JPH0315872B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0315872B2 JPH0315872B2 JP58217456A JP21745683A JPH0315872B2 JP H0315872 B2 JPH0315872 B2 JP H0315872B2 JP 58217456 A JP58217456 A JP 58217456A JP 21745683 A JP21745683 A JP 21745683A JP H0315872 B2 JPH0315872 B2 JP H0315872B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- reference value
- monitoring
- squelch
- eye pattern
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 29
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 10
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 6
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 5
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G3/00—Gain control in amplifiers or frequency changers
- H03G3/20—Automatic control
- H03G3/30—Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
- H03G3/3089—Control of digital or coded signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
- H04L1/20—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Noise Elimination (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、デイジタル信号を受信する無線受信
機のスケルチ信号発生回路に関する。特に、受信
電界レベルと所定の監視用基準値とを比較してス
ケルチ信号を発生する回路に関するものである。
機のスケルチ信号発生回路に関する。特に、受信
電界レベルと所定の監視用基準値とを比較してス
ケルチ信号を発生する回路に関するものである。
従来のスケルチ信号発生回路として、一般に、
受信電界レベルを検出する電界スケルチ回路と、
受信機検波出力における帯域外雑音を検出するノ
イズスケルチ回路とが用いられている。しかしな
がら、いずれも、隣接チヤネルからの干渉波、ま
たは、隣接チヤネルと次隣接チヤネルとの相互変
調を検出して、誤つてスケルチ応答をする欠点が
ある。また、従来の方法では、検出した受信電界
レベル、または帯域外雑音についても、受信した
デイジタル信号の品質(ビツト誤り率またはシン
ボル誤り率)とは必ずしも対応せず、部品のばら
つき、温度変化および経年変化等により、例えば
10-3のシンボル誤り率に相当するスケルチ応答電
界レベルとして、数dB程度のばらつきがあるた
め、スケルチレベルの設定精度を十分得ることが
できない欠点があつた。そのため品質の悪いデイ
ジタル信号であつても、スケルチ応答のないまま
に使用する危険があつた。
受信電界レベルを検出する電界スケルチ回路と、
受信機検波出力における帯域外雑音を検出するノ
イズスケルチ回路とが用いられている。しかしな
がら、いずれも、隣接チヤネルからの干渉波、ま
たは、隣接チヤネルと次隣接チヤネルとの相互変
調を検出して、誤つてスケルチ応答をする欠点が
ある。また、従来の方法では、検出した受信電界
レベル、または帯域外雑音についても、受信した
デイジタル信号の品質(ビツト誤り率またはシン
ボル誤り率)とは必ずしも対応せず、部品のばら
つき、温度変化および経年変化等により、例えば
10-3のシンボル誤り率に相当するスケルチ応答電
界レベルとして、数dB程度のばらつきがあるた
め、スケルチレベルの設定精度を十分得ることが
できない欠点があつた。そのため品質の悪いデイ
ジタル信号であつても、スケルチ応答のないまま
に使用する危険があつた。
本発明は、前記の欠点を解決し、デイジタル信
号の品質に対応した精度の良いスケルチ信号発生
回路を提供することを目的とする。
号の品質に対応した精度の良いスケルチ信号発生
回路を提供することを目的とする。
本発明は、受信する信号のアイパターン開度よ
りデータ信号を識別する手段を備えたデイジタル
