JPH03162943A - 反射防止膜付レンズ - Google Patents
反射防止膜付レンズInfo
- Publication number
- JPH03162943A JPH03162943A JP1224485A JP22448589A JPH03162943A JP H03162943 A JPH03162943 A JP H03162943A JP 1224485 A JP1224485 A JP 1224485A JP 22448589 A JP22448589 A JP 22448589A JP H03162943 A JPH03162943 A JP H03162943A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- refractive index
- resistance
- antireflection film
- low refractive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 15
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims abstract description 11
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims abstract description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 6
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 abstract description 2
- 238000006748 scratching Methods 0.000 abstract 2
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000001050 lubricating effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 99
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 20
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 7
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 4
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 4
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008484 TiSi Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910006249 ZrSi Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N diboron trioxide Chemical compound O=BOB=O JKWMSGQKBLHBQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- -1 it is also amorphous Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000002233 thin-film X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は低反射特性を有し、耐擦傷性、耐摩耗性に優れ
たレンズに関するものである。
たレンズに関するものである。
[従来の技術]
従来のプラスチックレンズは、レンズブランク表面に1
.5μm程度のケイ素樹脂をコートし、その上に第1層
に屈折率が1.45〜1.46の二酸化ケイ素を100
0〜2000人コートし、第2層には屈折率2.0〜2
.1の酸化ジルコニウムをコートする。第3層以上の奇
数番号の層には、第1層と同じ二酸化ケイ素を100〜
1000人、第4層以上の偶数番号の層には、第2層と
同じ酸化ジノレコニウムを 200〜1000人コート
することにより低反射性と、耐久性の向上をはかつてい
る。
.5μm程度のケイ素樹脂をコートし、その上に第1層
に屈折率が1.45〜1.46の二酸化ケイ素を100
0〜2000人コートし、第2層には屈折率2.0〜2
.1の酸化ジルコニウムをコートする。第3層以上の奇
数番号の層には、第1層と同じ二酸化ケイ素を100〜
1000人、第4層以上の偶数番号の層には、第2層と
同じ酸化ジノレコニウムを 200〜1000人コート
することにより低反射性と、耐久性の向上をはかつてい
る。
[発明の解決しようとする課題]
従来のハードコートを施したプラスチックレンズは、実
用上は空気中で露出した状態で使用されるので、他の物
体との接触が多いため容易にキズが付きヘイズとなるの
で商品としての寿命が短かく、コスト高になる欠点があ
る。
用上は空気中で露出した状態で使用されるので、他の物
体との接触が多いため容易にキズが付きヘイズとなるの
で商品としての寿命が短かく、コスト高になる欠点があ
る。
本発明は、低反射特性を低下させずに耐擦傷性、耐摩耗
特性を向上させようとするものであ?。
特性を向上させようとするものであ?。
[課題を解決するための手段]
