JPH03123857A - Speed controller for probe - Google Patents

Speed controller for probe

Info

Publication number
JPH03123857A
JPH03123857A JP1263418A JP26341889A JPH03123857A JP H03123857 A JPH03123857 A JP H03123857A JP 1263418 A JP1263418 A JP 1263418A JP 26341889 A JP26341889 A JP 26341889A JP H03123857 A JPH03123857 A JP H03123857A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
command value
probe
speed command
speed
flaw detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1263418A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2812737B2 (en
Inventor
Yoshio Nakajima
吉男 中島
Kazuo Honma
本間 和男
Yukio Sumiya
住谷 幸男
Takeshi Yamaguchi
武 山口
Hiroshi Inamitsu
稲満 広志
Eiji Minamiyama
南山 英司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Construction Machinery Co Ltd filed Critical Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Priority to JP1263418A priority Critical patent/JP2812737B2/en
Priority to EP19900912369 priority patent/EP0489161A4/en
Priority to PCT/JP1990/001054 priority patent/WO1991002971A1/en
Priority to US07/793,392 priority patent/US5335547A/en
Publication of JPH03123857A publication Critical patent/JPH03123857A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2812737B2 publication Critical patent/JP2812737B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To improve flaw detection accuracy by driving the probe according to the sum of a speed command value corresponding to the deviation of a current position from the mean value of position command values at respective control points on the scanning line of the probe and an averaged speed command value. CONSTITUTION:A position command value arithmetic means 501 calculates the position command values at the respective control points on the scanning line of the probe 9 from position information on a body W to be inspected and a position command value averaging means 502 calculates the mean value of the position command values as a position command value at each control point. A speed command value arithmetic means 503 finds the speed command value to each control point from the position command value of the means 502 and a speed command value averaging means 504 finds the mean value of the speed command values at the respective control points with the speed command value. A control means 506 calculates a speed command value according to the deviation between the detected position of the probe 9 by the position detecting means 505 and the position command value averaged by the means 502 and a driving means 507 is driven according to the sum of the speed command value and the mean speed command value from the means 504. Therefore, errors that various arithmetic results contain become small and the flaw detection position accuracy of the probe is improved.

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 本発明は、既知の任意表面形状の被検体に沿って超音波
探触子を走査して被検体を探傷する際の探触子の移動速
度を制御する装置に関する。
Detailed Description of the Invention A. Industrial Application Field The present invention relates to the movement of an ultrasonic probe when scanning an object with a known arbitrary surface shape to detect flaws on the object. The present invention relates to a device for controlling speed.

B、従来の技術 従来から日本機械学会誌vo1.90. Nα826゜
p5〜9(従来文献1)や非破壊検査第37巻第2号p
152〜153(従来文献2)に示された水浸自動探傷
法が知られている。これは、精密な超音波探傷を目的と
して、被検体が浸漬された水中で超音波探触子を被検体
表面上で走査して探傷するものである。この水浸自動探
傷法においては、傷(欠陥)の大きさおよび位置を正確
に知るために、超音波探触子と被検体との距離を一定に
保ち、かつ超音波ビームの中心軸の方向を被検体表面の
法線方向に一致させておく必要がある。
B. Conventional technology Journal of Japan Society of Mechanical Engineers vol. 1.90. Nα826° p5-9 (Conventional Document 1) and Nondestructive Inspection Vol. 37 No. 2 p.
The water immersion automatic flaw detection method shown in 152-153 (Conventional Document 2) is known. This is for the purpose of precise ultrasonic flaw detection, in which an ultrasonic probe is scanned over the surface of a test object in water in which the test object is immersed. In this automatic water immersion flaw detection method, in order to accurately determine the size and location of flaws (defects), the distance between the ultrasonic probe and the test object is kept constant, and the direction of the central axis of the ultrasonic beam is must be aligned with the normal direction of the surface of the subject.

従来文献1に開示された装置は、表面が平面の被検体の
探傷は可能であるが、表面が曲面になると超音波ビーム
の中心軸の方向を被検体表面の法線方向に一致させるこ
とが困難なため、曲面を持つ被検体の探傷がでなかった
The device disclosed in Conventional Document 1 is capable of detecting flaws on a specimen with a flat surface, but when the surface is curved, it is difficult to align the direction of the central axis of the ultrasonic beam with the normal direction of the surface of the specimen. Due to the difficulty, it was not possible to detect defects on objects with curved surfaces.

一方、従来文献2に開示された装置は、まず被検体全面
の形状をレーザ距離計を使用して計測し、次に、その形
状データを用いて超音波探触子を走査するもので、任意
の表面形状の被検体を探傷できる。
On the other hand, the device disclosed in Conventional Document 2 first measures the shape of the entire surface of the object using a laser distance meter, and then scans the ultrasonic probe using the shape data. It is possible to detect defects on objects with surface shapes of

C0発明が解決しようとする課題 従来文献2に開示されている装置は、被検体表面でレー
ザ距離計をXY力方向走査してX軸に沿ってdxのピッ
チでN個の点で測定し、この操作をdyのピッチでY方
向にM回繰り返し、NXM個の測定データを得、これに
基づいて形状関数Z”f (X、y)を求める。そして
この形状関数を用いて被検体の表面の点(xij、 y
ij)における法線方向で一定の距離にある制御点を求
め、この点に探触子を駆動制御するオープンループ制御
方式である。
C0 Problems to be Solved by the Invention The device disclosed in Conventional Document 2 scans the surface of an object with a laser distance meter in the XY force directions and measures at N points along the X axis at a pitch of dx. This operation is repeated M times in the Y direction at a pitch of dy to obtain NXM pieces of measurement data. Based on this, a shape function Z"f (X, y) is determined. Then, using this shape function, the surface of the object is The point (xij, y
This is an open-loop control method in which a control point located at a constant distance in the normal direction at ij) is found and the probe is driven and controlled to this point.

そのため、形状関数を求める際にデータ中に誤差が含ま
れたり、さらに制御点を演算する際の誤差などにより、
各制御点で探触子が正確に法線方向を向かないことがあ
り、精度の高い探傷が難しく、また、探触子がスムーズ
に動かないことがある。
Therefore, errors may be included in the data when calculating the shape function, and errors may occur when calculating the control points.
The probe may not face the normal direction accurately at each control point, making highly accurate flaw detection difficult, and the probe may not move smoothly.

本発明の技術的課題は、探触子を精度よく被検体表面の
測定点に向けるようにすることにある。
A technical problem of the present invention is to accurately direct a probe to a measurement point on the surface of a subject.

90課題を解決するための手段 クレーム対応図である第1図により説明すると、本発明
は、予め求められている被検体Wの表面形状の位置情報
に基づいて探触子9を駆動手段507により任意の走査
ライン上の複数の制御点に移動させながら被検体Wを探
傷する探触子9の速度制御装置に適用される。そして、
上述の技術的課題は次の構成で達成できる。
90 Means for Solving Problems To be explained with reference to FIG. 1, which is a diagram corresponding to the claims, the present invention allows the probe 9 to be moved by the driving means 507 based on the positional information of the surface shape of the object W determined in advance. The present invention is applied to a speed control device for a probe 9 that detects flaws on the object W while moving it to a plurality of control points on an arbitrary scanning line. and,
The above technical problem can be achieved with the following configuration.

予め求められている上記位置情報から探触子9の各制御
点の位置指令値を演算する位置指令値演算手段501と
、この演算手段501で演算された各制御点の位置指令
値に基づいて、制御すべき点を含む複数の制御点の位置
指令値の平均値をその制御すべき点の位置指令値とする
位置指令値平均化手段502と、この平均化手段502
で演算された各制御点の位置指令値に基づいて各制御点
への速度指令値を演算する速度指令値演算手段503と
、この演算手段503で演算された各速度指令値に基づ
いて、制御すべき点を含む複数の制御点への速度指令値
の平均値をその制御すべき点の速度指令値とする速度指
令値平均化手段504と、探触子9の位置を検出する位
置検出手段505と、平均化された位置指令値と位置検
出手段505で検出された位置との偏差に応じて速度指
令値を演算し、この速度指令値と平均化された速度指令
値との和で探触子9の移動速度を制御する制御手段50
6とを具備する。
a position command value calculation means 501 which calculates a position command value for each control point of the probe 9 from the above position information obtained in advance; , a position command value averaging means 502 that sets the average value of the position command values of a plurality of control points including the point to be controlled as the position command value of the point to be controlled; and this averaging means 502
A speed command value calculation means 503 calculates a speed command value to each control point based on the position command value of each control point calculated in A speed command value averaging means 504 that sets the average value of speed command values to a plurality of control points including the point to be controlled as the speed command value of the point to be controlled, and a position detection means for detecting the position of the probe 9. 505, a speed command value is calculated according to the deviation between the averaged position command value and the position detected by the position detection means 505, and the speed command value is searched by the sum of this speed command value and the averaged speed command value. Control means 50 for controlling the moving speed of the feeler 9
6.

特に請求項2の装置は、位置指令値演算手段501と、
位置指令値平均化手段502と、速度指令値演算手段5
03と、速度指令値平均化手段504とは、探触子9が
先行する走査ラインに沿って探傷している間に動作して
次の探傷走査ラインの各制御点の平均化位置指令値と平
均化速度指令値とを演算するものである。
In particular, the apparatus of claim 2 includes a position command value calculation means 501;
Position command value averaging means 502 and speed command value calculation means 5
03 and the speed command value averaging means 504 operate while the probe 9 is performing flaw detection along the preceding scan line, and calculate the averaged position command value of each control point of the next flaw detection scan line. The averaged speed command value is calculated.

請求項3の発明は、被検体表面をX、Y方向の小領域に
分割し各小領域ごとに前記位置情報を1つだけ記憶する
記憶手段を有し、平均化された位置指令値を複数の小領
域内の位置情報に基づいて演算するように構成するもの
である。
The invention according to claim 3 has a storage means that divides the surface of the subject into small regions in the X and Y directions and stores only one piece of position information for each small region, and stores a plurality of averaged position command values. The calculation is performed based on positional information within a small area of .

