある。
にも述べたが2つある。
その第1は、応答速度が極めて速いことである。第2は
液晶分子の配向が双安定性を有することである。第2の
点を、例えば第2図によってさらに説明すると、電界E
を印加すると液晶分子は第1の安定状態33に配向する
が、この状態は電界を切っても安定である。また、逆向
きの電界E′を印加すると、液晶分子は第2の安定状態
33′に配向してその分子の向きを変えるが、やはり電
界を切ってもこの状態に留っている。また、与える電界
Eが一定の閾値を越えない限り、それぞれの配向状態に
やはり維持されている。このような応答速度の速さと、
双安定性が有効に実現されるにはセルとしては出来るだ
け薄い方が好ましい。
液晶分子の配向が双安定性を有することである。第2の
点を、例えば第2図によってさらに説明すると、電界E
を印加すると液晶分子は第1の安定状態33に配向する
が、この状態は電界を切っても安定である。また、逆向
きの電界E′を印加すると、液晶分子は第2の安定状態
33′に配向してその分子の向きを変えるが、やはり電
界を切ってもこの状態に留っている。また、与える電界
Eが一定の閾値を越えない限り、それぞれの配向状態に
やはり維持されている。このような応答速度の速さと、
双安定性が有効に実現されるにはセルとしては出来るだ
け薄い方が好ましい。
一般的には0.5μm〜20μm1特に1μm〜5μm
が適している。この種の強誘電性液晶を用いたマトリク
ス電極構造を有する液晶電気光学装置は、例えばクラー
クとラガバルにより米国特許第4367924号公報で
提案されている。
が適している。この種の強誘電性液晶を用いたマトリク
ス電極構造を有する液晶電気光学装置は、例えばクラー
クとラガバルにより米国特許第4367924号公報で
提案されている。
本発明者らは、強誘電性を有するスメクチック液晶の分
子の配列状態および偏光子検光子の組合わせによる液晶
素子の最適化をさらに検討した結果、液晶分子は常に前
述した如ぎ単純な配列状態をとるとは限らず、基板処理
方法、液晶材料や液晶セルの厚さ等により、異なった形
態の配列状態をとり、画素の側面に書込み時間とともに
減衰したり大きさが変動するドメインが存在する場合が
あり、前記ドメインがちらつき、残像およびコントラス
ト低下の原因となっていることを知るに至りた。
子の配列状態および偏光子検光子の組合わせによる液晶
素子の最適化をさらに検討した結果、液晶分子は常に前
述した如ぎ単純な配列状態をとるとは限らず、基板処理
方法、液晶材料や液晶セルの厚さ等により、異なった形
態の配列状態をとり、画素の側面に書込み時間とともに
減衰したり大きさが変動するドメインが存在する場合が
あり、前記ドメインがちらつき、残像およびコントラス
ト低下の原因となっていることを知るに至りた。
そして、画素の側面の画素外に透明電極面に対して勾配
のある層を形成することにより、前記ドメインの発生を
改善でき、ちらつき、残像およびコントラストに関する
改善が可能であることを知見するに至った。
のある層を形成することにより、前記ドメインの発生を
改善でき、ちらつき、残像およびコントラストに関する
改善が可能であることを知見するに至った。
第3図は、本発明の液晶表示素子で用いる基板の態様を
表わす斜視図である。図中、11はガラスやプラスチッ
ク等の基板、12はITO等で形成した透明電極、13
はアルミニウム、クロム、モリブデン等の金属またはそ
の合金で形成した低抵抗接続線、14は一方方向に延長
した段差部を表わし、15はその稜線を表わしている。
表わす斜視図である。図中、11はガラスやプラスチッ
ク等の基板、12はITO等で形成した透明電極、13
はアルミニウム、クロム、モリブデン等の金属またはそ
の合金で形成した低抵抗接続線、14は一方方向に延長
した段差部を表わし、15はその稜線を表わしている。
透明電極12は300人〜5000人、好ましくは50
0人〜2000人の膜厚で設けられており、また低抵抗
接続線13は300人〜5000人、好ましくは500
人〜3000人の膜厚で設けられている。
0人〜2000人の膜厚で設けられており、また低抵抗
接続線13は300人〜5000人、好ましくは500
人〜3000人の膜厚で設けられている。
また、本発明では基板11の上に上下電極間のショート
を防止するための絶、!膜(図示せず)を設け、さらに
この絶縁膜の上に配向膜を設けることができる。この際
、絶縁膜としてはSin。
を防止するための絶、!膜(図示せず)を設け、さらに
この絶縁膜の上に配向膜を設けることができる。この際
、絶縁膜としてはSin。
膜、Ti0z膜等を用いることができ、また配向膜とし
てはポリビニルアルコール膜、ポリイミド膜、ポリアミ
ド膜、ポリエステル膜、ポリアミドイミド膜やポリエス
テルイミド膜等を用いることができる。