本発明は前述の問題点を解決すべくなされたものであり
、空気側から数えて奇数層には低屈折率膜を、偶数層に
は高屈折率膜を積層してなる多層の反射防止膜であって
、低屈折率膜が、Zr, Ti, Hf, Sn, T
a, Inのうち少なくとも1種と、Si(ケイ素)と
B(ホウ素)のうち少なくとも1種とを含む複合酸化物
を主成分とする反射防止膜を形成したことを特徴とする
反射防止膜付レンズを提供するものである。
、空気側から数えて奇数層には低屈折率膜を、偶数層に
は高屈折率膜を積層してなる多層の反射防止膜であって
、低屈折率膜が、Zr, Ti, Hf, Sn, T
a, Inのうち少なくとも1種と、Si(ケイ素)と
B(ホウ素)のうち少なくとも1種とを含む複合酸化物
を主成分とする反射防止膜を形成したことを特徴とする
反射防止膜付レンズを提供するものである。
以下、本発明を更に詳細に説明する。
本発明における着眼点は、Zr, Ti, Hf, S
n, Ta,Inのうち少なくとも1種と、SiとBの
うち少なくとも1種を含む複合酸化物、例えばZrBx
O■,ZrSivOz及びZrBxSiyOz系の各種
膜において、BやSiの組成比が変化することによって
、その屈折率が連続的に変化するということである。
n, Ta,Inのうち少なくとも1種と、SiとBの
うち少なくとも1種を含む複合酸化物、例えばZrBx
O■,ZrSivOz及びZrBxSiyOz系の各種
膜において、BやSiの組成比が変化することによって
、その屈折率が連続的に変化するということである。
具体的にはZrBxO■系において、BのZrに対する
原子比XがOから3.7まで増加することによっ?、屈
折率は2.1から1.7まで連続的に低下する。又、Z
rSiyO■系では、SiのZrに対する原子比YがO
から9.0まで増加することによって、屈折率が2,1
から1.5まで連続的に低下する。
原子比XがOから3.7まで増加することによっ?、屈
折率は2.1から1.7まで連続的に低下する。又、Z
rSiyO■系では、SiのZrに対する原子比YがO
から9.0まで増加することによって、屈折率が2,1
から1.5まで連続的に低下する。
表1は、これらの複合酸化物からなる膜での性質を示し
たものである。それぞれ表に挙げた組成のターゲットを
用いて、反応性スパッタリングにより製膜したものであ
る。結晶性は、薄膜X線回折により観測した。又、耐擦
傷性は、砂消しゴムによる擦り試験の結果で、○は傷が
殆どつかなかったもの、×は容易に傷が生じたものであ
る。
たものである。それぞれ表に挙げた組成のターゲットを
用いて、反応性スパッタリングにより製膜したものであ
る。結晶性は、薄膜X線回折により観測した。又、耐擦
傷性は、砂消しゴムによる擦り試験の結果で、○は傷が
殆どつかなかったもの、×は容易に傷が生じたものであ
る。
耐摩耗性は、テーバー試験(摩耗輪CS−10F、加重
500 g, 1000回転)の結果、ヘイズ4%以内
のものを○、ヘイズ4%超のものを×とした。耐酸性は
0.1N o*so<中に240時間浸漬した結果、
Tv (可視光透過率〉、Rv (可視光反射率)の浸
漬前に対する変化率が1%以内のものを○、1〜4%の
ものをΔ、膜が溶解して消滅してしまったものを×とし
た。耐アルカリ性は0.IN NaOH中に240時間
浸漬した結果、TV,Rvの浸漬前に対する変化率が1
%以内のものを○、膜が溶解してしまったものを×とし
た。煮沸テストは、1気圧下、100℃の水に2時間浸
漬した後、Tv,Rvの浸漬前に対する変化率が1%以
内であるとき○、1%超のとき×とした。
500 g, 1000回転)の結果、ヘイズ4%以内
のものを○、ヘイズ4%超のものを×とした。耐酸性は
0.1N o*so<中に240時間浸漬した結果、
Tv (可視光透過率〉、Rv (可視光反射率)の浸
漬前に対する変化率が1%以内のものを○、1〜4%の
ものをΔ、膜が溶解して消滅してしまったものを×とし
た。耐アルカリ性は0.IN NaOH中に240時間
浸漬した結果、TV,Rvの浸漬前に対する変化率が1
%以内のものを○、膜が溶解してしまったものを×とし
た。煮沸テストは、1気圧下、100℃の水に2時間浸
漬した後、Tv,Rvの浸漬前に対する変化率が1%以
内であるとき○、1%超のとき×とした。
ZrBxOt膜に関しては、表1から明らかなように、
膜中のBが少ないと結晶性の膜ができ、Bが多いと非品
質の膜ができる傾向があることがわかる。そして、結晶
性の膜は耐擦傷性及び耐摩耗性が劣るのに対して非晶質
の膜は優れていることがわかる。これは非品質の膜は、
表面が平滑である為であると考えられる。従って、Zr
BxOx膜(膜中のZrに対するBの原子比Xが0,1
0< x )の膜は耐擦傷性、耐摩耗性に優れている。
膜中のBが少ないと結晶性の膜ができ、Bが多いと非品
質の膜ができる傾向があることがわかる。そして、結晶
性の膜は耐擦傷性及び耐摩耗性が劣るのに対して非晶質
の膜は優れていることがわかる。これは非品質の膜は、
表面が平滑である為であると考えられる。従って、Zr
BxOx膜(膜中のZrに対するBの原子比Xが0,1
0< x )の膜は耐擦傷性、耐摩耗性に優れている。
B203膜は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けてし
まうので、ZrBxOy膜においてX≦3程度が好まし
い。
まうので、ZrBxOy膜においてX≦3程度が好まし
い。
ZrBxOz膜中のZrに対するO(酸素)の原子比?
