JPH03167438A - 動的面出入り測定装置 - Google Patents
動的面出入り測定装置Info
- Publication number
- JPH03167438A JPH03167438A JP30672889A JP30672889A JPH03167438A JP H03167438 A JPH03167438 A JP H03167438A JP 30672889 A JP30672889 A JP 30672889A JP 30672889 A JP30672889 A JP 30672889A JP H03167438 A JPH03167438 A JP H03167438A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- laser beam
- laser
- reflected
- inputted
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 235000013405 beer Nutrition 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、レーザプリンタ等に用いられるポリゴンミラ
ーを使ったレーザスキャニング装ifの評価装置に関す
るものである。
ーを使ったレーザスキャニング装ifの評価装置に関す
るものである。
(従来の技vfI)
レーザプリンタでは、高解像度,高印字品質むどの性能
を維持するため、各ユニットには高い加工精度が要求さ
れる。なかでも,レーザ光学系の中核となるレーザスキ
ャナ部ではサブミクロンの鯖度で加工組立てを行ない,
ユニット全体として長時間にわたって高精度を保証しな
ければならない。スキャナでは、ポリゴンミラーがスピ
ンドルに直結し高速に回転している。これまでもスキャ
ナの寸法、而倒れ等の加工精度などの光学特性を静的に
測定する方法は実用化されている。しかし、スキャナが
高速に回転している状態での動的な而の出入り(軸ぶれ
を含む)を実測する有効な手段がなく、装1?Lに実装
のうえ印字の結果でその良否を判定する方法を採用する
しかなかった.(発明が解決しようとする課題) 前記従来の方法では,作業効率が低く生産性の向上が期
待できず、従ってスキャナの特性を動的な条件下で高速
・高精度に測定できる手法の開発が切望されていた。
を維持するため、各ユニットには高い加工精度が要求さ
れる。なかでも,レーザ光学系の中核となるレーザスキ
ャナ部ではサブミクロンの鯖度で加工組立てを行ない,
ユニット全体として長時間にわたって高精度を保証しな
ければならない。スキャナでは、ポリゴンミラーがスピ
ンドルに直結し高速に回転している。これまでもスキャ
ナの寸法、而倒れ等の加工精度などの光学特性を静的に
測定する方法は実用化されている。しかし、スキャナが
高速に回転している状態での動的な而の出入り(軸ぶれ
を含む)を実測する有効な手段がなく、装1?Lに実装
のうえ印字の結果でその良否を判定する方法を採用する
しかなかった.(発明が解決しようとする課題) 前記従来の方法では,作業効率が低く生産性の向上が期
待できず、従ってスキャナの特性を動的な条件下で高速
・高精度に測定できる手法の開発が切望されていた。
又、動的な面の出入り量が、ミラー面全体に渡ってどの
ようになっているかを測定できれば回転中のミラーの歪
みの程度を知ることができるため高精度なスキャナの評
価、解析に有用となる。
ようになっているかを測定できれば回転中のミラーの歪
みの程度を知ることができるため高精度なスキャナの評
価、解析に有用となる。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、
実施例に対応する第工図で説明すると、回転しているポ
リゴンミラ−1に第1のレーザ光源2から出射されたレ
ーザビームL1をn個のビームスプリッタB1.B2・
・・・・・Bnでn個のレーザビームLal,La2・
・・・・・Lanに分けて入射し、その反射されたレー
ザビームLbl,Lb2・・・・・・Lbnがシリンド
リカルレンズ7を通り,通過後のレーザビームの位置を
検出する位置検出器DI,D2・・・・・・Dnに入射
し、更に第2のレーザ光源4から出射されたレーザビー
ムL3はハーフミラー5を通過させ、その通過したレー
ザビームL4をポリゴンミラ−1に入射し、その反射さ
れたレーザビームL5を前記ハーフミラー5に入射し,
その反射光L6をトリガ発生器6に入射するように構成
したものである。
実施例に対応する第工図で説明すると、回転しているポ
