JPH03130604A - 成形品不良検査装置 - Google Patents
成形品不良検査装置Info
- Publication number
- JPH03130604A JPH03130604A JP26622289A JP26622289A JPH03130604A JP H03130604 A JPH03130604 A JP H03130604A JP 26622289 A JP26622289 A JP 26622289A JP 26622289 A JP26622289 A JP 26622289A JP H03130604 A JPH03130604 A JP H03130604A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 13
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、成形品の表面の不良を検査する成形品検査装
置に係り、特に、射出成形によって成形される成形品の
不良検査装置に関する。
置に係り、特に、射出成形によって成形される成形品の
不良検査装置に関する。
［従来の技術］
従来、射出成形品の表面に発生する不良、例えばヒケは
、オペレーターが目視することによってチエツクしてい
る。ここで、ヒケとは成形品の表面に発生する凹み現象
で、成形品の不良現象のうち最も発生率が高く、厄介な
ものである。
、オペレーターが目視することによってチエツクしてい
る。ここで、ヒケとは成形品の表面に発生する凹み現象
で、成形品の不良現象のうち最も発生率が高く、厄介な
ものである。
［発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、目視による検査では一定のレベルで成形
品の不良の程度を判断することが出来ず、製品としてば
らつきが生じるという問題点がある。
品の不良の程度を判断することが出来ず、製品としてば
らつきが生じるという問題点がある。
本発明は成形品の不良の程度を自動計測することにより
製品のばらつきを無くすと共に、省力化を計ることを目
的とする。
製品のばらつきを無くすと共に、省力化を計ることを目
的とする。
［課題を解決するための手段］
本発明は。検査対象成形品の所定部に線状に単色の光ビ
ームを照射する照射手段と、該光ビームを前記検査対象
成形品に照射したときの該検査対象成形品を透過した光
及び該検査対象成形品の表面で反射された光のいずれか
一方を投影するスクリーンと、該スクリーン上に投影さ
れた像を撮像する撮像手段と、該撮像手段が出力する画
像信号パターンの所定直線パターンからのずれを基に前
記検査対象成形品の表面に発生する不良の程度を算出す
る画像処理装置と、該画像処理装置の算出結果を表示す
る表示装置とを備えたことを特徴とする。
ームを照射する照射手段と、該光ビームを前記検査対象
成形品に照射したときの該検査対象成形品を透過した光
及び該検査対象成形品の表面で反射された光のいずれか
一方を投影するスクリーンと、該スクリーン上に投影さ
れた像を撮像する撮像手段と、該撮像手段が出力する画
像信号パターンの所定直線パターンからのずれを基に前
記検査対象成形品の表面に発生する不良の程度を算出す
る画像処理装置と、該画像処理装置の算出結果を表示す
る表示装置とを備えたことを特徴とする。
［実施例コ
以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図の成形品検査装置は透明な成形品１０を検査する
ための装置である。
ための装置である。
この成形品検査装置は照射手段として単色レーザー１１
、及びレーザー１１からの光ビームを線状に拡散させる
シリンドリカルレンズ１２を備えると共に、検査対象で
ある成形品１０を透過した光（屈折パターン）を投影す
るスクリーン１３、スクリーン１３に投影された屈折パ
ターンを撮像するＩＴＶ（産業用テレビジョン）カメラ
１４、ＩＴＶカメラ１４から送られてくる画像信号パタ
ーンから成形品の不良の一つであるヒケの程度を算出す
る画像処理装置１５、及び画像処理装置１５での算出結
果を表示する表示装置１６を有している。
、及びレーザー１１からの光ビームを線状に拡散させる
シリンドリカルレンズ１２を備えると共に、検査対象で
ある成形品１０を透過した光（屈折パターン）を投影す
るスクリーン１３、スクリーン１３に投影された屈折パ
ターンを撮像するＩＴＶ（産業用テレビジョン）カメラ
１４、ＩＴＶカメラ１４から送られてくる画像信号パタ
ーンから成形品の不良の一つであるヒケの程度を算出す
る画像処理装置１５、及び画像処理装置１５での算出結
果を表示する表示装置１６を有している。
この装置を用いて成形品１０のヒケの程度を計測するに
は、まず、レーザー１１からの光をシリンドリカルレン
ズ１２を通して線状に拡散させ、成形品１０に照射する
。成形品に照射された光は成形品の表面のヒケによって
屈折し、スクリーン１３上に投影される像は、第１図（
ｂ）に示すような屈折パターンとなる。この時、屈折パ
ターンを拡大してスクリーンに投影するために成形品を
θだけ（θは任意）傾けて設置するほうがよい。
は、まず、レーザー１１からの光をシリンドリカルレン
ズ１２を通して線状に拡散させ、成形品１０に照射する
。成形品に照射された光は成形品の表面のヒケによって
屈折し、スクリーン１３上に投影される像は、第１図（
ｂ）に示すような屈折パターンとなる。この時、屈折パ
ターンを拡大してスクリーンに投影するために成形品を
θだけ（θは任意）傾けて設置するほうがよい。
次に、このスクリーン１３上の屈折パターンをＩＴＶカ
メラ１４で撮像し、画像信号パターンを画像処理装置１
５に出力する。画像処理装置１５では、この屈折パター
ンと、内部に記憶しであるヒケのない良品が置かれたと