特に限定されないが、多すぎると膜構造が粗になりボソ
ボソの膜になってしまうこと、又、あまり少ないと膜が
金属的になり透過率が低下したり膜の耐擦傷性が低下す
る傾向があることなどの理由によりZrO■とB203
の複合系となる量程度であることが好ましい。即ち、複
合酸化物をZrL+ X BO+. sと表すと、Bが
Zrに対して原子比でX含まれる時に、z=2+1.5
x程度であることが好ましい。
特に限定されないが、多すぎると膜構造が粗になりボソ
ボソの膜になってしまうこと、又、あまり少ないと膜が
金属的になり透過率が低下したり膜の耐擦傷性が低下す
る傾向があることなどの理由によりZrO■とB203
の複合系となる量程度であることが好ましい。即ち、複
合酸化物をZrL+ X BO+. sと表すと、Bが
Zrに対して原子比でX含まれる時に、z=2+1.5
x程度であることが好ましい。
又、表1より、ZrBxO■膜中のBの量が増えるにつ
れ、膜の屈折率が低下する傾向があることがわかる。膜
の組成と屈折率nとの関係を第1図(a)に示す。膜中
のBを増やすことにより、屈折率nは2.0ぐらいから
1.5程度まで低下する。
れ、膜の屈折率が低下する傾向があることがわかる。膜
の組成と屈折率nとの関係を第1図(a)に示す。膜中
のBを増やすことにより、屈折率nは2.0ぐらいから
1.5程度まで低下する。
従って0. 10< x≦3.2<z≦6.5のZrB
xOz膜は良好な耐擦傷性及び耐摩耗性を有し、かつ、
Bの量によって自由に屈折率を選択できる。
xOz膜は良好な耐擦傷性及び耐摩耗性を有し、かつ、
Bの量によって自由に屈折率を選択できる。
さらに、表1に示したように、膜中のBの含?量が増え
るにつれ、耐酸性、耐アルカリ性が劣化する傾向がある
。X≧2.3で耐酸性が悪くなり、x>4で耐アルカリ
性の低下及び煮沸テストで劣化を示すようになる。
るにつれ、耐酸性、耐アルカリ性が劣化する傾向がある
。X≧2.3で耐酸性が悪くなり、x>4で耐アルカリ
性の低下及び煮沸テストで劣化を示すようになる。
以上のように、ZrO■膜に酸化硼素B203を加えた
ことにより、膜が非品質化し、表面が平滑化し、これが
耐摩耗性及び耐擦傷性の向上に寄与していると考えられ
る。又、Bの量で屈折率の調節が可能となり、さらに、
ZrO■膜と比べて、内部応力が小さいため、接する膜
との密着性の点で有利である。これは特に厚い膜を形成
する場合に有利である。
ことにより、膜が非品質化し、表面が平滑化し、これが
耐摩耗性及び耐擦傷性の向上に寄与していると考えられ
る。又、Bの量で屈折率の調節が可能となり、さらに、
ZrO■膜と比べて、内部応力が小さいため、接する膜
との密着性の点で有利である。これは特に厚い膜を形成
する場合に有利である。
次に、ZrSzyOi膜に関しては、やはりアモルファ
スであり、耐擦傷性、耐摩耗性の高い膜が得られる。
スであり、耐擦傷性、耐摩耗性の高い膜が得られる。
屈折率については、ZrOt ( n = 2. 15
)とSiOi( n = 1.46)の間でその組成割
合によって上下する(第1図(b)参照)。さらに詳し
くは、ZrSiVOll膜において、0.05≦y(膜
中のZrに対するSiの原子比)≦19であることが好
ましい。
)とSiOi( n = 1.46)の間でその組成割
合によって上下する(第1図(b)参照)。さらに詳し
くは、ZrSiVOll膜において、0.05≦y(膜
中のZrに対するSiの原子比)≦19であることが好
ましい。
y<0.05だと、膜が非品質化せず、十分な物理的耐
久性が得られない。又、y〉19だと、耐アルカリ性が
悪くなる。又、z ( ZrSiyOz膜中のZrに対
するOの原子比)は、ZrBxOx膜について述べたの
と同様の理由により、SiがZrに対して原子比でy含
まれる時に、z=2+2y程度であることが好ましい。
久性が得られない。又、y〉19だと、耐アルカリ性が
悪くなる。又、z ( ZrSiyOz膜中のZrに対
するOの原子比)は、ZrBxOx膜について述べたの
と同様の理由により、SiがZrに対して原子比でy含
まれる時に、z=2+2y程度であることが好ましい。
又、ZrBxSiyOz膜も本発明の目的に合った膜で
ある。かかる膜中のZrに対するBの原子比x.Siの
原子比y.oの原子比2は、x+y≧0.05であれば
膜が非品質化し、耐擦傷性及び耐摩耗性の高い膜となる
ので好ましい。
ある。かかる膜中のZrに対するBの原子比x.Siの
原子比y.oの原子比2は、x+y≧0.05であれば
膜が非品質化し、耐擦傷性及び耐摩耗性の高い膜となる
ので好ましい。
又、x+y≦19であれば耐アルカリ性も良好であるの
で、lrBxStyOi膜においては、0.05≦x+
y≦19であるのが好ましい。ただし、上述のように、