リゴンミラ−1に第1のレーザ光源2から出射されたレ
ーザビームL1をn個のビームスプリッタB1.B2・
・・・・・Bnでn個のレーザビームLal,La2・
・・・・・Lanに分けて入射し、その反射されたレー
ザビームLbl,Lb2・・・・・・Lbnがシリンド
リカルレンズ7を通り,通過後のレーザビームの位置を
検出する位置検出器DI,D2・・・・・・Dnに入射
し、更に第2のレーザ光源4から出射されたレーザビー
ムL3はハーフミラー5を通過させ、その通過したレー
ザビームL4をポリゴンミラ−1に入射し、その反射さ
れたレーザビームL5を前記ハーフミラー5に入射し,
その反射光L6をトリガ発生器6に入射するように構成
したものである。
(作用)
本発明によれば,多数のレーザビームLa 1,La2
・・・・・・Lanをポリゴンミラ−1のミラー而に入
射し、その反射したレーザビームLb l,Lb2・・
・・・・Lbnの位置ずれ量は面の出入り成分に比例す
るためポリゴンミラ−1のある面中の走査方向の面出入
り量の測定が可能となる。
・・・・・・Lanをポリゴンミラ−1のミラー而に入
射し、その反射したレーザビームLb l,Lb2・・
・・・・Lbnの位置ずれ量は面の出入り成分に比例す
るためポリゴンミラ−1のある面中の走査方向の面出入
り量の測定が可能となる。
更に、第2のレーザ光源4から出射されたレーザ光L3
はハーフミラー5を通過し、ポリゴンミラ−1に入射す
る,このレーザビームL3も同様にポリゴンの回転に伴
って走査するが同図のようにポリゴンのミラー面と入射
レーザビームL4が垂直になったとき、反射レーザビー
ムL5がハーフミラー5に入射し、その反射光L6がト
リガ発生器6に入射する.従ってポリゴンミラ−1が同
図のような状態になったとき、トリガ発生器6からトリ
ガ信号が発生し、その瞬間の前記ビーム位置検出器の出
力信号をa測すれば動的面出入り量が測定される。
はハーフミラー5を通過し、ポリゴンミラ−1に入射す
る,このレーザビームL3も同様にポリゴンの回転に伴
って走査するが同図のようにポリゴンのミラー面と入射
レーザビームL4が垂直になったとき、反射レーザビー
ムL5がハーフミラー5に入射し、その反射光L6がト
リガ発生器6に入射する.従ってポリゴンミラ−1が同
図のような状態になったとき、トリガ発生器6からトリ
ガ信号が発生し、その瞬間の前記ビーム位置検出器の出
力信号をa測すれば動的面出入り量が測定される。
(実施例)
第1図は本発明の一実施例を説明する図であって、第l
のレーザ光源2からほぼ平行なレーザビームLlが出射
され,n個、例えば5個のビームスプリッタBl,B2
・・・・・・B5で分けられレーザビームLal,La
2・・・・・・La5を発生させる.ビームスプリツタ
の反射率はBl,B2・・・・・・B5の順で1−2−
’,2−’,2−3.2−”,S”としてレーザビーム
Lal.La2・・・・・・La5のレーザパワーを等
しくする。
のレーザ光源2からほぼ平行なレーザビームLlが出射
され,n個、例えば5個のビームスプリッタBl,B2
・・・・・・B5で分けられレーザビームLal,La
2・・・・・・La5を発生させる.ビームスプリツタ
の反射率はBl,B2・・・・・・B5の順で1−2−
’,2−’,2−3.2−”,S”としてレーザビーム
Lal.La2・・・・・・La5のレーザパワーを等
しくする。
このレーザビームLa 1,La 2・・・・・・La
5を角度をもって、回転しているポリゴンミラ−1.に
入射する。入射されたレーザビームLal,La2・・
・・・・Lanはポリゴンミラーの回転に伴い走査する
がポリゴンミラーが同図の様な状態になった時,ポリゴ
ンミラーからの反射光Lbl,Lb2・・・・・・Lb
5はシリンドリカルレンズ7を通り、レーザビーム位置
検出器Di,D2・・・・・・D5に入射する。
5を角度をもって、回転しているポリゴンミラ−1.に
入射する。入射されたレーザビームLal,La2・・
・・・・Lanはポリゴンミラーの回転に伴い走査する
がポリゴンミラーが同図の様な状態になった時,ポリゴ
ンミラーからの反射光Lbl,Lb2・・・・・・Lb
5はシリンドリカルレンズ7を通り、レーザビーム位置
検出器Di,D2・・・・・・D5に入射する。
このシリンドリカルレンズ7はポリゴンミラーの副走査
方向のビーム位置ずれになる面倒れを同時に発生してい
るので、これによるビーム位置検出器3の出力誤差を低
減するためのものである。
方向のビーム位置ずれになる面倒れを同時に発生してい
るので、これによるビーム位置検出器3の出力誤差を低
減するためのものである。
