JPH03147042A - 仮想メモリシステムの試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 本発明は仮想メモリシステムの試験方式に関し、仮想メ
モリ空間上で実メモリを試験することを目的とし、 仮想メモリから分割単位でロードされる実メモリと、仮
想メモリアドレスをロード先実メモリアドレスに変換す
るアドレス変換機構とを備えた仮想メモリシステムにお
いて、分割単位の所定実メモリ領域の獲得を要求し、通
知された仮想メモリ領域上で所定のメモリ試験を行うメ
モリ試験部と、前記要求された実メモリ領域を獲得し所
定の仮想メモリ領域を割り付けて該メモリ試験部に通知
するとともに、該仮想メモリ領域内がアドレスされたと
き該仮想メモリ領域の内容を前記獲得した該実メモリ領
域にロードし、且つ該アドレス変換機構に変換情報を設
定するメモリ管理部とを備えた試験システムを設け、試
験対象の実メモリ領域に対応する仮想メモリ領域を設定
して該仮想メモリ領域上でアドレスして該実メモリを試
験するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、仮想メモリシステムの試験方式の改良に関す
る。

仮想メモリシステムは、実際のメモリサイズを意識せず
プログラミングを行うためのシステムであるが、仮想メ
モリアドレス（論理アドレス）と実メモリアドレス（物
理アドレス）との対応が一般的に不定であるため、仮想
メモリ空間によるメモリ試験では、すべての実メモリ空
間がテストできるとは限らない。

このため、従来では実メモリアドレスを使用して試験し
ていたが、アドレス変換機構、二次記憶媒体からのロー
ド等仮想メモリシステムとしての試験が十分に行われな
い七いう課題があった。

このため、仮想メモリ空間上ですべての実メモリ領域が
試験できる仮想メモリシステムの試験方式が求められて
いる。

［従来の技術］ 以下、本発明の課題を明らかにするため、仮想メモリシ
ステムを説明してお（。

第３図は仮想メモリシステム例を表す図である。

第３図に示す仮想メモリ２は、複数のロードモジュール
がオペレーティングシステム０３１１により仮想メモリ
２上に組み立てられて二次記イ、α媒体（補助記憶装置
）に格納された状態を表すもので、プログラム実行中必
要になった部分がページ単位（例えば２にＢ）で実メモ
リ１のページ枠（２ＫＢ）に転送される。

仮想メモリ２より転送されたプログラムは仮想メモリ空
間上で動作し、ｃｐｕ　１ｏはデータとして出力された
仮想メモリアドレスをアドレス変換機構３に出力し、ア
ドレス変換機構３はこれを実メモノアドレスに変換して
実メモリｌをアドレスする。

このアドレス変換機構３は、実メモリ１にロードされた
仮想メモリ２のページ番号（仮想メモリアドレスの上位
ピント、そのページの先頭アドレスを表す）がロード先
実メモリ１のページ枠番号（実メモリアドレスの上位ビ
ット、ページ枠の先頭アドレス）を対応付けしたＴ　Ｌ
　Ｂ　（Ｔｒａｎｓｌａｔｉｏｎｌ、ｏｏｋａｓｉｄｅ
　Ｂｕｆｆｅｒ）を備え、ＣＰＵ　１０より仮愁メモリ
アドレスが出力されると、そのページ番号の一部でアド
レスしてＴＬＢよりページ番号を読出し、出力された仮
想メモリアドレスのページ番号と一致したとき、対応す
るページ枠番号と仮想メモリアドレスの下位ビット（ペ
ージ内アドレス）とを合成して実メモリアドレスを出力
する。

なお、対応する実メモリ１が存在しなければ割込みがＣ
ＰＵ　１０に出力され、Ｏ５１１は図示省略した実メモ
１月を管理する管理テーブルを参照して空き領域（また
はリプレース領域）を検出して仮想メモリ２の対象ペー
ジをロードする。

以上のように、仮想メモリシステムは、仮想メモリ空間
上で作成されたプログラムをページ単位で実メモリ１に
ロードして動作させるように構成されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

仮想メモリシステムでは、仮想メモリの各ページのロー
ド先実メモリの領域は一般に不定である。

このため実メモリの試験（リード／ライト試験）を仮想
メモリ空間上で行うと、第４図課題説明図に示すように
、その時の実メモリ１のロード状態により、指定した試
験領域Ａのロード先が領域Ｂ、領領域のごとく不定とな
り、従って、試験対象の実メモリ領域がすべて試験でき
るとは限らないという課題がある。