B20,は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けてしま
うため、zrB.Si,Ox膜中にあまり多く含有され
ない方がよい。具体的には、膜中において、ZrOz<
25n+ol%かつSin.< 25mo1%で残り
が8203となる程B203が含まれていると?学的耐
久性が不十分となる。即ち、ZrBxSi,Oエ膜中の
Zr:B:Si(原子比)を1 :x:yとすると、l
/ (1 +x十y) <0.25かつZ/(1+x
+y) <0.25、即ち、x+y−3>0かつx−3
y+1>Oの組成は化学的耐久性が好ましくない。Zは
、ZrB.0■の場合に述べたのと同様の理由によりこ
の膜をZrO■+BaOx+ Si02の複合系と考え
て、yは2+1.5 x+ 237程度であることが好
ましくない。よってほぼ2<z<40程度であることが
好ましい。BやSiの含有量が多い程ZrBxS1yO
x膜の屈折率は低下する。
で、lrBxStyOi膜においては、0.05≦x+
y≦19であるのが好ましい。ただし、上述のように、
B20,は吸湿性で空気中の水分を吸収して溶けてしま
うため、zrB.Si,Ox膜中にあまり多く含有され
ない方がよい。具体的には、膜中において、ZrOz<
25n+ol%かつSin.< 25mo1%で残り
が8203となる程B203が含まれていると?学的耐
久性が不十分となる。即ち、ZrBxSi,Oエ膜中の
Zr:B:Si(原子比)を1 :x:yとすると、l
/ (1 +x十y) <0.25かつZ/(1+x
+y) <0.25、即ち、x+y−3>0かつx−3
y+1>Oの組成は化学的耐久性が好ましくない。Zは
、ZrB.0■の場合に述べたのと同様の理由によりこ
の膜をZrO■+BaOx+ Si02の複合系と考え
て、yは2+1.5 x+ 237程度であることが好
ましくない。よってほぼ2<z<40程度であることが
好ましい。BやSiの含有量が多い程ZrBxS1yO
x膜の屈折率は低下する。
ZrB+SiyOx膜の例を第1図(c)に示す。
Zr以外の金属、即ち、Ti, Hf, Sn, Ta
, In と、BとStのうち少なくとも1種とを含
む酸化物も同様に非品質となり、十分な耐擦傷性、及び
耐摩耗性が得られる。TiSxzOy膜を表1のサンプ
ルl5に一例として示した。
, In と、BとStのうち少なくとも1種とを含
む酸化物も同様に非品質となり、十分な耐擦傷性、及び
耐摩耗性が得られる。TiSxzOy膜を表1のサンプ
ルl5に一例として示した。
ここで注目すべき事は、Zr+。Si++。0■の組成
の膜において、屈折率が1.5という非常に低い値が得
られることである。この値はSiO■の1.46と?う
値には及ばないものの、多層の反射防止膜用の低屈折率
膜の材料として、充分使用可能なものである。又、この
ZrloSisoO■膜はSi02膜と異なり、耐アル
カリ性も優れているため、耐久性の向上も期待できる。
の膜において、屈折率が1.5という非常に低い値が得
られることである。この値はSiO■の1.46と?う
値には及ばないものの、多層の反射防止膜用の低屈折率
膜の材料として、充分使用可能なものである。又、この
ZrloSisoO■膜はSi02膜と異なり、耐アル
カリ性も優れているため、耐久性の向上も期待できる。
更にはこのZr+oSieoOz膜を反応性スパッタリ
ング法によって成膜を行なう場合、ターゲットとして用
いるZr−Si合金に電導性があるため、D. C.ス
パッタリングが可能という大きな利点がある。この事実
は、通常のSiターゲットが半導体のためこのD. C
.スパッタリング法が難しいという事と比較するとがな
り優位性がある。しかも、反応性スパッタリング法によ
るZr+oSi++oO■膜の成膜速度も、Sin2膜
に比較してかなり速いため、生産タクトの短縮にもつな
がり、コスト的にも有利であると考えられる。
ング法によって成膜を行なう場合、ターゲットとして用
いるZr−Si合金に電導性があるため、D. C.ス
パッタリングが可能という大きな利点がある。この事実
は、通常のSiターゲットが半導体のためこのD. C
.スパッタリング法が難しいという事と比較するとがな
り優位性がある。しかも、反応性スパッタリング法によ
るZr+oSi++oO■膜の成膜速度も、Sin2膜
に比較してかなり速いため、生産タクトの短縮にもつな
がり、コスト的にも有利であると考えられる。
次に本発明によって実際に3層の反射防止膜を作成する
事を考えてみる。3層反射防止膜は、可視光全体にわた
るような広い波長領域において低反射率を実現できるた
め、一Mに広く1 1 ?用化されている。この3層の反射防止膜を本発明によ
って構成するためには、基板の表面上に空気側から数え