てはポリビニルアルコール膜、ポリイミド膜、ポリアミ
ド膜、ポリエステル膜、ポリアミドイミド膜やポリエス
テルイミド膜等を用いることができる。
第4図(A)は、第3図に示す基板を2枚用意した態様
を表わしている。この液晶表示素子では、第4図(A)
に示す2枚の基板11aと11bが点AaとAb、並び
に点BaとBbで対向配置されている0図中の矢印Ra
4とRb4はそれぞれの基板に施したラビング処理軸等
の一釉配向処理軸である。2枚の基板11aとllbを
上述の如く対向配置することによって、低抵抗接続線1
3aおよび透明電極12aがそれぞれ低抵抗接続線13
bおよび透明電極12bと交差し、第4図(B)に示す
画素P4を形成することになる。
を表わしている。この液晶表示素子では、第4図(A)
に示す2枚の基板11aと11bが点AaとAb、並び
に点BaとBbで対向配置されている0図中の矢印Ra
4とRb4はそれぞれの基板に施したラビング処理軸等
の一釉配向処理軸である。2枚の基板11aとllbを
上述の如く対向配置することによって、低抵抗接続線1
3aおよび透明電極12aがそれぞれ低抵抗接続線13
bおよび透明電極12bと交差し、第4図(B)に示す
画素P4を形成することになる。
第4図(B)に示す画素P4では、−軸配向処理軸Ra
4が、画素P4内に存在する線状突起体に相当する低抵
抗接続線13aに対して垂直方向に設定されているとと
もに、その向きが低抵抗接続線13aに向いている。
4が、画素P4内に存在する線状突起体に相当する低抵
抗接続線13aに対して垂直方向に設定されているとと
もに、その向きが低抵抗接続線13aに向いている。
かかる第4図(A)および(B)に示す画素P4を形成
した液晶素子では、対をなすヘアピン欠陥部14とライ
トニング欠陥部15が複数形成され、それぞれ対をなす
ヘアピン欠陥部14とライトニング欠陥部15が、規則
的に、−軸配向処理軸Ra4に対して平行に発生し、し
かもヘアピン欠陥部14とライトニング欠陥部15のう
ちライトニング欠陥部15がヘアピン欠陥部14より線
状突起体に相当する低抵抗接続線13aに近く発生して
いる。
した液晶素子では、対をなすヘアピン欠陥部14とライ
トニング欠陥部15が複数形成され、それぞれ対をなす
ヘアピン欠陥部14とライトニング欠陥部15が、規則
的に、−軸配向処理軸Ra4に対して平行に発生し、し
かもヘアピン欠陥部14とライトニング欠陥部15のう
ちライトニング欠陥部15がヘアピン欠陥部14より線
状突起体に相当する低抵抗接続線13aに近く発生して
いる。
前述のヘアピン欠陥部14とライトニング欠陥部15と
は対をなして発生し、セル内に散布したビーズスペーサ
またはファイバースペーサが原因となって発生する。し
たがって、この対をなすヘアピン欠陥部14とライトニ
ング欠陥部15の発生個数は、ビーズスペーサやファイ
バースペーサの散布個数と相関がある。また、ビーズス
ペーサやファイバースペーサが存在していない場合であ
っても、セルを指でかるく押圧することによっても発生
する。
は対をなして発生し、セル内に散布したビーズスペーサ
またはファイバースペーサが原因となって発生する。し
たがって、この対をなすヘアピン欠陥部14とライトニ
ング欠陥部15の発生個数は、ビーズスペーサやファイ
バースペーサの散布個数と相関がある。また、ビーズス
ペーサやファイバースペーサが存在していない場合であ
っても、セルを指でかるく押圧することによっても発生
する。
第7図(A)〜(C)はヘアピン欠陥とライトニング欠
陥の態様を模式的にスケッチした図である。第7図(A
)はビーズスペーサが原因となって発生したヘアピン欠
陥71とライトニング欠陥72を表わしている。第7図
(B)は、第7図(A)に示す欠陥状態をもつセルに指
でかるく押圧することによって、さらに欠陥を生長させ
た欠陥状態を示し、第7図(C)はその欠陥状態をさら
に生長させた態様を明らかにしている。
陥の態様を模式的にスケッチした図である。第7図(A
)はビーズスペーサが原因となって発生したヘアピン欠
陥71とライトニング欠陥72を表わしている。第7図
(B)は、第7図(A)に示す欠陥状態をもつセルに指
でかるく押圧することによって、さらに欠陥を生長させ
た欠陥状態を示し、第7図(C)はその欠陥状態をさら
に生長させた態様を明らかにしている。
第7図(A)〜(C)で明らかにした様に、■ヘアピン
欠陥71とライトニング欠陥72とは対をなして発生し
、周囲のドメイン(カイラルスメクチックC2ドメイン
74)と光学状態(例えば透過率)が一般に相違し、顕
微鏡で判別することができ、■ヘアピン欠陥71の線幅
W1はライトニング欠陥72の線幅W2に比較して大き
く、一般にヘアピン欠陥71の線幅W、は2〜10μm
