JPH03141583A - Manufacture of electroluminescent element - Google Patents
Manufacture of electroluminescent elementInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、エレクトロルミネッセンス素子の製造方法
に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method of manufacturing an electroluminescent device.
従来から用いられているエレクトロルミネッセンス素子
(以下rEL素子」という。)の基本的な構成は第5図
に示されている。ガラス基板lの表面にI T O(I
ndiua+−Tin−Oxide)膜などの透明導電
膜2が形成され、こ9透明導電膜2上に5ift膜やS
i3Ng膜などを用いて構成した第1絶縁N3が形成さ
れている。そして、この第1絶緑層3上にZnSなどで
構成した発光層4と、第2絶緑層5とが順に積層され、
第1.第2絶緑層3,5で発光層4を挟持した状態とな
っている。第2絶緑層5上にはA2などで構成した背面
電極6が形成され、この背面電極6と透明導電膜2との
間に高周波電源7が接続されている。The basic structure of a conventionally used electroluminescent element (hereinafter referred to as "rEL element") is shown in FIG. I TO (I
A transparent conductive film 2 such as ndiua+-Tin-Oxide) film is formed, and a 5ift film or S
A first insulator N3 is formed using an i3Ng film or the like. Then, a light-emitting layer 4 made of ZnS or the like and a second anti-green layer 5 are laminated in this order on the first anti-green layer 3.
1st. The light emitting layer 4 is sandwiched between the second anti-green layers 3 and 5. A back electrode 6 made of A2 or the like is formed on the second anti-green layer 5, and a high frequency power source 7 is connected between the back electrode 6 and the transparent conductive film 2.
高周波電源7からの高周波電圧を透明導電膜2と背面電
極6との間に印加すると、発光層4と絶緑層3.5との
間にトラップされていたキャリアなどが発光層4の発光
中心に衝突して、この発光中心を励起する。そして、こ
の発光中心が基底状態に遷移する際に光が放射され、こ
の光がガラス基板1を透過して観察される。When a high-frequency voltage from a high-frequency power source 7 is applied between the transparent conductive film 2 and the back electrode 6, carriers and the like trapped between the light-emitting layer 4 and the ever-green layer 3.5 are transferred to the light-emitting center of the light-emitting layer 4. collides with and excites this luminescent center. Then, when this luminescent center transitions to the ground state, light is emitted, and this light is transmitted through the glass substrate 1 and observed.
ITO膜で構成した透明導電膜2はたとえば電子ビーム
加熱式蒸着法により形成されるが、ガラス基板lの表面
に被着する透明導電膜2は第6図(1)に示すように柱
状に成長し、しかも粒界が存在した状態となる。このよ
うに凹凸の透明導電膜2上にたとえば電子ビーム加熱式
蒸着法やスパック法を適用して第1絶緑層3を形成した
場合には、この第1絶緑層3は第6図(2)に示すよう
にステップカバレッジの悪いものとなる。一方、発光層
4に高電界を効率良く伝達するためには、第1絶緑層3
は可及的にその層厚を薄くする必要があるが、前述のよ
うにステップカバレッジが悪いために、層厚を薄(した
場合には第6図(2)において参照符合ρlで示すよう
に絶縁膜が被着しない部位が存在することとなって、絶
緑層として機能させることができなくなる。すなわち、
第1絶緑層3はその下層の透明導電膜2が凹凸の状態で
あるために、耐圧が低く、このためその薄膜化を良好に
行うことができず、結果として発光層4への高電界の伝
達効率が悪いという問題が生じていた。The transparent conductive film 2 made of an ITO film is formed by, for example, an electron beam heating evaporation method, and the transparent conductive film 2 deposited on the surface of the glass substrate l is grown in a columnar shape as shown in FIG. 6 (1). However, grain boundaries also exist. When the first ever-greening layer 3 is formed on the uneven transparent conductive film 2 by applying, for example, an electron beam heating evaporation method or a spacing method, the first never-greening layer 3 is formed as shown in FIG. As shown in 2), step coverage becomes poor. On the other hand, in order to efficiently transmit a high electric field to the light emitting layer 4, it is necessary to first
It is necessary to make the layer thickness as thin as possible, but as mentioned above, due to the poor step coverage, the layer thickness must be made thin (as indicated by the reference symbol ρl in Fig. 6 (2)). There will be areas where the insulating film does not adhere, making it impossible to function as a never-green layer.In other words,
The first green-proofing layer 3 has a low breakdown voltage because the underlying transparent conductive film 2 is uneven, making it difficult to thin the first layer 3. As a result, a high electric field is applied to the light emitting layer 4. The problem was that the transmission efficiency was poor.