81作用 位置情報から各制御点の位置指令値が演算されて平均化
される。その平均化された位置指令値から各制御点の速
度指令値が演算されて平均化される。平均化された位置
指令値と現在位置との偏差に対応する速度指令値が演算
され、この速度指令値と平均化された速度指令値との和
で駆動手段507が駆動される。その結果、各種演算結
果に含まれる誤差が小さくなり、各制御点における探触
子9による探傷位置精度が向上する(例えば探触子が正
しく法線方向を向く)とともに、探触子をスムーズに移
動できる。
The position command value of each control point is calculated from the 81 action position information and averaged. The speed command value of each control point is calculated from the averaged position command value and averaged. A speed command value corresponding to the deviation between the averaged position command value and the current position is calculated, and the driving means 507 is driven by the sum of this speed command value and the averaged speed command value. As a result, errors included in various calculation results are reduced, the accuracy of the flaw detection position by the probe 9 at each control point is improved (for example, the probe is correctly oriented in the normal direction), and the probe can be moved smoothly. Can be moved.

また、請求項2では、探傷動作と並行して次の探傷のた
めの位置指令値や速度指令値が演算されるから、待ち時
間が短縮される。
Further, in the second aspect, the position command value and speed command value for the next flaw detection are calculated in parallel with the flaw detection operation, so that the waiting time is shortened.

さらに、請求項3では、小領域内の位置情報から探傷動
作のための位置指令値と速度指令値が演算されるので、
形状を測定した被検体表面の位置とは別の走査ライン上
の探傷が可能となり、そのとき位置指令値と速度指令値
は平均化処理されているから、精度よく探傷点を走査で
きる。
Furthermore, in claim 3, since the position command value and speed command value for the flaw detection operation are calculated from the position information within the small area,
It is possible to perform flaw detection on a scanning line different from the position of the object surface whose shape was measured, and since the position command value and speed command value are averaged, the flaw detection point can be scanned with high accuracy.

なお1本発明の詳細な説明する上記り項およびE項では
、本発明を分かり易くするために実施例の符号を一部用
いたが、これにより本発明が実施例に限定されるもので
はないつ F、実施例 一部1の実施例− 〔装置全体の説明〕 第2図〜第5図により本発明が適用された探傷装置全体
の説明を行なう。
In addition, in the above-mentioned section and section E which explain the present invention in detail, some of the symbols of the embodiments are used in order to make the present invention easier to understand, but the present invention is not limited to the embodiments. Embodiment 1 of Embodiment Part 1 - [Description of the entire apparatus] The entire flaw detection apparatus to which the present invention is applied will be described with reference to FIGS. 2 to 5.

この探傷装置は第2図に示すように、例えばX軸方向に
Xn1H動装置1により走行する門形走行体2と、この
門形走行体2上でY軸方向にY軸駆動装置3により走行
するY軸走行体4とを有し、Y軸走行体4と一体のブラ
ケット5にZ軸駆動装置6でZ軸方向に昇降するZ軸ア
ーム7が設けられている。Z軸アーム7の下端にはロボ
ットの手首部8が取付けられている。
As shown in FIG. 2, this flaw detection device consists of a gate-shaped traveling body 2 that runs, for example, in the X-axis direction by an A bracket 5 that is integrated with the Y-axis traveling body 4 is provided with a Z-axis arm 7 that moves up and down in the Z-axis direction by a Z-axis drive device 6. A wrist portion 8 of the robot is attached to the lower end of the Z-axis arm 7.

第3図に示すように、手首部8は、Z軸7の下端に固設
されたブラケット8Aと、このブラケット8Aに設けら
れたα軸回転用の駆動装置8Bと、このα軸駆動装置8
Bの回転軸に設けられたブラケット8Cと、このブラケ
ット8Cに取付けられ回転軸にブラケット8Dが取付け
られたβ軸回転用駆動装置8Eとを有し、ブラケット8
Dに被検体Wの探傷を行なう1本の超音波探触子9と、
被検体WのZ軸方向の位置を検出する一対の距離センサ
ユニット10a、lobとが第4図のような位置関係で
取付けられている。距離センサユニット10a、10b
は例えば超音波探触子で構成でき、その検出信号は第5
図に示す距離検出回路11に入力される。
As shown in FIG. 3, the wrist portion 8 includes a bracket 8A fixed to the lower end of the Z-axis 7, a drive device 8B for α-axis rotation provided on the bracket 8A, and a drive device 8B for α-axis rotation provided on the bracket 8A.
The bracket 8C has a bracket 8C provided on the rotating shaft of the frame B, and a β-axis rotation drive device 8E that is attached to the bracket 8C and has a bracket 8D attached to the rotating shaft.
D has one ultrasonic probe 9 for flaw detection on the object W;
A pair of distance sensor units 10a and lob for detecting the position of the subject W in the Z-axis direction are installed in a positional relationship as shown in FIG. Distance sensor units 10a, 10b
can be composed of an ultrasonic probe, for example, and its detection signal is the fifth
The signal is input to the distance detection circuit 11 shown in the figure.

第5図に示すように距離検出回路11は、超音波探触子
10a用の距離検出回路11Aと超音波探触子10b用
の距離検出回路11Bとから成り、各回路11A、II
Bは、超音波探触子10a。
As shown in FIG. 5, the distance detection circuit 11 consists of a distance detection circuit 11A for the ultrasonic probe 10a and a distance detection circuit 11B for the ultrasonic probe 10b.
B is an ultrasonic probe 10a.

10bに超音波信号を送信する送信器11aと、被検体
Wから反射してくる超音波信号を受信する受信器11b
と、計時回路11cから成っている。
a transmitter 11a that transmits an ultrasound signal to the object W, and a receiver 11b that receives an ultrasound signal reflected from the subject W.
and a clock circuit 11c.

計時回路11cは送信器11aからの送信信号と被検体
Wの表面からの超音波反射信号との時間間隔の測定を行
ない、その結果を制御装置12へ出力する。
The clock circuit 11c measures the time interval between the transmission signal from the transmitter 11a and the ultrasound reflected signal from the surface of the subject W, and outputs the result to the control device 12.

ここで、時間間隔をto、水中の音速をVとすると、超
音波探触子10aあるいは10bと被検体Wの表面との
距離Mは、 M=Vt、、/2       −(1)で求められる
Here, if the time interval is to, and the speed of sound in water is V, then the distance M between the ultrasonic probe 10a or 10b and the surface of the object W is determined by M=Vt, /2 - (1) .

さらに第2図において、制御装置12はCPU。Furthermore, in FIG. 2, the control device 12 is a CPU.

ROM、RAMなどから成るマイクロプロセッサであり
、超音波探触子9からの検出信号STと、距離検出回路
11からの時間間隔を示すSWA。
SWA is a microprocessor consisting of ROM, RAM, etc., and indicates the time interval between the detection signal ST from the ultrasonic probe 9 and the distance detection circuit 11.

SWBとが入力されるとともに、X、Y、Z、α。SWB is input, and X, Y, Z, α.

β軸用駆動装置1,3,6.8B、8Eに内蔵された位
置または角度の検出器、例えばポテンショメータ(不図
示)からの信号sx、sy、sz。
Signals sx, sy, sz from a position or angle detector, such as a potentiometer (not shown), built into the β-axis drive device 1, 3, 6.8B, 8E.

Sα、Sβも入力される。13X、13Y、13Z、1
3α、13βは各軸用祁動装置1,3,6゜8B、8E
の駆動用のサーボアンプ、11は探傷用範囲などを入力
する入力装置、12は探傷結果を記録する記録計である
。なお、各軸周駆動装置は例えば電気モータを有する。
Sα and Sβ are also input. 13X, 13Y, 13Z, 1
3α, 13β are purge devices for each axis 1, 3, 6° 8B, 8E
11 is an input device for inputting the flaw detection range, etc., and 12 is a recorder for recording the flaw detection results. Note that each shaft circumferential drive device includes, for example, an electric motor.

〔制御装fii12の演算処理〕 ■メインフローチャート 第6図は制御装置12で実行される演算処理のメインフ
ローチャートである。
[Arithmetic processing of control device fii 12] (1) Main flowchart FIG. 6 is a main flowchart of the arithmetic processing executed by the control device 12.

まず、ステップSIOでメモリなどの初期処理を行ない
、次に、ステップS20で超音波探触子10a、10b
を制御開始位置へ位置決めする。
First, initial processing such as memory is performed in step SIO, and then, in step S20, the ultrasonic probes 10a and 10b are
position to the control start position.

その位置決め動作が完了した状態を第7図に示す。FIG. 7 shows a state in which the positioning operation is completed.

そして、次にステップS30の形状測定動作に移り、予
め設計仕様などから分かっている被検体Wの表面形状デ
ータに基づいて超音波探触子10a。
Then, the process moves to a shape measuring operation in step S30, in which the ultrasonic probe 10a is measured based on the surface shape data of the subject W that is known in advance from design specifications and the like.

10bが被検体Wの法線上を向くようにしながら被検体
Wに沿ってX方向に走査する。このX方向走査をY方向
に所定ピッチづらして複数回行なって少なくとも第4図
に示す距離りの範囲の表面形状データを探傷に先行して
採取する。すなわち、被検体Wの表面形状を各軸駆動装
置に内蔵の位置または角度の検出器からの信号SX、S
Y、SZ。
10b is scanned in the X direction along the subject W while facing on the normal line of the subject W. This X-direction scanning is performed a plurality of times in the Y-direction with a predetermined pitch shift, and surface shape data at least within the distance range shown in FIG. 4 is collected prior to flaw detection. That is, the surface shape of the object W to be inspected is determined by signals SX, S from position or angle detectors built into each axis drive device.
Y, SZ.

Sα、Sβと超音波探触子10a、10bからの信号S
WA、SWBに基づいて各走査ラインごとに演算する。
Sα, Sβ and signals S from the ultrasound probes 10a, 10b
Calculations are performed for each scanning line based on WA and SWB.