程度で、ライトニング欠陥72の線幅W、は2μm以下
で、■ヘアピン欠陥71およびライトニング欠陥72で
囲まれたドメイン73と周囲のドメイン74とは異なっ
た配向状態のカイラルスメクチックC相を形成し、それ
ぞれのドメインをカイラルスメクチックCI ドメイン
73およびカイラルスメクチックC,ドメインとして定
義することができ、これらの2つの異なるドメインは一
般に異なった光学状態(透過率)を示し、顕微鏡で判別
することができる。
欠陥71とライトニング欠陥72とは対をなして発生し
、周囲のドメイン(カイラルスメクチックC2ドメイン
74)と光学状態(例えば透過率)が一般に相違し、顕
微鏡で判別することができ、■ヘアピン欠陥71の線幅
W1はライトニング欠陥72の線幅W2に比較して大き
く、一般にヘアピン欠陥71の線幅W、は2〜10μm
程度で、ライトニング欠陥72の線幅W、は2μm以下
で、■ヘアピン欠陥71およびライトニング欠陥72で
囲まれたドメイン73と周囲のドメイン74とは異なっ
た配向状態のカイラルスメクチックC相を形成し、それ
ぞれのドメインをカイラルスメクチックCI ドメイン
73およびカイラルスメクチックC,ドメインとして定
義することができ、これらの2つの異なるドメインは一
般に異なった光学状態(透過率)を示し、顕微鏡で判別
することができる。
また、上述のヘアピン欠陥とライトニング欠陥は、昭和
62年10月液晶討論会予稿集P、114〜115
r顕微分光法による5SFLC状態の構造に関する考案
」で明らかにされている。
62年10月液晶討論会予稿集P、114〜115
r顕微分光法による5SFLC状態の構造に関する考案
」で明らかにされている。
本発明者らは、かかる第4図(A)および(B)に示す
画素P4を形成した液晶素子に対して、第5図に示すマ
ルチブレクシング方式による書込みをフレーム周波数1
0Hzで行ったところ、画素が暗状態(黒表示状態)の
時に周期的に画面の輝度が変化するちらつきが見られる
ことを知見した。また、上述の液晶素子をマルチプレク
シレグ駆動下で顕微鏡観察を行ったところ、閾値電圧1
±Vthlを越えた電圧1±v、1を印加し画素P4を
暗状態(黒表示状態)としたときは低抵抗接続線13a
のない側Aの領域に反転部16(書込み時間とともに減
少または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎
に形成されており、かかる反転部16の発生が上述のち
らつきに原因していることが判明した。尚、第5図は画
素P4に印加される電圧の波形を時系列で示したもので
ある。
画素P4を形成した液晶素子に対して、第5図に示すマ
ルチブレクシング方式による書込みをフレーム周波数1
0Hzで行ったところ、画素が暗状態(黒表示状態)の
時に周期的に画面の輝度が変化するちらつきが見られる
ことを知見した。また、上述の液晶素子をマルチプレク
シレグ駆動下で顕微鏡観察を行ったところ、閾値電圧1
±Vthlを越えた電圧1±v、1を印加し画素P4を
暗状態(黒表示状態)としたときは低抵抗接続線13a
のない側Aの領域に反転部16(書込み時間とともに減
少または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎
に形成されており、かかる反転部16の発生が上述のち
らつきに原因していることが判明した。尚、第5図は画
素P4に印加される電圧の波形を時系列で示したもので
ある。
また、画素P4が明状態(白表示状態)のときにはヘア
ピン欠陥の側面に反転部17(書込み時間とともに減少
または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎に
形成されているが、前述のちらつきは見られなかった。
ピン欠陥の側面に反転部17(書込み時間とともに減少
または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎に
形成されているが、前述のちらつきは見られなかった。
第4図は、倍率200倍の顕微鏡写真をスケッチしたも
のである0本発明で用いるカイラルスメクチック液晶と
しては、各種のものを用いることができる0例えば米国
特許第4561726号公報、米国特許第461460
9号公報、米国特許第4589996号公報、米国特許
第4596867号公報、米国特許第4613209号
公報、米国特許第4615586号公報等に記載された
カイラルスメクチック液晶を用いることができる。
のである0本発明で用いるカイラルスメクチック液晶と
しては、各種のものを用いることができる0例えば米国
特許第4561726号公報、米国特許第461460
9号公報、米国特許第4589996号公報、米国特許
第4596867号公報、米国特許第4613209号