て第1層として光学膜厚ん。/4の屈折率1.49のZ
rSiyO■膜を形成する。
事を考えてみる。3層反射防止膜は、可視光全体にわた
るような広い波長領域において低反射率を実現できるた
め、一Mに広く1 1 ?用化されている。この3層の反射防止膜を本発明によ
って構成するためには、基板の表面上に空気側から数え
て第1層として光学膜厚ん。/4の屈折率1.49のZ
rSiyO■膜を形成する。
この屈折率1.49の膜は、前述のZr+。Sie。0
2の組成をわずかに調整するだけで実現可能である。
2の組成をわずかに調整するだけで実現可能である。
第2層としては光学膜厚丸。/2の屈折率2.05のZ
rBxO■膜を形成する。この屈折率2.05の膜は、
BのZrに対する原子比Xを0.4<X<1程度にすれ
ば実現できる。この場合、第3層として要求される中間
屈折率は、3層反射防止膜の条件(n,=fi, ・
no””)により、例えば基板(ソーダライムガラス板
)の屈折率n。が1.52で、第1層のZrSiyO.
膜の屈折率1,49とすると、およそl.49X (1
.52)”” = 1.84となる。この屈折率の膜は
ZrSiJ■膜においてSiのZrに対する原子比Yを
調整することによって容易に実現できるが、この中間屈
折率のえ。/4の膜を屈折率2.05のZrBxOzと
屈折率1.49のZrSiyOzを交互に積み重ねた等
価膜に置き換えることによっ1 2 ?、この反射防止膜の広帯域化,高精度化を企ることが
できる。又、同様にして3層以上の反射防止膜も、各構
成膜の屈折率を調整して形成することができる。
rBxO■膜を形成する。この屈折率2.05の膜は、
BのZrに対する原子比Xを0.4<X<1程度にすれ
ば実現できる。この場合、第3層として要求される中間
屈折率は、3層反射防止膜の条件(n,=fi, ・
no””)により、例えば基板(ソーダライムガラス板
)の屈折率n。が1.52で、第1層のZrSiyO.
膜の屈折率1,49とすると、およそl.49X (1
.52)”” = 1.84となる。この屈折率の膜は
ZrSiJ■膜においてSiのZrに対する原子比Yを
調整することによって容易に実現できるが、この中間屈
折率のえ。/4の膜を屈折率2.05のZrBxOzと
屈折率1.49のZrSiyOzを交互に積み重ねた等
価膜に置き換えることによっ1 2 ?、この反射防止膜の広帯域化,高精度化を企ることが
できる。又、同様にして3層以上の反射防止膜も、各構
成膜の屈折率を調整して形成することができる。
このような多層の反射防止膜において、ポイントは低屈
折率膜の材料であるが、本発明ではZrSiJ■におけ
るSiのZrに対する原子比Yを調整することによって
、前述のように、屈折率1.5の膜も実現できる。Yを
増加させることによって、さらに屈折率を低下させるこ
とができるが、あまりSiの割合が多くなると膜の耐ア
ルカリ性が低下する。又、低屈折率膜の材料としてのY
の下限値は、組合わせる高屈折率膜の材料の種類によっ
て左右されるために、厳密に規定されるものではないが
、この低屈折率材料の屈折率があまり高くなり過ぎると
、組合わせる高屈折率材料も限定されてしまい、又、反
射防止性能も低下すると考えられるため、屈折率として
は1.7以下が適当と考えられる。よってYの値の範囲
としては2以上19以下が望ましい。
折率膜の材料であるが、本発明ではZrSiJ■におけ
るSiのZrに対する原子比Yを調整することによって
、前述のように、屈折率1.5の膜も実現できる。Yを
増加させることによって、さらに屈折率を低下させるこ
とができるが、あまりSiの割合が多くなると膜の耐ア
ルカリ性が低下する。又、低屈折率膜の材料としてのY
の下限値は、組合わせる高屈折率膜の材料の種類によっ
て左右されるために、厳密に規定されるものではないが
、この低屈折率材料の屈折率があまり高くなり過ぎると
、組合わせる高屈折率材料も限定されてしまい、又、反
射防止性能も低下すると考えられるため、屈折率として
は1.7以下が適当と考えられる。よってYの値の範囲
としては2以上19以下が望ましい。
?発明における反射防止膜を形成するレンズとしては、
ガラス,プラスチック等を使用することができるる。特
にプラスチックレンズに適用した場合に優れた効果が期
待できる。
ガラス,プラスチック等を使用することができるる。特
にプラスチックレンズに適用した場合に優れた効果が期
待できる。
本発明における高屈折率膜の材料としては、例に挙げた
ようにZrBxOz系、ZrSiyOz系、ZrBxS
i,0■系において、BのZrに対する原子比XやSt
のZrに対する原子比2を押さえて、その屈折率を上げ
たものを使用できるが、これに限定されるものではなく
、通常使用されるような高屈折率材料であるTiO2.