その詳細手順は第8図に示す。The detailed procedure is shown in FIG.

次に、この形状測定動作が終了するとステップS40に
進んで探傷動作手順に移る。ここでは、ステップS30
で求められた被検体Wの表面形状データに基づいて、被
検体W上の探傷点に超音波探触子9を対向させるための
複数の制御点における位置情報を演算し、超音波探触子
9が各制御点に制御されたタイミングで超音波探触子9
から超音波探傷信号を制御装置12に取り込む。またこ
の探傷動作中、超音波探触子9よりも数ライン(第4図
の距mr=>先を走査する超音波探触子10a、10b
で超音波探触子10a、10bと被検体Wとの距離を演
算し、先に述べた位置または角度検出器からの位置デー
タとともにその先行走査ラインの表面形状データを採取
する。そして、超音波探触子9が走査ライン上に到達す
ると、この採取データからその先行走査ライン上の探傷
点に対応する超音波探触子9の制御点の位置情報を演算
し、そのラインの探傷を行なう。その詳細手順は第13
図に示す。
Next, when this shape measuring operation is completed, the process advances to step S40 to proceed to a flaw detection operation procedure. Here, step S30
Based on the surface shape data of the object W obtained in Ultrasonic probe 9 at the timing when 9 is controlled to each control point.
The ultrasonic flaw detection signal is taken into the control device 12 from the ultrasonic flaw detection signal. Also, during this flaw detection operation, the ultrasonic probes 10a and 10b scan several lines (distance mr in FIG. 4 => ahead of the ultrasonic probe 9).
The distance between the ultrasonic probes 10a, 10b and the subject W is calculated, and the surface shape data of the preceding scanning line is collected together with the position data from the position or angle detector described above. When the ultrasonic probe 9 reaches the scanning line, position information of the control point of the ultrasonic probe 9 corresponding to the flaw detection point on the preceding scanning line is calculated from this collected data, and Perform flaw detection. The detailed procedure is in Chapter 13.
As shown in the figure.

この探傷動作が終了するとステップS50で超音波探触
子9を終了位置へ移動させて処理が終了する。
When this flaw detection operation is completed, the ultrasonic probe 9 is moved to the end position in step S50, and the process ends.

次に、形状測定動作と探傷動作を詳細に説明する。Next, the shape measurement operation and flaw detection operation will be explained in detail.

■形状測定動作のフローチャート 第8図はステップS30の形状測定動作の詳細を示す。■Flowchart of shape measurement operation FIG. 8 shows details of the shape measuring operation in step S30.

まず、ステップS31において、各郭動装置の1走査分
の指令値(以下、各軸指令値と称す)を取り込み、メモ
リへ記憶する。この1走査分の各軸指令値は式(2)〜
(6)に示すデータ群となっている。
First, in step S31, command values for one scan of each collapsing device (hereinafter referred to as each axis command value) are taken in and stored in the memory. The command value for each axis for one scan is expressed by formula (2) ~
The data group is shown in (6).

Xr= (Xs+ X1t ・=・=v Xn、・・−
、Xmax)−(2)Yr=(Yst Yxy −・=
y Ynt−−、Ymax)−(3)Zr= (Z3.
 Z、、 ・−・・、 Zn、−−、Zmax)・・・
(4)αr= (αS9α、、 −=、 an、−−、
amax)°= (5)βr= (βS、β0.・・・
・・・、βn、・・・・・・、amax)・・・(6)
この各軸指令値は、後述する探傷動作時の指令値よりも
精度を必要としないから、被検体Wの設計データに基づ
いて1走査ライン上の代表点の位置を求め、その間を補
間して求められる。
Xr= (Xs+ X1t ・=・=v Xn,・・−
, Xmax) − (2) Yr=(Yst Yxy −・=
y Ynt--, Ymax)-(3) Zr= (Z3.
Z,, ..., Zn, --, Zmax)...
(4) αr= (αS9α,, -=, an, --,
amax)°= (5)βr= (βS, β0...
..., βn, ..., amax) ... (6)
These axis command values require less precision than the command values for flaw detection operations, which will be described later. Therefore, the positions of representative points on one scanning line are determined based on the design data of the object W, and interpolation is performed between them. Desired.

次に、ステップS32で走査開始点へ位置決めする。す
なわち、Xr=Xs、Yr=Ys、Zr=Zs+αr=
αS、βr=βSとし、各軸を位置決めする。
Next, in step S32, positioning is performed to the scanning start point. That is, Xr=Xs, Yr=Ys, Zr=Zs+αr=
Let αS, βr=βS, and position each axis.

この位置決めが完了後、ステップS33で変数Nを1に
し、ステップS34に進んで走査開始指令を出力すると
、第9図に示すタイマ割込プログラムが一定の間隔で動
作する。
After this positioning is completed, the variable N is set to 1 in step S33, and the process proceeds to step S34, where a scan start command is output, and the timer interrupt program shown in FIG. 9 operates at regular intervals.

第9図においてまず、ステップ5341で走査停止指令
かどうか判定する。最初は走査開始指令であるからステ
ップ5342に移り、N番目の指令値、すなわちN=1
の指令値であるXr = X S +Yr=Y3.Zr
=Zs、  αr=(!S+  βr=βSを取り込む
。そして、上述した各軸の現在位置を示す信号SX、S
Y、SZ、Sa、Sβを各検出器から取り込んで各軸の
現在値X。t Yor Zot α。。
In FIG. 9, first, in step 5341, it is determined whether or not there is a scanning stop command. Since the first command is a scan start command, the process moves to step 5342, and the Nth command value, that is, N=1
The command value of Xr = X S + Yr = Y3. Zr
=Zs, αr=(!S+ βr=βS. Then, the signals SX, S indicating the current position of each axis mentioned above are taken in.
Y, SZ, Sa, and Sβ are taken in from each detector and the current value X of each axis is obtained. t Yor Zot α. .

β。を求め、指令値と各軸の現在値X。l ’1’o+
 ZQTα。、β。との差を計算し、その偏差にある係
数を乗じるといったいわゆるサーボ演算を行ない、その
演算結果を第2図におけるサーボアンプ13X〜13β
に出力する。これにより距離センサユニット10a、1
0bは指令された第1番目の位置に移動する。このとき
、超音波探触子10a。
β. Find the command value and the current value X of each axis. l'1'o+
ZQTα. ,β. servo amplifiers 13X to 13β in FIG.
Output to. As a result, the distance sensor units 10a, 1
0b moves to the first commanded position. At this time, the ultrasonic probe 10a.

10bは被検体W上における測定点の表面の法線方向を
向く。そして、ステップ5343で超音波探触子10a
、10bと被検体Wの表面との距離Qa、Qbを距離検
出回路11からの信号SWA。
10b faces the normal direction of the surface of the measurement point on the subject W. Then, in step 5343, the ultrasonic probe 10a
, 10b and the surface of the subject W by a signal SWA from the distance detection circuit 11.

SWBにより取り込む。次に、ステップ5344におい
て各軸駆動装置の検出器からの信号SX。
Import by SWB. Next, in step 5344, the signal SX from the detector of each axis drive device is detected.

sy、sz、sα、Sβを取り込み、ステップ5345
で各軸の現在値X0IYOIZOI α。、β0を求め
て超音波探触子10a、10bの超音波ビームが当たっ
ている被検体Wの表面の点の位置(Xa、 Ya、 Z
a)、(xb、 yb、 zb)を演算する。ここで、
Xa”Zbは次の関係式から演算される。
Take in sy, sz, sα, Sβ, step 5345
The current value of each axis is X0IYOIZOI α. , β0, and determine the position of the point on the surface of the object W that is hit by the ultrasound beams of the ultrasound probes 10a and 10b (Xa, Ya, Z
a) Calculate (xb, yb, zb). here,
Xa''Zb is calculated from the following relational expression.

Xa=f1(Xot Yor  Zoy  αot  
βat  Qa) ++・(7)Ya=L (Xot 
Yor  Zav  αo+  β。、Qa)・・・(
8)Za=f3(Xot Yot  Zoy  α。、
β、、Qa)−(9)Xb=f1(Xo、Yo、Zo、
α。、β。、  Qb) ・(10)Yb=f2(X、
、Y、、Z、、 α。、β、、  Qb)−(11)Z
b”fa (Xo、Yo、Za、αo、βat  Qb
) =・(12)次に、ステップ8346において、式
(7)〜(12)で求めた被検体Wの表面位置を記憶す
る。
Xa=f1(Xot Yor Zoy αot
βat Qa) ++・(7)Ya=L (Xot
Yor Zav αo+ β. ,Qa)...(
8) Za=f3(Xot Yot Zoy α.,
β,,Qa)-(9)Xb=f1(Xo, Yo, Zo,
α. ,β. , Qb) ・(10) Yb=f2(X,
,Y,,Z,, α. ,β,,Qb)-(11)Z
b"fa (Xo, Yo, Za, αo, βat Qb
) =·(12) Next, in step 8346, the surface position of the subject W determined using equations (7) to (12) is stored.

この位置の記憶方式の一例を第10図を用いて説明する
An example of a method for storing this position will be explained using FIG. 10.

第1o図は位置記憶用の領域分割について示したもので
、この記憶領域はX−Y座標平面に対応して設定され、
同図において斜線で示した領域が被検体WのX−Y座標
平面における探傷範囲である。位置記憶用領域はその探
傷領域より少し大きい領域とし、その領域(X軸はxt
h1〜xth、、 y軸はyth工〜y th2で囲ま
れた領域)をX軸方向に(P+1)分割、Y軸方向に(
S+1)分割して複数の小領域とする。
Figure 1o shows area division for position storage, and this storage area is set corresponding to the X-Y coordinate plane,
In the figure, the shaded area is the flaw detection range of the object W on the X-Y coordinate plane. The position memory area is a slightly larger area than the flaw detection area, and the area (X axis is xt
h1~xth,, y axis is the area surrounded by yth~y th2) divided into (P+1) in the X axis direction, and divided into (P+1) in the Y axis direction.
S+1) Divide into multiple small areas.