同様の問題は、第7図に示すようにガラス基板lの表面
が凹凸状になっている場合にも生じ、この場合には特に
透明導電膜2の膜厚が1100n以下の場合には顕著で
あって、ガラス基板1の表面の凹凸のために第1絶緑層
3の耐圧の向上が阻害されることになる。A similar problem also occurs when the surface of the glass substrate l is uneven as shown in FIG. Therefore, the unevenness of the surface of the glass substrate 1 impedes improvement in the breakdown voltage of the first green-proofing layer 3.
この発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、発光層
への電界の伝達が良好に行われるようになるエレクトロ
ルミネッセンス素子の製造方法を提供することである。An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electroluminescent device that solves the above-mentioned technical problems and allows good transmission of an electric field to a light emitting layer.
この発明のエレクトロルミネッセンス素子の製造方法は
、発光層に電界を印加する導電膜を平坦化し、この平坦
化した導電膜上に絶緑層および発光層を順に積層するこ
とを特徴とする。The method for manufacturing an electroluminescent device of the present invention is characterized by flattening a conductive film that applies an electric field to a light-emitting layer, and sequentially laminating a never-green layer and a light-emitting layer on the flattened conductive film.
この発明の構成によれば、導電膜を平坦化するようにし
たので、この平坦化した導電膜上に形成される絶緑層は
良好なステップカバレッジを有することができ、したが
って良好な耐圧を有することができるので、たとえその
層厚を薄くしても絶緑層としての機能を充分に果たすこ
とができる。According to the configuration of the present invention, since the conductive film is flattened, the green-free layer formed on the flattened conductive film can have good step coverage and therefore have good breakdown voltage. Therefore, even if the layer thickness is reduced, it can sufficiently function as a never-green layer.
この発明の一実施例を第1図および第2図ならびに前述
の第5図を併せて参照して説明する。An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2 and the above-mentioned FIG. 5.
第1図はこの発明の一実施例のエレクトロルミネッセン
ス素子(以下rEL素子」という。)の製造方法を工程
順に示す断面図である。この実施例では、電子ビーム加
熱式蒸着法などによりガラス基板1上にITO膜からな
る透明導電膜2を形成した第1図(1)図示の状態、す
なわち透明導電膜2が柱状に成長した状態から、この凹
凸状の透明導電膜2に対して平坦化処理が施される。FIG. 1 is a cross-sectional view showing, in order of steps, a method for manufacturing an electroluminescent device (hereinafter referred to as an "rEL device") according to an embodiment of the present invention. In this embodiment, a transparent conductive film 2 made of an ITO film is formed on a glass substrate 1 by an electron beam heating vapor deposition method or the like as shown in FIG. Then, the uneven transparent conductive film 2 is subjected to a planarization process.
この平坦化処理に当たっては、第2図に示す構成が適用
される。すなわち真空チャンバ20内に透明導電膜2(
第2図では図示が省略されている。)を表面に形成した
ガラス基板lが配設され、このガラス基板1に対向して
イオン源21が配置される。そしてこのイオン源21か
らたとえばNe。In this flattening process, the configuration shown in FIG. 2 is applied. That is, a transparent conductive film 2 (
Illustration is omitted in FIG. 2. ) is formed on the surface thereof, and an ion source 21 is arranged opposite to this glass substrate 1. For example, Ne is supplied from this ion source 21.
Ar、Kr、Xeなどの不活性ガスイオンがガラス基板
lに向けて照射される。この不活性ガスイオンの照射に
よって、透明導電膜2はスパッタされ、この照射イオン
のスパッタ作用によって透明導電膜2の平坦化が達成さ
れる。Inert gas ions such as Ar, Kr, and Xe are irradiated toward the glass substrate l. The transparent conductive film 2 is sputtered by this irradiation with inert gas ions, and the transparent conductive film 2 is planarized by the sputtering action of the irradiated ions.
透明導電膜2が平坦化された状態は第1図(2)に示さ
れており、この状態から、第1図(3)に示すように第
1絶縁N3がたとえば電子ビーム加熱式蒸着法やスパッ
タ法などを適用して形成される。たとえば第2図の真空
槽20内に第1絶緑層3の材料を蒸発させる蒸発源(図
示せず。)を備えておけば、イオンの照射による透明導
電膜2の平坦化と第1絶緑層3の形成とを連続して行う
ことができる。A state in which the transparent conductive film 2 is flattened is shown in FIG. 1 (2), and from this state, as shown in FIG. It is formed by applying a sputtering method or the like. For example, if an evaporation source (not shown) for evaporating the material of the first green-proofing layer 3 is provided in the vacuum chamber 20 shown in FIG. The formation of the green layer 3 can be performed continuously.