ZrOi, ZnS, Ta205なども使用する
ことができる。しかしながら、高屈折率材料も低屈折率
材料も同じZrBxOzやZrSi,O., ZrBx
Si,Oxを使用することにより、異種材料間でしばし
ば起こり得る層間ハク離を防ぐ事ができ、その結果、付
着力向上の効果が期待できる。
ようにZrBxOz系、ZrSiyOz系、ZrBxS
i,0■系において、BのZrに対する原子比XやSt
のZrに対する原子比2を押さえて、その屈折率を上げ
たものを使用できるが、これに限定されるものではなく
、通常使用されるような高屈折率材料であるTiO2.
ZrOi, ZnS, Ta205なども使用する
ことができる。しかしながら、高屈折率材料も低屈折率
材料も同じZrBxOzやZrSi,O., ZrBx
Si,Oxを使用することにより、異種材料間でしばし
ば起こり得る層間ハク離を防ぐ事ができ、その結果、付
着力向上の効果が期待できる。
本発明における反射防止膜を作成する手段としては、通
常の蒸着法,スパッタリング法,CVD法など、どの手
法を使用してもよいが、?発明の効果を充分に上げるた
めには、スパッタリング法が望ましい。なぜならば、本
発明の特徴は、前述のように低屈折率膜をD. C.ス
パッタリングによって作成できることにあるからである
。本発明による低屈折率膜をD. C.スパッタリング
によって形成する場合には、ターゲットとしてZrとS
iの合金ターゲットを用い、スパッタ用ガスとしてAr
と0■の混合ガスを使用する。
常の蒸着法,スパッタリング法,CVD法など、どの手
法を使用してもよいが、?発明の効果を充分に上げるた
めには、スパッタリング法が望ましい。なぜならば、本
発明の特徴は、前述のように低屈折率膜をD. C.ス
パッタリングによって作成できることにあるからである
。本発明による低屈折率膜をD. C.スパッタリング
によって形成する場合には、ターゲットとしてZrとS
iの合金ターゲットを用い、スパッタ用ガスとしてAr
と0■の混合ガスを使用する。
一方、高屈折率膜も同様にZrとSiやZrとBの合金
ターゲットからの反応性スパッタリングによって作成す
ることが可能だが、それ以外の材料を使用する場合でも
それぞれの材料の金属ターゲットを用いれば問題はない
。又、高屈折膜を成膜する場合ターゲットとして焼結I
TOのように電導性のものも用いることもできる。
ターゲットからの反応性スパッタリングによって作成す
ることが可能だが、それ以外の材料を使用する場合でも
それぞれの材料の金属ターゲットを用いれば問題はない
。又、高屈折膜を成膜する場合ターゲットとして焼結I
TOのように電導性のものも用いることもできる。
以上、BとSiのうち少なくとも1種とZrとを含む複
合酸化物を主成分とする膜について述べたが、Zr以外
のTi, Hf, Sn, Ta, In等についても
同様である。
合酸化物を主成分とする膜について述べたが、Zr以外
のTi, Hf, Sn, Ta, In等についても
同様である。
15
[作 用]
本発明のレンズ上に被覆した非品質酸化物膜は、非常に
潤滑性に優れ、引っかかりが少なし)ため摩擦により疵
つきにくく、高耐擦傷性能及び高耐摩擦性能が得られる
ものと考えられる。
潤滑性に優れ、引っかかりが少なし)ため摩擦により疵
つきにくく、高耐擦傷性能及び高耐摩擦性能が得られる
ものと考えられる。
[実施例]
表2には、反応性DCスパッタリングにより本発明によ
る反射防止膜をプラスチックレンズ上に製膜したものの
耐擦傷テスト及び耐摩耗テスト結果を示した。
る反射防止膜をプラスチックレンズ上に製膜したものの
耐擦傷テスト及び耐摩耗テスト結果を示した。
耐擦傷性は砂消しゴムによる擦り試験結果で、○は傷が
殆んどつかなかったもの、×は容易に傷が生じたもので
ある。
殆んどつかなかったもの、×は容易に傷が生じたもので
ある。
耐摩耗性はテーバー試験(摩耗輪CS−10F、加重5
00g、1000回転)の結果、ヘイズ4%以内のもの
を○、ヘイズ4%超のものを×とした。
00g、1000回転)の結果、ヘイズ4%以内のもの
を○、ヘイズ4%超のものを×とした。
1
6
表
2
?発明の効果]
本発明によれば、高耐擦傷性及び高耐摩耗性を有すると
ともに、B又は/かつSiの添加量により屈折率が制御
できる薄膜が提供できるため、高耐擦傷性及び高耐摩耗
性を向上させた上に、光学設計の自由度も併せもつレン
ズを提供できる。
ともに、B又は/かつSiの添加量により屈折率が制御
できる薄膜が提供できるため、高耐擦傷性及び高耐摩耗
性を向上させた上に、光学設計の自由度も併せもつレン
ズを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)はZrBウ0■膜中のBの含有量と膜の屈
折率nとの関係を示した図である。第1図(b)はZr
Si,0エ膜中のSiの含有量とnとの関係を、第1図
(c)はZrB+S1yOz膜中のSiの含有量1 8 とnとの関係を示した図、 第1図(d) はTiSi.O, 膜中のSiの含有量とnとの関係図である。 1 9
折率nとの関係を示した図である。第1図(b)はZr
Si,0エ膜中のSiの含有量とnとの関係を、第1図
