JPH03138958A - ウエハーキャリア及びウエハーキャリアの識別方法 - Google Patents

ウエハーキャリア及びウエハーキャリアの識別方法

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JPH03138958A
JPH03138958A JP1276672A JP27667289A JPH03138958A JP H03138958 A JPH03138958 A JP H03138958A JP 1276672 A JP1276672 A JP 1276672A JP 27667289 A JP27667289 A JP 27667289A JP H03138958 A JPH03138958 A JP H03138958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier
wafer carrier
wafer
identifying
lot
Prior art date
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Pending
Application number
JP1276672A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihiro Kojima
小嶋 邦博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、ウェハーキャリアとウェハーキャリアの識別
方法に関する。
〔従来の技術] 従来のウェハーキャリアの識別方法としては、実開昭6
3−200545に見られるように、ウェハーキャリア
自身の一部に穴を複数開けたり、突起部を設けたりする
加工を行ない、これらをキャリアIDとする方法と、バ
ーコードラベルをウェハーキャリアに貼り付けてキャリ
アIDとする方法が知られている。このようにして付け
られたキャリアIDは、フォトセンサーなどにID電気
的信号に変換され、更に加工条件などの指示を行なうホ
ストコンビエータに伝達さし、ホストコンピュータは加
工方法を製造装置に指示する。このような情報伝達によ
って、半導体製造装置の自動化が実現されている。
[発明が解決しようとする諌M] しかし、従来の技術のウェハーキャリア自身を加工して
作ったキャリアエフは、ウェハーキャリアの1つ1つを
識別することはできるものの、ロットIDの異なるウェ
ハーの収納をくり返して行な5爆合には、ロットIDと
して使用すること(主できない。言うまでもなく、ウェ
ハ−キャリアはさまざまなウェハーの収納を(り返して
使用されるが、これに対応するためにホストコンピュー
タでキャリアエつとロットIDの対応付けを行なう処理
を行なわなければならなかった。半導体’AJM工場に
おいては、多数のウェハーキャリアを扱うため、このた
めのソフトウェアの対応は大変なものである。
一方、バーコードラベルを貼り付ける方法では)バーコ
ードにロットIDを付けることによって上記の課題は解
決されるものの、バーコードラベルが酸や有機溶剤にI
D変質してしまう。そのため酸や有機溶剤に直接ウエノ
・−キャリアを触れさせて加工しなければならないウェ
ハー洗浄などの処理においては、処理の前に専用のウェ
ハーキャリアへ収納されているウェハーを移し替えてか
ら処理を行ない、終了後見のウニ/・−キャリアに戻す
という移し替え作業を行なわなければならなかった。
本発明の目的は、以上説明した誠題を同時に解決するこ
とであり、ホストコンピュータでウェハーキャリアID
とロットIDの対応付は処理を行なうことなく、しかも
酸や有機溶剤を使用する加工においても専用キャリアへ
の移し替えを行なうことなくウェハーキャリアの識別が
行なえるウェハーキャリア及びウェハーキャリアの識別
方法を提供することである。
口課題を解決するための手段] 上記の計量を解決するため本発明は、ウェハーキャリア
において、キャリアIDを着脱することのできるキャリ
アID保持部を有するウェハーキャリアを用い、ロット
IDをキャリアIDと同じにして装着し、ウェハーキャ
リアを識別することを特徴とする。
[実施例] 鋪1図は、本発明のウェハーキャリアの実施例である。
ウェハーキャリア1の側面5に板状の材料でできたキャ
リアIDを保持するためのホールド爪2がウェハーキャ
リア1と一体となって加工されている。ウェハーキャリ
ア1の材料としては、フッ素系樹脂などの弾性材料を用
いれば、ホールド爪3の先端部と側面50間隔を容易に
変えながらキャリアIDを装着、取り外しを行なえる。
ウェハーキャリア1の側面5には、キャリアIDを7オ
トセンサーで読み取るときに光が透過するための開口部
が設けられている。
第2図は、本発明のウェハーキャリア1にキャリアID
板3を装着したときのキャリアID読取り方法を説明す
るための図である。キャリアID板3には、キャリアI
Dを表わす穴4が決められた方法にID開けられている
。ID読み取りのためのフォトセンサー発光部7と受光
部80間にキャリアID板3が位置するように置き、受
光部8側へ光が倒達するか否かにID穴4の配列を知る
ことができ、すなわちキャリアIDを読み取ることがで
きる。この穴の配列を、収納されるロットIDと対応す
るように配列、加工し、収納ウエノ1−が変わるたびに
収納されたロットIDを示すキャリアID板と入れ替え
ることによって、キャリアIDがロットIDと同一とな
ることを実現することができる。
また、キャリアID板3にウェハーキャリア1と同様な
材料を用いれば、酸や有機溶剤に対する耐性はキャリア
1の耐性と同様であることは当然である。
[発明の効果] 本発明のウェハーキャリア及びウェハーキャリアの該別
方法を用いれば、ホストコンビーータによるキャリアI
DとロットIDの対応付けという処理を無(すと同時に
キャリアID保護のためのウェハー移し替え作業も無く
すことができ、半導体工場の自動化のための効率を大巾
に向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のウェハーキャリアの斜視図。 第2図は、本発明のウエハーキャ の説明図。 1・・・・・・・・・ウェハーキャリア2・・・・・・
・・・ホールド爪 3・・・・・・・−・キャリアID板 4・・・・・・・・・穴 5・−・・・・・−・ウェハーキャリア側面6・−・・
・−・・・開口部 7・・・・・・・・・フォトセンサ発光部8・・・・・
・・・・フォトセンサ受光部ア鉱別方法

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体ウェハーを収納する複数の溝を平行に配し
    た容器(以下、ウェハーキャリアと略称する)において
    、ウェハーキャリアを識別するための標識(以下、キャ
    リアIDと略称する)を着脱することのできるキャリア
    ID保持部を有することを特徴とするウェハーキャリア
  2. (2)請求項1に記載したウェハーキャリアに、ウェハ
    ーキャリア内に収納したウェハーの加工方法を識別でき
    る標識(以下、ロットIDと略称する)をキャリアID
    と同じにして装着し、ウェハーキャリアを識別すること
    を特徴とするウェハーキャリアの識別方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011055781A1 (ja) * 2009-11-05 2011-05-12 株式会社ニコン 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法
JP2011098809A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Nikon Corp 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法
JP2011098808A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Nikon Corp 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011055781A1 (ja) * 2009-11-05 2011-05-12 株式会社ニコン 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法
JP2011098809A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Nikon Corp 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法
JP2011098808A (ja) * 2009-11-05 2011-05-19 Nikon Corp 基板カートリッジ、基板処理装置、基板処理システム、基板処理方法、制御装置及び表示素子の製造方法
CN102574659A (zh) * 2009-11-05 2012-07-11 株式会社尼康 基板筒、基板处理装置、基板处理系统、基板处理方法、控制装置及显示元件的制造方法
CN102574659B (zh) * 2009-11-05 2016-02-24 株式会社尼康 基板筒、基板处理装置、基板处理系统、基板处理方法、控制装置及显示元件的制造方法
US9379339B2 (en) 2009-11-05 2016-06-28 Nikon Corporation Substrate cartridge, substrate-processing apparatus, substrate-processing system, substrate-processing method, control apparatus, and method of manufacturing display element

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