信号受信機のスケルチ信号発生回路において、デ
ータ信号を識別するための比較基準値とは別に、
アイパターンの上側または下側に監視用の基準値
を設け、アイパターンのクロスしているタイミン
グで前記監視用の基準値を越える頻度を求めるこ
とにより、シンボル誤り率に相当する情報を得て
スケルチ信号を発生するように構成されたことを
特徴とする。
りデータ信号を識別する手段を備えたデイジタル
信号受信機のスケルチ信号発生回路において、デ
ータ信号を識別するための比較基準値とは別に、
アイパターンの上側または下側に監視用の基準値
を設け、アイパターンのクロスしているタイミン
グで前記監視用の基準値を越える頻度を求めるこ
とにより、シンボル誤り率に相当する情報を得て
スケルチ信号を発生するように構成されたことを
特徴とする。
すなわち、本発明は、受信するデイジタル信号
のアイパターンの上端のクロスポイントの上側の
レベルに対応して設定された監視用の基準値また
は下端のクロスポイントの下側のレベルに対応し
て設定された監視用の基準値を発生する手段と、
この監視用の基準値と前記受信するデイジタル信
号とを前記アイパターンのクロスしているタイミ
ングで比較する比較手段と、この比較手段からの
出力信号により受信した信号が前記アイパターン
の上端のクロスポイントの上側に設定された監視
用の基準値を上回る頻度または前記アイパターン
の下端のクロスポイントの下側に設定された監視
用の基準値を下回る頻度を測定する測定手段と、
この測定手段により測定した頻度が設定値以上の
場合にスケルチ信号を発生する信号処理手段とを
備えたことを特徴とする。
のアイパターンの上端のクロスポイントの上側の
レベルに対応して設定された監視用の基準値また
は下端のクロスポイントの下側のレベルに対応し
て設定された監視用の基準値を発生する手段と、
この監視用の基準値と前記受信するデイジタル信
号とを前記アイパターンのクロスしているタイミ
ングで比較する比較手段と、この比較手段からの
出力信号により受信した信号が前記アイパターン
の上端のクロスポイントの上側に設定された監視
用の基準値を上回る頻度または前記アイパターン
の下端のクロスポイントの下側に設定された監視
用の基準値を下回る頻度を測定する測定手段と、
この測定手段により測定した頻度が設定値以上の
場合にスケルチ信号を発生する信号処理手段とを
備えたことを特徴とする。
本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。第1図は本発明一実施例スケルチ信号発生回
路のブロツク図である。中間周波信号IFが検波
器10が入力され、検波器10の出力は、低域通
過フイルタ20に接続される。低域通過フイルタ
20からデータ信号Eがクロツク再生回路30、
識別回路40の比較器41および比較器42に接
続される。クロツク再生回路30からクロツク
CLKがフリツプフロツプ43,44のクロツク
入力CKに接続される。比較器41,42の出力
は、それぞれフリツプフロツプ43,44の入力
Dに接続される。電圧V0が抵抗51,52,5
3,54を介して接地され、基準値Vs,V1,V2
が取出される。抵抗52と抵抗53との接続点お
よび抵抗53と抵抗54との接続点から基準値
V1,V2が比較器41,42の入力にそれぞれ接
続される。クロツク再生回路30からクロツク
CLKが信号処理回路60のクロツク入力CKに接
続される。フリツプフロツプ43,44の出力Q
は、信号処理回路60の入力IN1,IN2にそれぞ
れに接続され、信号処理回路60から制御信号
CONT1〜CONTNが送出される。
る。第1図は本発明一実施例スケルチ信号発生回
路のブロツク図である。中間周波信号IFが検波
器10が入力され、検波器10の出力は、低域通
過フイルタ20に接続される。低域通過フイルタ
20からデータ信号Eがクロツク再生回路30、
識別回路40の比較器41および比較器42に接
続される。クロツク再生回路30からクロツク
CLKがフリツプフロツプ43,44のクロツク
入力CKに接続される。比較器41,42の出力
は、それぞれフリツプフロツプ43,44の入力
Dに接続される。電圧V0が抵抗51,52,5
3,54を介して接地され、基準値Vs,V1,V2
が取出される。抵抗52と抵抗53との接続点お
よび抵抗53と抵抗54との接続点から基準値
V1,V2が比較器41,42の入力にそれぞれ接
続される。クロツク再生回路30からクロツク
CLKが信号処理回路60のクロツク入力CKに接
続される。フリツプフロツプ43,44の出力Q
は、信号処理回路60の入力IN1,IN2にそれぞ
れに接続され、信号処理回路60から制御信号
CONT1〜CONTNが送出される。
ここに本発明の特徴とするところは、一点鎖線
で囲むスケルチ信号発生部分にある。すなわち、
低域通過フイルタ20からデータ信号Eが比較器
71の入力に接続され、抵抗51と抵抗52との