(c)はZrB+S1yOz膜中のSiの含有量1 8 とnとの関係を示した図、 第1図(d) はTiSi.O, 膜中のSiの含有量とnとの関係図である。 1 9
Claims (5)
- (1)空気側から数えて奇数層には低屈折率膜を、偶数
層には高屈折率膜を積層してなる多層の反射防止膜であ
って、低屈折率膜が、Zr、Ti、Hf、Sn、Ta、
Inのうち少なくとも1種と、Si(ケイ素)とB(ホ
ウ素)のうち少なくとも1種とを含む複合酸化物を主成
分とする反射防止膜を形成したことを特徴とする反射防
止膜付レンズ。 - (2)低屈折率膜が、ジルコニウムとケイ素とを含む複
合酸化物を主成分とし、SiのZrに対する原子比Yが
2≦Y≦19であることを特徴とする請求項1記載の反
射防止膜付レンズ。 - (3)空気側から数えて奇数層には低屈折率膜を、偶数
層には高屈折率膜を積層してなる多層の反射防止膜にお
いて、低屈折率膜及び高屈折率膜が、B(ホウ素)、S
i(ケイ素)のうち少なくとも1種と、Zr、Ti、H
f、Sn、Ta、Inのうち少なくとも1種とを含む複
合酸化物を主成分とすることを特徴とする反射防止 膜付レンズ。 - (4)低屈折率膜におけるB、Si又はその両者の和の
Zr、Ti、Hf、Sn、Ta、Inの合計に対する原
子比が、高屈折率膜におけるB、Si又はその両者の和
のZr、Ti、Hf、Sn、Ta、Inの合計に対する
原子比よりも大きいことを特徴とする請求項3記載の反
射防止膜付レンズ。 - (5)低屈折率膜がZrとSiとを含む複合酸化物を主
成分とし、SiのZrに対する原子比Yが2≦Y≦19
である事を特徴とする請求項3又は4記載の反射防止膜
付レンズ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1224485A JPH03162943A (ja) | 1989-03-07 | 1989-09-01 | 反射防止膜付レンズ |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5300989 | 1989-03-07 | ||
JP1-53009 | 1989-03-07 | ||
JP1-197993 | 1989-08-01 | ||
JP19799389 | 1989-08-01 | ||
JP1224485A JPH03162943A (ja) | 1989-03-07 | 1989-09-01 | 反射防止膜付レンズ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03162943A true JPH03162943A (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=27294814
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1224485A Pending JPH03162943A (ja) | 1989-03-07 | 1989-09-01 | 反射防止膜付レンズ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03162943A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0586050A1 (en) * | 1992-07-24 | 1994-03-09 | Nikon Corporation | Antireflective film and optical element having the same |
JP2003062920A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-05 | Sony Corp | 反射防止フィルム |
USRE39215E1 (en) | 1994-10-31 | 2006-08-01 | Tru Vue, Inc. | Antireflection coating for a temperature sensitive substrate |
WO2013183457A1 (ja) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | 旭硝子株式会社 | 光学素子 |
WO2015093322A1 (ja) * | 2013-12-16 | 2015-06-25 | 旭硝子株式会社 | 反射防止膜付きガラスおよびその製造方法 |
WO2016167127A1 (ja) * | 2015-04-14 | 2016-10-20 | 旭硝子株式会社 | 反射防止膜付きガラス |
WO2016204003A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | 旭硝子株式会社 | ガラス物品およびその製造方法 |
-
1989