また、第2のレーザ光源4から出射されたレーザ光L3
はハーフミラー5を通過しポリゴンミラ−1に入射する
。このレーザビームL 3も同様にポリゴンの回転に伴
って走査するが同図のようにボリゴンのミラー面と入射
レーザビームL4が垂直になったとき、反射レーザビー
ムL5がハーフミラー5に入射し、その反射光L6がト
リガ発生器6に入射する。従ってポリゴンミラ−1が同
図のような状態になったとき,トリガ発生器6からトリ
ガ信号が発生し、その瞬間の前記ビーム{!’Z置検出
器の出力fa号をm測すれば動的面出入り量が測定され
る。ここで第2図によりレーザビームLalを例に、而
出入り量の計算方法を説明すると、レーザピームLal
が,ポリゴンミラ一面が状態Aの時、反射光はL b
1のようになる.ここで面が出て状態Bになった時の反
射光は,Lcとなる。ここでビームの移動量を図のよう
にd1とすると面出入り量dOは do=d1cos (0/2) となる。
はハーフミラー5を通過しポリゴンミラ−1に入射する
。このレーザビームL 3も同様にポリゴンの回転に伴
って走査するが同図のようにボリゴンのミラー面と入射
レーザビームL4が垂直になったとき、反射レーザビー
ムL5がハーフミラー5に入射し、その反射光L6がト
リガ発生器6に入射する。従ってポリゴンミラ−1が同
図のような状態になったとき,トリガ発生器6からトリ
ガ信号が発生し、その瞬間の前記ビーム{!’Z置検出
器の出力fa号をm測すれば動的面出入り量が測定され
る。ここで第2図によりレーザビームLalを例に、而
出入り量の計算方法を説明すると、レーザピームLal
が,ポリゴンミラ一面が状態Aの時、反射光はL b
1のようになる.ここで面が出て状態Bになった時の反
射光は,Lcとなる。ここでビームの移動量を図のよう
にd1とすると面出入り量dOは do=d1cos (0/2) となる。
この様に反射レーザビームLbl,Lb2,・・・L
b nの位同ずれを側定できるので面の出入り量を求め
ることができる. (発明の効果) 以]−.、詳細に説明したように本発明によれば、レー
ザ光を2個用いることによりスキャナモー夕が同転して
いるときの動的な面の出入り量が81リ定できる。
b nの位同ずれを側定できるので面の出入り量を求め
ることができる. (発明の効果) 以]−.、詳細に説明したように本発明によれば、レー
ザ光を2個用いることによりスキャナモー夕が同転して
いるときの動的な面の出入り量が81リ定できる。
また,多数のレーザビームを用いることにより走企方向
の面出入り量がポリゴンミラー面全体に渡ってどのよう
になっているか測定することができる利点を有する。
の面出入り量がポリゴンミラー面全体に渡ってどのよう
になっているか測定することができる利点を有する。
4.+121面の帥I11な説明
第1 1%/Iは木発明の一丈施例を示すスキャナの動
的面出入りiI1リ定賀iI″゛Cの構成同、第21ツ
1は木失施例の動作J>+fデ1!を説明する同である
.1・・ポリゴンミラー 2・・・第1のレーザ光源 4・・・第2のレーザ光源 5・・・ハーフミラー 6・・・1〜リガ発l1ミ器 7・・・シリンドリカノレレンズ 111,112・・・・13 n・・・ビーl1スブリ
ソタD I , D 2 − − D n−レーザビ−
1z 侍Yl検出オ{特許出紅{人 コパルS(( =(一株人会社
的面出入りiI1リ定賀iI″゛Cの構成同、第21ツ
1は木失施例の動作J>+fデ1!を説明する同である
.1・・ポリゴンミラー 2・・・第1のレーザ光源 4・・・第2のレーザ光源 5・・・ハーフミラー 6・・・1〜リガ発l1ミ器 7・・・シリンドリカノレレンズ 111,112・・・・13 n・・・ビーl1スブリ
ソタD I , D 2 − − D n−レーザビ−
1z 侍Yl検出オ{特許出紅{人 コパルS(( =(一株人会社
Claims (1)
- 第1のレーザ光源(2)から出射されたレーザビーム(
L1)をn個のビームスプリッタ(B1)、(B2)・
・・・・・(Bn)を介してn個のレーザビーム(La
1)、(La2)・・・・・・(Lan)に分け、回転
しているポリゴンミラー(1)に入射し、その反射され
たレーザビーム(Lb1)、(Lb2)・・・・・・(
Lbn)をシリンドリカルレンズ7を通して、通過後の
レーザビームの位置を検出する位置検出器(D1)、(
D2)・・・・・・(Dn)に入射し、更に第2のレー
ザ光源(4)から出射されたレーザビーム(L3)をハ
ーフミラー(5)を通過させ、その通過したレーザビー
ム(L4)をポリゴンミラー(1)に入射し、その反射