以上のようにこの実施例では、平坦化された透明導電膜
2上に第1絶緑層3が形成されるため、この第1絶緑層
3は第1図(3)に示すようにステップカバレンジが極
めて良好なものとなる。したがってその層厚をたとえ薄
<シたとしても、従来のように絶縁膜が被着していない
部位などが住しることはなく、したがって充分な耐圧を
有することができるので、この第1絶縁N3の層厚を薄
くすることができ、この第1絶縁N3の薄膜化によって
透明導電膜2からの高電界を発光層4に高効率で伝達さ
せることができるようになる。As described above, in this embodiment, since the first green-proof layer 3 is formed on the flattened transparent conductive film 2, the first green-proof layer 3 is formed in steps as shown in FIG. 1(3). The coverage becomes extremely good. Therefore, even if the layer thickness is made thinner, there will be no areas where the insulating film is not adhered, as in the case of the conventional method, and therefore it can have sufficient withstand voltage. The layer thickness of N3 can be made thinner, and by making the first insulating layer N3 thinner, a high electric field from the transparent conductive film 2 can be transmitted to the light emitting layer 4 with high efficiency.
第3図はこの発明の他の実施例において前記平塩化処理
に適用される構成を示す概念図である。FIG. 3 is a conceptual diagram showing a configuration applied to the flat chlorination treatment in another embodiment of the present invention.
この実施例では、前記平坦化処理に当たって真空アニー
ルが行われる。すなわち真空槽30内に配設した基台3
1上に透明導電膜2(第3図では図示が省略されている
。)を形成したガラス基板1が載置され、このガラス基
板1に対向してランプヒータ32が配設されている。基
台31にはヒータ33が備えられており、このヒータ3
3とランプヒータ32とによってガラス基Fi、1とと
もに透明導電膜2を加熱する。加熱によって透明導電膜
2の温度が所定の値まで上昇すると、この透明導電膜2
の表面からの輻射による放熱が始まるが、この際に透明
導電膜2はより放熱効率の良い形状に変形する。その結
果、透明導電膜2は柱状に成長した状態から平坦な形状
に変形することになり、このようにして透明導電膜2の
平坦化が達成される。In this embodiment, vacuum annealing is performed during the planarization process. In other words, the base 3 disposed inside the vacuum chamber 30
A glass substrate 1 on which a transparent conductive film 2 (not shown in FIG. 3) is formed is placed, and a lamp heater 32 is disposed opposite to the glass substrate 1. The base 31 is equipped with a heater 33.
3 and a lamp heater 32 to heat the transparent conductive film 2 together with the glass base Fi,1. When the temperature of the transparent conductive film 2 rises to a predetermined value by heating, this transparent conductive film 2
Heat dissipation by radiation from the surface of the transparent conductive film 2 starts, but at this time, the transparent conductive film 2 is deformed into a shape with better heat dissipation efficiency. As a result, the transparent conductive film 2 is deformed from a columnar growth state to a flat shape, and in this way, the transparent conductive film 2 is flattened.
第4図はガラス基板10表面に凹凸が生している場合の
断面図である。第4図(1)図示の状態から透明導電膜
2を上記第2図または第3同に示された構成により第4
図(2)図示のように平坦化し、この状態から第1絶緑
層3を形成すれば、この第1絶縁N3はステップカバレ
ッジの良好なものとなる。このように、ガラス基板1に
凹凸が生じている場合にも第1絶緑層3のステップカバ
レッジを向上して、高い耐圧を存する第1絶緑層3を形
成することができるようになる。FIG. 4 is a cross-sectional view when the surface of the glass substrate 10 has irregularities. FIG. 4 (1) The transparent conductive film 2 is removed from the state shown in the figure in the fourth embodiment using the structure shown in FIG.
If the first insulating layer 3 is flattened as shown in FIG. 2 and the first insulating layer 3 is formed from this state, the first insulating layer N3 has good step coverage. In this way, even when the glass substrate 1 has irregularities, the step coverage of the first green constant layer 3 can be improved, and the first green constant layer 3 having a high breakdown voltage can be formed.