接続点から監視用の基準値Vsが比較器71の入
力に接続される。比較器71の出力とクロツク再
生回路30からのクロツクCLKとが、フリツプ
フロツプ72の入力Dおよびクロツク入力CKに
それぞれ接続される。フリツプフロツプ72の出
力Qから監視信号Sが信号処理回路6のIN3に接
続され、信号処理回路60からスケルチ信号SQ
が送出される。スケルチ信号発生回路は、検波器
10、低域通過フイルタ20、クロツク再生回路
30、識別回路40、分圧用の抵抗51〜54お
よび本発明のスケルチ信号発生部分より構成され
る。
で囲むスケルチ信号発生部分にある。すなわち、
低域通過フイルタ20からデータ信号Eが比較器
71の入力に接続され、抵抗51と抵抗52との
接続点から監視用の基準値Vsが比較器71の入
力に接続される。比較器71の出力とクロツク再
生回路30からのクロツクCLKとが、フリツプ
フロツプ72の入力Dおよびクロツク入力CKに
それぞれ接続される。フリツプフロツプ72の出
力Qから監視信号Sが信号処理回路6のIN3に接
続され、信号処理回路60からスケルチ信号SQ
が送出される。スケルチ信号発生回路は、検波器
10、低域通過フイルタ20、クロツク再生回路
30、識別回路40、分圧用の抵抗51〜54お
よび本発明のスケルチ信号発生部分より構成され
る。
このような構成のスケルチ信号発生回路の動作
について説明する。第2図はスケルチ信号発生回
路の動作波形図である。第1図および第2図にお
いて、データ信号Eが3値信号の場合について説
明する。受信した中間周波信号IFが検波器10
に入力される。低域通過フイルタ20の出力デー
タ信号Eにはアイパターンが開いている。クロツ
ク再生回路30の出力クロツクCLKはアイパタ
ーンの中心よりデータ信号Eを識別するように立
上つている。識別回路40はアイパターンよりデ
ータ信号Eを識別するための回路である。3値信
号の場合には、二つのアイパターンが縦方向に開
くが、それぞれ、比較器41,42を用いて、ア
イパターンの中心レベルである基準値V1,V2に
ついて比較した後に、フリツプフロツプ43,4
4によりクロツクLKの立上りに対して抽出して
いる。識別回路40により識別された結果は、マ
イクロプロセツサ等から構成される信号処理回路
60へ入力され、第1図に示すように制御信号
CONT1〜CONTNが出力される。
について説明する。第2図はスケルチ信号発生回
路の動作波形図である。第1図および第2図にお
いて、データ信号Eが3値信号の場合について説
明する。受信した中間周波信号IFが検波器10
に入力される。低域通過フイルタ20の出力デー
タ信号Eにはアイパターンが開いている。クロツ
ク再生回路30の出力クロツクCLKはアイパタ
ーンの中心よりデータ信号Eを識別するように立
上つている。識別回路40はアイパターンよりデ
ータ信号Eを識別するための回路である。3値信
号の場合には、二つのアイパターンが縦方向に開
くが、それぞれ、比較器41,42を用いて、ア
イパターンの中心レベルである基準値V1,V2に
ついて比較した後に、フリツプフロツプ43,4
4によりクロツクLKの立上りに対して抽出して
いる。識別回路40により識別された結果は、マ
イクロプロセツサ等から構成される信号処理回路
60へ入力され、第1図に示すように制御信号
CONT1〜CONTNが出力される。
さらに、比較器71を用いて、低域通過フイル
タ20からのデータ信号Eを監視用の基準値Vs
に対して比較した結果を、フリツプフロツプ72
を用いてクロツクCLKの立上りに対して抽出し
ている。第1図は基準値V1より大きい監視用の
基準値Vsを選んだ場合を示す。
タ20からのデータ信号Eを監視用の基準値Vs
に対して比較した結果を、フリツプフロツプ72
を用いてクロツクCLKの立上りに対して抽出し
ている。第1図は基準値V1より大きい監視用の
基準値Vsを選んだ場合を示す。
受信したデータ信号Eに雑音が含まれない場合
に、すなわち、データ信号Eのシンボル誤り率が
低いときは、フリツプフロツプ72の出力監視信
号Sはロウレベルのままであるが、データ信号E
に雑音が含まれて、シンボル誤り率が高くなるに
つれて、監視信号Sもハイレベルを示す頻度が高
くなる。したがつて、監視信号Sがハイレベルを
示す頻度を測定することによりシンボル誤り率に
相当する情報を得ることができる。第1図では、
この頻度を信号処理回路60を使つて測定し、設
定値以上に達すると信号処理回路60の出力
OUTSからスケルチ信号SQが出力される。
に、すなわち、データ信号Eのシンボル誤り率が
低いときは、フリツプフロツプ72の出力監視信
号Sはロウレベルのままであるが、データ信号E
に雑音が含まれて、シンボル誤り率が高くなるに
つれて、監視信号Sもハイレベルを示す頻度が高
くなる。したがつて、監視信号Sがハイレベルを
示す頻度を測定することによりシンボル誤り率に
相当する情報を得ることができる。第1図では、