公報、米国特許第4615586号公報等に記載された
カイラルスメクチック液晶を用いることができる。
[実施例]
以下、実施例により本発明の詳細な説明する。
第6図(A)と(B)は本発明の液晶表示素子の一実施
例を示している。第6図(A)は本発明の液晶素子の平
面図で、第6図(B)はそのA−A’断面図である。
例を示している。第6図(A)は本発明の液晶素子の平
面図で、第6図(B)はそのA−A’断面図である。
第6図で示すセル構造体600は、ガラス板またはプラ
スチック板等からなる一対の基板601と601′をス
ペーサ604で所定の間隔に保持し、この一対の基板を
シーリングするために接着剤606で接着したセル構造
を有しており、さらに基板601の上には複数の透明電
極602からなる電極群(例えば、マトリクス電極構造
のうちの走査電圧印加用電極群)が例えば帯状パターン
等の所定のパターンで形成されている。基板601′の
上には前述の透明電極602と交差させた複数の透明電
極602′からなる電極群(例えばマトリクス電極構造
のうちの信号電圧印加用電極群)が形成されている。透
明電極602.602′には、それぞれ低抵抗接続線6
10.610′が設けられている。
スチック板等からなる一対の基板601と601′をス
ペーサ604で所定の間隔に保持し、この一対の基板を
シーリングするために接着剤606で接着したセル構造
を有しており、さらに基板601の上には複数の透明電
極602からなる電極群(例えば、マトリクス電極構造
のうちの走査電圧印加用電極群)が例えば帯状パターン
等の所定のパターンで形成されている。基板601′の
上には前述の透明電極602と交差させた複数の透明電
極602′からなる電極群(例えばマトリクス電極構造
のうちの信号電圧印加用電極群)が形成されている。透
明電極602.602′には、それぞれ低抵抗接続線6
10.610′が設けられている。
このような透明電極602′を設けた基板601′には
、例えば、−酸化硅素、二酸化硅素、酸化アルミニウム
、ジルコニア、フッ化マグネシウム、酸化セリウム、フ
ッ化セリウム、シリコン窒化物、シリコン炭化物、ホウ
素窒化物等の無機絶縁物質やポリビニルアルコール、ポ
リイミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、ポ
リパラキシレリン、ポリエステル、ポリカーボネート、
ポリビニルアセタール、ポリ塩化ビニル、ポリアミド、
ポリスチレン、セルロース樹脂、メラミン樹脂、エリア
樹脂やアクリル樹脂等の有機絶縁物質を用いて被膜形成
した配向膜605を設けることができる。
、例えば、−酸化硅素、二酸化硅素、酸化アルミニウム
、ジルコニア、フッ化マグネシウム、酸化セリウム、フ
ッ化セリウム、シリコン窒化物、シリコン炭化物、ホウ
素窒化物等の無機絶縁物質やポリビニルアルコール、ポ
リイミド、ポリアミドイミド、ポリエステルイミド、ポ
リパラキシレリン、ポリエステル、ポリカーボネート、
ポリビニルアセタール、ポリ塩化ビニル、ポリアミド、
ポリスチレン、セルロース樹脂、メラミン樹脂、エリア
樹脂やアクリル樹脂等の有機絶縁物質を用いて被膜形成
した配向膜605を設けることができる。
この配向膜605は、前述の如き無機絶縁物質または有
機絶縁物質を被膜形成した後に、その表面をビロードや
、布や紙で一方向に摺擦(ラビング)することによって
得られる。
機絶縁物質を被膜形成した後に、その表面をビロードや
、布や紙で一方向に摺擦(ラビング)することによって
得られる。
本発明の別の好ましい具体例では、SiOや5i02等
の無機絶縁物質を基板601′の上に斜め蒸着法によっ
て被膜形成することによって、配向膜605を得ること
ができる。
の無機絶縁物質を基板601′の上に斜め蒸着法によっ
て被膜形成することによって、配向膜605を得ること
ができる。
また、別の具体例ではガラスまたはプラスチックからな
る基板601′の表面あるいは基板601′の上に前述
した無機絶縁物質や有機絶縁物質を被膜形成した後に、
該被膜の表面を斜方エツチング法によりエツチングする
ことにより、その表面に配向制御効果を付与することが
できる。
る基板601′の表面あるいは基板601′の上に前述
した無機絶縁物質や有機絶縁物質を被膜形成した後に、
該被膜の表面を斜方エツチング法によりエツチングする
ことにより、その表面に配向制御効果を付与することが
できる。
前述の配向膜605は、同時に絶縁膜としても機能させ
ることが好ましく、このためにこの配向膜605の膜厚
は一般に100人〜1μm、好ましくは500人〜50
00人の範囲に設定することができる。この絶縁膜は、
液晶層603に微量に含有される不純物等のために生ず
る電流の発生を防止できる利点をも有しており、したが