このため、従来では、アドレス変換機構３に設定する仮
想メモリアドレスの代わりに実メモリアドレスを設定し
、実メモリアドレスで試験領域を指定する方法が採用さ
れていたが、この方法では、すでに試験領域が実メモ１
月に確保されているため、アドレス変換機構３より割込
みが発生せず、また仮想メモリ２からのロード動作がな
く、従って仮想メモリシステムとしての試験が十分に行
われないという課題があった。

本発明は、上記課題に鑑み、運用時と同様の条件で、仮
想メモリ空間上で実メモリのすべての領域にわたり試験
する仮想メモリシステムの試験方式を提供することを目
的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するため、本発明の仮想メモリシステム
の試験方式は、第１図−実施例の構成図に示すように、 分割単位の実メモリ領域の獲得を要求し、通知された仮
想メモリ領域上でメモリ試験を行うメモリ試験部５と、 前記要求された実メモリ領域を獲得し所定の仮想メモリ
領域を割り付けてメモリ試験部５に通知するとともに、
該仮想メモリ領域内がアドレスされたとき該仮想メモリ
領域の内容を前記獲得された実メモリ領域にロードし、
且つアドレス変換機構３に変換情報を設定するメモリ管
理部４とを備えた試験システム２０を設ける。

〔作用〕

メモリ試験部５は、試験対象とする実メモリ領域（ペー
ジ枠）の獲得要求を出力し、メモリ管理部４は、指定の
ページ枠が空きであればそれを獲得して所定の仮想メモ
リ領域（空きページ）を割り付け、メモリ試験部５にそ
の仮想メモリ領域の先頭アドレス（ページ番号）を通知
する。

これにより、メモリ試験部５は、通知されたページの仮
想メモリ空間を使用してメモリ試験を実行する。そして
最初にその空間がアドレスされたとき割込みが発生し、
メモリ管理部４はそのページを実メモリ１にロードする
とともに、変換情報、即ちページ枠番号と割り付けたペ
ージ番号とをアドレス変換機構３に設定する。

以後、そのページ内の仮想メモリアドレスは、獲得した
実メモリ領域の実メモリアドレスに変換されるため、仮
想メモリ空間上でメモリ試験が行なえることになる。

〔実施例〕

本発明の実施例を図を用いて詳細に説明する。

第１図は一実施例の構成図、第２図はメモリ試験動作フ
ローチャート図である。

第１図に示す試験システム２０はオペレーティングシス
テムＯ３に相当する図示省略したモニタを備えるもので
、メモリ試験部５の他、複数種別の試験部が仮想メモリ
上に構築され、必要に応じ実メモリ１にロードされて所
定の試験を行うように構成されたものである。図中、 ４はモニタの一部を構成するメモリ管理部で、実メモリ
１の獲得要求がなされたとき、管理テーブル６を参照し
て指定のページ枠（実メモリ領域）が空きか否かを検証
し、空きであれば所定の仮想メモリ領域（空きページ）
を決定してそのページ番号と指定されたページ枠番号と
をアドレス変換機構３に設定した後（無効にしておく）
、ページ番号をメモリ試験部５に通知し、また使用中な
らば獲得不能をメモリ試験部５に通知する。

なお、割り付けるページは、仮想メモリ２中の未使用領
域が予め定められているものである。

５はメモリ試験部で、実メモリ１の各ページ枠ごとに獲
得要求をメモリ管理部４に通知し、そのページ枠が獲得
されたならば、通知されたページ番号に基づき、そのペ
ージのアドレス空間すべてにわたってリード／ライト試
験を行い、獲得不能ならば、次のページ枠を獲得して試
験を行う。

６は管理テーブルで、実メモリｌのページ枠ごとに使用
／未使用がメモリ管理部４によって管理される。

その他全図を通じて同一符号は同一対象物を表す。

以上構成の試験システムにおいて、次のようにしてメモ
リ試験が行われる。第２図参照（１）メモリ試験が開始
されると、メモリ試験部５は先ず試験領域■（第１図）
の試験を開始し、獲得要求の実メモリアドレス（ページ
枠番号）を０番地に設定してメモリ管理部４に対し実メ
モリの獲得要求を行う。