そして、式(7)、(8)で得られたXa、 Yaが第
10図のどの小領域に属するかを調べ、所属する小領域
の位置データとしてXa、 Ya、 Zaおよび記憶完
了を意味するフラグを記憶しておく。
Then, it is checked to which small area in Fig. 10 the Xa and Ya obtained by equations (7) and (8) belong, and Xa, Ya, Za and storage completion are determined as the position data of the small area to which they belong. Remember the flag.

式(10)〜(12)で得られた値についても同様の処
理を行なう。
Similar processing is performed for the values obtained by equations (10) to (12).

ここで、形状測定動作におけるX軸方向の順次の走査に
おいて、今回の走査(例えばN=2のときの走査)で求
められた位置データが前回の走査(例えばN=1のとき
の走査)で既に位置データを記憶している小領域に属す
ると判定された場合は、各小領域には1つの位置データ
のみが記憶される必要があるので、 (1)今回得られた新しい位置データを記憶データとし
て記憶内容を更新する。
Here, in sequential scanning in the X-axis direction in the shape measurement operation, the position data obtained in the current scan (for example, the scan when N = 2) is the same as that in the previous scan (for example, the scan when N = 1). If it is determined that the small area belongs to a small area that already stores position data, only one piece of position data needs to be stored in each small area, so (1) Store the new position data obtained this time. Update the memory contents as data.

(2)既に得られている古い位置データをそのまま記憶
データとして記憶内容は更新しない。
(2) Old position data that has already been obtained is used as stored data and the stored contents are not updated.

(3)新しいデータと古いデータの平均値を新たな記憶
データとして記憶内容を更新する。
(3) Update the storage contents by using the average value of the new data and the old data as new storage data.

などの方式を用いてもよい。You may also use a method such as

次に、プログラムの手j@は第9図のステップ5347
に移り、変数Nに1を加えて、すなわちN=2として終
了する。
Next, the program hand j@ is step 5347 in FIG.
Then, 1 is added to the variable N, that is, N=2, and the process ends.

第9図のタイマ割り込みプログラムの動作が完了すると
、プログラム手順は第8図のステップS35に戻り、N
が(max+ 1 )か否かによりX方向の1走査が完
了したかどうかを調べる。この段階ではN=2なので、
ステップS35を繰返し行ない、その間に、ある一定の
時間間隔で第9図のタイマ割り込みプログラムが動作し
、超音波探触子9,10a、10bを結合したブラケッ
ト8Dが第11図に示すようにX軸方向に走査される。
When the operation of the timer interrupt program in FIG. 9 is completed, the program procedure returns to step S35 in FIG.
It is checked whether one scan in the X direction is completed based on whether or not is (max+1). At this stage, N=2, so
Step S35 is repeated, and during this time the timer interrupt program shown in FIG. 9 is operated at a certain time interval, and the bracket 8D connecting the ultrasonic probes 9, 10a, and 10b is Scanned in the axial direction.

この走査とともに、先に説明した記憶方式により、被検
体Wの表面形状のx、y、z位置座標が記憶される。
Along with this scanning, the x, y, and z position coordinates of the surface shape of the subject W are stored using the storage method described above.

X方向の1走査が終了してN=max+1となるとプロ
グラムはステップS35からステップ836に移り、走
査停止指令を出力する。この停止指令によりタイマ割り
込みプログラムの第9図の手順はステップ5348に進
み、1回の走査における最後の指令値であるXmax、
 Ymax、 Zmax。
When one scan in the X direction is completed and N=max+1, the program moves from step S35 to step 836, and outputs a scan stop command. With this stop command, the procedure of the timer interrupt program shown in FIG. 9 advances to step 5348, where Xmax, which is the last command value in one scan,
Ymax, Zmax.

αmax、βmaXを取り込んでサーボ演算を行ない、
その演算結果をサーボアンプ13X〜13βへ出力する
Take in αmax and βmax and perform servo calculation,
The calculation results are output to servo amplifiers 13X to 13β.

このようにしてX方向の1回の走査が終了すると第8図
のステップS37に進み、形状測定動作が完了したかど
うか判定する。この実施例では、超音波探触子10a、
10bにより、Y方向に距離したけ先行するX方向走査
ラインの表面形状データを採取し、その結果に基づいて
探傷用超音波探触子9の走査用制御点を演算するように
している。したがって、このような形状測定動作により
得られた位置データに従って超音波探触子9をある走査
ライン上の複数の制御点に順次に駆動制御して被検体W
の探傷を行なうためには、少なくとも超音波探触子10
a、10bの第1番目の走査ライン上に超音波探触子9
が到達するまで、すなわち超音波探触子9が第4図で示
すLだけY方向に移動するまで形状測定のための走査を
繰り返す必要がある。従って、1回の形状測定走査では
完了しないので、プログラムはステップS37からステ
ップS31に移り、次の1走査分の各軸位置指令の取り
込みを行ない、ステップ832〜37を繰り返す。
When one scan in the X direction is completed in this manner, the process proceeds to step S37 in FIG. 8, where it is determined whether the shape measurement operation is completed. In this embodiment, an ultrasonic probe 10a,
10b, the surface shape data of the X-direction scanning line preceding the X-direction by a distance in the Y-direction is collected, and the scanning control points of the flaw detection ultrasonic probe 9 are calculated based on the results. Therefore, the ultrasonic probe 9 is sequentially driven and controlled to a plurality of control points on a certain scanning line according to the position data obtained by such a shape measurement operation to measure the object W.
In order to perform flaw detection, at least 10 ultrasonic probes are required.
Ultrasonic probe 9 is placed on the first scanning line of a and 10b.
It is necessary to repeat the scan for shape measurement until the point is reached, that is, until the ultrasonic probe 9 moves in the Y direction by L shown in FIG. Therefore, since one shape measurement scan is not completed, the program moves from step S37 to step S31, takes in each axis position command for the next one scan, and repeats steps 832 to 37.

そして、第12図に示すように、超音波探触子9の超音
波ビームが、第9図による形状測定動作によって被検体
Wの表面の位置が記憶されている近傍に達した時点で形
状測定動作が完了したと判断され、プログラムは第8図
のステップS37から第6図のステップS40の探傷動
作へ移る。
Then, as shown in FIG. 12, when the ultrasonic beam of the ultrasonic probe 9 reaches the vicinity where the position of the surface of the subject W is memorized by the shape measurement operation shown in FIG. It is determined that the operation is completed, and the program moves from step S37 in FIG. 8 to the flaw detection operation in step S40 in FIG. 6.

以上説明した探傷動作前の形状測定のみの動作により、
第12図の一点鎖線で示した領域の被検体Wの表面の位
置座標は第10図で示した記憶方式により記憶される。
By the operation of only shape measurement before the flaw detection operation explained above,
The positional coordinates of the surface of the subject W in the area indicated by the dashed line in FIG. 12 are stored using the storage method shown in FIG. 10.

■探傷動作のフローチャート 次に、第6図のステップS40における探傷動作処理に
ついて説明する。
■Flow chart of flaw detection operation Next, the flaw detection operation processing in step S40 in FIG. 6 will be explained.

第13図は、探傷動作処理手順S40の詳細なフローチ
ャートであり、第8図の形状測定動作のフローチャート
と同様な処理である。まずステップS41において、1
走査分の各軸位置および速度指令値を演算する。第14
図および第15図によりその演算について詳細に説明す
る。
FIG. 13 is a detailed flowchart of the flaw detection operation processing procedure S40, which is similar to the flowchart of the shape measurement operation in FIG. First, in step S41, 1
Calculate each axis position and speed command value for scanning. 14th
The calculation will be explained in detail with reference to the figure and FIG.

第14図はステップS41における1走査分の各軸位置
指令値の演算手順のフローチャート、第15図は、各軸
位置指令値を演算するときに、記憶した被検体Wの表面
の位置データのうちどのデータを使用するかを説明する
図である。第15図における太い実線が走査ラインであ
り、第14図の処理は・と○で示した制御点位置の各軸
指令値を演算するものである。
FIG. 14 is a flowchart of the calculation procedure for each axis position command value for one scan in step S41, and FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating which data is used. The thick solid line in FIG. 15 is a scanning line, and the process in FIG. 14 is for calculating each axis command value at the control point position indicated by .

第14図において、ステップ5411で制御点位置近傍
における被検体Wの表面の法線ベクトルを演算する。例
えば、第15図の・の制御点位置の場合は次のようにな
る。
In FIG. 14, in step 5411, the normal vector of the surface of the subject W in the vicinity of the control point position is calculated. For example, in the case of the control point position . in FIG. 15, the result is as follows.

第1番目の・を含む近傍の領域(1,l)、(1,2)
、(2,2)、(2,1)のデータがら≠線ベクトルを
演算すると、4つの領域のデータがすべて・のごく近傍
にある場合に被検体Wの表面位置の検出誤差があると法
線ベクトルの演算誤差が大きくなり好ましくない。そこ
で、その外側の領域(0,O)、(0,3)、(3,3
)、(3,0)のデータを用いることにする。領域(0
,0)(7)データをXl、Yl、Zl、領域(0,3
)のデータをX2.Y2.Z2、領域(3,3)のデー
タをX3.Y3.Z3、領域(3,O)のデータをX4
.Y4.Z4とすると、被検体Wの表面における制御点
位置である・近傍の法線ベクトルN (=Nx、 Ny
、 Nz)は次式によって求められる。
Neighboring areas (1,l), (1,2) containing the first .
, (2, 2), and (2, 1), if the data of the four regions are all in the very vicinity of This is undesirable because the line vector calculation error becomes large. Therefore, the outer regions (0, O), (0, 3), (3, 3
), (3,0) data will be used. Area (0
, 0) (7) Data Xl, Yl, Zl, area (0, 3
) data to X2. Y2. Z2, data of area (3, 3) to X3. Y3. Z3, data of area (3, O)
.. Y4. When Z4 is the control point position on the surface of the subject W, the nearby normal vector N (=Nx, Ny
, Nz) is determined by the following formula.