って、動作を繰り返し行っても液晶化合物を劣化させる
ことがない。
ることが好ましく、このためにこの配向膜605の膜厚
は一般に100人〜1μm、好ましくは500人〜50
00人の範囲に設定することができる。この絶縁膜は、
液晶層603に微量に含有される不純物等のために生ず
る電流の発生を防止できる利点をも有しており、したが
って、動作を繰り返し行っても液晶化合物を劣化させる
ことがない。
また、本発明の液晶素子では前述の配向膜605と同様
のものをもう一方の基板601に設けることができる。
のものをもう一方の基板601に設けることができる。
このセル構造体600は、複数の分子で組織した層を隣
接して複数形成したカイラルスメクチック液晶603を
有しており、該カイラルスメクチック液晶603の膜厚
がバルク状態下で固有するらせん構造の形成を抑制する
のに十分に薄く設定されている。この点については、米
国特許第4367924号公報に詳述されている。
接して複数形成したカイラルスメクチック液晶603を
有しており、該カイラルスメクチック液晶603の膜厚
がバルク状態下で固有するらせん構造の形成を抑制する
のに十分に薄く設定されている。この点については、米
国特許第4367924号公報に詳述されている。
このようなセル構造体600は、基板601と601′
の両側にはクロスニコル状態またはパラレルニコル状態
とした偏光子607と608がそれぞれ配置されて、電
極602と602′の間に電圧を印加した時に光学変調
を生じることになる。
の両側にはクロスニコル状態またはパラレルニコル状態
とした偏光子607と608がそれぞれ配置されて、電
極602と602′の間に電圧を印加した時に光学変調
を生じることになる。
因1粗上
2枚の1.1mm厚のガラス板を用意し、それぞれのガ
ラス板上にITOのストライブ状電極を形成した。この
基板にモリブデンで形成したメタル配線を第3図の低抵
抗接続線13のようにITO電極と画素間にまたがって
、1000人の厚みで形成した。さらに上下電極のショ
ート防止層としてSin、をス、バッタ法により500
人形成した。
ラス板上にITOのストライブ状電極を形成した。この
基板にモリブデンで形成したメタル配線を第3図の低抵
抗接続線13のようにITO電極と画素間にまたがって
、1000人の厚みで形成した。さらに上下電極のショ
ート防止層としてSin、をス、バッタ法により500
人形成した。
その上にアミノシラン0,1%IPA(イソプロピルア
ルコール)溶液を回転数2000rpmのスピンナーで
15秒間塗布し、150℃で焼成後、ポリイミド形成液
5P510(東し社製)2%溶液(NMP : nブチ
ルセロソルブ=2:1)を回転数300Orpmのスピ
ンナーで30秒間塗布した。成膜後、約1時間300℃
の加熱焼成処理を施してポリイミド配向膜を形成した。
ルコール)溶液を回転数2000rpmのスピンナーで
15秒間塗布し、150℃で焼成後、ポリイミド形成液
5P510(東し社製)2%溶液(NMP : nブチ
ルセロソルブ=2:1)を回転数300Orpmのスピ
ンナーで30秒間塗布した。成膜後、約1時間300℃
の加熱焼成処理を施してポリイミド配向膜を形成した。
この塗膜の膜厚は200人のポリイミド膜であった。
次に、一方のガラス(第1の基板)に、第4図(A)に
示すRb4の方向に、焼成後のポリイミドの被膜に対し
てラビング処理を施した。他方のガラス板(第2の基板
)には、第4図(A)に示すRa4の方向に、焼成後の
ポリイミド膜に対してラビング処理を施した。
示すRb4の方向に、焼成後のポリイミドの被膜に対し
てラビング処理を施した。他方のガラス板(第2の基板
)には、第4図(A)に示すRa4の方向に、焼成後の
ポリイミド膜に対してラビング処理を施した。
しかる後、平均粒径約1.5μmのアルミナビーズを一
方のガラス板上に散布した後、それぞれのラビング処理
軸およびその方向が第4図(A)および(B)のような
平行ラビングになるように一方と他方ガラス板をはり合
わせてセルを作成した。
方のガラス板上に散布した後、それぞれのラビング処理
軸およびその方向が第4図(A)および(B)のような
平行ラビングになるように一方と他方ガラス板をはり合
わせてセルを作成した。
このセルのセル厚をベレック位相板(位相差による測定
)によりて測定したところ、約1.5μmであった。こ
のセル内にチッソ■社製の「C5−1014J (商
品名)を等労相下で真空注入してから、等労相から0.
5℃/hで60℃まで徐冷することにより配向させるこ
とができた。以後の実験は25℃で行った。
)によりて測定したところ、約1.5μmであった。こ
のセル内にチッソ■社製の「C5−1014J (商
品名)を等労相下で真空注入してから、等労相から0.