この頻度を信号処理回路60を使つて測定し、設
定値以上に達すると信号処理回路60の出力
OUTSからスケルチ信号SQが出力される。
第2図はこの回路の動作波形図である。低域通
過フイルタ20の出力データ信号Eは3値信号の
場合には、縦方向に二つのアイパターンが開く。
それぞれのアイパターンを基準値V1および基準
値V2で比較して、クロツクCLKの立上りについ
て抽出することによりデータ信号Eの識別を行
う。
過フイルタ20の出力データ信号Eは3値信号の
場合には、縦方向に二つのアイパターンが開く。
それぞれのアイパターンを基準値V1および基準
値V2で比較して、クロツクCLKの立上りについ
て抽出することによりデータ信号Eの識別を行
う。
データ信号波形VEは、雑音がないとき本来は
クロス点P1,P2,P3のいずれかを通過するが、
雑音があるときは必ずしもこれらのクロス点上を
通過しない。データ信号Eのシンボル誤り確率
Pseは、受信するデータ信号波形VEが3値の識別
基準である基準値V1,V2を本来の領域から下回
りあるいは上回つて生起する確率を示し、データ
信号波形VEを識別できない確率を示すものであ
る。これは、例えばアイパターンのクロス点P1
を通るはずのデータ信号波形VEが雑音のため基
準値V1を下回る確率PUDと同じである。
クロス点P1,P2,P3のいずれかを通過するが、
雑音があるときは必ずしもこれらのクロス点上を
通過しない。データ信号Eのシンボル誤り確率
Pseは、受信するデータ信号波形VEが3値の識別
基準である基準値V1,V2を本来の領域から下回
りあるいは上回つて生起する確率を示し、データ
信号波形VEを識別できない確率を示すものであ
る。これは、例えばアイパターンのクロス点P1
を通るはずのデータ信号波形VEが雑音のため基
準値V1を下回る確率PUDと同じである。
ところで、このアイパターンのクロス点P1に
着目し、データ信号波形VEが監視用基準値Vsを
越える確率をPOVとすると、この確率POVは、この
クロス点P1を通るはずのデータ信号波形VEが基
準値V1を下回る確率PUDと比例関係にある。すな
わち、そのデータ信号波形がクロス点P1を通過
しない確率は確率分布に従うため、クロス点P1
の上下で同じ確率で生じているためである。この
確率POVは、監視用基準値Vsとクロス点P1とのレ
ベル差をクロス点P1と基準値V1との間のレベル
差と同じにしたときには確率PUDとほぼ等しい。
着目し、データ信号波形VEが監視用基準値Vsを
越える確率をPOVとすると、この確率POVは、この
クロス点P1を通るはずのデータ信号波形VEが基
準値V1を下回る確率PUDと比例関係にある。すな
わち、そのデータ信号波形がクロス点P1を通過
しない確率は確率分布に従うため、クロス点P1
の上下で同じ確率で生じているためである。この
確率POVは、監視用基準値Vsとクロス点P1とのレ
ベル差をクロス点P1と基準値V1との間のレベル
差と同じにしたときには確率PUDとほぼ等しい。
同様にクロスP2,P3を通るはずのデータ信号
波形VEについても確率POVとシンボル誤り率Pse
との関係は同じく比例関係にあると考えられる。
以上のことから、基準値Vsを適切に選んでおく
と、ある定数Kを使つて、シンボル誤り率Pseは Pse=KPOV で表わされることが分かる。すなわち、確率POV
が分かれば、シンボル誤り率Pseも分かることを
意味する。
波形VEについても確率POVとシンボル誤り率Pse
との関係は同じく比例関係にあると考えられる。
以上のことから、基準値Vsを適切に選んでおく
と、ある定数Kを使つて、シンボル誤り率Pseは Pse=KPOV で表わされることが分かる。すなわち、確率POV
が分かれば、シンボル誤り率Pseも分かることを
意味する。
第2図において、あるデータ信号波形VEがク
ロツクCLKの立上り時点t1に対してVsを越えた
ときは、監視信号Sが立上つている。監視信号S
がハイレベルを示す頻度(確率POV)は信号処理
回路60で測定されるが、信号処理回路60は、
例えば、クロツクCLKの数をN個カウントして
おいて、N個の区間のうち何回監視信号Sがハイ
レベルになつているかを求めれば良い。この値が
設定値を越えたときにスケルチ信号SQは発生す
る。
ロツクCLKの立上り時点t1に対してVsを越えた
ときは、監視信号Sが立上つている。監視信号S
がハイレベルを示す頻度(確率POV)は信号処理
回路60で測定されるが、信号処理回路60は、
例えば、クロツクCLKの数をN個カウントして
おいて、N個の区間のうち何回監視信号Sがハイ
レベルになつているかを求めれば良い。この値が
設定値を越えたときにスケルチ信号SQは発生す
る。
以上説明において、第1図では最も上のアイパ
ターンのさらに上側に監視用の基準値Vsを設け
たが、原理的には、最も下のアイパターンのさら
に下側(第2図の場合アイのクロス点P3の下側)
に監視用の基準値Vsを設けて、この基準値Vsを