Nx=Σ(Yi−Yj)X (Zi+Zj) ・・・(
13)Ny=会(Zi−Zj) X (Xi+Xj)・
・・(14)Nz= 会(Xi−Xj) X (Yi+
Yj) −(15)ただし、i≠4ならj=i+1.i
=4ならj=1である。
Nx=Σ(Yi−Yj)X (Zi+Zj) ・・・(
13) Ny=kai (Zi-Zj) X (Xi+Xj)・
...(14) Nz= Kai (Xi-Xj) X (Yi+
Yj) −(15) However, if i≠4, then j=i+1. i
If =4, then j=1.

次に、ステップ5412で制御点位置の位置演算を行な
う。第15図における制御点拳の位置を(Xk、 Yk
、 Zk)とすると、Xk、Ykは記憶領域を設定する
ために与えた値であり、既知である。従って、ステップ
5412の制御点位置の位置演算はZkを求める演算で
ある。
Next, in step 5412, position calculation of the control point position is performed. The position of the control point fist in Fig. 15 is (Xk, Yk
, Zk), Xk and Yk are values given to set the storage area and are known. Therefore, the position calculation of the control point position in step 5412 is a calculation to obtain Zk.

今、第16図に示すようにある座標系において制御点位
置が含まれる平面PLは次の平面式で表わされる。
Now, as shown in FIG. 16, a plane PL including control point positions in a certain coordinate system is expressed by the following plane equation.

NxX+NyY+NzZ+d=0・= (16)したが
って、(13)弐〜(15)式で法線ベクトルN (=
Nx、 Ny、 Nz)が求まれば、第15図の・の周
囲に存在する位置の座標(Xm、 Yn+。
NxX+NyY+NzZ+d=0・= (16) Therefore, the normal vector N (=
Once Nx, Ny, Nz) are found, the coordinates (Xm, Yn+) of the position around . in Fig. 15.

Zm)から、上記平面PLの平面式の係数dは次式とな
る。
Zm), the coefficient d of the plane equation of the plane PL is given by the following equation.

d=−(NxXm+NyYm+NzZm) ・・・(1
7)この係数dを用いることにより、1番目の制御点で
ある・の位置Zkは次のように求まる。
d=-(NxXm+NyYm+NzZm)...(1
7) By using this coefficient d, the position Zk of the first control point is determined as follows.

Zk=−(d+NxXk+NyYk)/Nz−(18)
次に、係数dの演算に使用する( Xm、 Ym。
Zk=-(d+NxXk+NyYk)/Nz-(18)
Next, it is used to calculate the coefficient d (Xm, Ym.

Zm)について説明する。Zm) will be explained.

法線ベクトルの演算は第15図における領域(0,0)
、(0,3)、(3,3)、(3,O)の記憶データを
用いて行なったが、係数dの演算に使用する記憶データ
は・の制御位置の近傍の方が真の値に近い。従って、領
域(1,1)、(1,2)、(2,2)、(2,1)の
記憶データを用いる。すなわち、領域(1,1)の記憶
データと式(13)〜(15)で得られた法線ベクトル
を式(17)に代入して演算し、その値をd工とする。
The calculation of the normal vector is performed in the area (0,0) in Figure 15.
, (0,3), (3,3), (3,O), but the stored data used to calculate the coefficient d has a truer value near the control position of . Close to. Therefore, the stored data in areas (1,1), (1,2), (2,2), and (2,1) are used. That is, the storage data of the area (1, 1) and the normal vector obtained by equations (13) to (15) are substituted into equation (17) for calculation, and the value is set as d.

同様の方法で領域(1,2)の記憶データから計算した
値をd2、領域(2,2)の記憶データから計算した値
をd8、領域(2゜1)の記憶データから計算した値を
d4とし、次式により平均値として係数dを求める。
In the same way, d2 is the value calculated from the stored data in area (1, 2), d8 is the value calculated from the stored data in area (2, 2), and d8 is the value calculated from the stored data in area (2゜1). d4, and calculate the coefficient d as an average value using the following equation.

d= (d1+d、+d3+d、)/4・・・(19)
このように、4つの領域から求めた係数を平均化するこ
とにより、・制御点の係数dは真の値に近いものとなる
d= (d1+d, +d3+d,)/4...(19)
By averaging the coefficients obtained from the four regions in this way, the coefficient d of the control point becomes close to the true value.

以上の説明により制御点位置の法線ベクトルN(=N 
x g N y + N z )と位置(Xk、 Yk
、 Zk)が求まった。
From the above explanation, the normal vector N of the control point position (=N
x g N y + N z ) and position (Xk, Yk
, Zk) was found.

第14図のプログラムの手順は次にステップ5413に
移り、各軸の位置指令値の演算と記憶を行なう。ここで
、超音波探触子9と被検体Wの表面との距離が11oに
なるように設定すると、各軸の位置指令値(Xr、 Y
r、 Zr、 ar、ar)は次の関係式から演算され
て記憶される。
The program procedure in FIG. 14 then moves to step 5413, where position command values for each axis are calculated and stored. Here, if the distance between the ultrasonic probe 9 and the surface of the subject W is set to 11o, the position command values of each axis (Xr, Y
r, Zr, ar, ar) are calculated from the following relational expression and stored.

Xr=f4(Xk、 Yk、 Zk、 Nx、 Ny、
 NZ、 L) ”・(20)Yr=f、 (Xk、 
Yk、 Zk、 Nx、 Ny、 Nz、 u、) −
(21)Zr=f、 (Xk、 Yk、 Zk、 Nx
、 Ny、 Nz、 Q、) −(22)ar=f7(
Nx、 Ny、 Nz)         ・・−(2
3)βr=f、 (Nx、 Ny、 Nz)     
    −(24)次に、ステップ5414に移り、1
走査分の演算が完了したか否かを判定する。当然のこと
であるが、上述した説明では第15図の・で示された制
御点しか演算していないのでステップ5411に戻り1
次の○制御点の近傍の法線ベクトル演算を行なう。この
ようにしてステップ8411〜414の処理を順次繰り
返し行なうことにより第15図の・〜 印の制御点位置
までの演算を行ないステップ5415に移る。この時、
1走査分の各軸位置指令値は式(25)〜(29)で表
わされたデータ群となっている。
Xr=f4(Xk, Yk, Zk, Nx, Ny,
NZ, L) ”・(20)Yr=f, (Xk,
Yk, Zk, Nx, Ny, Nz, u,) −
(21) Zr=f, (Xk, Yk, Zk, Nx
, Ny, Nz, Q,) −(22)ar=f7(
Nx, Ny, Nz) ・・−(2
3) βr=f, (Nx, Ny, Nz)
-(24) Next, proceed to step 5414, and 1
It is determined whether the calculation for the scan is completed. Of course, in the above explanation, only the control points indicated by . in FIG. 15 are calculated, so the process returns to step 5411 and
Perform normal vector calculation near the next ○ control point. In this way, by sequentially repeating the processing of steps 8411 to 414, calculations are performed up to the control point positions marked with . . . in FIG. 15, and the process moves to step 5415. At this time,
Each axis position command value for one scan is a data group expressed by equations (25) to (29).

Xr= (Xrs、 Xr、、 −Xrn、 =Xrm
ax) −(25)Yr= (Yrs、 Yr、、 °
=Yrn、 −Yrmax) −(26)Zr= (Z
rst ZrH−・・zrn、 ・・・Zrmax) 
”・(27)ar= (arB、 ar、、 °=ar
n、 −αrmax) −(28)βr= (βr3.
βrll ”’βrn、 ”’βrmax) =−(2
9)ここで、各制御点の指令値(Xrs、 Yrsy 
Zr5yarB、ar3)、(X rl、 Y r、 
、 Z rl、 a rl、βrx)・・・・・・は演
算誤差などにより多少の誤差を含んでいる。そこで、ス
テップ5415で位置指令値の平均化を行なう。その平
均化は、例えば1次式で行なわれる。
Xr= (Xrs, Xr, -Xrn, =Xrm
ax) −(25)Yr= (Yrs, Yr,, °
=Yrn, -Yrmax) -(26)Zr= (Z
rst ZrH-...zrn, ...Zrmax)
”・(27) ar= (arB, ar,, °=ar
n, −αrmax) −(28)βr= (βr3.
βrll ”'βrn, ”'βrmax) =-(2
9) Here, the command value of each control point (Xrs, Yrsy
Zr5yarB, ar3), (X rl, Y r,
, Z rl, a rl, βrx)... contain some errors due to calculation errors and the like. Therefore, in step 5415, the position command values are averaged. The averaging is performed using, for example, a linear equation.

Xn= (Xrn−8+Xrn+Xrn+x) / 3
・= (30)Yn= (Yrn−1+ Yrn+ Y
rn、) / 3− (31)Zn= (Zrn−0+
 Zrn+ Zrn*z) / 3− (32)αn=
(αrn−1+αrn+αrnや、)/3・・・(33
)βn=(βrn−4+βrn+βrn、1) /3・
・・(34)これは、任意の制御点とその前後の制御点
における計3点の指令値を算術平均するものである。な
お、スタート点と終了点は平均化しない。
Xn= (Xrn-8+Xrn+Xrn+x) / 3
・= (30) Yn= (Yrn-1+ Yrn+ Y
rn, ) / 3- (31)Zn= (Zrn-0+
Zrn+ Zrn*z) / 3- (32) αn=
(αrn-1+αrn+αrn,)/3...(33
)βn=(βrn-4+βrn+βrn, 1)/3・
(34) This is the arithmetic mean of the command values of a total of three points at an arbitrary control point and the control points before and after it. Note that the start point and end point are not averaged.