5℃/hで60℃まで徐冷することにより配向させるこ
とができた。以後の実験は25℃で行った。
尚、前述したrCS−1014Jの相変化は、下記のと
おりであった。
おりであった。
一21t 54.4℃ 69.1 ℃ 8
0.5℃Cry、−*SmC’ →Sm^
−+Ch →ls。
0.5℃Cry、−*SmC’ →Sm^
−+Ch →ls。
ただし、SmAはスメクチックA相、chはコレステリ
ック相、Isoは等労相を示す。
ック相、Isoは等労相を示す。
直交ニコル下でこのセルを観察すると、−様で欠陥のな
い非らせん構造のカイラルスメクチックC相を形成した
モノドメインが得られていた。
い非らせん構造のカイラルスメクチックC相を形成した
モノドメインが得られていた。
また、この液晶素子を60℃に保温し、SmAの配向状
態にし、直交クロスニフルにした偏光顕微鏡観察下、S
mAの状態で液晶分子が層に直角方向に並ぶことを利用
して層の方向を測定した。
態にし、直交クロスニフルにした偏光顕微鏡観察下、S
mAの状態で液晶分子が層に直角方向に並ぶことを利用
して層の方向を測定した。
その結果、ラビング方向に直角であることが確認された
。
。
この液晶素子を第5図に示す駆動方式を用いてマルチプ
レクシング駆動した。
レクシング駆動した。
1フレームで明状態と暗状態が書込める方式であり、書
込みパルス幅ΔTに対して1ライン走査期間3Δ丁を必
要とする3Δ丁駆動方式である。
込みパルス幅ΔTに対して1ライン走査期間3Δ丁を必
要とする3Δ丁駆動方式である。
第5図(A)はn番目の走査線Snに印加される走査信
号、第5図(B)はある情報線■に印加される情報信号
で、白→白→白→白→黒→白→白→白の情報信号である
。第5図(C)は走査線Snと情報線Iとの交差部に印
加される合成波形である。
号、第5図(B)はある情報線■に印加される情報信号
で、白→白→白→白→黒→白→白→白の情報信号である
。第5図(C)は走査線Snと情報線Iとの交差部に印
加される合成波形である。
上述の第4図(A)および(B)に示す画素P4を形成
した液晶素子に対して、第5図に示すマルチブレクシン
グ方式による書込みをフレーム周波数10)1zで行フ
たところ、画素が暗状態(黒表示状態)の時に周期的に
画面の輝度が変化するちらつきが見られた。また、上述
の液晶素子をマルチブレクシフグ駆動下で顕微鏡観察を
行ったところ、閾値電圧1±V th lを越えた電圧
1±vatを印加し画素P4を暗状態(黒表示状態)と
したときは、低抵抗接続線13aのない側Aの領域に反
転部16(書込み時間とともに減少または大ぎさが変動
するドメイン)がフレーム周期毎に形成されており、か
かる反転部16の発生が上述のちらつきに原因している
ことが判明した。尚、第5図は画素P4に印加される電
圧の波形を時系列で示したものである。
した液晶素子に対して、第5図に示すマルチブレクシン
グ方式による書込みをフレーム周波数10)1zで行フ
たところ、画素が暗状態(黒表示状態)の時に周期的に
画面の輝度が変化するちらつきが見られた。また、上述
の液晶素子をマルチブレクシフグ駆動下で顕微鏡観察を
行ったところ、閾値電圧1±V th lを越えた電圧
1±vatを印加し画素P4を暗状態(黒表示状態)と
したときは、低抵抗接続線13aのない側Aの領域に反
転部16(書込み時間とともに減少または大ぎさが変動
するドメイン)がフレーム周期毎に形成されており、か
かる反転部16の発生が上述のちらつきに原因している
ことが判明した。尚、第5図は画素P4に印加される電
圧の波形を時系列で示したものである。
また、画素P4が明状態(白表示状態)のと診にはヘア
ピン欠陥の側面に反転部17(書込み時間とともに減少
または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎に
形成されているが、前述のちらつきは見られなかった。
ピン欠陥の側面に反転部17(書込み時間とともに減少
または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎に
形成されているが、前述のちらつきは見られなかった。
そこで、第3図において、透明電極の低抵抗接続線のな
い側の側面にSin、を積層・エツチングすることによ
り、透明電極面に対して勾配を持つ層を形成した。第8
図(A)は、勾配を持つ層16が形成された基板を示す
。このとき、基板の断面をSEMにより観察したところ
、透明電極に対して勾配を持つ層16の透明電極面を基
準にしたときの勾配θは約30°であった。
い側の側面にSin、を積層・エツチングすることによ
り、透明電極面に対して勾配を持つ層を形成した。第8
図(A)は、勾配を持つ層16が形成された基板を示す
。このとき、基板の断面をSEMにより観察したところ
、透明電極に対して勾配を持つ層16の透明電極面を基
準にしたときの勾配θは約30°であった。
前述と同様に第4図(A)および第8図(A)に示す画
素P4を形成した液晶素子に対して、第5図に示すマル
チブレクシング方式による書込みをフレーム周波数10
Hzで行ったところ、画素が暗状態(黒表示状態)のと
き、周期的に画面の輝度が変化するちらつきは見られな
かった。上述の液晶素子をマルチプレクシフグ駆動下で
顕微鏡観察を行った状態を第8図(C)に示す。閾値電
圧1±V th Iを越えた電圧1±valを印加し画