（２）メモリ管理部４は、管理テーブル６を参照し、要
求されたページ枠番号Ｏの領域の使用状況をチエツクす
る。

（３）未使用ならば、ページ枠番号Ｏに対応する仮想メ
モリ２のページ番号Ａを割り付けてメモリ試験部５に通
知し、４使用中ならば獲得不能を通知する。

この際、アドレス変換機構３にはページ枠番号０と、割
り付けた仮想メモリ２のページ番号Ａとがセットされる
が、無効のままとする。

（４）　　メモリ試験部５は要求したページ枠が獲得さ
れたならば通知されたページの仮想メモリ空間を使用し
てメモリ試験を実施し、獲得不能ならば、次の試験領域
■の試験に進む。

この試験において、最初の仮想メモリアドレスが出力さ
れると、アドレス変換機構３にセットされた変換情報は
無効であるから割込みが出力され、メモリ管理部４は、
割り付けたページをページ枠番号０の領域にロードした
後、前記無効を有効に変更する。

（５）試験領域■の試験が終了した後、メモリ試験部５
は獲得した試験領域■の開放要求し、メモリ管理部４は
ページ枠番号０の領域を開放（アドレス変換機構３の無
効処理および管理テーブル６の未使用処理）する。

（６）続いて、メモリ試験部５はページ枠番号を１ペ一
ジ分（２ＫＢ）移動して次の試験領域■の獲得要求を出
力する。

これにより、試験領域■のページ枠が獲得されて、通知
された仮想メモリ空間上でメモリ試験が行われ、同様に
して最終メモリ領域までメモリ試験が繰り返し実行され
る。

なお、割り付けるページ番号は、固定でもよく試験領域
によって変えてもよい。

以上のごとく、試験対象の実メモリ領域の獲得ならびに
対応する仮想メモリ領域の設定という、メモリ試験部５
とメモリ管理部４とのインタフェースを設けることによ
り、すべての実メモリ領域の試験を仮想メモリ空間上で
実施することが可能となる。

なお、試験システム２０がロードされている実メモリ領
域は獲得されないが、複数回メモリ試験を行うことによ
り、試験システム２０のロード先が替わってすべての領
域の試験が実施できる。

以上はページ単位に実メモリにロードする仮想メモリシ
ステムについて説明したが、論理アドレス空間と物理ア
ドレス空間とが動的に配置されるメモリシステムにも適
用できることは勿論である。

【図面の簡単な説明】

第１図は一実施例の構成図、 第２図はメモリ試験動作フローチャート図、第３図は仮
想メモリシステム例を表す図、第４図は課題説明図であ
る。 （財）中、ｌは実メモリ、２は仮想メモリ、；（はアド
レス変換機構、４はメモリ管理部、５はメモリ試験部、
６は管理テーブル、１０はプロセンサ、　ｃｐｕ、１１
はオペレーティングシステムＯ８である。 〔発明の効果〕 本発明は、試験対象の実メモリ領域を獲得し、対応する
仮想メモリ空間を割り付けて仮想メモリ空間上で獲得し
た実メモリ領域を試験する仮想メモリシステムの試験方
式を提供するもので、実メモリをすべての領域にわたっ
て試験できる、アドレス変換機構等の仮想メモリシステ
ム全体の試験ができる等、多大の効果がある。 第 １ 図 メモリ試験部 そ−−−丁−−−十 メモリ管理部

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 仮想メモリ（２）から分割単位でロードされる実メモリ
   （１）と、仮想メモリアドレスをロード先実メモリアド
   レスに変換するアドレス変換機構（３）とを備えた仮想
   メモリシステムにおいて、 分割単位の所定実メモリ領域の獲得を要求し、通知され
   た仮想メモリ領域上で所定のメモリ試験を行うメモリ試
   験部（５）と、 前記要求された実メモリ領域を獲得し所定の仮想メモリ
   領域を割り付けて該メモリ試験部（５）に通知するとと
   もに、該仮想メモリ領域内がアドレスされたとき該仮想
   メモリ領域の内容を前記獲得した該実メモリ領域にロー
   ドし、且つ該アドレス変換機構（３）に変換情報を設定
   するメモリ管理部（４）と を備えた試験システム（２０）を設け、試験対象の実メ
   モリ領域に対応する仮想メモリ領域を設定して該仮想メ
   モリ領域上でアドレスして該実メモリを試験することを
   特徴とする仮想メモリシステムの試験方式。