全制御点について式(30)〜(34)の演算を行なう
と、1走査分の各軸位置指令値は式(2)〜(6)で表
わされるのと同じ形式のデータ群となる。
When equations (30) to (34) are calculated for all control points, each axis position command value for one scan becomes a data group in the same format as expressed by equations (2) to (6).

ところで、本発明の探傷動作においては超音波探触子9
の軌跡精度を向上させる目的で位置のフィードバック制
御と、速度のフィードフォーワード制御を採用している
。すなわち、第17図に示すように、位置指令値X1n
sと検出されている現位置Xdetとの偏差を偏差器2
1でとり、係数器22で係数kを掛けて速度指令値X 
errとする。
By the way, in the flaw detection operation of the present invention, the ultrasonic probe 9
Position feedback control and speed feedforward control are used to improve trajectory accuracy. That is, as shown in FIG. 17, the position command value X1n
A deviation device 2 calculates the deviation between s and the detected current position Xdet.
1 and multiplied by the coefficient k using the coefficient unit 22 to obtain the speed command value
Set to err.

さらに、速度指令値X1nsとX errとの和を加算
器23で演算しサーボアンプ13A〜13βへ入力する
Furthermore, the sum of the speed command value X1ns and Xerr is calculated by the adder 23 and input to the servo amplifiers 13A to 13β.

第14図のステップ8416では、上述の速度のフィー
ドフォーワードのための速度指令値の演算と平均化を行
なう。速度指令値は例えば次式(35)〜(39)で演
算される。
At step 8416 in FIG. 14, speed command values for the above-mentioned speed feedforward are calculated and averaged. The speed command value is calculated using the following equations (35) to (39), for example.

arn= (arn+1− arr+) /ΔT−(3
8)βrn=(arn、、−arn) /ΔT・ (3
9)ここで、ΔTはタイマ割り込みプログラムのサンプ
リング時間間隔である。全制御点について式(35)〜
(39)の演算を行なうと、1走査分の各軸の速度指令
値は次式(40)〜(44)で表わされるデータ群とな
る。
arn= (arn+1- arr+) /ΔT-(3
8) βrn=(arn,,-arn)/ΔT・(3
9) Here, ΔT is the sampling time interval of the timer interrupt program. Equation (35) for all control points ~
When the calculation in (39) is performed, the speed command values for each axis for one scan become a data group expressed by the following equations (40) to (44).

みr= (ルrs+みr工、・・・みrn、・・・シr
max)・・・(43)ar= (Jars、 fJr
l、 −βrn、 −βrmax) =−(44)次に
、位置の指令値の場合と同様に速度指令値の平均化を行
なう。その平均化は例えば次式(45)〜(49)のよ
うに行なわれる。
mir = (rurs + mirwork, ... mirn, ... sir
max)...(43)ar=(Jars, fJr
l, -βrn, -βrmax) = - (44) Next, the speed command values are averaged in the same way as the position command values. The averaging is performed, for example, as shown in the following equations (45) to (49).

谷=(みrn−□+arn+ arn、) / 3・・
・(48)βn= (βrn−0+βrn+βrn、1
)/3・・・(49)これは、任意の制御点とその前後
の制御点における3点の指令値を算術平均するものであ
る。なお、スタート点と終了点は平均化しない。
Valley=(mirn-□+arn+arn,)/3...
・(48) βn= (βrn-0+βrn+βrn, 1
)/3 (49) This is the arithmetic mean of the command values of an arbitrary control point and three points before and after the control point. Note that the start point and end point are not averaged.

全制御点について式(45)〜(49)の演算を行なう
と、1走査分の各軸の速度指令値は式(50)〜(54
)で表わされるデータ群となる。
When formulas (45) to (49) are calculated for all control points, the speed command value for each axis for one scan is calculated by formulas (50) to (54).
) is a data group represented by

みr= (みrs+ みr工、・・・みrn。mir = (mi rs + mi r worker, ... mi rn.

・・tx rmax)・・・(53) 以上説明した平均化演算をステップ8416で行なって
第14図のプログラムを完了し、処理は第13図のステ
ップS42へ移る。
. . tx rmax) (53) The above-described averaging operation is performed in step 8416, the program in FIG. 14 is completed, and the process moves to step S42 in FIG. 13.

第13図のステップ342〜S45の処理は、第14図
のステップ5415,5416で得られた位置および速
度の平均化された式(4o)〜(44)、式(50)〜
(54)で表される指令値のデータ群を用いて行なわれ
る。そして、形状測定動作と同様に、ステップS42,
43を実行し、ステップS44で走査開始指令が出力さ
れると、第18図のタイマ割りプログラムが起動される
The processing of steps 342 to S45 in FIG. 13 is performed using equations (4o) to (44), equations (50) to
This is performed using a data group of command values represented by (54). Then, similarly to the shape measurement operation, step S42,
When step S43 is executed and a scan start command is output in step S44, the timer allocation program shown in FIG. 18 is started.

第18図のプログラムのステップ5441では走査停止
か否かを判定し、否定されるとステップ5442でN番
目の各軸位置指令値の取り込みとサーボ演算および出力
が行なわれる。これは、第17図に示した位置フィード
バック制御と速度フィードフォーワード制御で行なわれ
る。その後、ステップ5443に進み、超音波探触子9
の出力を取り込み、その探傷検出結果を制御点位置(X
 m、 Y m)のデータとして記録装置15へ出力す
る。次に、第9図のステップ8343〜S347と同様
なステップ8444〜5448を順次に実行して、第1
9図に示すように探傷動作に並行して、先行する走査ラ
イン(破線で示す)の形状測定が行なわれる。
In step 5441 of the program in FIG. 18, it is determined whether or not scanning is to be stopped. If the answer is negative, in step 5442, the Nth each axis position command value is taken in, servo calculation, and outputted. This is performed by position feedback control and velocity feedforward control shown in FIG. After that, the process proceeds to step 5443, where the ultrasonic probe 9
The flaw detection results are taken in from the control point position (X
m, Y m) data to the recording device 15. Next, steps 8444 to 5448, which are similar to steps 8343 to S347 in FIG.
As shown in FIG. 9, in parallel with the flaw detection operation, the shape of the preceding scanning line (indicated by a broken line) is measured.

このような手順を繰り返して1回の走査を完了するとス
テップS45から846に進み、走行停止指令を出力す
る。そして、ステップ5441で走査停止と判定される
と、ステップ5449でN max番目の各軸位置指令
値の取り込みとサーボ演算および出力が行なわれる。そ
して、ステップS47に移り、探傷動作が完了したかど
うか調べる。すなわち、第10図の太い実線で示された
範囲をすべて走査したかどうか調べ、走査していない場
合はステップS41に戻り、次の1走査分、例えば、第
15図のX印のラインの各軸位置指令値の演算を行なう
When one scan is completed by repeating such a procedure, the process proceeds from step S45 to 846, and a travel stop command is output. When it is determined in step 5441 that scanning is to be stopped, in step 5449 the Nmax-th axis position command value is taken in, servo calculation is performed, and output is performed. Then, the process moves to step S47, and it is checked whether the flaw detection operation is completed. That is, it is checked whether the entire range indicated by the thick solid line in FIG. Calculate the axis position command value.

第1o図で示された探傷範囲をすべて走査したならば、
プログラムはステップS47から第6図のステップS5
0へ移り、ある決められた終了位置へ各軸を位置決めし
、制御は完了する。
After scanning the entire flaw detection range shown in Figure 1o,
The program starts from step S47 to step S5 in FIG.
0, each axis is positioned to a certain determined end position, and the control is completed.

以上のように、第2図〜第19図により説明した実施例
では、次のようにして被検体Wの表面形状の測定と探傷
動作が行なわれる。
As described above, in the embodiment described with reference to FIGS. 2 to 19, the measurement of the surface shape of the object W and the flaw detection operation are performed as follows.

(a)先行する距離センサユニットloa。(a) Leading distance sensor unit loa.

10bの検出結果などから被検体Wの表面形状を測定す
る。
The surface shape of the object W is measured based on the detection results 10b and the like.

(b)その形状測定データを、xy平面に区画した小領
域のいずれかの領域のデータとして記憶する。ただし小
領域内には1つのデータのみを保存する。
(b) The shape measurement data is stored as data for one of the small areas divided on the xy plane. However, only one piece of data is stored within the small area.

(c)(a) 、(b)の手順を第4図の距離り分だけ
行なう。
(c) Repeat steps (a) and (b) for the distance shown in FIG.

(d)(a)〜(c)で各小領域に保存されている被検
体Wの表面形状データから探触子9の制御点の位置指令
値を求め、複数の位置指令値を平均化して各制御点の位
置指令値とする。
(d) Find the position command value of the control point of the probe 9 from the surface shape data of the object W stored in each small region in (a) to (c), and average the multiple position command values. This is the position command value for each control point.

(e)平均化された位置指令値から制御点への速度指令
値を演算し、複数の制御点への速度指令値から各制御点
への速度指令値を平均化して各制御点への速度指令値と
する。
(e) Calculate the speed command value to the control point from the averaged position command value, average the speed command value to each control point from the speed command value to multiple control points, and calculate the speed to each control point. Use as command value.

(f)平均化された位置指令値と実位置との偏差から偏
差分の速度指令値を求め、平均化された速度指令値と加
算し、これで各軸駆動装置を制御する。
(f) Find a speed command value for the deviation from the deviation between the averaged position command value and the actual position, add it to the averaged speed command value, and control each axis drive device using this value.

したがって1位置フィードバックに使用される位置指令
値や速度フィードフォーワードに使用される速度指令値
の誤差が小さくなり、各制御点において超音波探触子9
の超音波ビームが被検体Wの表面の法線方向を正しく向
くことになり、精度の高い探傷が行なわれる。また、速
度フィードフォーワード制御を採用しているから、超音
波探触子の各制御点への移動時間も短縮化されるととも
に軌跡精度も高い。
Therefore, the error in the position command value used for 1-position feedback and the speed command value used for speed feedforward becomes small, and the ultrasonic probe 9
The ultrasonic beam is directed in the normal direction of the surface of the object W, and highly accurate flaw detection is performed. Furthermore, since velocity feedforward control is adopted, the time required for the ultrasonic probe to travel to each control point is shortened, and the trajectory accuracy is high.