前述の実施例では、導電膜としてITOで構成した透明
導電膜2を例に採って説明したが、形成した膜が凹凸状
となる任意の導電膜に対してこの発明は広く応用するこ
とができる。さらに、第4図の場合のようにガラス基板
1の表面が凹凸状となっており、このガラス基板1の表
面にたとえば層厚1100n以下の導電膜が形成される
場合には、この導電膜の表面はガラス基板lの表面の状
態を反映した凹凸状となるため、任意の種類の導電膜に
対してこの発明の方法を適用することによりその上層の
第1絶緑層3の耐圧を向上することができる。In the above-mentioned embodiment, the transparent conductive film 2 made of ITO was used as an example of the conductive film, but the present invention can be widely applied to any conductive film in which the formed film has an uneven shape. . Furthermore, when the surface of the glass substrate 1 is uneven as in the case of FIG. 4 and a conductive film with a layer thickness of 1100 nm or less is formed on the surface of the glass substrate 1, Since the surface has an uneven shape that reflects the surface condition of the glass substrate l, by applying the method of the present invention to any type of conductive film, the withstand voltage of the first ever-green layer 3 above it can be improved. be able to.
さらにまた、前述の実施例では、ガラス基板1の表面に
透明導電膜2が形成される場合を例に採ったが、ガラス
基板1の他の任意の基板が用いられる場合にもこの発明
は容易に応用することができる。Furthermore, in the above-mentioned embodiment, the case where the transparent conductive film 2 is formed on the surface of the glass substrate 1 was taken as an example, but the present invention can easily be applied when any other arbitrary substrate other than the glass substrate 1 is used. It can be applied to
以上のようにこの発明のエレクトロルミネッセンス素子
の製造方法によれば、絶緑層のステップカバレッジが良
好になり、したがってこの絶緑層の耐圧が向上される。As described above, according to the method for manufacturing an electroluminescent device of the present invention, the step coverage of the never-green layer is improved, and therefore the withstand voltage of the never-green layer is improved.
これにより、絶緑層の層厚を薄くして導電膜からの電界
を発光層に高効率で伝達させることができるようになり
、結果として発光効率の向上にも寄与することができる
。This makes it possible to reduce the thickness of the never-green layer and transmit the electric field from the conductive film to the light-emitting layer with high efficiency, and as a result, it can also contribute to improving the light-emitting efficiency.
第1図はこの発明の一実施例のエレクトロルミネッセン
ス素子の製造方法を工程順に示す断面図、第2図は透明
導電膜2の平坦化のための構成を示す概念図、第3図は
この発明の他の実施例における平坦化処理のための構成
を示す概念図、第4図はガラス基板1の表面に凹凸が生
じている場合の様子を示す断面図、第5図はエレクトロ
ルミネッセンス素子の基本的な構成を示す断面図、第6
図および第7図は従来技術を説明するための断面図であ
る。
1・・・ガラス基板、2・・・透明導電膜(導電膜)、
3・・・第1絶緑層(絶緑層)、4・・・発光層第
1
図
第
賦
第
図
第
図
jFIG. 1 is a cross-sectional view showing a method for manufacturing an electroluminescent device according to an embodiment of the present invention in the order of steps, FIG. 2 is a conceptual diagram showing a configuration for flattening a transparent conductive film 2, and FIG. 4 is a cross-sectional view showing the situation when the surface of the glass substrate 1 is uneven, and FIG. 5 is a basic diagram of an electroluminescent element. Sectional view showing the configuration, No. 6
FIG. 7 and FIG. 7 are cross-sectional views for explaining the prior art. 1...Glass substrate, 2...Transparent conductive film (conductive film),
3... First ever-green layer (ever-green layer), 4... Light-emitting layer 1
Claims (1)
トロルミネツセンス素子の製造方法において、前記導電
膜の形成後にこの導電膜を平坦化する平坦化処理を施す
ことを特徴とするエレクトロルミネツセンス素子の製造
方法。A method for manufacturing an electroluminescent element in which a light-emitting layer is laminated on a conductive film with a green-free layer interposed therebetween, characterized in that after the conductive film is formed, a flattening treatment is performed to flatten the conductive film. A method for manufacturing a luminescent element.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1279333A JPH03141583A (en) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | Manufacture of electroluminescent element |
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JP1279333A JPH03141583A (en) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | Manufacture of electroluminescent element |
Publications (1)
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JPH03141583A true JPH03141583A (en) | 1991-06-17 |
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JP1279333A Pending JPH03141583A (en) | 1989-10-25 | 1989-10-25 | Manufacture of electroluminescent element |
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1989
- 1989-10-25 JP JP1279333A patent/JPH03141583A/en active Pending
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