下まわる頻度を求める方法でも全く同様な説明が
できる。
ターンのさらに上側に監視用の基準値Vsを設け
たが、原理的には、最も下のアイパターンのさら
に下側(第2図の場合アイのクロス点P3の下側)
に監視用の基準値Vsを設けて、この基準値Vsを
下まわる頻度を求める方法でも全く同様な説明が
できる。
以上述べたように、本発明は、受信信号のアイ
パターンのシンボル誤り率に相当する情報を得て
スケルチ信号を発生している。すなわち、このこ
とは、自局のチヤンネルに電波が発せられていな
い状態で、他局のチヤンネルからの干渉があつた
場合には、受信信号のアイパターンが破壊されて
いるため、誤つてスケルチ信号発生回路が応答し
て動作するようなことはない。また、誤り率に対
応してスケルチ動作しているため、信号品質との
対応がとれている等の利点がある。回路構成につ
いても第1図に示すように、非常に簡単であり、
デイジタル回路で構成できるため温度変化等の影
響がない。前記例は3値信号について説明した
が、2値信号または他の多値信号の場合にも同様
に実施することができる。
パターンのシンボル誤り率に相当する情報を得て
スケルチ信号を発生している。すなわち、このこ
とは、自局のチヤンネルに電波が発せられていな
い状態で、他局のチヤンネルからの干渉があつた
場合には、受信信号のアイパターンが破壊されて
いるため、誤つてスケルチ信号発生回路が応答し
て動作するようなことはない。また、誤り率に対
応してスケルチ動作しているため、信号品質との
対応がとれている等の利点がある。回路構成につ
いても第1図に示すように、非常に簡単であり、
デイジタル回路で構成できるため温度変化等の影
響がない。前記例は3値信号について説明した
が、2値信号または他の多値信号の場合にも同様
に実施することができる。
本発明は、以上説明したように、監視用の基準
値とデータ信号波形とを比較する比較回路とフリ
ツプフロツプ回路とを設け、信号処理回路により
アイパターン上で監視用の基準値を越える頻度が
設定値以上になつたときスケルチ信号を送出する
ようにすることにより、デイジタル信号の品質と
対応がとれた精度の良いスケルチ信号を送出する
ことができる優れた効果がある。また回路構成が
簡単でデイジタル回路で構成できるため温度変化
等の影響がない利点がある。
値とデータ信号波形とを比較する比較回路とフリ
ツプフロツプ回路とを設け、信号処理回路により
アイパターン上で監視用の基準値を越える頻度が
設定値以上になつたときスケルチ信号を送出する
ようにすることにより、デイジタル信号の品質と
対応がとれた精度の良いスケルチ信号を送出する
ことができる優れた効果がある。また回路構成が
簡単でデイジタル回路で構成できるため温度変化
等の影響がない利点がある。
第1図は本発明一実施例スケルチ信号発生回路
のブロツク図。第2図はその動作波形図。 10……検波器、20……低域通過フイルタ、
30……クロツク再生回路、40……識別回路、
41,42,71……比較器、43,44,72
……フリツプフロツプ、51,52,53,54
……抵抗、60……信号処理回路、70……監視
回路、CONT……制御信号、E……データ信号、
S……監視信号、SQ……スケルチ信号、VE……
データ信号波形。
のブロツク図。第2図はその動作波形図。 10……検波器、20……低域通過フイルタ、
30……クロツク再生回路、40……識別回路、
41,42,71……比較器、43,44,72
……フリツプフロツプ、51,52,53,54
……抵抗、60……信号処理回路、70……監視
回路、CONT……制御信号、E……データ信号、
S……監視信号、SQ……スケルチ信号、VE……
データ信号波形。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 受信するデイジタル信号のアイパターンの上
端のクロスポイントの上側のレベルに対応して設
定された監視用の基準値または下端のクロスポイ
ントの下側のレベルに対応して設定された監視用
の基準値を発生する手段と、 この監視用の基準値と前記受信するデイジタル
信号とを前記アイパターンのクロスしているタイ
ミングで比較する比較手段と、 この比較手段からの出力信号により受信した信
号が前記アイパターンの上端のクロスポイントの
上側に設定された監視用の基準値を上回る頻度ま
たは前記アイパターンの下端のクロスポイントの
下側に設定された監視用の基準値を下回る頻度を
測定する測定手段と、 この測定手段により測定した頻度が設定値以上
の場合にスケルチ信号を発生する信号処理手段と を備えたことを特徴とするデイジタル信号受信装
置のスケルチ信号発生回路。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58217456A JPS60109952A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | スケルチ信号発生回路 |