- 1989-09-01 JP JP1224485A patent/JPH03162943A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0586050A1 (en) * | 1992-07-24 | 1994-03-09 | Nikon Corporation | Antireflective film and optical element having the same |
US5513038A (en) * | 1992-07-24 | 1996-04-30 | Nikon Corporation | Antireflective film and optical elements having the same |
USRE39215E1 (en) | 1994-10-31 | 2006-08-01 | Tru Vue, Inc. | Antireflection coating for a temperature sensitive substrate |
JP2003062920A (ja) * | 2001-08-28 | 2003-03-05 | Sony Corp | 反射防止フィルム |
WO2013183457A1 (ja) * | 2012-06-08 | 2013-12-12 | 旭硝子株式会社 | 光学素子 |
JPWO2013183457A1 (ja) * | 2012-06-08 | 2016-01-28 | 旭硝子株式会社 | 光学素子 |
WO2015093322A1 (ja) * | 2013-12-16 | 2015-06-25 | 旭硝子株式会社 | 反射防止膜付きガラスおよびその製造方法 |
JPWO2015093322A1 (ja) * | 2013-12-16 | 2017-03-16 | 旭硝子株式会社 | 反射防止膜付きガラスおよびその製造方法 |
WO2016167127A1 (ja) * | 2015-04-14 | 2016-10-20 | 旭硝子株式会社 | 反射防止膜付きガラス |
JPWO2016167127A1 (ja) * | 2015-04-14 | 2018-02-08 | 旭硝子株式会社 | 反射防止膜付きガラス |
WO2016204003A1 (ja) * | 2015-06-18 | 2016-12-22 | 旭硝子株式会社 | ガラス物品およびその製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2579403C (en) | First surface mirror with metal oxide nucleation layer | |
US6159621A (en) | Glass substrate provided with a thin-film stack having reflective properties in the infrared and/or in the region of solar radiation | |
US5952084A (en) | Transparent substrate provided with a thin-film coating | |
JP2003502259A (ja) | スパッター被覆物品のための保護層 | |
WO2008091335A1 (en) | First surface mirror with silicon-metal oxide nucleation layer for improving adhesion of the reflective layer | |
JP2002169002A (ja) | 蒸着組成物の製造方法、蒸着組成物及び反射防止膜を有する光学部品の製造方法 | |
JP2005114649A (ja) | 時計用カバーガラス | |
JP2017151409A (ja) | 赤外線透過膜、光学膜、反射防止膜、光学部品、光学系及び撮像装置 | |
JPH03162943A (ja) | 反射防止膜付レンズ | |
JP2950886B2 (ja) | 選択透過膜付きガラスの製造方法 | |
CN111656226A (zh) | 光学薄膜、光学元件及光学系统 | |
JP2007310335A (ja) | 表面鏡 | |
JP2023182732A (ja) | 耐久性向上のためナノラミネートを備えた光学コーティング | |
JP2006317603A (ja) | 表面鏡 | |
KR20110018069A (ko) | 반사방지용 다층코팅을 갖는 투명 기판 및 그 제조방법 | |
JPH03187955A (ja) | 選択透過物品及びその製造方法 | |
JP2576637B2 (ja) | 熱線反射ガラス | |
JPH03173638A (ja) | 反射防止膜及びその製造方法 | |
JP2906524B2 (ja) | 赤外反射物品 | |
JP2561955B2 (ja) | プラスチックレンズ用多層反射防止膜 | |
JP3221349B2 (ja) | 熱線反射膜 | |
JPH03178430A (ja) | 赤外反射物品 | |
JPH1130704A (ja) | 眼鏡プラスチックレンズ | |
CN212907127U (zh) | 透明导电膜和触控屏 | |
JPH03187736A (ja) | 熱線遮断ガラス |