また、XY平面を小領域に分割し各領域には1つだけ位
置データを記憶し、各小領域の位置データにより任意の
探傷走査ライン上の探触子の制御点を決定するようにし
ているから。
In addition, the XY plane is divided into small regions, and only one position data is stored in each region, and the control point of the probe on any flaw detection scanning line is determined based on the position data of each small region. from.

イ、メモリ容量の低減が可能となる。b) Memory capacity can be reduced.

口、形状測定走査ラインと異なった走査ラインを自由に
設定して探傷できる。その結果、探傷操作の自由度が広
がるとともに、探傷用探触子と距離測定用探触子の配置
が制約されない。
You can freely set a scan line different from the mouth and shape measurement scan line for flaw detection. As a result, the degree of freedom in flaw detection operation is increased, and the arrangement of the flaw detection probe and the distance measurement probe is not restricted.

なお、以上の実施例の構成において、制御装置12が位
置指令値演算手段501と、位置指令値平均化手段50
2と、速度指令値演算手段503と、速度指令値平均化
手段504と、制御手段506とを構成し、駆動手段5
07である各軸駆動装置に内蔵の位置あるいは角度検出
器が検出手段505をそれぞれ構成する。
In the configuration of the above embodiment, the control device 12 includes the position command value calculation means 501 and the position command value averaging means 50.
2, a speed command value calculation means 503, a speed command value averaging means 504, and a control means 506.
A position or angle detector built into each shaft drive device 07 constitutes the detection means 505, respectively.

く変形実施例〉 以上の実施例においては、任意のラインの探傷走査の開
始時に、そのライン走査の各制御点の位置指令値と速度
指令値とを演算している。そのため、実際の探傷動作が
開始されるまでの間に超音波探触子9,10a、10b
が停止しているロス時間が存在する。そこで、この変形
例では、各探傷動作中に次のライン走査の位置および速
度の指令値を前もって演算しておき、ロス時間を解消す
るものである。
Modified Embodiment> In the above embodiment, at the start of flaw detection scanning of an arbitrary line, the position command value and speed command value of each control point of the line scan are calculated. Therefore, the ultrasonic probes 9, 10a, 10b are
There is a loss time when the system is stopped. Therefore, in this modification, the command values for the position and speed of the next line scan are calculated in advance during each flaw detection operation to eliminate the lost time.

第20図〜第22図により説明する。This will be explained with reference to FIGS. 20 to 22.

第20図に中央処理装置を2台とした場合のハードウェ
ア構成を示す。31は中央処理装置であり、探傷動作に
おける一走査分の各軸指令値の演算処理を受は持ち、他
の処理は中央処理装置32が行なう。33は被検体表面
の位置データおよび一走査分の各軸指令値の演算開始フ
ラグ等を記憶するメモリ、34は中央処理装W31によ
って演算された各軸指令値および演算完了フラグを記憶
するメモリである。
FIG. 20 shows the hardware configuration when there are two central processing units. Reference numeral 31 denotes a central processing unit, which is responsible for calculation processing of each axis command value for one scan in the flaw detection operation, and other processing is performed by the central processing unit 32. 33 is a memory for storing position data on the surface of the object to be inspected and a calculation start flag for each axis command value for one scan, and 34 is a memory for storing each axis command value and calculation completion flag calculated by the central processing unit W31. be.

第21図は中央処理装置32における探傷動作(第13
図の代わり)の詳細なフローチャートで、第22図は中
央処理装置31のフローチャートである。
FIG. 21 shows the flaw detection operation (13th test) in the central processing unit 32.
FIG. 22 is a detailed flowchart of the central processing unit 31 (instead of a diagram).

次に、この変形実施例の動作を説明する。Next, the operation of this modified embodiment will be explained.

まず、ステップ5101で走査カウンタCNを1にセッ
トし、指令演算開始フラグをメモリ33にセットする。
First, in step 5101, a scan counter CN is set to 1, and a command calculation start flag is set in the memory 33.

そして、ステップ5102で演算完了フラグがセットさ
れるまで待つ。
Then, the process waits until the computation completion flag is set in step 5102.

第22図の処理は、まず、ステップ5201で演算開始
フラグがセットされるまで待つ。そして。
The process in FIG. 22 first waits until the calculation start flag is set in step 5201. and.

第21図のステップ5101で演算開始フラグがセット
されたならば、処理はステップ5202に進んで走査カ
ウンタのカウント値を読み1次のステップ5203で演
算開始フラグと演算完了フラグをリセットする。なお、
当然のことであるが、最初、演算完了フラグはリセット
されている。
If the calculation start flag is set in step 5101 of FIG. 21, the process proceeds to step 5202, reads the count value of the scan counter, and resets the calculation start flag and calculation completion flag in the first step 5203. In addition,
As a matter of course, the operation completion flag is initially reset.

そしてステップ5204に移り、CNの値に相当する走
査ラインの、すなわち、最初は第1走査ラインの各軸指
令値の演算を行なう。この演算は。
Then, the process moves to step 5204, in which each axis command value of the scan line corresponding to the value of CN, that is, the first scan line is calculated. This calculation is.

第14図のステップ8411〜8416の演算と全く同
じである。そしてステップ5205でその得られた各軸
指令値をメモリ34に書き込むとともに、ステップ82
06で演算完了フラグをメモリ34にセットしてステッ
プ5201に戻り、次の走査ラインの指令値演算開始指
令を待つ。
The calculations are exactly the same as those in steps 8411 to 8416 in FIG. Then, in step 5205, the obtained axis command values are written into the memory 34, and in step 82
In step 06, the computation completion flag is set in the memory 34, and the process returns to step 5201 to wait for a command to start the command value computation for the next scanning line.

演算完了フラグのセットにより第21図のプログラムは
ステップ5102からステップ5103に進み、各軸指
令値をメモリ34から取り込む。
By setting the computation completion flag, the program in FIG. 21 proceeds from step 5102 to step 5103, where each axis command value is fetched from the memory 34.

そして、ステップ5104では、走査カウンタのカウン
ト値CNを1増加させて指令値演算開始フラグをセット
する。さらにステップ8105〜5109によって第1
走査ラインの探傷動作を行なう。この探傷動作の間に中
央処理装置31では第2走査ラインの指令値演算を行な
う。
Then, in step 5104, the count value CN of the scan counter is incremented by 1 and a command value calculation start flag is set. Further, in steps 8105 to 5109, the first
Perform scanning line flaw detection operation. During this flaw detection operation, the central processing unit 31 calculates a command value for the second scanning line.

以上、述べたように本実施例によれば、探傷と指令値演
算を並行して行なうことができるので、探傷の開始から
完了までの時間を短くすることができる。
As described above, according to this embodiment, since flaw detection and command value calculation can be performed in parallel, the time from the start to the completion of flaw detection can be shortened.

なお以上では、探傷用探触子からの超音波ビームを被検
体表面の法線方向に向けながら探傷を行うとしたが、超
音波ビームを法線方向に対しである角度を持たせて、例
えば表面波臨界角方向に超音波ビームを向けて探傷する
ものにも本発明を適用できる。
In the above description, it was assumed that flaw detection was performed while directing the ultrasonic beam from the flaw detection probe in the normal direction of the surface of the object to be inspected. The present invention can also be applied to flaw detection by directing an ultrasonic beam in the surface wave critical angle direction.

また、探傷用探触子と一体にした距離検出用探触子で先
行して形状測定を行い、その結果に従って探傷用探触子
の各制御点の位置指令値と速度指令値を演算するように
したが、探傷用探触子の各制御点での指令値演算に使用
する被検体表面の位置情報は、単独に設けられた距離検
出用探触子で測定して得られた位置情報や設計データか
ら与えられた位置情報などでもよい。
In addition, the shape is measured in advance using a distance detection probe integrated with the flaw detection probe, and the position command value and speed command value of each control point of the flaw detection probe are calculated based on the results. However, the position information on the surface of the object used to calculate the command value at each control point of the flaw detection probe is the position information obtained by measuring with a separately installed distance detection probe. It may also be position information given from design data.