素P4を暗状態(黒表示状態)としたときは、低抵抗接
続線13aのない側Aの領域に反転部16(書込み時間
とともに減少または大きさが変動するドメイン)は発生
していない。そのため、ちらつきがないことが判明した
。尚、第5図は画素P4に印加される電圧の波形を時系
列で示したものである。
素P4を形成した液晶素子に対して、第5図に示すマル
チブレクシング方式による書込みをフレーム周波数10
Hzで行ったところ、画素が暗状態(黒表示状態)のと
き、周期的に画面の輝度が変化するちらつきは見られな
かった。上述の液晶素子をマルチプレクシフグ駆動下で
顕微鏡観察を行った状態を第8図(C)に示す。閾値電
圧1±V th Iを越えた電圧1±valを印加し画
素P4を暗状態(黒表示状態)としたときは、低抵抗接
続線13aのない側Aの領域に反転部16(書込み時間
とともに減少または大きさが変動するドメイン)は発生
していない。そのため、ちらつきがないことが判明した
。尚、第5図は画素P4に印加される電圧の波形を時系
列で示したものである。
また、画素P4が明状態(白表示状態)のときにはヘア
ピン欠陥の側面に反転部17(書込み時間とともに減少
または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎に
形成されているが、ちらつきは見られなかった。
ピン欠陥の側面に反転部17(書込み時間とともに減少
または大きさが変動するドメイン)がフレーム周期毎に
形成されているが、ちらつきは見られなかった。
以上より、第8図に示すように、画素の側面に透明電極
面に対して勾配のある層を形成することにより、マルチ
ブレクシフグ駆動下でちらつきが抑えられる。即ち、書
込み時間とともに減衰または大きざが変動するドメイン
の発生を防止することができ、ちらつきが著しく改善で
きた。
面に対して勾配のある層を形成することにより、マルチ
ブレクシフグ駆動下でちらつきが抑えられる。即ち、書
込み時間とともに減衰または大きざが変動するドメイン
の発生を防止することができ、ちらつきが著しく改善で
きた。
また、前記勾配層のある場合とない場合とで、残像時間
とコントラスト比を比較すると次の第1表のようになっ
た。
とコントラスト比を比較すると次の第1表のようになっ
た。
即ち本発明により、ちらつき、残像時間およびコントラ
スト比を著しく改善できた。
スト比を著しく改善できた。
また、Sin、のエツチングレートを調整して透明電極
に対して勾配を持つ層16の勾配θを45°、60°、
900と変化させたところ、θ=30゛を超えると、画
素の低抵抗接続1ja 13 aのない側Aの領域に反
転部が形成されてくることが分かった。
に対して勾配を持つ層16の勾配θを45°、60°、
900と変化させたところ、θ=30゛を超えると、画
素の低抵抗接続1ja 13 aのない側Aの領域に反
転部が形成されてくることが分かった。
以上のことから、透明電極の対して勾配を持つ層の勾配
θは30’以下が適切であることが分かる。
θは30’以下が適切であることが分かる。
衷】灯吐ス
ラビング処理方向を第9図(A)のように向けたほかは
、実施例1と全く同様の方法で、液晶セルを作成し、実
施例1と同様のテストを行った。
、実施例1と全く同様の方法で、液晶セルを作成し、実
施例1と同様のテストを行った。
このとぎ、第9図(B)に示すように、駆動時に低抵抗
接続線13aのある側Bから画素書込み方向とは逆方向
の逆反転ドメイン(反転部16)が発生した。
接続線13aのある側Bから画素書込み方向とは逆方向
の逆反転ドメイン(反転部16)が発生した。
また、画素内の配向状態の観察をすると、第9図(B)
に示すように、アルミナビーズが原因となって発生する
ヘアピン欠陥とライトニング欠陥が存在し、ライトニン
グ欠陥の側面に画素の書込み方向とは逆方向の逆反転ド
メイン(反転部17)が発生し、ちらつきが見えた。
に示すように、アルミナビーズが原因となって発生する
ヘアピン欠陥とライトニング欠陥が存在し、ライトニン
グ欠陥の側面に画素の書込み方向とは逆方向の逆反転ド
メイン(反転部17)が発生し、ちらつきが見えた。
そこで、低抵抗接続線(AnやMO等の金属薄膜を使用
するため配線部は光を透過せず画素とはならない)のエ
ツチングレートを調整して、第10図に示すように低抵
抗接続線の透明電極側の側面に勾配を形成した。
するため配線部は光を透過せず画素とはならない)のエ
ツチングレートを調整して、第10図に示すように低抵
抗接続線の透明電極側の側面に勾配を形成した。
この場合も実施例1と全く同じ効果が得られた。即ち、
第10図(C)に示すように低抵抗接続線13aのある
側Bからは逆反転ドメインは発生せず、ちらつき、残像
およびコントラストが改善できた。
第10図(C)に示すように低抵抗接続線13aのある
側Bからは逆反転ドメインは発生せず、ちらつき、残像
およびコントラストが改善できた。
五亙■ユ
上記実施例1および2で、透明電極の側面に形成した透
明電極面に対して勾配のある層は、必ずしもエツチング
面が平坦ではなく、第11図(A)〜(H)に示す種々
の形状のものもあったが、いずれも実施例1と全く同じ
効果が得られた。
明電極面に対して勾配のある層は、必ずしもエツチング
面が平坦ではなく、第11図(A)〜(H)に示す種々
の形状のものもあったが、いずれも実施例1と全く同じ