きのスクリーン１３上の像である直線とを比較し、この
直線からのずれと、その屈折パターンの複雑さからヒケ
の程度を算出する。
メラ１４で撮像し、画像信号パターンを画像処理装置１
５に出力する。画像処理装置１５では、この屈折パター
ンと、内部に記憶しであるヒケのない良品が置かれたと
きのスクリーン１３上の像である直線とを比較し、この
直線からのずれと、その屈折パターンの複雑さからヒケ
の程度を算出する。
第３図に示すように、ヒケの大小によって屈折パターン
に違いが生じ、第４図に示すように屈折パターンの直線
からのずれは、ヒケの程度に比例している。従って、屈
折パターンの直線からのずれよりヒケの大小を定量的に
算出することができる。
に違いが生じ、第４図に示すように屈折パターンの直線
からのずれは、ヒケの程度に比例している。従って、屈
折パターンの直線からのずれよりヒケの大小を定量的に
算出することができる。
なお、算出の過程において、サンプルの傾きθを考慮に
いれなければならない。
いれなければならない。
そして、算出結果、またはその算出結果から成形品の良
品不良品の判断結果が表示装置１６に表示される。
品不良品の判断結果が表示装置１６に表示される。
この様にして成形品１０の表面不良の一つであるヒケの
程度を定量的に計ｎ１することができる。
程度を定量的に計ｎ１することができる。
第２図に不透明な成形品２０の検査装置のレーザー１１
、シリンドリカルレンズ１２、及びスクリーン１３と成
形品２０との位置関係を示す。不透明の成形品１０では
屈折パターンは得られないので成形品１０表面で反射し
た光ビーム（反射パターン）をスクリーンに投影する。
、シリンドリカルレンズ１２、及びスクリーン１３と成
形品２０との位置関係を示す。不透明の成形品１０では
屈折パターンは得られないので成形品１０表面で反射し
た光ビーム（反射パターン）をスクリーンに投影する。
第２図の成形品検査装置の動作は成形品１０の反射パタ
ーンを用いることを除き第１図の装置と同様であるので
その説明は省略する。
ーンを用いることを除き第１図の装置と同様であるので
その説明は省略する。
［発明の効果］
本発明によれば、照射手段からの線状光ビームをて成形
品に照射し、その透過光、または反射光をスクリーンに
投影して撮像し、そのパターンから成形品表面の不良の
程度を算出するようにしたことで、不良の程度を定量的
に計測することができる。
品に照射し、その透過光、または反射光をスクリーンに
投影して撮像し、そのパターンから成形品表面の不良の
程度を算出するようにしたことで、不良の程度を定量的
に計測することができる。
また、成形品検査の自動化が計れ、省力化ができる。
第１図は本発明の成形品検査装置の一実施例の構成図で
、（ａ）は側面図、（ｂ）は上面図、第２図は成形品が
不透明の場合の成形品検査装置の配置図、第３図は第１
図の成形品検査装置を用いたときの屈折パターン、第４
図はヒケの程度と屈折パターンの直線からのずれとの関
係を示すグラフである。 １０・・・透明成形品、１１・・・レーザー １２・・
・シリンドカルレンズ、１３・・・スクリーン、１４・
・・ＩＴＶカメラ、１５・・・画像処理装置、１６・・
・表示装置。２０・・・不透明成形品
、（ａ）は側面図、（ｂ）は上面図、第２図は成形品が
不透明の場合の成形品検査装置の配置図、第３図は第１
図の成形品検査装置を用いたときの屈折パターン、第４
図はヒケの程度と屈折パターンの直線からのずれとの関
係を示すグラフである。 １０・・・透明成形品、１１・・・レーザー １２・・
・シリンドカルレンズ、１３・・・スクリーン、１４・
・・ＩＴＶカメラ、１５・・・画像処理装置、１６・・
・表示装置。２０・・・不透明成形品
Claims (1)
- １、検査対象成形品の所定部に線状に単色の光ビームを
照射する照射手段と、該光ビームを前記検査対象成形品
に照射したときの該検査対象成形品を透過した光及び該
検査対象成形品の表面で反射された光のいずれか一方を
投影するスクリーンと、該スクリーン上に投影された像
を撮像する撮像手段と、該撮像手段が出力する画像信号
パターンの所定直線パターンからのずれを基に前記検査
対象成形品の表面に発生する不良の程度を算出する画像
処理装置と、該画像処理装置の算出結果を表示する表示
装置とを備えたことを特徴とする成形品不良検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26622289A JPH03130604A (ja) | 1989-10-16 | 1989-10-16 | 成形品不良検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26622289A JPH03130604A (ja) | 1989-10-16 | 1989-10-16 | 成形品不良検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03130604A true JPH03130604A (ja) | 1991-06-04 |
Family
ID=17427961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26622289A Pending JPH03130604A (ja) | 1989-10-16 | 1989-10-16 | 成形品不良検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03130604A (ja) |
-
1989
- 1989-10-16 JP JP26622289A patent/JPH03130604A/ja active Pending
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