G9発明の効果 本発明によれば、探傷用探触子の各走査ライン上の各位
置指令値を、形状測定などで得られている位置データに
基づいて演算されるそのライン上の複数制御点における
位置指令値の平均値としてそれぞれ求めるとともに、複
数の制御点の速度指令値も、各制御点の速度指令値の平
均値として求めるようにしたので、各制御点で探触子が
例えば被検体表面の法線方向に精度よく向くことになり
、探傷精度が向上するとともに、探触子がスムーズに動
作する。
G9 Effects of the Invention According to the present invention, each position command value on each scanning line of a flaw detection probe is calculated based on position data obtained by shape measurement etc. at multiple control points on that line. At the same time, the speed command values of multiple control points are also calculated as the average value of the speed command values of each control point. The probe is oriented precisely in the normal direction of the surface, improving flaw detection accuracy and allowing the probe to operate smoothly.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はクレーム対応図である。 第2図〜第19図は本発明の一実施例を説明するもので
、第2図は制御系の全体構成図である。 第3図は探傷用超音波探触子と距離センサユニットの取
付構造の詳細を示す図である。 第4図は探傷用超音波探触子と距離センサユニットの配
置例を示す図である。 第5図は距離検出回路の詳細を示すブロック図である。 第6図はメインフローチャートである。 第7図は初期位置にある距離センサユニットと被検体を
示す斜視図である。 第8図は形状測定フローチャートである。 第9図は形状測定フローチャートの詳細を示すフローチ
ャートである。 第10図は探傷範囲と位置データの記憶領域を説明する
図である。 第11図は形状測定動作中の距離センサユニットを示す
斜視図である。 第12図は探傷動作開始時の探傷用探触子と距離センサ
ユニットを示す斜視図である。 第13図、第14図および第18図は探傷動作を示すフ
ローチャートである。 第15図は位置データが記憶されている小領域内での探
傷走査ラインを説明する図である。 第16図は小領域の位置データから制御点の位置データ
を演算する際の係数dを説明する図である。 第17図は位置フィードバック制御と速度フィードフォ
ーワード制御を説明する回路図である。 第19図は探傷動作と形状測定動作が並行して行われて
いることを説明する図である。 第20図〜第22図は変形実施例を説明するもので、第
20図はそのハードウェアを示すブロック図である。 第21図および第22図は処理手順を示すフローチャー
トである。 1:X@駆動装置   3:Y軸駆動装置6:z軸駆動
装置  8B:α軸駆動装置8E:β軸駆動装置   
9:探傷用探触子10a、10b :距離検出用探触子 11:距離検出回路  12:制御装置31.32:中
央演算処理装置 33.34:メモリ 501:位置指令値演算手段 502:位置指令値平均化手段 503:速度指令値演算手段 5o4:速度指令値平均化手段 505:検出手段   506:制御手段507:駆動
手段
FIG. 1 is a complaint correspondence diagram. 2 to 19 explain one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an overall configuration diagram of the control system. FIG. 3 is a diagram showing details of the mounting structure of the flaw detection ultrasonic probe and the distance sensor unit. FIG. 4 is a diagram showing an example of the arrangement of a flaw detection ultrasonic probe and a distance sensor unit. FIG. 5 is a block diagram showing details of the distance detection circuit. FIG. 6 is the main flowchart. FIG. 7 is a perspective view showing the distance sensor unit and the subject at the initial position. FIG. 8 is a shape measurement flowchart. FIG. 9 is a flowchart showing details of the shape measurement flowchart. FIG. 10 is a diagram illustrating a flaw detection range and a storage area for position data. FIG. 11 is a perspective view showing the distance sensor unit during shape measurement operation. FIG. 12 is a perspective view showing the flaw detection probe and distance sensor unit at the start of flaw detection operation. FIGS. 13, 14, and 18 are flowcharts showing flaw detection operations. FIG. 15 is a diagram illustrating a flaw detection scanning line within a small area in which position data is stored. FIG. 16 is a diagram illustrating the coefficient d when calculating the position data of a control point from the position data of a small area. FIG. 17 is a circuit diagram illustrating position feedback control and velocity feedforward control. FIG. 19 is a diagram illustrating that the flaw detection operation and the shape measurement operation are performed in parallel. 20 to 22 explain a modified embodiment, and FIG. 20 is a block diagram showing the hardware thereof. FIG. 21 and FIG. 22 are flowcharts showing the processing procedure. 1: X @ drive device 3: Y-axis drive device 6: Z-axis drive device 8B: α-axis drive device 8E: β-axis drive device
9: Flaw detection probes 10a, 10b: Distance detection probe 11: Distance detection circuit 12: Control device 31.32: Central processing unit 33.34: Memory 501: Position command value calculation means 502: Position command Value averaging means 503: Speed command value calculating means 5o4: Speed command value averaging means 505: Detection means 506: Control means 507: Driving means

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)予め求められている被検体表面形状の位置情報に基
づいて探触子を駆動手段により任意の走査ライン上の複
数の制御点に移動させながら被検体を探傷する探触子の
速度制御装置において、予め求められている前記位置情
報から前記探触子の各制御点の位置指令値を演算する位
置指令値演算手段と、 この演算手段で演算された各制御点の位置指令値に基づ
いて、制御すべき点を含む複数の制御点の位置指令値の
平均値をその制御すべき点の位置指令値とする位置指令
値平均化手段と、 この平均化手段で演算された各制御点の位置指令値に基
づいて各制御点への速度指令値を演算する速度指令値演
算手段と、 この演算手段で演算された各速度指令値に基づいて、制
御すべき点を含む複数の制御点への速度指令値の平均値
をその制御すべき点の速度指令値とする速度指令値平均
化手段と、前記探触子の位置を検出する位置検出手段と
、前記平均化された位置指令値と前記位置検出手段で検
出された位置との偏差に応じて速度指令値を演算し、こ
の速度指令値と前記平均化された速度指令値との和で前
記探触子の移動速度を制御する制御手段とを具備するこ
とを特徴とする探触子の速度制御装置。 2)請求項1の装置において、前記位置指令値演算手段
と、位置指令値平均化手段と、速度指令値演算手段と、
速度指令値平均化手段とは、前記探触子が先行する走査
ラインに沿って探傷している間に動作して次の探傷走査
ラインの各制御点の平均化位置指令値と平均化速度指令
値とを演算するようにしたことを特徴とする探触子の速
度制御装置。 3)請求項1の装置において、被検体表面をX、Y方向
の小領域に分割し各小領域ごとに前記位置情報を1つだ
け記憶する記憶手段を有し、平均化された位置指令値は
複数の小領域内の位置情報に基づいて演算されることを
特徴とする探触子の速度制御装置。
[Claims] 1) A flaw detection method for detecting flaws on an object while moving a probe to a plurality of control points on an arbitrary scanning line using a driving means based on positional information of the surface shape of the object obtained in advance. A probe speed control device includes a position command value calculation means for calculating a position command value for each control point of the probe from the position information obtained in advance; position command value averaging means for determining, based on the position command value, the average value of the position command values of a plurality of control points including the point to be controlled as the position command value of the point to be controlled; a speed command value calculation means for calculating a speed command value for each control point based on the position command value of each control point, and a speed command value calculation means for calculating a speed command value for each control point based on the position command value of each control point, and speed command value averaging means for determining the average value of speed command values for a plurality of control points including as the speed command value for the point to be controlled; position detection means for detecting the position of the probe; and the averaging means for detecting the position of the probe. A speed command value is calculated according to the deviation between the position command value and the position detected by the position detection means, and the speed command value of the probe is calculated by the sum of this speed command value and the averaged speed command value. 1. A speed control device for a probe, comprising: control means for controlling movement speed. 2) The apparatus according to claim 1, wherein the position command value calculation means, the position command value averaging means, and the speed command value calculation means,
The speed command value averaging means operates while the probe is performing flaw detection along the preceding scan line, and averages the position command value and average speed command of each control point of the next flaw detection scan line. A speed control device for a probe, characterized in that it calculates a value. 3) The apparatus according to claim 1, further comprising a storage means for dividing the surface of the subject into small regions in the X and Y directions and storing only one piece of the position information for each small region, and storing an averaged position command value. is calculated based on position information within a plurality of small areas.
JP1263418A 1989-08-21 1989-10-09 Probe speed controller Expired - Lifetime JP2812737B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1263418A JP2812737B2 (en) 1989-10-09 1989-10-09 Probe speed controller
EP19900912369 EP0489161A4 (en) 1989-08-21 1990-08-20 Ultrasonic flaw detector
PCT/JP1990/001054 WO1991002971A1 (en) 1989-08-21 1990-08-20 Ultrasonic flaw detector
US07/793,392 US5335547A (en) 1989-08-21 1990-10-20 Ultrasonic flaw detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1263418A JP2812737B2 (en) 1989-10-09 1989-10-09 Probe speed controller

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03123857A true JPH03123857A (en) 1991-05-27
JP2812737B2 JP2812737B2 (en) 1998-10-22

Family

ID=17389218

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1263418A Expired - Lifetime JP2812737B2 (en) 1989-08-21 1989-10-09 Probe speed controller

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2812737B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7252304B2 (en) * 2005-02-25 2007-08-07 Bam Positioning vehicle for positioning a test probe
JP2011106905A (en) * 2009-11-16 2011-06-02 Shinmaywa Industries Ltd Flaw detection system
KR101104943B1 (en) * 2009-01-19 2012-01-12 양찬영 Device for repelling animals
US11931202B2 (en) 2018-09-03 2024-03-19 Canon Medical Systems Corporation Ultrasound automatic scanning system, ultrasound diagnostic apparatus, ultrasound scanning support apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7252304B2 (en) * 2005-02-25 2007-08-07 Bam Positioning vehicle for positioning a test probe
KR101104943B1 (en) * 2009-01-19 2012-01-12 양찬영 Device for repelling animals
JP2011106905A (en) * 2009-11-16 2011-06-02 Shinmaywa Industries Ltd Flaw detection system
US11931202B2 (en) 2018-09-03 2024-03-19 Canon Medical Systems Corporation Ultrasound automatic scanning system, ultrasound diagnostic apparatus, ultrasound scanning support apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2812737B2 (en) 1998-10-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5335547A (en) Ultrasonic flaw detector
EP3799790A1 (en) Method for tracking location of two-dimensional non-destructive inspection scanner on target object using scanned structural features
WO1993008449A1 (en) Measuring the accuracy of multi-axis machines
JPH0816221A (en) Method for changing teaching route for robot using laser sensor
JPH01109057A (en) Digitizing method
JP2720077B2 (en) Ultrasonic flaw detector
JPH03123857A (en) Speed controller for probe
CN110624732A (en) Automatic workpiece spraying system
JP2553867B2 (en) Ultrasonic flaw detector
JPH0545347A (en) Automatic ultrasonic flaw detecting method
JP2752734B2 (en) Shape measuring device
JP2001330430A (en) Method and apparatus for measurement of flatness
JPH0746288B2 (en) Control method and device for robot with hand vision
JPH03142356A (en) Ultrasonic flaw detector
JP2718249B2 (en) Robot displacement detection device
JPH0481134B2 (en)
JP2001159515A (en) Flatness measuring method and flatness measuring device
JPH08174453A (en) Measuring device of positioning error in robot device and correcting method for positioning error
JP4519295B2 (en) Method for measuring workpiece misalignment
JP2760407B2 (en) Welding line detector
RU2754762C1 (en) Method for obtaining virtual models of long-length products
JP3156230B2 (en) How to set location information reliability
JPH06137854A (en) Three-dimensional form inspection method
JPH07332927A (en) Work-position detector
JPH03291509A (en) Shape measuring method for ultrasonic flaw detection