効果が得られた。
医、LL辷二且
配向膜および液晶材料として次の第2表のものを用いた
ほかは、実施例1と同様のセルを作成し、テストを行っ
たところ、実施例1と同様の結果であった。
ほかは、実施例1と同様のセルを作成し、テストを行っ
たところ、実施例1と同様の結果であった。
第2表
表中、rsElooJ、rsE4110JおよびrLP
64Jはそれぞれポリイミド膜形成用樹脂液である。
64Jはそれぞれポリイミド膜形成用樹脂液である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、少なくとも一方
の透明電極の少なくとも一方の側面の画素外に透明電極
面に対して所定の勾配を有する層を形成することとして
いるので、画面全体のちらつき、残像およびコントラス
トなどに関する表示品質が改善され、高速応答性を有す
る液晶表示素子が提供される。
の透明電極の少なくとも一方の側面の画素外に透明電極
面に対して所定の勾配を有する層を形成することとして
いるので、画面全体のちらつき、残像およびコントラス
トなどに関する表示品質が改善され、高速応答性を有す
る液晶表示素子が提供される。
第1図、第2図および第3図は、本発明で用いた基板の
斜視図、 第4図(A)は、本発明で用いた一対の基板の平面図、 第4図CB)は、第4図(A)の画素の平面図、 第5図(A)〜(C)は、本実施例で用いた駆動電圧の
波形図、 第6図(A)は、本発明で用いたセルの平面図、 第6図CB)は、第6図(A)のA−A’断面図、 第7図(A)〜(C)は、ヘアピン欠陥とライトニング
欠陥を模式的にスケッチした説明図、第8図(A)は、
本発明の一実施例に係る液晶表示素子の基板の斜視図、 第8図(B)は、第8図(A)の基板の断面図、 第8図(C)は、第8図(A)の基板を用いた液晶表示
素子の画素の平面図、 第9図(A)は、本発明の他の実施例で用いた別の一対
の基板の平面図、 第9図(B)は、第9図(A)の画素の平面図、 第10図(A)は、本発明の他の実施例に係る液晶表示
素子の基板の斜視図、 第10図(B)は、第10図(A)の基板の断面図、 第10図(C)は、第10図(A)の基板を用いた液晶
表示素子の画素の平面図、 第11図は、本発明の他の実施例で用いた基板の断面図
である。 θ:勾配。
斜視図、 第4図(A)は、本発明で用いた一対の基板の平面図、 第4図CB)は、第4図(A)の画素の平面図、 第5図(A)〜(C)は、本実施例で用いた駆動電圧の
波形図、 第6図(A)は、本発明で用いたセルの平面図、 第6図CB)は、第6図(A)のA−A’断面図、 第7図(A)〜(C)は、ヘアピン欠陥とライトニング
欠陥を模式的にスケッチした説明図、第8図(A)は、
本発明の一実施例に係る液晶表示素子の基板の斜視図、 第8図(B)は、第8図(A)の基板の断面図、 第8図(C)は、第8図(A)の基板を用いた液晶表示
素子の画素の平面図、 第9図(A)は、本発明の他の実施例で用いた別の一対
の基板の平面図、 第9図(B)は、第9図(A)の画素の平面図、 第10図(A)は、本発明の他の実施例に係る液晶表示
素子の基板の斜視図、 第10図(B)は、第10図(A)の基板の断面図、 第10図(C)は、第10図(A)の基板を用いた液晶
表示素子の画素の平面図、 第11図は、本発明の他の実施例で用いた基板の断面図
である。 θ:勾配。
Claims (2)
- (1)強誘電性を有するスメクチック液晶と、該スメク
チック液晶を挟持し且つ互いに対向する透明電極とを有
する液晶素子において、 少なくとも一方の上記透明電極の、少なくとも一方の側
面の画素外に形成された、透明電極面に対して所定の勾
配を持つ層を具備することを特徴とする液晶素子。 - (2)前記所定の勾配が、前記透明電極面を基準として
30゜以下の勾配であることを特徴とする請求項1に記
載の液晶素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31073089A JPH03172822A (ja) | 1989-12-01 | 1989-12-01 | 液晶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31073089A JPH03172822A (ja) | 1989-12-01 | 1989-12-01 | 液晶素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03172822A true JPH03172822A (ja) | 1991-07-26 |
Family
ID=18008790
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31073089A Pending JPH03172822A (ja) | 1989-12-01 | 1989-12-01 | 液晶素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03172822A (ja) |
-
1989
- 1989-12-01 JP JP31073089A patent/JPH03172822A/ja active Pending
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