されたレーザビーム(L5)を前記ハーフミラー(5)
に入射し、その反射光(L6)をトリガ発生器(6)に
入射するように構成したことを特徴とする動的面出入り
測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30672889A JPH0682081B2 (ja) | 1989-11-28 | 1989-11-28 | 動的面出入り測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30672889A JPH0682081B2 (ja) | 1989-11-28 | 1989-11-28 | 動的面出入り測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03167438A true JPH03167438A (ja) | 1991-07-19 |
JPH0682081B2 JPH0682081B2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=17960582
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30672889A Expired - Lifetime JPH0682081B2 (ja) | 1989-11-28 | 1989-11-28 | 動的面出入り測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0682081B2 (ja) |
-
1989
- 1989-11-28 JP JP30672889A patent/JPH0682081B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0682081B2 (ja) | 1994-10-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4355904A (en) | Optical inspection device for measuring depthwise variations from a focal plane | |
US5100529A (en) | Fluorescence detection type gel electrophoresis apparatus | |
EP2163906B1 (en) | Method of detecting a movement of a measuring probe and measuring instrument | |
JPH0426042B2 (ja) | ||
JPH059723B2 (ja) | ||
CN110763135A (zh) | 一种高精度激光干涉仪 | |
US4345838A (en) | Apparatus for spectrometer alignment | |
JPH03167438A (ja) | 動的面出入り測定装置 | |
JPH0914935A (ja) | 3次元物体の測定装置 | |
CA2034017C (en) | Scanning device for optically scanning a surface along a line | |
JPS6239365B2 (ja) | ||
JPH02204713A (ja) | 動的面出入り測定装置 | |
JPH03167439A (ja) | ポリゴンスキャナ測定装置 | |
JP2950004B2 (ja) | 共焦点レーザ顕微鏡 | |
JP3168480B2 (ja) | 異物検査方法、および異物検査装置 | |
KR19990051522A (ko) | 원통렌즈와 레이저 스캐너를 이용한 3차원 측정장치 | |
JPH02216117A (ja) | 光偏向器の動的面出入り測定装置 | |
JPH05203432A (ja) | 真直度測定方法 | |
JPH0735988B2 (ja) | 動的面出入り測定装置 | |
JPH01232226A (ja) | スキャナの動的面出入り測定装置 | |
JP3955242B2 (ja) | 平面度の測定法並びにその装置 | |
JP3009070B2 (ja) | 光走査測定装置並びに測定方法 | |
JPH05118826A (ja) | 形状検出装置 | |
JPH07318454A (ja) | レーザ光走査精度の測定方法及び測定装置 | |
JPH0436629A (ja) | 走査光学系におけるビーム形状測定装置 |