EP84113871A EP0144839B1 (en) | 1983-11-18 | 1984-11-16 | Squelch signal generator capable of generating a squelch signal with a high reliability |
AU35495/84A AU566850B2 (en) | 1983-11-18 | 1984-11-16 | Squelch circuit |
DE8484113871T DE3481257D1 (de) | 1983-11-18 | 1984-11-16 | Rauschsperrsignalgenerator zur erzeugung eines rauschsperrsignals hoher zuverlaessigkeit. |
US06/672,346 US4630290A (en) | 1983-11-18 | 1984-11-16 | Squelch signal generator capable of generating a squelch signal with a high reliability |
CA000467997A CA1225703A (en) | 1983-11-18 | 1984-11-16 | Squelch signal generator capable of generating a squelch signal with a high reliability |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58217456A JPS60109952A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | スケルチ信号発生回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60109952A JPS60109952A (ja) | 1985-06-15 |
JPH0315872B2 true JPH0315872B2 (ja) | 1991-03-04 |
Family
ID=16704511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58217456A Granted JPS60109952A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | スケルチ信号発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60109952A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07162467A (ja) * | 1993-10-14 | 1995-06-23 | Uchu Tsushin Kiso Gijutsu Kenkyusho:Kk | M相psk変調のクロック抽出器 |
JP4004552B2 (ja) * | 1997-09-09 | 2007-11-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 非信頼性検出装置及び当該非信頼性検出装置を具備する再生装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4966012A (ja) * | 1972-09-07 | 1974-06-26 | ||
JPS5084121A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-07 | ||
JPS5119910A (ja) * | 1974-08-09 | 1976-02-17 | Nippon Telegraph & Telephone |
-
1983
- 1983-11-18 JP JP58217456A patent/JPS60109952A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4966012A (ja) * | 1972-09-07 | 1974-06-26 | ||
JPS5084121A (ja) * | 1973-11-26 | 1975-07-07 | ||
JPS5119910A (ja) * | 1974-08-09 | 1976-02-17 | Nippon Telegraph & Telephone |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60109952A (ja) | 1985-06-15 |
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